通用陰極射線示波器測(cè)試介紹

1、中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)UDC 521.317.75GB 6585-86通用陰極射線示波器測(cè)試方法Test method for general purposecathode-ray oscilloscopesk本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)試GB 6586-86通用陰極射線示波器條件所規(guī)定的工作特性及誤差。1 總則1.1 本標(biāo)準(zhǔn)中所用的術(shù)語(yǔ)和定義應(yīng)符合GB 6586-86中第二章的規(guī)定。1.2 本標(biāo)準(zhǔn)僅規(guī)定了有關(guān)特性的基本測(cè)試方法，若采用其他先進(jìn)方法測(cè)試，應(yīng)經(jīng)本標(biāo)準(zhǔn)批準(zhǔn)部門(mén)的同意。1.2.1 本測(cè)試應(yīng)在GB 6586-865.1.4、5.1.5、5.1.6中規(guī)定的條件下進(jìn)行。1.2.2 本測(cè)試方法中的各項(xiàng)特性

2、測(cè)試，應(yīng)遵照本標(biāo)準(zhǔn)中各有關(guān)章節(jié)的規(guī)定，并符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中的有關(guān)要求。1.3 在測(cè)試中所用的電壓值或電流值，除說(shuō)明有效外，均指峰峰值(VPP、IPP)。檢驗(yàn)工作面80%均指檢驗(yàn)工作面10%到90%的區(qū)域。1.4 被測(cè)示波器及測(cè)試設(shè)備均應(yīng)在各自產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)(或產(chǎn)品技術(shù)條件)中規(guī)定的預(yù)熱時(shí)間后進(jìn)行測(cè)試。1.5 在測(cè)試時(shí)，觀察者應(yīng)正視示波器屏幕，觀察距離一般為25±10cm。1.6 測(cè)試應(yīng)符合GB 6592-86電子測(cè)量?jī)x器誤差的一般規(guī)定中的3.10及GB 6593-86電子測(cè)量?jī)x器質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)則中第4章的規(guī)定。在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試設(shè)備應(yīng)置于不超過(guò)其額定使用范圍條件下。1.7 對(duì)有關(guān)特性的測(cè)試，本標(biāo)準(zhǔn)

3、無(wú)規(guī)定時(shí)，通常是指在基準(zhǔn)檔(即額定帶寬的最小偏轉(zhuǎn)因數(shù)檔，且微調(diào)置于校準(zhǔn)位置)進(jìn)行。2 測(cè)試設(shè)備的要求2.1 設(shè)備分類(lèi)與名稱(chēng)2.1.1 供給量設(shè)備2.1.1.1 信號(hào)源：正弦信號(hào)發(fā)生器，矩形脈沖信號(hào)發(fā)生器，時(shí)標(biāo)信號(hào)發(fā)生器等。2.1.1.2 電壓源：具有直流或直流加交流輸出的可調(diào)電壓源，標(biāo)準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器。2.1.2 測(cè)量設(shè)備2.1.2.1 測(cè)量器：電容測(cè)量器、電阻測(cè)量器、示波器、頻率測(cè)量器、Q表等。2.1.2.2 監(jiān)視器：監(jiān)視輸出所需的電壓表、電流表、高頻毫伏表等。2.2 測(cè)試附件一般采用具有50特性阻抗的連接線，三通連接器、衰弱器、功率分配器、匹配電阻等，其有關(guān)特性應(yīng)滿足測(cè)試要求。若有特殊要求

4、時(shí)，應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中給出。3 外觀、安全及功能3.1 外觀與結(jié)構(gòu)示波器處于非工作狀態(tài)，用目測(cè)并配合操作各種控制裝置，檢查儀器及其附件的外觀鍍涂、圖案字跡、控制件的緊固與傳動(dòng)狀況，檔級(jí)開(kāi)關(guān)的對(duì)位，均應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局19860712發(fā)布 19870701實(shí)施經(jīng)機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)后，產(chǎn)品結(jié)構(gòu)應(yīng)無(wú)彎曲、變形、斷裂、松動(dòng)、脫落等現(xiàn)象。3.2 基本安全檢驗(yàn)3.2.1 絕緣電阻按GB 4793-84電子測(cè)量?jī)x器安全要求中9.7.3方法進(jìn)行檢查。3.2.2 泄漏電流按GB 4793中9.8方法進(jìn)行檢查。3.2.3 介電強(qiáng)度電壓按GB 4793中9.7.4方法進(jìn)行檢查。3.3 功能正常性示波器接通電源后，

5、經(jīng)規(guī)定的預(yù)熱時(shí)間，按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中給出的功能進(jìn)行逐項(xiàng)檢查。4 偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)特性4.1 位移范圍4.1.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖1)圖1信號(hào)源一般用1kHZ正弦波。4.1.2 測(cè)試方法輸入耦合置于“AC”，時(shí)間因數(shù)置于合適檔，調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出電壓，達(dá)到檢驗(yàn)工作面高度，并居中穩(wěn)定顯示，然后調(diào)節(jié)位移，在波形無(wú)明顯失真情況下 分別讀取上、下及左右兩限的最大可移的幅度。4.2 位移線性誤差4.2.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖1)4.2.1.1 信號(hào)源輸出為正弦波。4.2.1.2 本特性應(yīng)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的偏轉(zhuǎn)因數(shù)及頻率范圍進(jìn)行。4.2.2 測(cè)試方法輸入耦合置于“AC”，時(shí)間因數(shù)置于合適檔，按規(guī)定的頻率調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出電壓，使幅度達(dá)

