超聲波探傷測定作業(yè)指導(dǎo)書

1、超聲波探傷測定作業(yè)指導(dǎo)書一、使用設(shè)備PXUT-350型全數(shù)字探傷儀二、測試原理及目的超聲波探傷法是通過有壓電晶體的探頭，將電振蕩轉(zhuǎn)變成超聲波，入射到工程材料或設(shè)備構(gòu)件后，如遇缺陷則超聲波被反射、散射或衰減，再經(jīng)探頭接收后變成電信號，進而放大顯示在超聲波探傷儀的屏幕上，并根據(jù)相應(yīng)的原則由熒光屏上顯示出的信息判定缺陷的部位、大小和性質(zhì)。超聲波探傷法不僅可檢測被測物體表面的缺陷，重要的是可以探測到內(nèi)部的缺陷。三、測試方法及步驟1、測零點（聲速或K值）根據(jù)測試的物體的不同，可分為使用直探頭和使用斜探頭測試。1.1）測試前，首先根據(jù)物體的不同相應(yīng)的選擇所使用的探頭，一般情況下，使用直探頭、雙晶探頭的物體

2、在屏幕“聲波類型”中一般為“縱波”，斜探頭一般為“橫波”。如果“聲波類型”為“深度”則“聲波類型”不影響測試，但需在測試前輸入工件聲速。1.聲波類型：(縱波或橫波)2.一次聲程： mm3.兩次聲程： mm4.聲程類型：(距離/深度/曲面) 開始測試如果“聲程類型”選為“距離”時（默認(rèn)為“距離”），此測試過程在測零點的同時可測出工件中聲速，例如用CSK-1A試塊測橫波探頭的零點與聲速；如選取“深度”時則用兩個不同深度的反射體可同時測出探頭的零點和K值（此時需事先輸入工件中聲速），例如用CSK-A試塊測橫波探頭的零點K值。根據(jù)所用試塊聲程值，如果輸入的試塊聲程值過小，則不能測試，儀器會提示“輸入數(shù)

3、值不當(dāng)”，此時可重新輸入一個恰當(dāng)?shù)臄?shù)值。當(dāng)選2鍵輸入“一次聲程”后，“兩次聲程”所顯示的數(shù)值將會是“一次聲程”的兩倍。也可以按3鍵在“兩次聲程”處直接輸入數(shù)值，但必須保證“兩次聲程”大于“一次聲程”。儀器將根據(jù)輸入值自動設(shè)置進波門（一般是門位在第三格，門寬三格）、聲程（聲程單位）、增益、聲速等參量，一般不需用戶再調(diào)節(jié)，但有一些探頭如雙晶探頭由于零點較長，可能需要移動進波門位（屏幕左上角提示：門位-A）或其它參量（如聲程）使所需回波處于進波門內(nèi)，調(diào)節(jié)參量后應(yīng)按返回鍵退出參量更改狀態(tài)，使屏幕左上角提示為：測零點。在確認(rèn)一次聲程值時需用直尺量出探頭至反射體的水平距離，并在確認(rèn)測試值后輸入。1.2）注

4、意事項（1）測零點時不可調(diào)延時和更改補償增益，不可更換通道，也不可嵌套其它測試；（2）確認(rèn)回波時應(yīng)注意在屏幕左上角有“測零點”三字提示時才可按確認(rèn)鍵；（3）當(dāng)“聲程類型”為“距離”時，在兩次確認(rèn)回波之間應(yīng)保持探頭穩(wěn)定不動；（4）確認(rèn)進波門內(nèi)回波時,可移動“門位-A”使回波處于進波門內(nèi)。（5）當(dāng)“聲程類型”為“深度”時，若所找反射體最高波位置稍有偏差即可能使測試結(jié)果出現(xiàn)較大誤差，因此非必要狀況或不夠熟練者請不要使用此方法。（6）在示例中所輸入數(shù)值僅為舉例，應(yīng)根據(jù)試塊的實際情況進行輸入。2、測K值按調(diào)零/測試鍵再按確認(rèn)/2ndf話把出現(xiàn)測試菜單后，按2選中測K值后，屏幕左上角出現(xiàn)提示：“先測聲速零

