GBT3323與JBT 4730的對比解析課件

1、GB/T33232005 與JB/T 4730.2005的對比解析強天鵬 江蘇省特種設備安全監(jiān)督檢驗研究院20081、名稱、性質1、名稱及內容2、標準的性質與地位說明：推薦性標準與強制性標準背景資料：2006年3月27日，國家質檢總局質檢辦特函（2006）144號關于鍋爐壓力容器安全監(jiān)察工作有關問題的意見中規(guī)定：承壓設備無損檢測執(zhí)行JB/T47302005，因此在承壓設備領域，JB/T4730實質上變?yōu)閺娭菩詷藴省?、標準體系和技術路線GB/T33232005等同采用歐洲標準EN1435:1997焊接接頭的射線檢測修改:增加焊接接頭質量分級；刪除了“采用相同的透照和技術方法能保證射線底片像質數(shù)

2、值一樣，不必每張底片放置像質計”；增加了“對有延遲裂紋傾向的材料，至少應在焊后24h以后進行射線照相檢測。”的規(guī)定。3、標準體系和技術路線JB/T 4730.2005依據(jù)歐洲，參考美國，兼顧JB/T473094。協(xié)調性：以歐洲標準EN1435:1997（ISO5579）為主線，解決了與GB/T3323協(xié)調問題。適用性：在繼承、改進、完善的基礎上，保持與JB/T473094的連貫性。特殊性：滿足承壓設備的一些限制和要求。4、標準適用范圍在檢測對象結構、材質，檢測使用的設備、器材等方面，GB/T3323的限制性規(guī)定更少一些，給出的種類和參數(shù)更多一些，其適用性也更廣一些。JB/T4730只針對承壓設

3、備所使用的材料；GB/T3323應可用于各種金屬材料。JB 4730.2適用的厚度范圍：在評級條款中規(guī)定了適用的厚度范圍。GB/T3323未規(guī)定適用的厚度范圍，由像質計適用范圍看，其適用厚度下限可小于1.2mm，適用厚度上限可大于375mm，6、射線照相技術適用的焊接接頭GB/T3323規(guī)定：適用于熔化焊焊接接頭JB/T4730.2規(guī)定：適用于熔化焊對接接頭說明：按照JB /T 4708的定義，焊接接頭有8種型式，分別是：對接接頭對接焊縫；T形接頭對接焊縫；角接接頭對接焊縫；鎖底接頭對接焊縫；角接接頭角焊縫；T形接頭角焊縫；搭接接頭角焊縫；對接接頭角焊縫。GB/T3323對焊接接頭的8種型式全

4、部適用。JB/T4730.2只適用于全焊透的對接接頭對接接頭對接焊縫（雙面焊、單面焊）鎖底接頭對接焊縫（加墊板單面焊）。6、射線照相技術適用的焊接接頭其他各種角接接頭對接焊縫，各種型接頭對接焊縫，各種角焊縫均不適用JB/T4730.2。為什么JB/T4730 不包括角接接頭、型接頭和角焊縫？因為編寫組認為：對角接接頭和型接頭的工藝和評級技術準備不足。不包括不焊透的角焊縫則是因為承壓設備不允許采用。8、射線膠片膠片系統(tǒng)分級GB/T33232005分為C1 、C2、C3、C4、C5、C6，六個級別。JB/T4730.22005 分為T1、 T2、 T3、T4，四個級別。GB/T3323附錄給出了C

5、系列和T系列對應關系：C1 、C2T1；C3、C4T2；C5T3；C6T4。8、射線膠片膠片系統(tǒng)分級關于各種標準膠片系統(tǒng)分級情況：EN584-1：1995分級：C1,C2,C3,C4,C5,C6；GB/T 19348:1- 2003分級：T1,T2,T3,T4ISO 11699-1：1998分級：T1,T2,T3,T4ASME SE-1815（1996）分級：特,W-A,W-B,W-C JIS K7627-1997分級：T1,T2,T3,T4,W-A,W-B,W-8、射線膠片膠片系統(tǒng)分級膠片分類規(guī)定的演變按粒度分級：二十世紀7080年代【DIN 54111-1:1977（G1,G2,G3）】；

