實驗2γ射線的吸收與物質(zhì)吸收系數(shù)μ的測定實驗報告

1、 近代物理實驗報告 射線的吸收與物質(zhì)吸收系數(shù)測定學(xué) 院 數(shù)理與信息工程學(xué)院 班 級 光信081班 姓 名 陳亮 學(xué) 號 08620114 時 間 2011年04月27日 射線的吸收與物質(zhì)吸收系數(shù)的測定 班級：光信081 姓名：陳亮 學(xué)號：08620114摘要：學(xué)會NaI(Tl)單晶閃爍體整套裝置的操作、調(diào)整和使用；在此基礎(chǔ)上測量137Cs和60Co的能譜，求出能量變化率、峰康比、線性等各項指標(biāo)，并分析譜形；了解多道脈沖幅度分析器在NaI(Tl)單晶譜測量中的數(shù)據(jù)采集及其基本功能，在數(shù)據(jù)處理中包括對譜形進行光滑、尋峰，曲線擬合等。通過測量137Cs和60Co的射線的吸收曲線，研究射線與物質(zhì)（被束

2、縛在原子中的電子、自有電子、庫侖場、核子）相互作用的特性，了解窄束射線在物質(zhì)中的吸收規(guī)律及測量其在不同物質(zhì)中的吸收系數(shù)。關(guān)鍵字：射線 能譜 物質(zhì)吸收系數(shù) 光電效應(yīng) 康普頓效應(yīng) 電子對效應(yīng) 引言：原子核由高能級向低能級躍遷時會輻射 射線，它是一種波長極短的電磁波，其能量由原子核躍遷前后的能級差來表示即：射線與物質(zhì)發(fā)生相互作用則產(chǎn)生次級電子或能量較低的 射線，將 射線的次級電子按不同能量分別進行強度測量，從而得到 輻射強度按能量的分布，即為“能譜”。測量能譜的裝置稱為“能譜儀”。閃爍探測器是利用帶電粒子或非帶電粒子與某些物質(zhì)的相互作用下轉(zhuǎn)化成為帶電粒子對物質(zhì)原子的激發(fā)，從而會產(chǎn)生發(fā)光效應(yīng)的特性來測

3、量射線的儀器。它的主要優(yōu)點是即能測量各種類型的帶電粒子，又能探測中性粒子；即能測量粒子強度，又能測量粒子能量；并且探測效率高。射線，又稱粒子流，是原子核能級躍遷蛻變時釋放出的射線，是波長短于0.2埃的電磁波。首先由法國科學(xué)家P.V.維拉德發(fā)現(xiàn)，是繼、射線后發(fā)現(xiàn)的第三種原子核射線。原子核衰變和核反應(yīng)均可產(chǎn)生射線 。射線的波長比X射線要短，所以射線具有比X射線還要強的穿透能力。當(dāng)射線通過物質(zhì)并與原子相互作用時會產(chǎn)生光電效應(yīng)、康普頓效應(yīng)和正負電子對三種效應(yīng)。原子核釋放出的光子與核外電子相碰時，會把全部能量交給電子，使電子電離成為光電子，此即光電效應(yīng)。由于核外電子殼層出現(xiàn)空位，將產(chǎn)生內(nèi)層電子的躍遷并發(fā)

4、射X射線標(biāo)識譜。高能光子（2兆電子伏特）的光電效應(yīng)較弱。光子的能量較高時，除上述光電效應(yīng)外，還可能與核外電子發(fā)生彈性碰撞，光子的能量和運動方向均有改變，從而產(chǎn)生康普頓效應(yīng)。當(dāng)光子的能量大于電子靜質(zhì)量的兩倍時，由于受原子核的作用而轉(zhuǎn)變成正負電子對，此效應(yīng)隨光子能量的增高而增強。光子不帶電，故不能用磁偏轉(zhuǎn)法測出其能量，通常利用光子造成的上述次級效應(yīng)間接求出，例如通過測量光電子或正負電子對的能量推算出來。此外還可用譜儀（利用晶體對射線的衍射）直接測量光子的能量。由熒光晶體、光電倍增管和電子儀器組成的閃爍計數(shù)器是探測射線強度的常用儀器。 通過對射線譜的研究可了解核的能級結(jié)構(gòu)。射線有很強的穿透力，工業(yè)中