5、點？+/-”，如用戶按+鍵則先測零點聲速（參見5-1，默認(rèn)使用CSK-A試塊，所以“聲波類型”會自動預(yù)置為橫波，試塊“一次聲程”預(yù)置為50mm，“兩次聲程”為100mm，“聲程類型”為距離），再測K值；如按-鍵則直接測K值，屏幕上出現(xiàn)對話框：1.反射體深度： mm2.反射體直徑： mm3.探頭K值：按 確認(rèn)根據(jù)所用探頭和試塊輸入數(shù)據(jù)，儀器根據(jù)輸入預(yù)置增益、聲程、門等參量，如果輸入值與實際值誤差較大，將可能會導(dǎo)致錯誤結(jié)果，需重新輸入正確數(shù)據(jù)并測試，開始測試后要參照提示在試塊上移動探頭或調(diào)節(jié)參量使反射體最高回波出現(xiàn)在進波門內(nèi)時確認(rèn)即可。2.1)注意事項（1）如果聲速零點未校準(zhǔn)，則所測K值可能會有錯

6、誤，應(yīng)先測準(zhǔn)聲速和零點；（2）反射體深度是指探測面到反射體中心的距離，而不是反射面；（3）僅在屏幕左上角有“測K值”三字提示且波高約為60%時才可確認(rèn)回波；（4）測K值時不可調(diào)延時和更改補償增益，不可更換通道，也不可嵌套其它測試；（5）如果由于實際K值與標(biāo)稱K值誤差較大，導(dǎo)致最高回波不在進波門內(nèi)，用戶可調(diào)節(jié)進波門參數(shù)或聲程，使所需最高波處于進波門內(nèi)。3、DVC/AVG的測試按調(diào)零/測試鍵再按確認(rèn)/2ndf鍵出現(xiàn)測試菜單后，按3選中DAC（制作DAC曲線），屏幕左上角出現(xiàn)提示：“先測零點K值？+/-”，如用戶按+鍵則先測聲速（零點）、K值（參見5-1、5-2），再制作DAC；如按-則直接制作DA

7、C，屏幕上出現(xiàn)對話框：1.最大探測深度： mm2. 反射體直徑： mm3. 反射體長度： mm 開始測試輸入數(shù)據(jù)并確認(rèn)后即可開始制作DAC曲線。屏幕左上角參數(shù)區(qū)有DAC三字，且波形區(qū)右上端出現(xiàn)提示框：+選波 -移點 存儲 退出在制作DAC過程中可調(diào)節(jié)門、增益、聲程、位移、零點、抑制各項參量，但探頭類型、探頭K值、工件聲速等其它參量只能是測試之前在參數(shù)菜單中輸入。在試塊上移動探頭，當(dāng)反射體最高波出現(xiàn)時穩(wěn)住探頭，調(diào)節(jié)參量后使所需回波的波高為40-80%（在此高度范圍內(nèi)最好）時按返回鍵退出參量調(diào)節(jié)，在DAC狀態(tài)下（即參數(shù)區(qū)有DAC三字）按-鍵，則屏幕凍結(jié)，且在一個波峰上出現(xiàn)一個光標(biāo)，按-鍵可移動此光

8、標(biāo)至下一個波峰，同時參數(shù)區(qū)會同步顯示該波峰的位置、波高等參數(shù)，用戶可按+鍵選中光標(biāo)所在的回波，在儀器畫好DAC曲線上的一點后，回波將被解凍，此時可在試塊上移動探頭，尋找來自另一深度的缺陷波。如果發(fā)現(xiàn)因未找到最高回波而使某一點偏低，使得DAC線不夠美觀，可重新尋找該點的最高回波，按-鍵重新將光標(biāo)移到該點的最高回波上再按+鍵選中該點，該點將被補高。所有點測試完畢后，若認(rèn)可已制作完成的DAC母線，按 鍵存儲，儀器根據(jù)測試數(shù)據(jù)自動生成DAC曲線3.1）注意事項（1）如果零點K值未校準(zhǔn)，則所制作DAC/AVG曲線可能錯誤，需先測零點（聲速）、K值；（2）當(dāng)進波門寬小于兩格時，儀器可自動調(diào)節(jié)增益，使進波門

