材料微區(qū)測(cè)試平臺(tái)文檔

1、材料微區(qū)分析平臺(tái)平臺(tái)目前擁有的儀器有：冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（CFSEM）、熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（TFSEM）、S-520掃描電鏡（SEM）、電子探針（EPMA）、X射線粉末衍射儀（XRD）、X射線單晶衍射儀（SXRD）、微區(qū)X射線熒光光譜儀（- XRF）、以及冷凍干燥儀、臨界點(diǎn)干燥儀等配套的掃描電鏡制樣設(shè)備。可以進(jìn)行各類材料表面形貌、微區(qū)結(jié)構(gòu)和元素成分及材料的物相和結(jié)構(gòu)分析等。平臺(tái)人員專業(yè)技術(shù)力量強(qiáng)，實(shí)力雄厚，在材料微區(qū)形貌結(jié)構(gòu)、成分分析和物相、結(jié)構(gòu)分析及其各類電鏡的維修等方面都具有豐富的經(jīng)驗(yàn)；平臺(tái)學(xué)術(shù)氣氛濃厚，承擔(dān)了國(guó)家自然科學(xué)基金和廣東省自然科學(xué)基金多項(xiàng)；平臺(tái)人員精誠(chéng)合作，改革創(chuàng)新，竭誠(chéng)為校內(nèi)外提

2、供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。人員具體情況如下：姓名職務(wù)/職稱工作職責(zé)聯(lián)系電話電子郵箱趙文霞平臺(tái)主任/ 副研究員主持平臺(tái)全面工作/電子探針84115809zhaowx李陽(yáng)研究員單晶數(shù)據(jù)處理84110195liyang223 許瑞梅實(shí)驗(yàn)師冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡、S-520掃描電鏡84110783pusxrm程小寧實(shí)驗(yàn)師熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡、S-520掃描電鏡84110783chengxn7徐艷高級(jí)工程師X射線粉末衍射儀、微區(qū)X射線熒光光譜儀84110782xuyan馮小龍工程師X射線單晶衍射儀、微區(qū)X射線熒光光譜儀84110782pusfxl梁超倫實(shí)驗(yàn)師透射電鏡84110195liangchl黃烘工程師透射電鏡84110

3、195huangh27張浩助理實(shí)驗(yàn)師透射電鏡84110195zhhao26 熱場(chǎng)掃描電鏡/能譜/背散射 型 號(hào)：Quanta 400/INCA/HKL熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡/ X-射線能譜儀/電子背散射衍射系統(tǒng) (Thermal FE Environment Scanning Electron Microscope/ Energy Dispersive X-RAY Spectrometer，EDS/ Electron Backscatter Diffraction，EBSD)生產(chǎn)廠家：荷蘭飛利浦FEI公司/ Oxford (英國(guó)牛津公司) / HKL (丹麥HKL公司，現(xiàn)屬于英國(guó)牛津公司)主要技術(shù)指

4、標(biāo)：1、電鏡的分辨率：2 nm 放大倍數(shù)：7 500,0002、掃描電鏡分辨率：30kV高真空、低真空: 2.0nm；3kV低真空: 3.5nm 3、30kV透射掃描（STEM）分辨率：1.5nm；環(huán)境真空模式下30kV時(shí)，分辨率2.0nm4、能譜元素分析范圍：5B92U 5、EBSD空間分辨率(Al, 20kV): 0.1 m FEG SEM；角度分辨率優(yōu)于0.5度6、相鑒定功能：包括七大晶系，具有最大的相鑒定數(shù)據(jù)庫(kù) 應(yīng)用范圍：Quanta 400 FEG場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是表面分析重要的表征工具之一，具有靈活先進(jìn)的自動(dòng)化操作系統(tǒng)。具有三種成像真空模式-高真空模式、低真空模式和ESEMTM