6、按粒度和感光速度分級：二十世紀8090年代【ISO 5579:1985（G,G,G,G）】； 按梯度、顆粒度、梯噪比分級：二十世紀90年代中期至今【EN584-1：1995；ASME SE-1815（1996）；ISO 11699-1：1998；JIS K7627-1997】。9、射線膠片膠片使用：為什么在使用膠片方面JB/T4730.2未采用與GB/T3323相同的規(guī)定？1、GB/T3323的規(guī)定太復雜；2、國內膠片產品品種不多；3、JB/T4730.2編寫組認為：膠片選擇的重要依據(jù)應是射源種類和材料種類4、JB/T4730編寫組認為：對低能X射線膠片選擇可不作細分。9、射線膠片膠片使用：為

7、什么JB/T4730.2規(guī)定：使用射線對裂紋敏感性大的材料進行射線檢測，應采用T2類或更高類別的膠片？使用梯噪比等級更高的膠片是提高射線照相靈敏度最有效措施實踐證明，以Ir192或Se75射線源與T3類型膠片（天津）配合使用，裂紋檢出率很低。如以配合使用T2類型膠片（天津）可以明顯提高裂紋檢出率 。10、增感屏GB/T3323關于增感屏使用厚度的劃分比JB/T4730細，此外還有以下不同點：（1）GB/T3323規(guī)定的增感屏使用厚度與膠片有關，而JB/T4730規(guī)定的增感屏使用厚度與膠片基本無關。（2）按GB/T3323規(guī)定：Co 60和1MeV以上X射線，一般不使用鉛增感屏。國內1MeV以上

8、X射線照相仍用鉛增感屏，上海鍋爐廠等單位試制過鋼、銅、鉭金屬屏，用于加速器高能射線照相。 11、像質計GB/T3323采用線型像質計和階梯孔型像質計JB/T4730.2采用線型像質計，有普通和專用（等徑金屬絲）像質計兩種。JB/T4730.2未采用孔型像質計。GB/T3323有可使用“射線吸收系數(shù)小于被檢材料”的像質計，ASME也有“可使用比被透照材料射線吸 收性能低的合金材料制作的像質計”，但JB/T4730.2無類似規(guī)定。實際使用時，鐵（Fe）像質計可用于鎳（Ni）、銅（Cu）材料的照相；不可用于鈦（Ti）、鋁（Al）材料的照相。11、像質計新JB/T7902-2006無損檢測 射線照相檢

9、測用線型像質計：參照:ISO 19232-1:2004 ；EN 462-1:1994制訂。金屬絲直徑擴展到：119號。材料：鋼、鋁、鈦、銅以及其他金屬。 組號：1號像質計1 7號金屬絲（3.20.8mm）；6號像質計6 12號金屬絲（1.00.25mm）；10號像質計10 16號金屬絲（0.40.1mm ）；13號像質計13 19號金屬絲（0.20.05mm ； 浙江縉云像質計廠開發(fā)的多種像質計，精度滿足要求，其絲徑從0.05mm至3.2mm；材質包括碳鋼、不銹鋼、鋁、銅、鈦、鎳、鋯等。12、檢測時機 GB/T3323：除非另有規(guī)定，射線檢測應在制造完工后進行。對有延遲裂紋傾向的材料，至少應在

10、焊后24h以后進行射線照相檢測。 JB/T4730.2 ：除非另有規(guī)定，射線檢測應在焊后進行。有延遲裂紋傾向的材料，至少應在焊接完成24h后進行射線檢測。說明：GB/T3323射線檢測應在“制造完工后進行”的規(guī)定是參照EN1435的描述。EN1435規(guī)定的全文是：除非另有規(guī)定，射線照相應在制造完工后進行，例如在拋光后或熱處理后進行。JB/T4730編寫組認為：射線檢測是針對焊接接頭的，因此，用“焊后”比“制造完工后”清晰。 13、射線檢測技術等級選擇GB/T3323：射線透照技術等級的選擇，應按相關規(guī)程及設計要求由合同各方商定當A級靈敏度不能滿足檢測要求時，應采用B級透照技術。當需要采用優(yōu)于B

