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1、Gulf Semiconductor Ltd.1n序論序論n二極管特性曲線二極管特性曲線n二極管在常用電源電路中二極管在常用電源電路中Vd/Id計(jì)算計(jì)算n正向特性正向特性n反向特性反向特性n動(dòng)態(tài)特性動(dòng)態(tài)特性n順向恢復(fù)電壓與時(shí)間順向恢復(fù)電壓與時(shí)間n反向恢復(fù)特性反向恢復(fù)特性n正向浪涌正向浪涌n反向浪涌反向浪涌n熱阻熱阻n靜電沖擊靜電沖擊 目錄目錄Gulf Semiconductor Ltd.2 對(duì)二極管應(yīng)用特性的要求對(duì)二極管應(yīng)用特性的要求 n較高的耐壓能力n較大的電流承載能力n較高的di/dt承受能力n較高的dv/dt承受能力n較快的截止時(shí)間n較高之工作頻率n較低之電容性n較小的包裝及較高的散熱能
2、力Gulf Semiconductor Ltd.3二極管基本特性曲線二極管基本特性曲線Gulf Semiconductor Ltd.4n產(chǎn)品的實(shí)際應(yīng)用均為動(dòng)態(tài),在不同的環(huán)境條件下使用。曲線圖中標(biāo)注的溫度:200, 100 ,25 ,75 二極管在不同溫度環(huán)境下的變化二極管在不同溫度環(huán)境下的變化Gulf Semiconductor Ltd.5二極管在常用電源電路中二極管在常用電源電路中Vd/Id計(jì)算計(jì)算Gulf Semiconductor Ltd.6二極管在常用電源電路中二極管在常用電源電路中Vd/Id計(jì)算計(jì)算Gulf Semiconductor Ltd.7二極管在常用電源電路中二極管在常用電源
3、電路中Vd/Id計(jì)算計(jì)算Gulf Semiconductor Ltd.8二極管在常用電源電路中二極管在常用電源電路中Vd/Id計(jì)算計(jì)算Gulf Semiconductor Ltd.9二極管在常用電源電路中二極管在常用電源電路中Vd/Id計(jì)算計(jì)算Gulf Semiconductor Ltd.10VF波形比較正向特性正向特性 If/Vf/VfGulf Semiconductor Ltd.11正向特性正向特性IF/VF/VF影響因素:n晶粒面積大的,If大,Vf小n電壓高的材料, If小,Vf大nTrr小的材料, Vf大n器件內(nèi)部不同的結(jié)構(gòu), Vf值不一樣n器件內(nèi)部焊接不良, Vf大Gulf Sem
4、iconductor Ltd.12正向特性正向特性IF/VF/VF應(yīng)用:n根據(jù)線路設(shè)計(jì)要求,選定If/Vf符合要求的產(chǎn)品n特別注意實(shí)際應(yīng)用環(huán)境,不同溫度條件下If/Vf的變化的影響nVf與Frr是一對(duì)相互矛盾參數(shù),要特別了解線路的注重點(diǎn)是Vf,還是Trrn案例:GULF RGP10D使用在比亞迪汽車上,需要考慮在零下40度的工作環(huán)境下,電性能VF的變化,調(diào)整線路的配置。Gulf Semiconductor Ltd.13反向特性反向特性IR/VBR/DVR1/DVR2nIRnVBRnDV1 SHARPNESS/ROUNDnDV2 STABILITY (RIDE-IN,RIDE OUT )Gulf
