標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17626.4-2018 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗》相比于《GB/T 17626.4-2008 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗》,主要在以下幾個方面進(jìn)行了更新與調(diào)整:

  1. 范圍和應(yīng)用領(lǐng)域:2018版標(biāo)準(zhǔn)對適用的產(chǎn)品范圍和測試條件做了更明確的界定,以適應(yīng)近年來電子設(shè)備和技術(shù)發(fā)展的新要求。

  2. 術(shù)語和定義:更新了部分專業(yè)術(shù)語和定義,確保與國際標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-4保持一致,提高了標(biāo)準(zhǔn)的國際化水平。

  3. 測試方法和程序:優(yōu)化了電快速瞬變脈沖群的產(chǎn)生、耦合和測量方法,引入了更詳細(xì)的操作步驟和參數(shù)設(shè)置指導(dǎo),提高了測試的可重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

  4. 測試等級和嚴(yán)酷程度:根據(jù)最新的技術(shù)和產(chǎn)品使用環(huán)境,調(diào)整了測試等級和嚴(yán)酷程度的要求,以更好地反映實際應(yīng)用中的電磁兼容性挑戰(zhàn)。

  5. 試驗布置和配置:細(xì)化了試驗布置圖解和設(shè)備配置說明,幫助用戶更準(zhǔn)確地搭建試驗環(huán)境,確保測試的有效性。

  6. 性能判據(jù)和評估方法:修訂了設(shè)備受試后應(yīng)滿足的性能判據(jù),以及如何評估受試設(shè)備在測試過程中的響應(yīng)和潛在影響,使得評估更加科學(xué)合理。

  7. 參考標(biāo)準(zhǔn)和文獻(xiàn):更新了引用的標(biāo)準(zhǔn)和文獻(xiàn)列表,反映了該領(lǐng)域最新研究成果和技術(shù)進(jìn)展,增強(qiáng)了標(biāo)準(zhǔn)的權(quán)威性和實用性。

  8. 附錄和示例:增加了新的附錄內(nèi)容,提供了更多的測試實例和解釋性材料,便于使用者理解和執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)。

這些變更旨在提高標(biāo)準(zhǔn)的適用性和測試效率,確保電子產(chǎn)品在面對電快速瞬變脈沖群干擾時的穩(wěn)定性和可靠性。


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....

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  • 2018-06-07 頒布
  • 2019-01-01 實施
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GB∕T 17626.4-2018 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗_第1頁
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文檔簡介

ICS3310020

L06..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T176264—2018/IEC61000-4-42012

.代替:

GB/T17626.4—2008

電磁兼容試驗和測量技術(shù)

電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

Electromagneticcompatibility—Testingandmeasurementtechniques—

Electricalfasttransient/burstimmunitytest

[IEC61000-4-4:2012,Electromagneticcompatibility(EMC)—

Part4-4:Testingandmeasurementtechniques—

Electricalfasttransient/burstimmunitytest,IDT]

2018-06-07發(fā)布2019-01-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T176264—2018/IEC61000-4-42012

.:

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義縮略語

3、………………………1

術(shù)語和定義

3.1…………………………1

縮略語

3.2………………3

概述

4………………………3

試驗等級

5…………………4

試驗設(shè)備

6…………………4

概述

6.1…………………4

脈沖群發(fā)生器

6.2………………………4

交流直流電源端口的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)

6.3//……………7

容性耦合夾

6.4…………………………9

試驗布置

7…………………11

概述

7.1…………………11

試驗設(shè)備

7.2……………11

實驗室進(jìn)行型式試驗的試驗布置

7.3…………………13

現(xiàn)場試驗的試驗布置

7.4………………16

試驗程序

8…………………18

概述

8.1…………………18

實驗室參考條件

8.2……………………18

進(jìn)行試驗

8.3……………19

試驗結(jié)果的評定

9…………………………19

試驗報告

10………………19

附錄資料性附錄關(guān)于電快速瞬變的信息

A()…………21

附錄資料性附錄試驗等級的選擇

B()…………………23

附錄資料性附錄測量不確定度的考慮

C()……………24

參考文獻(xiàn)

……………………31

GB/T176264—2018/IEC61000-4-42012

.:

前言

電磁兼容試驗和測量技術(shù)目前包括以下部分

GB/T17626《》:

電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論

———GB/T17626.1—2006;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗

———GB/T17626.2—2018;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗

———GB/T17626.3—2016;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

———GB/T17626.4—2018;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗

———GB/T17626.5—2008();

電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度

———GB/T17626.6—2017;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波諧間波的測

———GB/T17626.7—2008、

量和測量儀器導(dǎo)則

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗

———GB/T17626.8—2006;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗

———GB/T17626.9—2011;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗

———GB/T17626.10—2017;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降短時中斷和電壓變化的抗