11、級的透照技術時，相應的檢測參數(shù)可由合同各方商定。13、射線檢測技術等級選擇GB/T3323檢測技術等級的選擇的其它規(guī)定：當B級規(guī)定的透照條件（例如射源種類或射源-工件表面距離f）無法實現(xiàn)時，經合同各方商定，也可選用A級規(guī)定的條件，此時靈敏度的損失可通過將底片黑度增高至3.0，或選用較高對比度的膠片系統(tǒng)來補償，因所得靈敏度優(yōu)于A級，工件可認為是按B級技術透照的。但對6.1.4和6.1.5所規(guī)定的透照布置，要按6.6所述縮短fmin時，上述靈敏度補償法不適用。13、射線檢測技術等級選擇承壓設備在用檢測中，由于結構、環(huán)境、射線設備等方面限制,檢測的某些條件不能滿足AB級射線檢測技術的要求時, 經檢測

12、方技術負責人批準,在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用A級技術進行射線檢測，但應同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。13、射線檢測技術等級選擇GB/T3323的射線透照技術等級除A級、B級外，還可采用優(yōu)于B級的透照技術。JB/T4730.2對承壓設備射線透照技術等級應采用AB級的強制規(guī)定，是國家特種設備安全監(jiān)察法規(guī)的規(guī)定。GB/T3323規(guī)定，如透照條件需要縮短fmin，則靈敏度補償法不適用。JB/T4730.2未做此規(guī)定。對承壓設備在用檢測，在特殊情況下，JB/T4730.2中允許采用A級技術進行射線檢測， 但必須經檢測方技術負責人批準；要求采取有效補償措施；同時要求采用其

13、他無損檢測方法進行補充檢測。14、輻射防護 GB/T3323：射線照相的輻射防護應遵循GB4792、GB 16357和GB 18465。 JB/T4730.2：放射衛(wèi)生防護應符合GB18871、GB 16357和GB 18465的有關規(guī)定。 說明：GB 4792放射衛(wèi)生防護基本標準已被GB 188712002電離輻射防護及輻射源安全基本標準取代。15、透照布置 GB/T3323：列出19種透照布置，包括插入式管座填角焊縫的4種透 照方法（單壁外透法 單壁內透法 單壁內透偏心法 雙壁單影法）；和騎座式管座填角焊縫的3種透照方法：（單壁外透法 單壁內透法 單壁內透偏心法）。 JB/T4730.2：

14、附錄C（資料性附錄），列出了8種透照布置。說明：角接接頭對接焊縫是承壓設備采用的，而JB/T4730.2 比GB/T3323少列了此類焊接接頭，今后應考慮增補。JB/T4730沒有列入的幾種透照布置插入式管座填角焊縫（4種）1、單壁外透法 2、單壁內透法3、單壁內透偏心法 4、雙壁單影法 騎座式管座填角焊縫（3種） 1 單壁外透法2單壁內透法 3 單壁內透偏心法16、透照方式中單壁透照優(yōu)先的基本原則 GB/T3323：未規(guī)定透照方式中單壁透照優(yōu)先的基本原則。 JB/T4730.2-2005：“在可以實施的情況下應選用單壁透照方式,在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式”背景資料： ASME

15、：在任何可以實施的情況下，應當采用單壁透照技術。當單壁透照技術無法實施時，應采用雙壁透照技術。17、環(huán)焊縫最少曝光次數(shù)和K值GB/T3323：外徑大于100的對接環(huán)焊縫100%透照的最少曝光次數(shù)可參閱圖A.1至圖A.4。當壁厚增加量與公稱厚度之比t/t小于等于20%（等級A）時，最少曝光次數(shù)可參閱圖A.3至圖A.4。當壁厚增加量與公稱厚度之比t/t小于等于10%（等級B）時，最少曝光次數(shù)可參閱圖A.1至圖A.2。 JB/T4730：一次透照長度應以透照厚度比K進行控制。不同級別射線檢測技術和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應符合表3的規(guī)定。整條環(huán)向對接焊接接頭所需的透照次數(shù)可參照附錄D（資料性