5、模式，可以觀察分析各種類型的樣品。它可以對(duì)處理過(guò)的樣品和未處理的原始樣品提供微米、納米級(jí)表面特征的圖像和微觀分析數(shù)據(jù)。在生物學(xué)、地質(zhì)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、考古以及其他領(lǐng)域中得到日益廣泛的應(yīng)用。本儀器還配有INCA X-射線能譜儀和EBSD背散射電子衍射系統(tǒng)，元素分析范圍為4Be92U，同時(shí)可進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)和取向分析。該儀器上是集多領(lǐng)域手段于一體的顯微形貌、顯微成分、顯微結(jié)構(gòu)和顯微織構(gòu)的現(xiàn)代化顯微分析系統(tǒng)。樣品要求：各種類型的尺寸小于5cm5cm5cm（尺寸毫米級(jí)為宜）的干燥固體樣品 聯(lián)系方式：020-84110783300kV 透射電子顯微鏡 型 號(hào)：Tecnai G2 F30

6、 300 kV 透射電子顯微鏡生產(chǎn)廠家：美國(guó)FEI公司主要技術(shù)指標(biāo)：1、加速電壓200 kV300 kV2、點(diǎn)分辨率（nm）0.203、線分辨率（nm）0.1024、信息限度（nm）0.145、TEM放大倍數(shù)范圍60 -1，000kx6、相機(jī)長(zhǎng)度（mm）80 - 4，5007、最大衍射角度128、STEM HAADF分辨率（nm）0.199、STEM放大倍數(shù)范圍 150 -230Mx10、能譜分辨率 136 eV11、能量過(guò)濾器分辨率: 0.9 eV應(yīng)用范圍：FEI公司Tecnai G2 F30場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡是一個(gè)真正多功能，多用戶環(huán)境的300 kV場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，它將各種透射電鏡

7、技術(shù)，包括CTEM, SAED, STEM, EDX, EELS有機(jī)組合，形成強(qiáng)大的分析功能，可在原子尺度上提供納米材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)及化學(xué)環(huán)境等信息，同時(shí)可對(duì)材料組成元素進(jìn)行線分布和面分布分析，獲得高空間分辨率的定性、定量信息。樣品要求：樣品厚度需低于200 nm。微細(xì)粒狀樣品可以通過(guò)介質(zhì)分散法并直接滴樣。由于該儀器是高分辨分析型電鏡，為確保儀器高空間分辨率的特性，目前主要接受材料領(lǐng)域的樣品，暫不接受磁性樣品、易揮發(fā)、有毒及帶有輻射性樣品。聯(lián)系方式梁超倫 老師(銳影)X射線衍射儀型 號(hào)：Empyrean X射線衍射儀生產(chǎn)廠家：荷蘭帕納科公司生產(chǎn)的Empyre

8、an（銳影）X射線衍射儀廣泛用于無(wú)機(jī)物、有機(jī)物（部分）、高分子、藥物及礦物等多晶樣品的分析?？蛇M(jìn)行物相定性、晶粒度測(cè)定、納米材料顆粒分布、長(zhǎng)周期測(cè)定、取向度測(cè)定、晶型鑒別、K1射線數(shù)據(jù)測(cè)量以及其它參數(shù)測(cè)定。 主要技術(shù)指標(biāo)：1、功率3 kW2、最小掃描步長(zhǎng)0.00013、2q線性0.014、角度重現(xiàn)性0.00015、測(cè)角范圍(2) 0.1140。應(yīng)用范圍：廣泛用于無(wú)機(jī)物、有機(jī)物（部分）、高分子、藥物及礦物等多晶樣品的分析?？蛇M(jìn)行物相定性、晶粒度測(cè)定、納米材料顆粒分布、長(zhǎng)周期測(cè)定、取向度測(cè)定、晶型鑒別、K1射線數(shù)據(jù)測(cè)量以及其它參數(shù)測(cè)定。樣品要求：送檢樣品可為粉末狀、塊狀、薄膜、鍍膜及其它形狀。粉末