———GB/T17626.11—2008、

擾度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗

———GB/T17626.12—2013;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口諧波諧間波及電網(wǎng)信

———GB/T17626.13—2006、

號的低頻抗擾度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗

———GB/T17626.14—2005;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計規(guī)范

———GB/T17626.15—2011;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度

———GB/T17626.16—20070Hz~150kHz

試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗

———GB/T17626.17—2005;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩波抗擾度試驗

———GB/T17626.18—2016;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)橫電磁波波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾

———GB/T17626.20—2014(TEM)

度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)混波室試驗方法

———GB/T17626.21—2014;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度

———GB/T17626.22—2017

測量

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗

———GB/T17626.24—2012HEMP

方法

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗

———GB/T17626.27—2006;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗

———GB/T17626.28—2006;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降短時中

———GB/T17626.29—2006、

斷和電壓變化的抗擾度試驗

;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)電能質(zhì)量測量方法

———GB/T17626.30—2012;

電磁兼容試驗和測量技術(shù)主電源每相電流大于的設(shè)備的

———GB/T17626.34—201216A

電壓暫降短時中斷和電壓變化抗擾度試驗

、。

本部分為的第部分

GB/T176264。

GB/T176264—2018/IEC61000-4-42012

.:

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

GB/T17626.4—2008《》。

與相比主要技術(shù)變化如下

GB/T17626.4—2008,:

刪除了引用標(biāo)準(zhǔn)國際電工詞匯電氣和電子測量及測量儀表第

———IEC60050—300:2001,311

部分和測量有關(guān)的一般術(shù)語第部分和電氣測量有關(guān)的一般術(shù)語第部分電氣測

:;312:;313:

量儀表的類型第部分根據(jù)儀表類型的特定術(shù)語見第章

;314:(2);

增加了個術(shù)語和定義見

———1(3.1.1);

增加了縮略語見

———(3.2);

刪除了試驗發(fā)生器的主要元件見

———(6.2.1);

增加了圖及理想波形的計算公式見

———3(6.2.2);

刪除了圖接負(fù)載時單個脈沖的波形增加了圖輸出到負(fù)載的單個脈沖的理

———“350Ω”,“350Ω

想波形見的圖

(6.2.23)”;

增加了容性耦合夾的校準(zhǔn)內(nèi)容增加了圖圖見

———6.4.2,7,8(6.4.2);

增加了試驗儀器驗證見

———7.2.2(7.2.2);

增加圖中容性耦合夾后的標(biāo)注見圖

———11(11);

修改了頂部進(jìn)線設(shè)備的試驗布置新增了圖見圖

———,13(7.2.213);

刪除了圖增加了圖見圖

———12,15(7.4.215);

增加了附錄關(guān)于測量不確定度的信息見附錄

———C(C);

刪除了附錄表和表單位中的見附錄表和表

———CC.1C.21(CC.1C.2);

修改了附錄表中A為α在附錄中沒有A的出現(xiàn)見附錄表

———CC.1,C(CC.1)。

本部分使用翻譯法等同采用電磁兼容第部分試驗和測量技術(shù)

IEC61000-4-4:2012《(EMC)4-4:

電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

》。

本部分做了下列編輯性修改

:

為與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)系列一致將本部分名稱改為電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群

———,《

抗擾度試驗

》。

本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC246)。

本部分起草單位上海工業(yè)自動化儀表研究院有限公司上海市計量測試技術(shù)研究院中國電力科

:、、

學(xué)研究院有限公司上海儀器儀表自控系統(tǒng)檢驗測試所有限公司

、。

本部分主要起草人王英翁海豐俞磊張翼翔龔增李妮周鵬成費(fèi)杰

:、、、、、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T17626.4—1998、GB/T17626.4—2008。

GB/T176264—2018/IEC61000-4-42012

.:

電磁兼容試驗和測量技術(shù)

電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

1范圍

的本部分涉及電氣和電子設(shè)備對重復(fù)性電快速瞬變的抗擾度要求和試驗方法此

GB/T17626。

外還規(guī)定了試驗等級的范圍和確定了試驗程序

,。

本部分的目的是為評估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口信號控制和接地端口在受到電快速瞬變

、、

脈沖群時的性能確定一個共同的能再現(xiàn)的評定依據(jù)本部分規(guī)定的試驗方法描述了一種評估設(shè)備或系

。

統(tǒng)對已定義現(xiàn)象抗擾度的一致性方法

注正如導(dǎo)則中所述的本部分是電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)供各產(chǎn)品委員會使用導(dǎo)則還規(guī)定產(chǎn)品委

:IEC107,,。IEC107,

員會負(fù)責(zé)確定是否應(yīng)用本抗擾度試驗標(biāo)準(zhǔn)如果使用需要負(fù)責(zé)確定合適的試驗等級和性能判據(jù)全國電磁兼

,,。

容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會及其分技術(shù)委員會愿與產(chǎn)品委員會合作

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