16、附錄）的曲線圖確定。18、小徑管環(huán)向對接焊接接頭的透照 GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本相同：（1）適合雙壁雙影透照布置的小徑管直徑為100 mm以下；（2）橢圓成像時，應控制影像的開口寬度為一個焊縫寬；（3）傾斜透照方式橢圓成像和垂直透照重疊成像的選擇依據(jù)是 “滿足兩條件：T（壁厚）8mm； g（焊縫寬度）De /4應采用傾斜透照方式橢圓成像，不滿足上述條件或橢圓成像困難時可采用垂直透照方式重疊成像；（4）要求100%檢測時，采用傾斜透照方式橢圓成像，對t8mm的管子，若t/De0.12，相隔900透照2次；若t/De0.12，相隔1200或600透照3次；采用垂直透照重疊成像，要

17、求透照3次。19、最高X 射線管電壓的限制 GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本相同：（1）使用同樣的最高管電壓限制的曲線圖；（2）對厚度變化較大的工件，允許使用更高的管電壓，對鋼、鈦、鋁的管電壓增量相同。背景資料：ASME對輻射能量幾乎不作控制，在96版即取消了透照不同厚度材料時允許使用的最高X 射線管電壓的規(guī)定內容。20、射線源及透照厚度范圍的限制射線源品種: JB/T4730列入三種射線源：Co- 60 、Ir-192、Se-75。GB/T3323比JB/T4730多兩種射線源，Tm170、Yb169；射線適用穿透厚度范圍下限：GB/T3323與JB/T4730基本一致，JB/T4

18、730的A、AB級與GB/T3323A級相同。但GB/T3323規(guī)定了Se75和Yb169透照鋁和鈦的穿透厚度。 JB/T4730未規(guī)定Se75透照鋁和鈦的穿透厚度。兩個標準均規(guī)定：在特定條件和前提下，穿透厚度范圍下限可進一步降低，Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm, Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。21、高能X射線（1MeV以上射線設備）的透照厚度范圍GB/T3323 A級與JB/T4730A級和AB級一致；GB/T3323 B級與JB/T4730 B級一致。22、射線源至工件表面的最小距離 GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本相同：A 級檢測技術：f 7.5db 2/

19、3 ；B 級檢測技術： f 15db 2/3；JB/T4730 比GB/T3323 多一項AB級規(guī)定: AB級檢測技術： f 10db 2/3GB/T3323比JB/T4730多一項對裂紋檢出的規(guī)定: 用A級技術時，若須檢出平面型缺陷，則最小距離fmin應與B級同，以使Ug減半。對裂紋敏感性大的材料有更為嚴格的技術要求的，應使用靈敏度比B級更優(yōu)的技術進行透照。焦距F和工件表面至膠片距離b對小缺陷對比度的影響歐洲學者描述幾何因素對小缺陷對比度的影響當缺陷寬度W小于幾何不清晰度Ug，缺陷對比度將減少：C=C0 UgW（3-13a）C=C0W/Ug UgW（3-13b）式中：C0影像初始對比度； W

20、缺陷寬度。焦距F和工件表面至膠片距離b對小缺陷對比度的影響W為到達膠片P點的射線在缺陷位置平面上的截距，W=dfL2/（L1+L2) 當缺陷寬度W W時，缺陷本影消失。 =0 WW =0 W / W WWUg是W 的近似圖3-18 W的幾何意義缺陷的本影消失，影像只由半影構成，對比度將顯著下降。 圖3-2 射線照相幾何條件對小缺陷對比度的影響23、射線照相曝光量JB/T4730規(guī)定了各技術級別射線照相曝光量：當焦距為700mm時，曝光量的推薦值為：A級和AB級射線檢測技術不小于15mAmin；B級射線檢測技術不小于20mAmin。當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。GB/T3