9、樣品需要量約為0.5 g（視其密度和衍射能力而定）；塊狀樣品要求具有一個(gè)面積小于1.8 cmX1.8 cm 的近似平面；薄膜樣品要求有一定的厚度，面積小于1.8cm1.8 cm。聯(lián)系方式小龍 老師120kV 透射電子顯微鏡型 號(hào)：Tecnai G2 Spirit 生產(chǎn)廠家：美國(guó)FEI公司主要技術(shù)指標(biāo)：1、加速電壓20 kV120 kV2、點(diǎn)分辨率 TWIN 0.34 nm，3、線分辨率 TWIN 0.20 nm ，4、最大全對(duì)中傾角 TWIN +/- 70o ，5、TEM放大倍數(shù) TWIN 18.5倍 650,000倍。應(yīng)用范圍：加速電壓20 kV120 kV屬于輕

10、元素生物體研究的理想范圍，最大程度地減少了對(duì)脆弱生物結(jié)構(gòu)的射束損壞；可自動(dòng)執(zhí)行眾多常規(guī)操作程序，操作簡(jiǎn)單；側(cè)面和底部都安裝有嵌入式 CCD 相機(jī)，能瞬間生成高品質(zhì)圖像。樣品要求：除微細(xì)粒狀樣品可以通過(guò)介質(zhì)分散法并直接滴樣外，其它樣品的制備方法主要有物理減薄法（包括離子和雙噴減薄等）和超薄切片法。一般情況下，物理減薄法的樣品制備過(guò)程須由用戶自己完成，不具備此制樣條件的院系，可預(yù)先與本儀器室聯(lián)系；超薄切片樣品的制備周期較長(zhǎng)，需一個(gè)月左右。聯(lián)系方式張浩 老師微區(qū)X射線熒光光譜儀 型 號(hào)：Eagle III XXL Probe微區(qū)能量色散X射線熒光光譜儀生產(chǎn)廠家：美國(guó)EDA

11、X公司主要技術(shù)指標(biāo)：1、可檢測(cè)元素 11Na - 92U2、光斑直徑100m，300m3、濃度范圍在ppm級(jí)至100%的范圍4、可以在真空下或大氣壓下進(jìn)行檢測(cè)5、超大型樣品室700mm700mm700mm；可以進(jìn)行面掃描與線掃描元素分布分析應(yīng)用范圍：主要用于金屬材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品質(zhì)量控制、寶玉石鑒定、考古和文物鑒定、公安刑偵物證元素分析等。優(yōu)勢(shì)在于可以對(duì)上述樣品局部進(jìn)行最小到100微米局部范圍內(nèi)元素定性和半定量無(wú)損分析。聯(lián)系方式：84110782馮小龍老師X-射線單晶衍射儀型 號(hào)：Smart 1000 CCD X-射線單晶衍射儀（Single Crystal Diffra

12、ctometer）型號(hào)：Smart 1000 CCD生產(chǎn)廠家：德國(guó)Bruker公司主要技術(shù)指標(biāo)：1、功率 3kW2、Mo 靶應(yīng)用范圍：用于測(cè)定各種無(wú)機(jī)物、有機(jī)物的晶體結(jié)構(gòu)?？梢垣@得樣品的晶胞參數(shù)、鍵長(zhǎng)、鍵角、構(gòu)象、氫鍵、分子間堆積作用等信息。樣品要求：1、送檢樣品必須為單晶2、選擇晶體時(shí)要注意所選晶體表面光潔、顏色和透明度一致3、不附著小晶體，沒(méi)有缺損重疊、解理破壞、裂縫等缺陷4、晶體長(zhǎng)、寬、高的尺寸均為0.1 0.4mm ，即晶體對(duì)角線長(zhǎng)度不超過(guò)0.5 mm（大晶體可用切割方法取樣，小晶體則要考慮其衍射能力）聯(lián)系方式 場(chǎng)掃描電鏡型 號(hào)：JSM-6330F 冷場(chǎng)發(fā)射

