GB∕T 5095.2503-2021 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法 第25-3部分：試驗(yàn)25c：上升時(shí)間衰減

?標(biāo)準(zhǔn)分享吧

ICS31.220.10

L23

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001

電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法

第25-3部分:試驗(yàn)25c:上升時(shí)間衰減

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment一

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-3:Test25c：Risetimedegradation

(IEC60512-25-3:2001，Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements——Part25-3:Test25c：Risetimedegradation,IDT)

2021-03-09發(fā)布

2021-10-01實(shí)施

標(biāo)準(zhǔn)分享吧

標(biāo)準(zhǔn)分享吧

GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001

前 m

1總、則 1

l.i范圍和目的 1

1.2術(shù)語和定義 1

2試驗(yàn)設(shè)施 1

2.1設(shè)備 1

2.2 2

3試驗(yàn)樣品 2

3.1翻 2

4試驗(yàn)程序 3

4.1插人法 3

4.2標(biāo)準(zhǔn)裝置法 3

4.3上升時(shí)間衰減計(jì)算 3

5相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定的細(xì)則 3

6試驗(yàn)記錄文件 3

附錄A（規(guī)范性附錄）裝置和設(shè)備示意圖 5

附錄B（資料性附錄）實(shí)用指南 8

I

標(biāo)準(zhǔn)分享吧

標(biāo)準(zhǔn)分享吧

GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001

GB/T5095((電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法》按試驗(yàn)方法分為若干部分。

GB/T5095的第25部分為信號(hào)完整性試驗(yàn)，已經(jīng)發(fā)布或計(jì)劃發(fā)布的部分如下：

一第25-1部分:試驗(yàn)25a:串?dāng)_比；

第25-2部分:試驗(yàn)25b:衰減(插人損耗)；

——第25-3部分:試驗(yàn)25c:上升時(shí)間衰減；

——第25-4部分:試驗(yàn)25d:傳輸時(shí)延；

一第25-5部分:試驗(yàn)25e:回波損耗；

一第25-6部分:試驗(yàn)25f:眼圖和抖動(dòng)；

——第25-7部分:試驗(yàn)25g:阻抗、反射系數(shù)和電壓駐波比(VSWR)；

一第25-9部分：信號(hào)完整性試驗(yàn)試驗(yàn)25i:外來串?dāng)_。

本部分為GB/T5095的第25-3部分。

本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。

本部分使用翻譯法等同采用IEC60512-25-3:2001((電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測量第25-3部分:試驗(yàn)25c:上升時(shí)間衰減》。

本部分做了下列編輯性修改：

一標(biāo)準(zhǔn)名稱由《電子設(shè)備用連接器試驗(yàn)和測量第25-3部分:試驗(yàn)25c:上升時(shí)間衰減》修改為《電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法第25-3部分:試驗(yàn)25c:上升時(shí)間衰減》。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任。本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出。

本部分由全國電子設(shè)備用機(jī)電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC166)歸口。

本部分起草單位：四川華豐企業(yè)集團(tuán)有限公司、中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院。

本部分主要起草人：龐斌、朱茗、肖淼、劉俊、汪其龍。

標(biāo)準(zhǔn)分享吧

標(biāo)準(zhǔn)分享吧

GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001

電子設(shè)備用機(jī)電元件

基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法

第25-3部分：試驗(yàn)25c:上升時(shí)間衰減

1總則

1.1范圍和目的

GB/T5095的本部分適用于電連接器、插座、電纜組件或互連系統(tǒng)。

本部分描述了測量樣品對通過其中信號(hào)的上升時(shí)間所產(chǎn)生影響的方法。

1.2術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件。

1.2.1

上升時(shí)間衰減risetimedegradation

樣品插人傳輸通道時(shí)，達(dá)到理論上理想的（零上升時(shí)間）電壓階躍的上升時(shí)間增量（見圖1）。采用的高斯信號(hào)從10%?90%的上升時(shí)間衰減的計(jì)算式見式（1）:

Tr,d=V（Tr）2-（Tr,m）2 （1）

式中：

Tr.d 上升時(shí)間衰減；

Tr—測量的上升時(shí)間；

Tr,m——測量系統(tǒng)上升時(shí)間。

1.2.2

測量系統(tǒng)上升時(shí)間measurementsystemrisetime

安裝就位無樣品，并具有濾波（或歸一化）作用的裝置測量的上升時(shí)間。通常，測量的是從10%~90%電平的上升時(shí)間（見圖1）。

1.2.3

樣品環(huán)境阻抗specimenenvironmentimpedance

由裝置在樣品信號(hào)導(dǎo)線上引起的阻抗。該阻抗是由傳輸線路、終端電阻、附裝的接收器和信號(hào)源以及裝置的寄生效應(yīng)產(chǎn)生的。