6、到檢驗(yàn)工作面的50%并居中穩(wěn)定顯示。然后調(diào)節(jié)“位移”，使波形的上邊(左邊)及下邊(右邊)分別置于檢驗(yàn)工作面的上限(左限)及下限(右限)，讀測(cè)對(duì)應(yīng)的顯示高度其位移線性誤差由下式求得，取二者最大值。式中：a-波形為檢驗(yàn)工作面50%時(shí)的幅度(格)；b-波形上移(左移)后的幅度(格)；c-波形下移(右移)后的幅度(格)。4.3 動(dòng)態(tài)范圍4.3.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖2)圖2脈沖信號(hào)源輸出波形應(yīng)具有中基準(zhǔn)脈沖特性。4.3.2 測(cè)試方法輸入耦合置于“AC”，時(shí)間因數(shù)置于合適檔，調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出電壓，約達(dá)到檢驗(yàn)工作面高度的80%的居中穩(wěn)定顯示。調(diào)節(jié)位移按圖3所示，分別讀取正、負(fù)脈沖上沖的變化d不超過(guò)3%時(shí)的位移幅

7、度Ap與Ab，則其動(dòng)態(tài)范圍S由下式求得：式中：S-動(dòng)態(tài)范圍值；A0-波形為檢驗(yàn)工作面80%時(shí)幅度(格)；Ab-波形下移后的幅度(格)；Ap-波形上移后的幅度(格)。圖3續(xù)圖34.4 輸入阻抗4.4.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖4)圖44.4.1.1 測(cè)量電阻時(shí)應(yīng)采用直讀式電阻表或直流電橋在各偏轉(zhuǎn)因數(shù)檔級(jí)上測(cè)試。測(cè)量電容時(shí)應(yīng)采用直讀式電容表或交流電橋在不小于1kHZ頻率下，在各偏轉(zhuǎn)因數(shù)檔級(jí)上測(cè)試。4.4.1.1 輸入阻抗值有兩種以上時(shí)，應(yīng)分別進(jìn)行測(cè)試。對(duì)具有耦合電容而無(wú)耦合開(kāi)關(guān)裝置的示波器，在必須測(cè)試輸入阻抗時(shí)，可打開(kāi)箱蓋，將測(cè)量器接于耦合電容后面進(jìn)行測(cè)試。4.4.1.3 高頻輸入阻抗的測(cè)試，應(yīng)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)

8、中規(guī)定的頻率要求進(jìn)行。4.4.2 測(cè)試方法被測(cè)示波器處于工作狀態(tài)，分別讀取輸入端電阻值與電容值。當(dāng)有誤差規(guī)定時(shí)，其輸入電阻誤差與輸入電容誤差由下式求得：式中：R0-輸入電阻的額定值；R-輸入電阻的實(shí)測(cè)值；C0-輸入電容的額定值；C-輸入電容的實(shí)測(cè)值。4.5 最大輸入電壓4.5.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖5)圖54.5.1.1 低頻電壓源采用直流電壓，或50HZ交流電壓；高頻電壓源采用正弦信號(hào)發(fā)生器。4.5.1.2 本特性的測(cè)試，應(yīng)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的頻率進(jìn)行。4.5.2 測(cè)試方法被測(cè)示波器處于工作狀態(tài)，輸入耦合置“DC”光跡居中，調(diào)節(jié)電壓源的輸出電壓與頻率，達(dá)到產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中的規(guī)定值后，接通輸入電壓，并持續(xù)

9、1min。斷開(kāi)輸入電壓，儀器仍應(yīng)工作正常。4.6 偏轉(zhuǎn)因數(shù)及誤差4.6.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖6)圖6在無(wú)特殊規(guī)定時(shí)，信號(hào)源采用1kHZ方波。4.6.2 測(cè)試方法輸入耦合置于“DC”，“微調(diào)”，置校準(zhǔn)位置，調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出電壓，使顯示幅度約為檢驗(yàn)工作面高度(或長(zhǎng)度)的80%，讀取顯示高度(或長(zhǎng)度)和相應(yīng)的輸入信號(hào)電壓V，則偏轉(zhuǎn)因數(shù)及誤差可由下式求得：式中：Kd-偏轉(zhuǎn)因數(shù)的實(shí)測(cè)值；V-信號(hào)源輸出電壓值；Hd(或Ld)-偏轉(zhuǎn)的顯示高度(或長(zhǎng)度)；E-偏轉(zhuǎn)因數(shù)誤差；Kd0-偏轉(zhuǎn)因數(shù)的額定值；Hd0(或Ld0)-偏轉(zhuǎn)的額定顯示高度(或長(zhǎng)度)。注：本測(cè)試應(yīng)在各偏轉(zhuǎn)因數(shù)檔級(jí)上進(jìn)行。4.7 偏轉(zhuǎn)微調(diào)比4.7.1

10、測(cè)試電路(見(jiàn)圖6)在無(wú)特殊規(guī)定時(shí)，信號(hào)源采用1kHZ方波。4.7.2 測(cè)試方法偏轉(zhuǎn)因數(shù)置于任意檔，“微調(diào)”置校準(zhǔn)位置，調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出電壓，使顯示達(dá)到檢驗(yàn)工作面高度，然后調(diào)節(jié)微調(diào)從最大到最小位置時(shí)，分別讀取顯示的最大高度Hmax與最小高度Hmin，則偏轉(zhuǎn)微調(diào)比由下式求得：4.8 偏轉(zhuǎn)衰減比及誤差4.8.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖6)在無(wú)特殊規(guī)定時(shí)，信號(hào)源采用1kHZ方波。4.8.2 測(cè)試方法調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出電壓，使顯示高度檢驗(yàn)工作面高度的80%然后將偏轉(zhuǎn)因數(shù)置于衰減檔，增益置于最大。按約定的倍率，增大信號(hào)源的輸出電壓，達(dá)到衰減比的相應(yīng)要求。分別讀取顯示高度H，則偏轉(zhuǎn)衰減比及其誤差由下式求得：-式中：N-