5、可用來探傷或流水線的自動控制。射線對細胞有殺傷力，醫(yī)療上用來治療腫瘤。射線是原子核從激發(fā)態(tài)躍遷到較低能態(tài)或基態(tài)時所發(fā)出的一種輻射，其輻射的能量由原子核躍遷前后兩能級的能量之差決定。由于射線的能量與原子核激發(fā)態(tài)的能級密切相關(guān)， 因此，射線能量的測量對于了解原子核的結(jié)構(gòu)、獲得原子核內(nèi)部的信息是一個十分重要的途徑。正文實驗?zāi)康?了解射線與物質(zhì)相互作用的特性；2了解窄束射線在物質(zhì)中的吸收規(guī)律；3測量其在不同物質(zhì)中的吸收系數(shù)。實驗原理輻射是處于激發(fā)態(tài)原子核損失能量的最顯著方式，其產(chǎn)生的原因主要有：a、b衰變引起的副產(chǎn)品；核反應(yīng)；基態(tài)激發(fā)。射線會與被束縛在原子中的電子、自由電子、庫侖場、核子等帶電體發(fā)生相

6、互作用，大部分作用是光電效應(yīng)、康普頓效應(yīng)、電子對效應(yīng)中的一種。低能時以光電效應(yīng)為主；當(dāng)光子能量大大超過電子的結(jié)合能時，以康普頓效應(yīng)為主；只有當(dāng)入射光子能量超過1.02MeV，電子對的生成才成為可能。本實驗研究的主要是窄束射線在物質(zhì)中的吸收規(guī)律。所謂窄束射線是指不包括散射成份的射線束，通過吸收片后的光子，僅由未經(jīng)相互作用或稱為未經(jīng)碰撞的光子所組成。 窄束射線在穿過物質(zhì)時，由于上述三種效應(yīng)，其強度就會減弱，這種現(xiàn)象稱為射線的吸收。射線強度隨物質(zhì)厚度的衰減服從指數(shù)規(guī)律，即 （1）其中，I0、I分別是穿過物質(zhì)前、后的射線強度，x是射線穿過的物質(zhì)的厚度（單位cm），r是光電、康普頓、電子對三種效應(yīng)截面之

7、和，N是吸收物質(zhì)單位體積中的原子數(shù)，是物質(zhì)的線性吸收系數(shù)（=rN，單位為cm）。顯然的大小反映了物質(zhì)吸收射線能力的大小。實際工作中常用質(zhì)量厚度Rm（g/cm2）來表示吸收體厚度，以消除密度的影響。因此（1）式可表達為 （2）由于在相同的實驗條件下，某一時刻的計數(shù)率N總與該時刻的射線強度I成正比，又對（2）式取對數(shù)得： （3）若將吸收曲線在半對數(shù)坐標(biāo)紙上作圖，將得出一條直線，如圖所示。m/可以從這條直線的斜率求出，即 （4）6 / 6文檔可自由編輯打印物質(zhì)對射線的吸收能力也經(jīng)常用半吸收厚度表示。所謂半吸收厚度就是使入射的射線強度減弱到一半時的吸收物質(zhì)的厚度，記作： （5）實驗裝置放射源137Cs

8、 (強度2微居里)；200mmAl窗NaI(Tl)閃爍探頭； 高壓電源、放大器、多道脈沖幅度分析器； Al與Pb吸收片若干實驗步驟：測量137Cs的射線在Al吸收片和Pb吸收片中的吸收曲線，并根據(jù)實驗數(shù)據(jù)求得線性吸收系數(shù)。1.調(diào)整實驗裝置，使放射源、準直孔、閃爍探測器的中心位于一條直線上； 2.在閃爍探測器和放射源之間加上0、1、2片已知質(zhì)量厚度的吸收片，進行定時測量（t=300秒）；3.分別記錄片數(shù)n=0,1,2,3,4時的R0、R1、R2、R3、R4所對應(yīng)的光電峰計數(shù)N0、N1、N2、N3、N4。4.根據(jù)公式得錯誤！未定義書簽。計算吸收片材料的質(zhì)量吸收系數(shù)01、02、03、04、12、13