5、 Semiconductor Ltd.14反向電壓、電流標(biāo)識(shí)解釋反向特性反向特性Ir/Vbr/DVr1/DVr2Gulf Semiconductor Ltd.15n影響因素1,PN結(jié)內(nèi)部某些晶格缺陷、雜質(zhì)2,表面缺陷,表面沾污3,表面鈍化保護(hù)不良4,Trr越小的產(chǎn)品,Ir越大反向特性反向特性IR/VBR/DVR1/DVR2Gulf Semiconductor Ltd.16n應(yīng)用1,線路中產(chǎn)生過(guò)余的功耗,熱量2,熱量造成更多的不穩(wěn)定,Ir上升器件本身失效,或線路工作不正常反向特性反向特性IR/VBR/DVR1/DVR2Gulf Semiconductor Ltd.17動(dòng)態(tài)特性動(dòng)態(tài)特性VFRM/T
6、FR/IRM/VRM/TS/TF/TRR/QRR動(dòng)態(tài)特性曲線Gulf Semiconductor Ltd.18附上圖符號(hào)說(shuō)明:附上圖符號(hào)說(shuō)明:動(dòng)態(tài)特性動(dòng)態(tài)特性Vfrm/tfr/Irm/Vrm/ts/tf/Trr/QrrGulf Semiconductor Ltd.19順向恢復(fù)電壓與時(shí)間順向恢復(fù)電壓與時(shí)間Vfrm/TfrGulf Semiconductor Ltd.20順向恢復(fù)電壓與時(shí)間順向恢復(fù)電壓與時(shí)間 VFRM/TFR影響因素:nVfrm (1) 越高壓的二極管的Vfrm越高 (2) 當(dāng)溫度越高時(shí),其Vfrm越高 (3) 當(dāng)電流密度增加時(shí),其Vfrm也會(huì)增高nTfr: (1) 當(dāng)溫度越高時(shí),
7、其Tfr也會(huì)增加,時(shí)間變慢 (2) 當(dāng)電流密度增加時(shí),其Tfr也會(huì)增高 (3)當(dāng)電流斜率增快時(shí),其Tfr會(huì)減少Gulf Semiconductor Ltd.21順向恢復(fù)電壓與時(shí)間順向恢復(fù)電壓與時(shí)間 VFRM/TFRn1,高頻開(kāi)關(guān)電源開(kāi)關(guān)整流中,影響功耗,產(chǎn)生熱量;n2, 在電源輸出整流中,影響輸出功率;n3,部分特殊應(yīng)用要求Vfrm,Tfr值上升;n4,替代SKY產(chǎn)品時(shí)Vfrm,Tfr下降案例1: ASTEC, Boost diode 應(yīng)用波形實(shí)例計(jì)算。案例2: ASTEC, 選用FR202替代SKY產(chǎn)品時(shí),要求VFR特小。應(yīng)用Gulf Semiconductor Ltd.22電壓上升斜率電壓
8、上升斜率 dv / dt nDv/dt:電壓上升斜率nDv/dt=0.632VD/t1 or o.8VD/ (t90-t10)Gulf Semiconductor Ltd.23電壓上升斜率電壓上升斜率 DV / DT n案例:二極管在測(cè)試、使用中,可能發(fā)生產(chǎn)品VR衰減,此項(xiàng)與產(chǎn)品的能力,DV/DT沖擊速率有關(guān)。Gulf Semiconductor Ltd.24反向恢復(fù)時(shí)間反向恢復(fù)時(shí)間TrrGulf Semiconductor Ltd.25反向恢復(fù)時(shí)間反向恢復(fù)時(shí)間TRRn1,鉑原子擴(kuò)散濃度,擴(kuò)散時(shí)間,擴(kuò)散深度n2,晶粒面積大的,Trr較大n3,晶粒表面(硼面)濃度上升,Trr較小n4,溫度大幅上