11、實(shí)測(cè)的衰減比；N0-額定的衰減比；H0-未衰減時(shí)的額定顯示高度；H-衰減后，擴(kuò)大N0倍信號(hào)電壓的顯示高度；E-衰減比誤差。注：本測(cè)試應(yīng)在各偏轉(zhuǎn)衰減檔級(jí)上進(jìn)行。4.9 擴(kuò)展倍率及誤差4.9.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖6)在無(wú)特殊規(guī)定時(shí)，信號(hào)源采用1kHZ方波。4.9.2 測(cè)試方法“倍率”裝置置于不擴(kuò)展，調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出電壓，使顯示高度約為檢驗(yàn)工作面高度的80%，然后使“倍率”置于擴(kuò)展檔。減小信號(hào)源的輸出電壓達(dá)到額定倍率的電壓要求，讀取顯示高度H，則偏轉(zhuǎn)因數(shù)擴(kuò)展倍率及其誤差由下式求得：其中：K-實(shí)測(cè)的擴(kuò)展倍率；K0-額定的擴(kuò)展倍率；H0-未擴(kuò)展時(shí)的顯示高度；H-擴(kuò)展后對(duì)縮小K0倍信號(hào)電壓的顯示高度；E-擴(kuò)展

12、倍率誤差。4.10 幅度線性誤差4.10.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖7)圖74.10.1.1 信號(hào)源輸出波形可用正弦波或方波，兩者均需具有定量微波調(diào)或誤差讀數(shù)裝置，也允許外接電壓監(jiān)視器。4.10.1.2 本特性一般采用1kHZ正弦信號(hào)對(duì)基準(zhǔn)檔進(jìn)行測(cè)定或在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的頻率與偏轉(zhuǎn)因數(shù)檔級(jí)上進(jìn)行。4.10.2 測(cè)試方法偏轉(zhuǎn)因數(shù)置于規(guī)定檔，輸入耦合置于“AC”，時(shí)間因數(shù)置合適檔。調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出電壓和頻率，使顯示波形的幅度a達(dá)到檢驗(yàn)工作面高度(長(zhǎng)度)的50%，并居中顯示，讀取此時(shí)的電壓值，然后將信號(hào)源的輸出電壓增加一倍，讀取此時(shí)的顯示波形的幅度A，則幅度線性誤差由下式求得：4.11 頻帶寬度與頻率響應(yīng)4.1

13、1.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖8)圖84.11.1.1 信號(hào)源輸出電壓不平度應(yīng)不超過(guò)±0.3dB，否則需外接監(jiān)視器來(lái)校準(zhǔn)。信號(hào)源輸出頻率誤差小于±5%。當(dāng)信號(hào)源使用直流電源時(shí)，應(yīng)為恒定輸出直流電源。4.11.1.2 波形失真系數(shù)應(yīng)符合GB 6586-86中5.1.5有關(guān)規(guī)定。4.11.1.3 允許采用6dB以上的同軸衰減器，以減小反射的影響。4.11.1.4 當(dāng)一臺(tái)信號(hào)源輸出頻率不能滿足測(cè)試要求時(shí)，可允許用幾臺(tái)信號(hào)源按頻率銜接，進(jìn)行測(cè)試。4.11.1.5 當(dāng)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中給出兩種以上的頻帶寬度特性時(shí)，應(yīng)分別進(jìn)行測(cè)定。4.11.1.6 本特性測(cè)試時(shí)的基準(zhǔn)頻率，當(dāng)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中無(wú)規(guī)定時(shí)，對(duì)上限

14、頻率低于或等于10MHZ的示波器，其基準(zhǔn)頻率可采用1kHZ，對(duì)上限頻率高于10MHZ的示波器，則可采用50kHZ、1MHZ或10MHZ三者中任一個(gè)作為基準(zhǔn)頻率。4.11.2 測(cè)試方法調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出電壓與頻率。使基準(zhǔn)頻率時(shí)的顯示高度H0約為檢驗(yàn)工作面的80%，記錄此時(shí)電壓監(jiān)視器的指示值，并保持此值不變，分別向下限改變信號(hào)源的輸出頻率，直至顯示高度為0.707H0時(shí)，此時(shí)的頻率，即為頻帶寬度實(shí)測(cè)值。若僅測(cè)試規(guī)定的上限頻率，讀測(cè)在規(guī)定頻率范圍內(nèi)的最小顯示高度Hmin,按下式計(jì)算應(yīng)不低于-3dB。若給出的特性是頻率響應(yīng)，讀測(cè)在規(guī)定頻率范圍內(nèi)圖象穩(wěn)定顯示的最大高度Hmax與最小高度Hmin,則頻率響應(yīng)