1.2.4

上升時(shí)間risetime

發(fā)生電壓階躍所需的時(shí)間，通常測量的是從10%?90%電平上升時(shí)間的初始值和最終值。

2試驗(yàn)設(shè)施

2.1設(shè)備

脈沖發(fā)生器和示波器、時(shí)域反射計(jì)（TDR）或具有測量系統(tǒng)上升吋間小于或等于測量的上升時(shí)間70%的其他合適設(shè)備。

2.2裝置

除非參考文件中另有規(guī)定，樣品環(huán)境阻抗應(yīng)與試驗(yàn)設(shè)備的阻抗相匹配。通常，對于單端測量，該阻抗為50￡1，差分測量為100n。裝置和設(shè)備的示意圖見附錄A。

2.2.1方法A，單端

裝置應(yīng)能一次激勵(lì)一條信號(hào)線路。激勵(lì)線路應(yīng)按圖A.2中的一種方法，與樣品環(huán)境阻抗端接。除非另有規(guī)定，具有全部共用接地的各端應(yīng)采用1:1的信號(hào)-接地比。與激勵(lì)線路相鄰的每條線路在近端和遠(yuǎn)端也應(yīng)與樣品環(huán)境阻抗端接。

插入法

裝置應(yīng)設(shè)計(jì)成在有樣品和無樣品時(shí)都能進(jìn)行上升時(shí)間的測量［見圖A.la)］。

標(biāo)準(zhǔn)裝置法

兩個(gè)裝置應(yīng)設(shè)計(jì)成具有相同的裝置電氣長度和環(huán)境傳輸線路的特性。“樣品裝置”包括樣品/‘標(biāo)準(zhǔn)裝置”不包括樣品。裝置電氣長度不包括樣品長度［見圖A.lb)］。

2.2.2方法B，差分激勵(lì)

裝置應(yīng)能一次激勵(lì)一信號(hào)線對。激勵(lì)線路應(yīng)按圖A.3中的一種方法與樣品環(huán)境阻抗端接。除非另有規(guī)定，應(yīng)采用2:1的信號(hào)-接地比。與激勵(lì)線路相鄰的每條線路在近端和遠(yuǎn)端也應(yīng)與樣品環(huán)境阻抗端接。

插入法

裝置應(yīng)設(shè)計(jì)成在有樣品和無樣品時(shí)都能進(jìn)行上升時(shí)間測量［見圖A.la)］。

標(biāo)準(zhǔn)裝置法

兩個(gè)裝置應(yīng)設(shè)計(jì)成具有相同的裝置電氣長度和環(huán)境傳輸線路的特性?！皹悠费b置”包括樣品/‘標(biāo)準(zhǔn)裝置”不包括樣品。裝置的電氣長度不包括樣品長度［見圖A.lb)］。

3試驗(yàn)樣品

3.1說明

用于本試驗(yàn)規(guī)程的試驗(yàn)樣品應(yīng)為下列類型：

3.1.1可分離連接器

連接器插合對。

3.1.2電纜組件

組裝好的連接器和電纜，及其插配連接器。

3.1.3插座

插座與試驗(yàn)器件，或插座和插頭轉(zhuǎn)接器。

2

標(biāo)準(zhǔn)分享吧

標(biāo)準(zhǔn)分享吧

GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001

4試驗(yàn)程序

除另行規(guī)定外，測量系統(tǒng)的上升時(shí)間應(yīng)小于或等于有樣品測量的上升時(shí)間的70%（見圖1），建議使用該設(shè)備的最快輸出信號(hào)。下述兩種方法既適用于單端測量也適用于差分測量。對于差分測量，必須確定各通道之間存在的任何相位和/或幅度誤差，并對這些誤差提供必要的補(bǔ)償。樣品應(yīng)放置在距任何可能會(huì)影響測量結(jié)果的物體至少5cm處。試驗(yàn)的實(shí)用指南參見附錄B。

注：試驗(yàn)人員宜了解通過儀器進(jìn)行的任何數(shù)學(xué)運(yùn)算的局限性（如歸一化或軟件濾波）。

4.1插入法

4.1.1測量通過無樣品并具有濾波或歸一化作用裝置傳輸?shù)妮敵鲂盘?hào)上升時(shí)間并測定波形。此即是測量系統(tǒng)的上升時(shí)間。

4.1.2測量通過有樣品并具有濾波或歸一化作用裝置傳輸?shù)妮敵鲂盘?hào)上升時(shí)間并測定波形。此即為測量的上升時(shí)間。

4.2標(biāo)準(zhǔn)裝置法

4.2.1測量通過無樣品并具有濾波或歸一化作用標(biāo)準(zhǔn)裝置傳輸?shù)妮敵鲂盘?hào)上升時(shí)間并測定波形。此即是測量系統(tǒng)的上升時(shí)間。