21、323未規(guī)定射線照相曝光量。24、射線照相曝光量GB/T3323與JB/T4730基本一致：GB/T3323：用射線照相時，射源到位的往返傳送時間應不超過總的曝光時間的10%。JB/T4730：采用射線源透照時, 總的曝光時間應不少于輸送源往返所需時間的10倍。25、散射線控制GB/T3323提出使用鉛光闌和濾板。為減少散射線的影響，應利用鉛光闌等將照射線盡量限制在被檢區(qū)段；采用Ir 192和 Co 60射源或有邊緣散射時，可將鉛箔或薄鉛板插在工件與暗袋之間，作為低能散射線的濾板。按透照厚度的不同，此濾板厚度可為0.52。JB/T4730：應采用金屬增感屏、鉛板、濾波、準直器等適當措施，屏蔽散

22、射線和無用射線，限制照射場范圍。背散射監(jiān)控背散射監(jiān)控GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本一致。 對背散射監(jiān)控采用ASME在暗盒背面貼附“B”鉛字標記方法。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“B”字影象，則說明背散射防護不夠；若底片上不出現(xiàn) “B”字影象或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B”字影象，則說明背散射防護符合要求。GB/T3323每當采用新的透照布置時，應在每個暗袋后背貼上鉛標記“B”,以此驗證背散射的存在與否。 JB/T4730對初次制定的檢驗工藝或檢驗工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變時, 應進行背散射防護檢查。 26、像質計的使用像質計放置原則、各種透照方式像質計放置位置、數(shù)量、單壁透

23、照中像質計放置在膠片側要進行對比試驗、像質計放置在膠片側時應放置鉛字“F” 標記，以及像質計的識別等方面，GB/T3323與JB/T4730基本一致。GB/T3323與JB/T4730在像質計的使用方面存在的差異：（1）GB/T3323有孔型像質計使用的規(guī)定，JB/T4730沒有；（2）JB/T4730規(guī)定：小徑管可選用專用（等徑金屬絲）像質計， GB/T3323沒有采用等徑像質計；（3）JB/T4730規(guī)定：小徑管照相，無論通用型像質計還是專用（等徑金屬絲）像質計，金屬絲都應橫跨焊縫放置。而GB/T3323的規(guī)定是：小徑管照相，金屬絲應平行焊縫放置。（4）JB/T4730對球罐焊縫全景曝光允

24、許減少使用象質計數(shù)量作出規(guī)定：球罐焊縫采用源置于球心全景曝光時，至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置3個象質計，在南北極板拼縫上各放置1個象質計。GB/T3323未作規(guī)定。27、標記GB/T3323規(guī)定：為保證底片可準確定位工件表面應作出永久性標記，為保證相鄰區(qū)域搭接，射線底片應能出現(xiàn)搭接標記。JB/T4730規(guī)定：透照部位的標記由識別標記和定位標記組成。識別標記一般包括：產品編號、焊縫編號、部位編號和透照日期。返修后的透照還應有返修標記,擴大檢驗比例的透照還應有擴大檢驗標記。定位標記主要是搭接標記,需要時還可采用中心標記。搭接標記是連續(xù)檢驗時的透照分段標記，可用符號“

25、”或其他能顯示搭接情況的方法表示。中心標記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向,一般用十字箭頭“ ”表示。JB/T4730與GB/T3323關于標記的規(guī)定的主要差別（1） JB/T4730明確了識別標記和定位標記，具體要求了識別標記和定位標記的內容，GB/T3323只籠統(tǒng)要求底片的標記和搭接標記。（2） JB/T4730規(guī)定了擴大檢測比例的透照標記，GB/T3323沒有。（3）JB/T4730規(guī)定中心標記用十字箭頭表示。搭接標記用符號“” 表示，GB/T3323沒有。28、透過底片的亮度GB/T3323規(guī)定：觀片燈亮度應保證底片透過亮度不低于30cd/m2，盡量達到100cd/m2JB/