15、不平高由下式求得：水平通道的頻率響應(yīng)及頻帶寬度用上述方法將高度H改為長(zhǎng)度L，其中L0一般為檢驗(yàn)工作面中心的50%。4.12 漂移4.12.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖9)圖94.12.1.1 供電電壓的波動(dòng)量不超過(guò)±2%。4.12.1.2 本特性與環(huán)境溫度突度、電網(wǎng)電壓突變以及預(yù)熱時(shí)間有關(guān)，應(yīng)盡量避免外界的干擾信號(hào)，當(dāng)有異議時(shí)，上述測(cè)試應(yīng)在GB 6586-86規(guī)定的基準(zhǔn)條件下進(jìn)行。對(duì)于多蹤示波器的各個(gè)輸入端應(yīng)分別進(jìn)行測(cè)試。4.12.2 測(cè)試方法輸入耦合置“接地”，經(jīng)規(guī)定的預(yù)熱時(shí)間將光跡(點(diǎn))調(diào)整至屏幕居中位置后，記錄在規(guī)定時(shí)間內(nèi)，光跡(點(diǎn))隨時(shí)間在垂直(水平)偏移的位置，并從圖10所示的坐標(biāo)刻

16、度值中讀取有關(guān)特性。圖104.13 噪聲4.13.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖11)圖114.13.1.1 若被測(cè)示波器有多個(gè)垂直通道時(shí)，均應(yīng)分別測(cè)試。4.13.1.2 若被測(cè)示波器有用來(lái)降低噪聲的帶寬限制器或頻率選擇器時(shí)，且分別給出指標(biāo)時(shí)，則應(yīng)分別進(jìn)行測(cè)試。4.13.2 測(cè)試方法通道輸入端屏蔽(當(dāng)測(cè)定開(kāi)路噪聲時(shí))如圖11a,或通道輸入端接地(當(dāng)測(cè)定短路噪聲時(shí))如圖11b,掃描處于“自激”。工作狀態(tài)，改變掃描時(shí)間因數(shù)(與偏轉(zhuǎn)因數(shù))，讀測(cè)屏幕所顯示的最大高度，以電壓值表示。4.14 通道隔離度4.14.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖12)圖12本特性應(yīng)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的頻率要求進(jìn)行。若無(wú)規(guī)定，則以寬帶的上限頻率作為

17、測(cè)試頻率。4.14.2 測(cè)試方法干擾通道偏轉(zhuǎn)因數(shù)置較大檔(該檔最易使被干擾通道顯示干擾)，或按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，被干擾通道偏轉(zhuǎn)因數(shù)置最易受干擾檔級(jí)，并將其輸入端屏蔽，工作方式置多蹤顯示，時(shí)間因數(shù)置于合適檔。調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出電壓，并饋入干擾通道，使顯示幅度達(dá)到檢驗(yàn)工作面高度約80%，并居中穩(wěn)定顯示。然后保持信號(hào)源的輸出電壓不變，或按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的頻帶寬度范圍內(nèi)改變輸出頻率，讀測(cè)各被干擾通道中最大的顯示高度值，此時(shí)通道隔離度由下式求得：式中：A1-干擾通道的顯示高度；A2-各被干擾通道中最大的顯示高度；K1-干擾通道檔級(jí)的偏轉(zhuǎn)因數(shù)；K2-被干擾通道檔級(jí)的偏轉(zhuǎn)因數(shù)。4.15 共模抑制比4.15.1

18、測(cè)試電路(見(jiàn)圖13或圖14)4.15.1.1 信號(hào)源應(yīng)是具有大幅度輸出的正弦信號(hào)發(fā)生器。接到分差輸入端的連接線的規(guī)格與長(zhǎng)度應(yīng)一致。4.15.1.2 當(dāng)有多通道時(shí)，應(yīng)對(duì)各通道分別進(jìn)行測(cè)試。注：在高頻測(cè)試時(shí)，應(yīng)注意阻抗匹配。4.15.2 測(cè)試方法4.15.2.1 分差輸入共模抑制比先按圖13a連接，偏轉(zhuǎn)因數(shù)置于基準(zhǔn)檔，輸入耦合方式均置于“DC”，按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的頻率值，調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出電壓直至能清晰讀出顯示高度H2；然后，信號(hào)源輸出保持不變，按圖13b連接。選擇合適的偏轉(zhuǎn)因數(shù)，讀取此時(shí)的顯示高度為H1，則共模抑制比由下式求得：式中：D1-單端輸入時(shí)的偏轉(zhuǎn)因數(shù)；D2-雙端輸入時(shí)的偏轉(zhuǎn)因數(shù)；H1-單

19、端輸入時(shí)的顯示高度；H2-雙端輸入時(shí)的顯示高度。注：當(dāng)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求測(cè)試低頻共模抑制比時(shí)，輸入耦合置于“AC”。4.15.2.2 多蹤示波器共模抑制比按圖14連接，二通道偏轉(zhuǎn)因數(shù)均置于基準(zhǔn)檔，輸入耦合均置于“DC”，顯示工作方式置于“Y1-Y2”。按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的頻率值，調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出電壓，直至能清晰讀出顯示高度H2。然后，保持信號(hào)源輸出不變，將顯示方式改置“單蹤顯示”，選擇合適的偏轉(zhuǎn)因數(shù)，讀取此時(shí)的顯示高度為H1，則其共模抑制比由式(16)求得。4.16 XY相位差4.16.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖15)圖154.16.1.1 信號(hào)源的波形失真因子應(yīng)符合GB 6585-86中5.1.5有關(guān)規(guī)定