9、內(nèi)回波幅度約為60%；（3）測試時可以調(diào)節(jié)增益、聲程和門參數(shù)，但不可調(diào)節(jié)補償和延時。（4）僅在參數(shù)區(qū)有“DAC”或“DAG”三字且進波門內(nèi)有回波高于10%時按-鍵，屏幕才會凍結(jié)，才能進行移點選波，所以要對此特別注意。4、測厚度按調(diào)零/測試鍵再按確認(rèn)/2ndf鍵，或者按K值/通道鍵再按確認(rèn)/2ndf，會出現(xiàn)測試菜單，選中“測厚度”，則出現(xiàn)測厚對話框：1.測量厚度2.數(shù)據(jù)處理 開始測試其中默認(rèn)選項標(biāo)號1高亮顯示，如果用戶按2則標(biāo)號2將高亮顯示，標(biāo)號1恢復(fù)正常顯示。4.1測量厚度：在測厚對話框出現(xiàn)后按1使標(biāo)號1高亮顯示時按確認(rèn)鍵，屏幕左上角出現(xiàn)提示：“先測聲速零點？+/-”，按+鍵則先測聲速零點（見

10、5-1，聲波類型預(yù)值為縱波），再測厚；按-鍵則直接測厚。測厚開始后，屏幕左上角自動顯示年月日“XXXX-XX-XX”，在其下端顯示：“第XX頁編號：”，用戶在光標(biāo)處輸入測厚組標(biāo)號，編號長1-8位，如需輸入英文字母或其它一些特殊字符，按返回鍵可出現(xiàn)ASC碼表（參見9-3），編號輸完后參數(shù)區(qū)提示“測厚度”，波形區(qū)上方顯示：XXXX-XX-XX 測厚進行中， 轉(zhuǎn)下頁XXXXXXX +存儲 -回上一厚度 ·退出測厚在這兩行提示（其中XXXX-XX-XX為年月日，下行的XXXXXX為輸入的編號）的下方會出現(xiàn)“T1=XXXX mm”的字樣，XXXX表示進波門內(nèi)最高波的厚度值且會不停閃爍（此數(shù)值在

11、參數(shù)區(qū)深度一欄也有顯示），用戶按+鍵確認(rèn)該厚度值且厚度值停止閃爍，屏幕上會出現(xiàn)“T2=XXXX mm”的字樣，用戶將探頭移至工件另一個厚度處可再測出新的厚度；如果用戶認(rèn)為確認(rèn)存儲的厚度值不夠準(zhǔn)確，可按-鍵返回，使需重測厚度處重新開始閃爍，再次測試其厚度。測厚時，屏幕上最多可顯示18個厚度值，既為一組，一組測完（不滿18個也可）按確認(rèn)鍵進入下一組，用戶輸入組編號后可再次開始測厚，儀器共可存儲20組厚度值（如已有20組，則會提示：“內(nèi)存容量已滿”且退出測厚，需將已存數(shù)據(jù)部分或全部清除后方可繼續(xù)測厚且存儲）；如果一組數(shù)據(jù)多于18個時會自動進入下一組，需再次輸入編號，測厚完成后按返回鍵退出測厚狀態(tài)。4

12、.2數(shù)據(jù)處理：在測厚對話框出現(xiàn)后按2并確認(rèn)后進入“數(shù)據(jù)處理”項，可進行測厚數(shù)據(jù)的查詢、刪除。屏幕右端顯示如右圖所示的菜單，屏幕左上端顯示年月日“XXXX-XX-XX”，在年月日下方顯示“第X頁編號“XXXXXXX”，在其下方顯示厚度，每行顯示兩個厚度，每頁最多18個厚度。按1鍵則菜單消失并打印該頁內(nèi)容，按2鍵則提示清除當(dāng)前數(shù)據(jù)“？+/-”按+鍵當(dāng)前頁被刪除，后續(xù)頁前移。按返回或確認(rèn)鍵即可退出。4.3注意事項（1）如果聲速零點未校準(zhǔn)，則所測厚度可能錯誤，需先測聲速和零點。（2）本儀器所測厚度值，相對精度一般在1%以內(nèi)；如果測試誤差過大，可能是由于聲速、零點未校準(zhǔn)，或者是所用試塊與待測工件的厚度相