13、掃描電子顯微鏡 （Field Emission Scanning Eletron Microscope）生產(chǎn)廠家：日本電子株式會(huì)社主要技術(shù)指標(biāo)：1、分辨率：1.5nm2、放大倍數(shù)：x10 x500,0003、樣品尺寸： 8 mm x 5 mm4、最大尺寸： 100 mm x 6 mm應(yīng)用范圍：廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征。該儀器的最大特點(diǎn)是具備超高分辨掃描圖像觀察能力，尤其是采用最新數(shù)字化圖像處理技術(shù)，提供高倍數(shù)、高

14、分辨掃描圖像，并能即時(shí)打印或存盤輸出，是納米材料粒徑測(cè)試和形貌觀察最有效儀器。也是研究材料結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系所不可缺少的重要工具。樣品要求：1、送檢樣品必須為干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可2、應(yīng)有一定的化學(xué)、物理穩(wěn)定性，在真空中及電子束轟擊下不會(huì)揮發(fā)或變形；無(wú)磁性、放射性和腐蝕性3、含水分較多的生物軟組織的樣品制備，要求用戶自己進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥之前的固定、清洗、脫水及用醋酸（異）戊酯置換等處理，最后由本室進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥處理4、觀察圖像樣品應(yīng)預(yù)先噴金膜。一般情況下，樣品盡量小塊些（ 10 x 10 x 5 mm較方便）5、粉末樣品每個(gè)需1克左右6、納米樣品一般需超聲波分散，并鍍鉑金膜送樣須知

15、：送樣檢測(cè)請(qǐng)先到測(cè)試中心業(yè)務(wù)辦公室登記。需自己上機(jī)觀察者，請(qǐng)與電鏡室預(yù)約機(jī)時(shí)。技術(shù)問(wèn)題可直接與電鏡室聯(lián)系。掃描觀察樣品和用滴樣法制備透射觀察樣品，請(qǐng)?zhí)崆鞍胩斓诫婄R室制樣。按中心規(guī)定，請(qǐng)?jiān)谵k理繳費(fèi)手續(xù)后取結(jié)果。未經(jīng)同意，三個(gè)月以上未結(jié)帳的用戶，將會(huì)影響該單位用機(jī)預(yù)約安排。聯(lián)系方式子探針 型 號(hào)：JXA-8800R電子探針（Electron Probe Micro-analyzer）生產(chǎn)廠家：日本電子株式會(huì)社主要技術(shù)參數(shù)：1、元素范圍： 5 B 92 U2、波長(zhǎng)范圍： 0.087 nm 9.3 nm3、分 辨 率： 6 nm（(二次電子像）4、樣品尺寸： 8 mm x

16、5 mm5、最大尺寸： 25 mm x 10 mm6、薄片樣品： 50 x 25 x 1 mm應(yīng)用范圍：電子探針可以對(duì)試樣中微小區(qū)域（微米級(jí)）的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析；可以進(jìn)行點(diǎn)、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）；還能全自動(dòng)進(jìn)行批量（預(yù)置9999測(cè)試點(diǎn)）定量分析。由于電子探針技術(shù)具有操作迅速簡(jiǎn)便（相對(duì)復(fù)雜的化學(xué)分析方法而言）、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的解釋直截了當(dāng)、分析過(guò)程不損壞樣品、測(cè)量準(zhǔn)確度較高等優(yōu)點(diǎn)，故在冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫(yī)學(xué)、考古以及其它領(lǐng)域中得到日益廣泛地應(yīng)用，是礦物測(cè)試分析和樣品成分分析的重要工具。樣品要求:1、定量分析的樣品必須磨平拋光、清洗干凈，如樣