20、。4.16.1.2 當(dāng)能組成兩種以上X、Y顯示時(shí)，應(yīng)分別進(jìn)行。4.16.2 測(cè)試方法垂直與水平偏轉(zhuǎn)因數(shù)均置于合適檔，輸入耦合置于“DC”，顯示工作方式置于XY顯示，按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的頻率調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出電壓，以獲得XY的顯示圖象，按圖16所示，讀取h、H值，其相位差由下式求得：注：如無(wú)相位差時(shí)，則屏幕顯示光跡為一條斜直線。如有相位差時(shí)，則此斜直線將呈橢圓狀。按式計(jì)算，當(dāng)H為6格其h值小于0.3格時(shí)，相位差小于3。圖165 瞬態(tài)特性與脈沖失真5.1 瞬態(tài)響應(yīng)5.1.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖17)圖175.1.1.1 信號(hào)源應(yīng)具有中基準(zhǔn)矩形脈沖輸出，并具有極性與電壓微調(diào)可變裝置。5.1.1.2 本特性與

21、矩形脈沖上升時(shí)間有關(guān)，信號(hào)源的脈沖上升時(shí)間應(yīng)小于被測(cè)示波器的三分之一。5.1.1.3 上升時(shí)間的測(cè)試應(yīng)在被測(cè)示波器各偏轉(zhuǎn)因數(shù)檔級(jí)上進(jìn)行。當(dāng)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中給出兩種以上的上升時(shí)間時(shí)，應(yīng)分別因規(guī)定檔進(jìn)行。5.1.1.4 測(cè)得的上升時(shí)間，必須按實(shí)測(cè)的時(shí)間因數(shù)誤差和垂直度偏差值進(jìn)行修正。5.1.2 測(cè)試方法輸入耦合置“DC”，時(shí)間因數(shù)置于合適檔。調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出電壓，使顯示高度為檢驗(yàn)工作面的80%，并居中穩(wěn)定顯示。按不同測(cè)試要求從圖18中讀取所需特性。圖185.1.2.1 上升時(shí)間從圖18(b、d)中讀取顯示波形前沿的10%90%在水平方向的上升時(shí)間tr值。5.1.2.2 上沖從 18(a、c)中讀取顯示波

22、形中的上沖量b，則其上沖由下式求得：5.1.2.3 視在信號(hào)延遲時(shí)間調(diào)節(jié)“觸發(fā)電平”，使波形處于視在延遲時(shí)間最大的位置，從圖18(b、d)中讀取掃描起始點(diǎn)至脈沖前沿的10%在水平方向的延遲時(shí)間td值。注：當(dāng)起始點(diǎn)位置不明顯時(shí)，允許用增加輝度或其他方法確定該點(diǎn)位置。5.2 脈沖失真5.2.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖17或圖19)圖195.2.1.1 用于測(cè)試阻尼，不平度與下垂的信號(hào)源應(yīng)具有電壓微調(diào)可變裝置，其性能要求 表1。5.2.1.2 用于測(cè)試直流特性的電壓源應(yīng)具有直流電壓輸出，并具備“通”與“斷”的可控裝置，其輸出電壓應(yīng)滿足檢驗(yàn)工作面高度的要求。表1注：在不影響測(cè)試誤差的條件下，也可使用相適應(yīng)的脈

23、沖信號(hào)發(fā)生器。5.2.2 測(cè)試方法輸入耦合置于“DC”，時(shí)間因數(shù)置合適檔，調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出電壓，使顯示高度為檢驗(yàn)工作面的80%，并居中穩(wěn)定顯示，按不同測(cè)試要求，從圖18、圖20與圖21中讀取所需特性。5.2.2.1 阻尼的測(cè)定從圖18(a、c)中，分別讀取在10倍tr時(shí)間范圍內(nèi)。波形中除上沖外最大幅度的正向阻尼量(C1)或負(fù)向阻尼量(C2)，則其阻尼由下式求得，取二者大值。5.2.2.2 脈沖頂部不平度從圖18(a、c)中讀取顯示波形中除上沖外，約3倍ty時(shí)間范圍內(nèi)的最大起伏量(C)，則其脈沖頂部不平度由下式求得：5.2.2.3 下垂(上斜)改變時(shí)間因數(shù)與脈沖持續(xù)時(shí)間，獲得如圖20(a、b)所

24、示波形。從圖20a中讀取顯示波形中的下垂量d，其下垂由下式求得取二者較大值。從圖20b中讀取顯示波形中的上斜量e，其上斜由下式求得：當(dāng)顯示脈沖頂部斜率的變化尚未出現(xiàn)或進(jìn)入近似恒定前，應(yīng)改變時(shí)間因數(shù)與脈沖持續(xù)時(shí)間直至與圖20相似。圖20注：本測(cè)試應(yīng)分別在帶寬的高、中、低頻段進(jìn)行。5.2.2.4 直流特性如圖19連接，使信號(hào)源反復(fù)“通”“斷”，獲得圖21所示波形，其直流特性由下式求得：圖215.3 通道延遲時(shí)間差5.3.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖22)圖225.3.1.1 信號(hào)源上升時(shí)間應(yīng)符合測(cè)試要求，三通連接器連接到Y(jié)1、Y2的連接線的規(guī)格與長(zhǎng)度應(yīng)一致。5.3.1.2 對(duì)多于二個(gè)通道以上的示波器應(yīng)分別進(jìn)

25、行測(cè)定。5.3.2 測(cè)試方法時(shí)間因數(shù)置于最快檔，調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出電壓，達(dá)到檢驗(yàn)工作面高度，并穩(wěn)定顯示。從圖23中讀取兩脈沖波形基本幅度50%處的時(shí)間差ts。圖236 時(shí)基特性6.1 時(shí)間因數(shù)及誤差6.1.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖24)圖246.1.1.1 信號(hào)源頻率準(zhǔn)確度不低于±0.1%,當(dāng)不具備上述要求時(shí)，應(yīng)外接頻率計(jì)監(jiān)視，以確保測(cè)試要求。6.1.1.2 時(shí)間因數(shù)誤差應(yīng)在所有檔進(jìn)行。如有微調(diào)裝置時(shí)，應(yīng)置于校準(zhǔn)或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的位置。6.1.2 測(cè)試方法偏轉(zhuǎn)因數(shù)置于合適檔，調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出頻率(或時(shí)標(biāo)周期)與時(shí)間因數(shù)相適應(yīng)，用觸發(fā)(同步)的方式顯示n個(gè)周期穩(wěn)定的波形，讀取約檢驗(yàn)工作面長(zhǎng)度8