9、升時(shí),Trr會(huì)大幅上升。影響因素Gulf Semiconductor Ltd.26反向恢復(fù)時(shí)間反向恢復(fù)時(shí)間TRRn Vrm過(guò)高會(huì)導(dǎo)致過(guò)大的反向過(guò)電壓 , 使表面鈍化衰降。n Qrr過(guò)大會(huì)導(dǎo)致Tj升高,IR過(guò)大,或因熱阻過(guò)高而燒毀。nIrm/Trr 過(guò)大時(shí)會(huì)造成較大的功率損失,也可能使周邊的元件損壞。Trr的重要性Gulf Semiconductor Ltd.27反向恢復(fù)時(shí)間反向恢復(fù)時(shí)間TRRn1,高頻應(yīng)用中,對(duì)器件及線路影響較大n2,器件與線路不匹配時(shí),產(chǎn)生熱量,Trr進(jìn)一步上升,可造成過(guò)熱燒毀。n3,串聯(lián)使用時(shí)Trr不一致時(shí),Trr大的容易發(fā)熱異常。n4,高溫環(huán)境下,Trr將急速上升,應(yīng)特別
10、關(guān)注。n5,某些特殊應(yīng)用要求Trr值大。n案例:PHILIPS RDB1O5S在更換機(jī)型時(shí),熱量集聚,溫度上升,TRR上升,產(chǎn)品出現(xiàn)異常。更換RGP15J后,正常。應(yīng)用Gulf Semiconductor Ltd.28反向恢復(fù)時(shí)間反向恢復(fù)時(shí)間Trr軟恢復(fù)特性描述Gulf Semiconductor Ltd.29反向恢復(fù)時(shí)間反向恢復(fù)時(shí)間TRR恢復(fù)特性曲線Gulf Semiconductor Ltd.30反向恢復(fù)時(shí)間反向恢復(fù)時(shí)間TRR軟恢復(fù)特性案例:某電機(jī)公司:在選用SANKEN SARS02 替代品時(shí)要求TRR軟恢復(fù)特性,在使用GULF特選產(chǎn)品時(shí),客戶滿意。Gulf Semiconductor
11、Ltd.31反向恢復(fù)時(shí)間反向恢復(fù)時(shí)間TrrRG-1標(biāo)準(zhǔn)Gulf Semiconductor Ltd.32反向恢復(fù)時(shí)間反向恢復(fù)時(shí)間TRRdi/dt標(biāo)準(zhǔn)Gulf Semiconductor Ltd.33正向浪涌正向浪涌IFSM Ifsm 不可恢復(fù)的最大正向電流不可恢復(fù)的最大正向電流 Ifsm( tj-max)不可恢復(fù)的最大正向電流不可恢復(fù)的最大正向電流(結(jié)溫條件)結(jié)溫條件) I2t電流熔斷值電流熔斷值 ( Ifsm/ 2 )2*0.01(A2s) Gulf Semiconductor Ltd.34正向浪涌正向浪涌IFSMGulf Semiconductor Ltd.35正向浪涌正向浪涌IFSMn1
12、,晶粒面積越大,器件Ifsm越大n2,晶片的電阻系數(shù)越高時(shí),器件的Ifsm越小n3,器件Vr值越大時(shí),它的Ifsm越小n4,Irsm能力上升時(shí),則Ifsm能力下降n5,Trr越小,Vf越大,Ifsm越小影響因素Gulf Semiconductor Ltd.36正向浪涌正向浪涌Ifsmn1,交流整流,直流開(kāi)關(guān)整流滿足最大浪涌沖擊要求n2,根據(jù)I2t 合理配置保險(xiǎn)裝置保護(hù)其它器件及線路裝置n案例: 在分析客戶端產(chǎn)品失效原因時(shí),產(chǎn)品晶粒的表面燒痕,是判定正向浪涌沖擊或短路電流的造成失效的主要依據(jù)。據(jù)此,判定是客戶端異常,還是產(chǎn)品的IFSM能力不足。應(yīng)用Gulf Semiconductor Ltd.3