13、差過大，可選用專用測厚儀；（3）測厚過程中可調(diào)節(jié)參量，但調(diào)節(jié)完畢后應(yīng)按返回鍵使屏幕左上角有“測厚度”三字提示。5測儀器在測試菜單中按6選中測儀器，屏幕上出現(xiàn)提示：將直探頭放在25mm厚試塊上并穩(wěn)住 確認(rèn) 處理前次測試報告按確認(rèn)鍵開始進行儀器探頭組合性能測試，按-則屏幕上出現(xiàn)上一次進行該項測試的結(jié)果。5.1水平線性測試1）測聲速零點（參見5-1，默認(rèn)聲波類型為縱波，試塊聲程為50mm）2）聲速零點測準(zhǔn)后，屏幕左上方提示“水平線性測試”，并且聲程改為12.5mm/D，使25mm厚試塊的一至五次回波依次出現(xiàn)在第二、四、六、八和十格上，儀器提示：系統(tǒng)正在測試請穩(wěn)住探頭此時僅需保持探頭不動，儀器會自動調(diào)

14、整增益、進波門位，使進波門內(nèi)回波高位50%，最后計算出水平線性值。5.2分辨力測試1）屏幕左上方提示“分辨力測試”，并且在波形區(qū)提示：CSKIA試塊85mm 和91mm處回波等高為50%時 確認(rèn)2）在CSK-IA試塊上移動直探頭，當(dāng)85mm和91mm兩處的回波等高且為50%時按確認(rèn)鍵，儀器提示：系統(tǒng)正在測試請穩(wěn)住探頭穩(wěn)住探頭并等待片刻，儀器自動增加增益使兩波的波谷上升為50%,儀器記下增益差,即為直探頭分辨力5.3垂直線性及動態(tài)范圍測試1）屏幕左上方提示“垂直線性測試”，并且在波形區(qū)提示：200mm深2平底孔最高回波為50% 時確認(rèn)2）在CS-1-5試塊上移動直探頭，當(dāng)200mm深2平底孔處的

15、回波高為50%時按確認(rèn)鍵，屏幕上出現(xiàn)提示： 系統(tǒng)正在測試請穩(wěn)住探頭儀器自動調(diào)節(jié)增益使波高上升為100%，然后以2dB的步長使增益下降，這時儀器自動記下每次的波高，算出垂直線性和動態(tài)范圍5.4靈敏度余量測試1）屏幕左上方提示“靈敏度余量測試”，并且在波性區(qū)提示：200mm深2平底孔最高回波為50%時 確認(rèn)2）用戶穩(wěn)住探頭，當(dāng)200mm深2平底處的回波為50%時按確認(rèn)鍵，屏幕上出現(xiàn)提示：除去探頭厚按3）這時需除去探頭，確認(rèn)厚，儀器自動提高增益，使干擾波達10%，記下增益差即為靈敏度余量。5.5顯示測試結(jié)果上述四項測試完成厚，儀器會自動算出結(jié)果，并將其顯示在屏幕上，可將其打印輸出。儀器探頭性能測試報告測試日期XXXX-XX-XX儀器編號XXXXX水平線性%垂直線性%動態(tài)范圍dB分辨力dB靈敏度余量dB按 打印5.6注意事項：1）如果要打印測試結(jié)果，需在測試前在關(guān)機狀態(tài)下將打印機與儀器接好；2）按標(biāo)準(zhǔn)測試儀器性能所用探頭應(yīng)為2.5MHz 2直探頭；3）由于測儀器是測試儀器和探頭的組合性能，因此強烈建議使用質(zhì)