26、0%的顯示長(zhǎng)度與其相對(duì)應(yīng)的n周期的總時(shí)間，則其時(shí)間因數(shù)及誤差由下式求得：式中：Kb-80%檢驗(yàn)工作面內(nèi)平均時(shí)間因數(shù)的實(shí)測(cè)值；T-n個(gè)周期的總時(shí)間；Lb-n個(gè)周期對(duì)應(yīng)的顯示長(zhǎng)度；E-時(shí)間因數(shù)誤差；Kb0-時(shí)間因數(shù)的額定值；Lb0-Kb0時(shí)間因數(shù)對(duì)應(yīng)的顯示長(zhǎng)度。注：經(jīng)擴(kuò)展后的時(shí)間因數(shù)誤差仍用本方法測(cè)試，但在快掃速時(shí)，允許扣除視在信號(hào)延遲時(shí)間及掃描線末端20%中分。6.2 連續(xù)掃描頻率范圍6.2.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖25)頻率范圍應(yīng)在所有檔進(jìn)行。圖256.2.2 測(cè)試方法偏轉(zhuǎn)因數(shù)置于合適檔，掃描“微調(diào)”置于最高(最低)端，調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出頻率，使獲得一個(gè)完整周期的正弦波顯示，讀測(cè)此時(shí)信號(hào)源的輸出頻率f

27、1,然后將掃描微調(diào)處于另一端，用同樣方法讀測(cè)信號(hào)源頻率為f2,則該檔掃描頻率范圍即f1f2。6.3 被延遲掃描時(shí)間因數(shù)及誤差6.3.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖24)6.3.1.1 設(shè)備要求與6.1.1.1相同。6.3.1.2 掃描時(shí)間因數(shù)如有“微調(diào)”裝置時(shí)，應(yīng)置于校準(zhǔn)或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的位置。6.3.2 測(cè)試方法顯示方式置“被延遲掃描”，待測(cè)的被延遲掃描時(shí)間因數(shù)應(yīng)比延遲掃描約小10倍，延遲倍率置適中位置。用6.1.2相同的方法測(cè)出有關(guān)特性。6.4 時(shí)間因數(shù)(掃描頻率)微調(diào)比6.4.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖24)要求與6.1.1.1相同。6.4.2 測(cè)試方法掃描時(shí)間因數(shù)“微調(diào)”置于順時(shí)針極限位置，獲得合適的(一般

28、不少于2個(gè)周期)顯示波形后，讀取顯示的周期數(shù)與對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)度，然后將“微調(diào)”置于逆時(shí)針極限位置，讀取此時(shí)的周期數(shù)與對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)度，其微調(diào)比由下式求得：式中：n1-“微調(diào)”置于順時(shí)針極限位置時(shí)，檢驗(yàn)工作面內(nèi)波形的周期數(shù)；n2-“微調(diào)”置于逆時(shí)針極限位置時(shí)，檢驗(yàn)工作面內(nèi)波形的周期數(shù)；L1-n1個(gè)周期在坐標(biāo)刻度上所測(cè)得的長(zhǎng)度；L2-n2個(gè)周期在坐標(biāo)刻度上所測(cè)得的長(zhǎng)度。6.5 時(shí)間因數(shù)擴(kuò)展倍率及倍率誤差6.5.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖24)設(shè)備要求與6.1.1.1相同。6.5.2 測(cè)試方法偏轉(zhuǎn)因數(shù)置于合適檔，時(shí)間因數(shù)置于待測(cè)檔。調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出頻率為1kHZ，觸發(fā)(同步)后，使在檢驗(yàn)工作面內(nèi)逐個(gè)對(duì)應(yīng)坐標(biāo)刻度線顯示相應(yīng)

29、個(gè)周期的信號(hào)，讀測(cè)檢驗(yàn)工作面80%內(nèi)的時(shí)間因數(shù)Kb,然后置“擴(kuò)展”改變位移，并調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出頻率，使顯示波形的周期再次滿足與坐標(biāo)刻度逐一對(duì)應(yīng)，讀測(cè)此時(shí)檢驗(yàn)工作面80%內(nèi)的擴(kuò)展時(shí)間因數(shù)Kb1。則擴(kuò)展倍率與倍率誤差可由下式求得：式中：A-擴(kuò)展倍率的實(shí)測(cè)值；Kb-未經(jīng)擴(kuò)展時(shí)的時(shí)間因數(shù)；Kb1-經(jīng)擴(kuò)展后的時(shí)間因數(shù)；E-倍率誤差；A0-額定的擴(kuò)展倍率。6.6 掃描線性6.6.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖24)6.6.1.1 設(shè)備要求與6.1.1.1相同。6.6.1.2 測(cè)試檔級(jí)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行。6.6.2 測(cè)試方法6.6.2.1 掃描線性誤差偏轉(zhuǎn)因數(shù)置于合適檔，時(shí)間因數(shù)置于待測(cè)檔，調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出頻率(或時(shí)標(biāo)周期