26、T4730規(guī)定： 底片黑度 D2.5時，透過底片評定范圍內的亮度應不低于30cd/m2；底片黑度 D2.5時,透過底片評定范圍內的亮度應不低于10cd/m2。GB/T3323規(guī)定不符合實際人眼影像識別能力試驗表明：透過底片的光亮度超過30cd/m2時，人眼對底片上影像有很好的識別能力；當透過底片的光亮度低于10cd/m2時，人眼對底片上影像識別能力隨著透過底片的光亮度減弱急劇下降。觀察高黑度底片，要求透過底片評定范圍內的亮度不低于30cd/m2，觀片燈亮度達不到，例如黑度 D=4.0底片就要求觀片燈亮度達到300000cd/m2，而目前國內外的各種觀片燈亮度都達不到30萬cd/m2這樣的水平，

27、最亮的觀片燈其亮度大致在7萬至8萬cd/m2之間。國內人眼影像識別能力試驗數(shù)據(jù)：人眼底片影像最佳識別感覺是透過底片亮度在6070cd/m2。透過底片的亮度要求的背景資料各種標準對透過底片的亮度要求（1）IIS/IIW-335-69、ISO 2504:1973：30cd/m2，盡量達到 100cd/m2 或更高。（2）BS 2600-1:1983 30cd/m2。（3）DIN 54116-1:1973、ISO 5580:1985、EN 25580:1992、ASTM E1390-2000： D2.5時，30cd/m2 ； D 2.5時，10cd/m2； 盡量達到 100cd/m2 或更高。一組試

28、驗結果最佳亮度：透過光強在30cd/m2以上評片靈敏度較高,對缺陷的敏感性較強,當透過光強達到60-75cd/m2時多數(shù)評片人員感覺最佳;評片效果：透過底片的亮度為2 cd/m2時,對于B25底片,裂紋漏評9條次;對于B28底片,裂紋漏評12條次;透過底片的亮度為10 cd/m2時,對于B25底片,裂紋漏評2條次;對于B28底片,裂紋漏評4條次;透過底片的亮度為30 cd/m2時,對于B25底片,裂紋漏評0條次;對于B28底片,裂紋漏評3條次;29、底片評定范圍內的黑度底片評定范圍內的黑度GB/T3323： A 級：2.0；B 級：2.3；（經合同各方商定，可降為1.5和2.0）JB/T473

29、0：A 級：1.5D4.0；AB級：2.0D4.0 ；B 級：2.3D4.0。（用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時，AB級最低黑度允許降至1.5；B級最低黑度可降至2.0。對黑度D4.0的底片，如觀片燈能保證底片亮度滿足要求，允許進行評定。 ）29、底片評定范圍內的黑度JB/T4730A級黑度允許值低于GB/T3323A級；JB/T4730AB級與GB/T3323A級黑度允許值比較：JB/T4730規(guī)定：只有在使用X射線，透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時，AB級最低黑度允許降至1.5。而GB/T3323規(guī)定是：經合同各方商定，A級可降為1.5。應該說JB/T4730規(guī)定更嚴一

30、些。GB/T3323未規(guī)定底片黑度上限，JB/T4730規(guī)定底片黑度上限為4.0，從當前國內外各種觀片燈亮度來看，底片黑度超過4.0是有問題的。30、關于多膠片技術GB/T3323規(guī)定：對截面厚度均勻的工件，不得用多膠片法來減少曝光時間。用多膠片透照，而用單張底片觀察評定時，每張底片的黑度應滿足表4規(guī)定。用多膠片透照，且用兩張底片重迭觀察評定時，單張底片的黑度應1.3。 JB/T4730.2規(guī)定：用多膠片方法時，單片觀察的黑度應符合以上要求。雙片疊加觀察僅限于A級，疊加觀察時，單片的黑度應不低于1.3。30、關于多膠片技術說明：GB/T3323與JB/T4730規(guī)定基本一致 （1）單片觀察和雙片疊加觀察的底片黑度值兩標準規(guī)定一致。（2）JB/T4730規(guī)定：“雙