13、7雪崩能量雪崩能量/反向浪涌反向浪涌 ERSM/VRSMSCHOTTKY SURGE Gulf Semiconductor Ltd.38雪崩能量雪崩能量/反向浪涌反向浪涌 ERSM/VRSMCONTROLLED Erem TESTGulf Semiconductor Ltd.39 影響因素:n1,晶粒面積大的,Ersm 較大n2,晶粒電阻系數(shù)小(Vr低的), Ersm 較大n3,GPP表面鈍化保護(hù)致密度高的, Ersm 較大n4, Trr小的,Vf小的, Ersm 較小雪崩能量雪崩能量/反向浪涌反向浪涌 Ersm/VrsmGulf Semiconductor Ltd.40雪崩能量雪崩能量/反向
14、浪涌反向浪涌 ERSM/VRSM 應(yīng)用:n1,不能達(dá)到正常浪涌沖擊的產(chǎn)品,是有缺陷的產(chǎn)品,n2,反向浪涌沖擊較大的線路,阻尼/續(xù)流.(按線路要求)n3,線路裝置要求高可靠性時(shí)n4,需抵抗輸入異常電波沖擊時(shí)n5,線路工作在高溫環(huán)境中時(shí)n案例:GE GS2M替代SS1M在更換機(jī)型時(shí),在作高壓3000V可靠性測(cè)試時(shí),超大浪涌沖擊,產(chǎn)品異常。產(chǎn)品能力與結(jié)構(gòu)有關(guān)。n案例:光達(dá)電子 SKY 1N5822 產(chǎn)品由于線路的設(shè)置,對(duì)該產(chǎn)品有很大的沖擊,GULF在提高內(nèi)部浪涌測(cè)試條件后,滿足了客戶的要求。Gulf Semiconductor Ltd.41結(jié)電容結(jié)電容CjGulf Semiconductor Ltd
15、.42結(jié)電容結(jié)電容CJ 一般在整流、開(kāi)關(guān)電源中不予考慮的參數(shù)(僅特殊應(yīng)用時(shí)需要)Gulf Semiconductor Ltd.43熱阻熱阻RTHJ-A、J-C、J-LGulf Semiconductor Ltd.44熱阻熱阻RTHJ-A、J-C、J-Ln影響因素:n1,產(chǎn)品的結(jié)構(gòu),產(chǎn)品的 材料性質(zhì)n2,同功率器件,外連接接觸面積越大,熱阻越小。n3,不同的環(huán)境條件,熱阻值有不同的變化Gulf Semiconductor Ltd.45熱阻熱阻RTHJ-A、J-C、J-L應(yīng)用:n1,輸出整流,大功率整流PN結(jié)結(jié)溫計(jì)算n2,按PN結(jié)結(jié)溫要求,電流衰降曲線的設(shè)計(jì)應(yīng)用。附:曲線圖n案例1: 補(bǔ)充不同器件
16、實(shí)測(cè)熱阻值n案例2: Astec, boost diode 熱阻計(jì)算n案例3: Philips,RGP10J產(chǎn)品在應(yīng)用中發(fā)熱,GULF在更改產(chǎn)品的晶粒規(guī)格后,解決了客戶端產(chǎn)品發(fā)熱的問(wèn)題Gulf Semiconductor Ltd.46熱阻熱阻RTHJ-A、J-C、J-LGulf Semiconductor Ltd.47熱阻熱阻RTHJ-A、J-C、J-L功率曲線衰降圖 n舉例:GE SS1M在4燈機(jī)型應(yīng)用時(shí),產(chǎn)品的高溫電流值實(shí)際超出電流曲線規(guī)定值,當(dāng)應(yīng)用環(huán)境偏差時(shí),異常的可能增加。Gulf Semiconductor Ltd.48靜電沖擊靜電沖擊ESDGulf Semiconductor Ltd.49靜電沖擊靜電沖擊ESD影響因素:n1,晶粒電阻系數(shù)小,ESD能力稍強(qiáng)n2,PN結(jié)結(jié)面平整,ESD能力較強(qiáng)n3,B面擴(kuò)散深度相對(duì)較深的,ESD能力較強(qiáng)Gulf Semicon
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