30、)使與時(shí)間因數(shù)相適應(yīng)，其顯示波形如圖26所示，分別讀測(cè)經(jīng)扣除視在信號(hào)延遲時(shí)間后在檢驗(yàn)工作面80%內(nèi)的平均時(shí)間因數(shù)，與兩邊緣10%區(qū)域內(nèi)的平均時(shí)間因數(shù)，則掃描線性誤差由下式求得，取二者較大值。式中：Ka-80%檢驗(yàn)工作面內(nèi)的實(shí)測(cè)平均時(shí)間因數(shù)；Kb-檢驗(yàn)工作面左端10%邊緣內(nèi)的實(shí)測(cè)平均時(shí)間因數(shù)；Kc-檢驗(yàn)工作面右端10%邊緣內(nèi)的實(shí)測(cè)平均時(shí)間因數(shù)；a-80%檢驗(yàn)工作面內(nèi)的實(shí)測(cè)時(shí)標(biāo)周期的平均值；b-檢驗(yàn)工作面左端10%邊緣內(nèi)的實(shí)測(cè)時(shí)標(biāo)周期的平均值；c-檢驗(yàn)工作面右端10%邊緣內(nèi)的實(shí)測(cè)時(shí)標(biāo)周期的平均值。圖266.6.2.2 擴(kuò)展掃描線性誤差偏轉(zhuǎn)因數(shù)置于合適檔，時(shí)間因數(shù)分別置于最慢、中間、較快檔，調(diào)節(jié)信號(hào)

31、源輸出頻率(或時(shí)標(biāo)周期)使與時(shí)間因數(shù)相適應(yīng)。然后在扣除視在信號(hào)延遲時(shí)間后檢驗(yàn)工作面80%內(nèi)的掃描起始點(diǎn)附近，中央及終點(diǎn)附近“擴(kuò)展”，并按擴(kuò)展倍率調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出頻率(或時(shí)標(biāo)周期)如圖27所示，用6.6.2.1方法讀測(cè)擴(kuò)展后的掃描線性誤差。圖27注：快速擴(kuò)展掃描線性誤差被包含在掃描擴(kuò)展時(shí)間因數(shù)誤差內(nèi)。本方法所規(guī)定的較快檔，是指擴(kuò)展后時(shí)間因數(shù)的檔級(jí)應(yīng)對(duì)應(yīng)被測(cè)示波器帶寬的上限頻率所換算的周期一致。6.7 延遲時(shí)間范圍6.7.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖24或圖29)6.7.1.1 設(shè)備要求與6.1.1.1相同。6.7.1.2 如測(cè)量用示波器不能獲得最大延遲時(shí)間，則測(cè)量時(shí)允許使用其他時(shí)間測(cè)量?jī)x器進(jìn)行測(cè)量。6.7

32、.2 具有加亮顯示功能的雙時(shí)基電路測(cè)試方法。如圖24連接，按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中給出的延遲時(shí)間范圍t1(tdmin)t2(tdmax),使輸入信號(hào)波形周期為t1,延遲掃描時(shí)間因數(shù)約為0.2t1/div被延遲掃描時(shí)間因數(shù)約為“0.1t1/div”，時(shí)基顯示置于“加亮”，延遲倍率置于“6”附近，獲得加亮顯示并保持圖象穩(wěn)定后，逐步減小延遲倍率數(shù)，如圖28a所示，直至測(cè)出最小延遲時(shí)間tdmin應(yīng)小于t1,然后使信號(hào)源置“t2”，延遲掃描置于相應(yīng)的位置，被延遲掃描約為“0.01t2/div”，逐步增大延遲倍率值，如圖28b所示，直至測(cè)出最大延遲時(shí)間tdmax應(yīng)大于t2。圖296.7.3 具有延遲信號(hào)閘門(mén)輸出裝置的

33、雙時(shí)基電路測(cè)試方法如圖29連接，用6.7.2的測(cè)試方法，獲得最小延遲時(shí)間tdmin與最大延遲時(shí)間tdmax顯示，這些數(shù)值，可以從測(cè)量示波器雙蹤顯示所獲得的圖30中讀取。圖306.8 延遲時(shí)間刻度線性誤差6.8.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖24)6.8.1.1 設(shè)備要求與6.1.1.1相同。6.8.1.2 當(dāng)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)無(wú)規(guī)定時(shí)，本項(xiàng)可僅對(duì)延遲掃描時(shí)間因數(shù)“tA/div”為“1ms/div”，被延遲掃描時(shí)間因數(shù)tb/div為“0.1ms/div”的組合狀態(tài)下測(cè)定。6.8.2 測(cè)試方法偏轉(zhuǎn)因數(shù)置于合適檔，顯示方式置于“延遲掃描”，時(shí)間因數(shù)置于tA/div,調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出頻率與延遲掃描時(shí)間因數(shù)相適應(yīng)，使延遲掃描觸

34、發(fā)同步后，顯示方式改置“被延遲掃描”，時(shí)間因數(shù)置于tB/div,掃描置于自激狀態(tài)，延遲倍率置“1”附近，使波形居中顯示。讀取度盤(pán)值為D1，然后改變“延遲倍率”，依次讀取顯示波形出現(xiàn)在同一位置時(shí)的度盤(pán)值D2Dn-1，則延遲刻度線性誤差由下式求得，取二者較大值。式中：a-各相鄰D值之間差值變化量的平均值；b-各相鄰D值之間的最大差值；c-各相鄰D值之間的最小差值。6.9 時(shí)基信號(hào)輸出6.9.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖31)測(cè)量示波器的上升時(shí)間應(yīng)小于被測(cè)信號(hào)上升時(shí)間的三分之一。圖316.9.2 測(cè)試方法偏轉(zhuǎn)因數(shù)置于合適檔，時(shí)基系統(tǒng)置于合適的工作狀態(tài)，在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的負(fù)載條件下，讀測(cè)其輸出端的幅度、波形及極性