17、品不能進(jìn)行表面磨平拋光（將影響分析精度）處理應(yīng)事先說(shuō)明2、為測(cè)試方便和節(jié)約機(jī)時(shí)，樣品應(yīng)先切成小薄片，不能切割制樣，必須先與測(cè)試人員商量3、應(yīng)先標(biāo)記好分析面上的測(cè)試點(diǎn)，無(wú)標(biāo)記測(cè)試位置時(shí)，測(cè)試時(shí)只選有代表性、較平整位置測(cè)試4、液體樣必須先濃縮干燥5、分析的樣品必須是在高能電子轟擊下物理和化學(xué)性能穩(wěn)定的固體、不分解、不爆炸、不揮發(fā)、無(wú)放射性、無(wú)磁性6、送樣時(shí)最好注明樣品可能包含什么元素7、樣品必須噴涂一層碳膜送樣須知：送樣檢測(cè)請(qǐng)先到測(cè)試中心業(yè)務(wù)辦公室登記。需自己上機(jī)觀察者，請(qǐng)與電鏡室預(yù)約機(jī)時(shí)。技術(shù)問(wèn)題可直接與電鏡室聯(lián)系。掃描觀察樣品和用滴樣法制備透射觀察樣品，請(qǐng)?zhí)崆鞍胩斓诫婄R室制樣。按中心規(guī)定，請(qǐng)?jiān)?/p>

18、辦理繳費(fèi)手續(xù)后取結(jié)果。未經(jīng)同意，三個(gè)月以上未結(jié)帳的用戶，將會(huì)影響該單位用機(jī)預(yù)約安排。聯(lián)系電話-520 掃描電鏡/能譜 型 號(hào)：S-520 / ISIS-300掃描電子顯微鏡/ X-射線能譜儀（Scanning Electron Microscope/Energy Dispersive X-ray Spectrometer)生產(chǎn)廠家：Hitachi/Oxford主要技術(shù)指標(biāo)：1、分辨率：6 nm 2、放大倍數(shù)：20 200,000 3、樣品尺寸： 8 mm x 5 mm4、最大尺寸： 100 mm x 6 mm5、元素范圍：11 Na 92 U6、含量一般要求大于0.

19、5%應(yīng)用范圍：掃描電子顯微鏡/X-射線能譜聯(lián)用儀，是一種多功能、多用途、超顯微、形貌與成份分析相結(jié)合的現(xiàn)代顯微分析儀器。廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定、公安刑偵物證分析等。可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、亞微米局部范圍內(nèi)的表面特征和微米區(qū)域成份的定性和半定量分析。樣品要求：1、送檢樣品必須為干燥固體，塊狀、片狀、纖維狀、顆?；蚍勰罹?、應(yīng)有一定的化學(xué)、物理穩(wěn)定性，在真空中及電子束轟擊下不會(huì)揮發(fā)或變形；無(wú)磁性、放射性和腐蝕性3、對(duì)含水份較多的生物軟組織樣品，要求用戶預(yù)先進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥前的固定

20、、清洗、脫水及用醋酸（異）戊酯置換等處理。最后再由本室進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥處理4、圖像觀察樣品應(yīng)預(yù)先鍍金膜，成份分析樣品必需鍍碳膜5、一般情況下 ,樣品體積不宜太大（ 5 x 5 x 2 mm 較適合）送樣須知：送樣檢測(cè)請(qǐng)先到測(cè)試中心業(yè)務(wù)辦公室登記。需自己上機(jī)觀察者，請(qǐng)與電鏡室預(yù)約機(jī)時(shí)。技術(shù)問(wèn)題可直接與電鏡室聯(lián)系。掃描觀察樣品和用滴樣法制備透射觀察樣品，請(qǐng)?zhí)崆鞍胩斓诫婄R室制樣。按中心規(guī)定，請(qǐng)?jiān)谵k理繳費(fèi)手續(xù)后取結(jié)果。未經(jīng)同意，三個(gè)月以上未結(jié)帳的用戶，將會(huì)影響該單位用機(jī)預(yù)約安排。聯(lián)系方式： 020-84110783200kV 透射電子顯微鏡 型 號(hào)：JEM-2010HR 生產(chǎn)廠家：日本電子株式會(huì)社 技術(shù)