4.2.2測量通過有樣品并具有濾波或歸一化作用標(biāo)準(zhǔn)裝置傳輸?shù)妮敵鲂盘?hào)上升時(shí)間并測定波形。此即為測量的上升時(shí)間。

4.3上升時(shí)間衰減計(jì)算

若為高斯信號(hào)并測量從10%?90%電平的上升時(shí)間，則上升時(shí)間衰減按式（2）計(jì)算：

Tr,d=y（Tr）2-（Tr,m）2 （2）

式中：

Tr.d 上升時(shí)間衰減；

Tr—測量的上升時(shí)間；

Tr,m 測量系統(tǒng)上升時(shí)間。

若不是高斯信號(hào)并且測量的上升時(shí)間不是從10%?90%電平，則不能采用以上式（2）。在此情況下，報(bào)告測量的上升時(shí)間和波形圖。

5相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定的細(xì)則

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)規(guī)定下列細(xì)則。

5.1測量系統(tǒng)上升時(shí)間（如可得到）。

5.2單端不同于50￡1或差分不同于100￡1的樣品環(huán)境阻抗。

5.3信號(hào)/接地型式，包括用于本試驗(yàn)信號(hào)和接地連接導(dǎo)線的數(shù)目和位置。

5.4裝置要求（如有）。

5.5不同于10%~90%的上升時(shí)間電平。

5.6方法A（單端），方法B（差分激勵(lì)），或兩者。

6試驗(yàn)記錄文件

記錄文件應(yīng)包括第5章中規(guī)定的細(xì)則和例外，以及下列細(xì)節(jié)。

3

6.1試驗(yàn)名稱。

6.2試驗(yàn)設(shè)備及其上次和下次校準(zhǔn)的日期。

6.3試驗(yàn)程序和方法。

6.4裝置說明。

6.5測量系統(tǒng)上升時(shí)間，見第4章（如適用）。

6.6測量的有樣品上升時(shí)間。

6.7波形圖（若要求的信號(hào)不是高斯信號(hào)或測量的上升時(shí)間不是10%?90%電平）。

6.8計(jì)算值和觀測值。

6.9操作員姓名和試驗(yàn)日期。

說明：

Vin 輸人電壓；

V?ul 輸出電壓。

注：計(jì)算（）％和100%電平時(shí)，上沖峰突和下沖峰突可忽略不計(jì)。

圖1波形

#

標(biāo)準(zhǔn)分享吧

GB/T5095.2503—2021/IEC60512-25-3:2001

附錄A

（規(guī)范性附錄）

裝置和設(shè)備示意圖

裝置和設(shè)備的示意圖見圖A.1?圖A.3。

a）插入法

b）標(biāo)準(zhǔn)裝置法

圖A.1裝置方法示意圖

7

50Q接收器

b)

50fi

說明：

——電阻1;

R2 電阻2;

Z。 特性阻抗；

V。 源電壓。

最低損耗匹配器計(jì)算式為：

=50[l—(Z?/50)]l<5 R}=Z()[l-(50/Z())]ri-n

z()<5()n時(shí)： z()>5()n時(shí)：

R,=Zo/：1-(zn/50)]IV_ R2=50/[l—(50/Z。)]"-5

圖A.2單端終端

o-

試驗(yàn)樣品

-o

500接收器

b)

50fi

接收器

說明：

Ri 電阻1;

R2 電阻2;

Zq 特性阻抗；

V0 源電壓。

最低損耗匹配器計(jì)算式為：

i?1=100：l-(Z0/100)]°-5/2 K1=Zo：l-(lOO/Zo)l°-5/2

zo<ioon時(shí)： zo>iooq時(shí)：

}?2=Zo/：l-(Zo/lOO)]0-5 _R2=100/[l—(lOO/Zo)]0.5

圖A.3差分（平衡）終端

附錄B

（資料性附錄）

實(shí)用指南

由于信號(hào)和接地導(dǎo)線所造成的寄生電抗，所以在高頻條件下信號(hào)線路要具有近乎理想的阻性終端是不可能的。這些電抗將會(huì)對測量的結(jié)果產(chǎn)生影響。在此情況下，最好是使得試驗(yàn)裝置與實(shí)際應(yīng)用場合的幾何條件（寄生性的）完全相同。除圖A.1和圖A.2中的構(gòu)件外，還可能包括采用的傳輸線路。這些測量采用的大多數(shù)儀器都在信號(hào)源和檢測器端口內(nèi)部端接了50n負(fù)載。

Looqoo-s-CNLgogUm/LSCNlOOOS’SOLOH/go

中華人民共和國

國家標(biāo)準(zhǔn)