9、、14、23、24、34。并求平均值。5.依照上述步驟測量Al和Pb對137Cs的射線的質(zhì)量吸收系數(shù)Al、Pb。 6.整理儀器，經(jīng)教師檢查簽字離開。數(shù)據(jù)處理計算吸收系數(shù)所用的放射性元素：137Cs，電壓U=684，Al=2.7g/cm3, Pb=11.34g/cm3Al的吸收系數(shù)組別12345質(zhì)量厚度（g/cm2）02.484.937.379.94計數(shù)率869765709666630峰位（chn）160.71160.51160.55160.46160.47半高寬（chn）15.2614.6714.5914.5814.38凈面積2785323741195931635913379分辨率9.49%9

10、.14%9.09%9.08%8.96%計數(shù)18371634139311821042對上述數(shù)據(jù)進行兩兩分組，這樣可以得到10組數(shù)據(jù)，通過計算可得到10個的值。計算吸收系數(shù)公式為：各組兩兩對應(yīng)后代入公式的值10.13140.15330.16270.15482/0.17630.17890.16293/0.18150.15634/0.1324平均值=0.1591 cm-1Pb的吸收系數(shù)組別12345質(zhì)量厚度（g/cm2）02.084.166.268.36計數(shù)率869638527434363峰位（chn）160.71160.45161.02160.65160.9半高寬（chn）15.2615.4114.

11、8414.8414.78凈面積2785323150184101455911578分辨率9.49%9.59%9.22%9.24%9.19%計數(shù)183715511209965828各組兩兩對應(yīng)后代入公式的值組別234510.93861.14871.17311.08612/1.35871.28981.13503/1.22151.02424/0.8269平均值=1.1203 cm-1實驗分析與總結(jié)通過本次實驗了解閃爍探測器的結(jié)構(gòu)與原理，了解射線與物質(zhì)相互作用的特性以及窄束射線在物質(zhì)中的吸收規(guī)律及測量其在不同物質(zhì)中的吸收系數(shù)。另外通過這次實驗對核技術(shù)有個初步的了解。本次實驗實驗實現(xiàn)了對137Cs和60C

12、o的射線能譜的測量，但所得的實驗結(jié)果存在一定的誤差，通過差資料可能原因有：i)、閃爍體由于長期使用性能下降，使有效的閃爍次數(shù)減少；ii)、計數(shù)不夠多，能譜峰值處的橫向座標(biāo)還不夠穩(wěn)定就讀了數(shù)iii)、調(diào)節(jié)放大倍數(shù)的器件本身有儀器誤差。在吸收系數(shù)的測定的實驗中所得的結(jié)果與理論值也存在這偏差，可能的原因有：i)、由于每次試驗中探測器與放射源的距離都相等，這樣導(dǎo)致每次試驗過程中探測器與放射源之間的空氣厚度不一樣，由于空氣對涉嫌也具有吸收能力，這樣增加了實驗的誤差；ii)、在試驗中Al片與Pb片的放置位置不是很規(guī)則，它們之間存在一定間隙，對實驗結(jié)果產(chǎn)生影響；iii)、試驗次數(shù)太少，導(dǎo)致偶然誤差較大；iv）、NaI(TI)閃爍晶體的發(fā)光效率受溫度的影響，在不同的溫度下，同樣能量的射線打出的光子數(shù)會發(fā)生變化，其結(jié)果必然會影響實驗的準確性。在試驗的過程中要特別注意人身安全。在實驗過程中一定要小心拿取放置放射源，并時刻注意時刻注意射線的位置及其朝向。實驗結(jié)束后必須注意把電壓與放大系數(shù)調(diào)零，以避免下次開機電壓過高造成損壞。實驗問題分析1、 測定吸收系數(shù)時減少AL或Pb的塊數(shù)時是否應(yīng)將探頭往里移動緊貼？答：保持單一變量原則，在Al與Pb對比實驗中不能改變探頭與材料間