35、。7 顯示穩(wěn)定7.1 觸發(fā)(同步)特性7.1.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖32)圖327.1.1.1 設(shè)備要求與6.1.1.1相同。7.1.1.2 本特性與允許的時(shí)基晃動(dòng)有關(guān)，高頻測(cè)試時(shí)允許圖像晃動(dòng)不不超過(guò)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的晁動(dòng)值。7.1.1.3 當(dāng)觸發(fā)源具有內(nèi)(外)等功能時(shí)，應(yīng)分別測(cè)定。7.1.1.4 當(dāng)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中給出正弦波及脈沖波不同要求時(shí)，應(yīng)分別進(jìn)行測(cè)試。7.1.1.5 正弦波信號(hào)源的波形失真因子應(yīng)符合GB 6586-86中5.1.5的規(guī)定。7.1.2 測(cè)試按表2規(guī)定測(cè)定各有關(guān)特性。7.2 時(shí)基晃動(dòng)7.2.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖32a)7.2.1.1 信號(hào)源應(yīng)采用正弦信號(hào)發(fā)生器。表 2 觸發(fā)(同步)特性7

36、.2.1.2 當(dāng)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中同時(shí)給出脈沖信號(hào)測(cè)試的晃動(dòng)指標(biāo)時(shí)，則還應(yīng)采用矩形脈沖信號(hào)源。7.2.2 測(cè)試方法時(shí)間因數(shù)置于最快檔(經(jīng)擴(kuò)展后)。調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出頻率為觸發(fā)(同步)頻率范圍的上限值，輸出電壓達(dá)到檢驗(yàn)工作面高度的30%，讀取圖象在x軸方向上抖動(dòng)最大的寬度所代表的時(shí)間值T1。7.3 延遲晃動(dòng)比7.3.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖24)設(shè)備要求與6.1.1.1相同。7.3.2 測(cè)試方法被延遲掃描時(shí)間因數(shù)置于較快檔，并處于“自激”工作狀態(tài)；延遲掃描時(shí)間因數(shù)與被延遲掃描時(shí)間因數(shù)的比值應(yīng)不小于1000，“延遲倍率”置于適當(dāng)位置，調(diào)節(jié)信號(hào)源輸出電壓，使顯示為檢驗(yàn)工作面高度30%；改變信號(hào)源時(shí)標(biāo)周期，使顯示波形

37、與時(shí)間因數(shù)相適應(yīng)，并居中顯示，轉(zhuǎn)動(dòng)“延遲倍率”，讀取如圖33所示圖象在x軸方向上抖動(dòng)最大寬度所代表的時(shí)間值，則延遲晃動(dòng)比由下式求得：圖33式中：T1-光跡抖動(dòng)最大寬度與被延遲掃描時(shí)間因數(shù)的乘積；T1-延遲倍率值與延遲掃描時(shí)間因數(shù)的乘積。8 顯示系統(tǒng)8.1 示波管圖象畸變8.1.1 測(cè)試電路(見(jiàn)圖25)在無(wú)特殊規(guī)定時(shí)，本項(xiàng)目是檢查示波管有效工作面內(nèi)的任意邊緣區(qū)域中最差的顯示特性。8.1.2 測(cè)試方法8.1.2.1 邊緣直線度偏差輸入耦合于“接地”(或合適檔)。掃描處于自激工作狀態(tài)(或不工作)，使光跡幅度達(dá)到檢驗(yàn)工作面的幅度。調(diào)節(jié)位移，如圖34所示，測(cè)定其在檢驗(yàn)工作面內(nèi)上下(或左右)邊緣位置時(shí)，光

38、跡最大彎曲偏離直線的距離Dmax應(yīng)不超過(guò)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。圖348.1.2.2 垂直度偏差輸入耦合接地，掃描工作方式置于“自激”，信號(hào)源輸出置于“零”，調(diào)節(jié)垂直“位移”，使光跡與坐標(biāo)刻度的水平軸線重合，然后使時(shí)基系統(tǒng)不工作，調(diào)節(jié)x軸“位移”使光點(diǎn)處在坐標(biāo)片x、y坐標(biāo)的原點(diǎn)，偏轉(zhuǎn)因數(shù)置合適檔，耦合置“DC”，調(diào)節(jié)信號(hào)發(fā)生器輸出為檢驗(yàn)工作面的80%以上，使圖象居中顯示。如圖35所示。讀測(cè)此時(shí)x軸與y軸圖象的交角見(jiàn)圖35。圖35垂直度偏差為90°-。若使用多束示波管時(shí)，應(yīng)對(duì)各電子束分別進(jìn)行測(cè)試。垂直度偏差與偏轉(zhuǎn)度數(shù)關(guān)系見(jiàn)表3。表 3 垂直度偏差對(duì)照表 單位：格8.1.2.3 平行度偏差將被測(cè)示波器各y軸輸入端短路，改變位移，使各通道光跡調(diào)節(jié)至屏幕中央并保持適當(dāng)距離，然后選擇二條最不平行的光跡，將該二光跡的始端位移重合，測(cè)量該二光跡間的夾角，如圖36所示，其平行度偏差由下式求得：式中：-兩光跡的夾角；-兩光跡末端開(kāi)口的距離