![半導(dǎo)體物理試卷a答案_第1頁](http://file4.renrendoc.com/view/7c14f01d0bdad025e432d4e11f621b67/7c14f01d0bdad025e432d4e11f621b671.gif)
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![半導(dǎo)體物理試卷a答案_第4頁](http://file4.renrendoc.com/view/7c14f01d0bdad025e432d4e11f621b67/7c14f01d0bdad025e432d4e11f621b674.gif)
![半導(dǎo)體物理試卷a答案_第5頁](http://file4.renrendoc.com/view/7c14f01d0bdad025e432d4e11f621b67/7c14f01d0bdad025e432d4e11f621b675.gif)
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文檔簡介
1、一、名詞解釋(本大題共 5 題 每題 4分,共 20 分)受主能級:通過受主摻雜在半導(dǎo)體的禁帶中形成缺陷能級。正常情況下,此能 級為空穴所占據(jù),這個被受主雜質(zhì)束縛的空穴的能量狀態(tài)稱為受主能級。直接復(fù)合:導(dǎo)帶中的電子越過禁帶直接躍遷到價帶,與價帶中的空穴復(fù)合,這 樣的復(fù)合過程稱為直接復(fù)合??昭ǎ寒?dāng)滿帶頂附近產(chǎn)生P0個空態(tài)時,其余大量電子在外電場作用下所產(chǎn) 生的電流,可等效為P0個具有正電荷q和正有效質(zhì)量竹,速度為v(k)的準(zhǔn)經(jīng)典 粒子所產(chǎn)生的電流,這樣的準(zhǔn)經(jīng)典粒子稱為空穴。過剩載流子:在光注入、電注入、高能輻射注入等條件下,半導(dǎo)體材料中會產(chǎn)生高于熱平衡時濃度的電子和空穴,超過熱平衡濃度的電子 n
2、=n-n0和空穴 p=p-p0 稱為過剩載流子。費(fèi)米能級、化學(xué)勢答:費(fèi)米能級與化學(xué)勢:費(fèi)米能級表示等系統(tǒng)處于熱平衡狀態(tài),也不對外做 功的情況下,系統(tǒng)中增加一個電子所引起系統(tǒng)自由能的變化,等于系統(tǒng)的化學(xué)勢。 處于熱平衡的系統(tǒng)有統(tǒng)一的化學(xué)勢。這時的化學(xué)勢等于系統(tǒng)的費(fèi)米能級。費(fèi)米能 級和溫度、材料的導(dǎo)電類型雜質(zhì)含量、能級零點(diǎn)選取有關(guān)。費(fèi)米能級標(biāo)志了電子 填充能級水平。費(fèi)米能級位置越高,說明較多的能量較高的量子態(tài)上有電子。隨 之溫度升高,電子占據(jù)能量小于費(fèi)米能級的量子態(tài)的幾率下降,而電子占據(jù)能量 大于費(fèi)米能級的量子態(tài)的幾率增大。二、選擇題(本大題共5題 每題3分,共15分)對于大注入下的直接輻射復(fù)合,
3、非平衡載流子的壽命與(D )A. 平衡載流子濃度成正比B. 非平衡載流子濃度成正比C. 平衡載流子濃度成反比D. 非平衡載流子濃度成反比2有 3 個硅樣品,其摻雜情況分別是:含鋁 1x10-i5cm-3乙含硼和磷各 1x10-i7cm-3丙.含鎵 1x10-i7cm-3室溫下,這些樣品的電阻率由高到低的順序是(C )甲乙丙B. 甲丙乙C. 乙甲丙D. 丙甲乙3有效復(fù)合中心的能級必靠近( A )禁帶中部B導(dǎo)帶C價帶D費(fèi)米能級4當(dāng)一種n型半導(dǎo)體的少子壽命由直接輻射復(fù)合決定時,其小注入下的少子壽命正比于(C)命正比于(C)A.1/n0B.l/DnC.1/p0D.l/Dp5以下 4 種半導(dǎo)體中最適合于
4、制作高溫器件的是( D )A. SiB. GeC. GaAsD. GaN三、填空:(每空 2 分,共 20 分)1 )半導(dǎo)體的晶格結(jié)構(gòu)式多種多樣的,常見的 Ge 和 Si 材料,其原子均通過 共價鍵四面體相互結(jié)合,屬于 金剛石 結(jié)構(gòu);與Ge和Si晶格結(jié)構(gòu)類似,兩 種不同元素形成的化合物半導(dǎo)體通過共價鍵四面體還可以形成閃鋅礦和 纖鋅礦 等兩種晶格結(jié)構(gòu)。2)如果電子從價帶頂躍遷到導(dǎo)帶底時波矢 k 不發(fā)生變化,則具有這種能帶 結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體稱為直接禁帶半導(dǎo)體,否則稱為間接禁帶半導(dǎo)體,那么按這種原 則分類,GaAs屬于直接禁帶半導(dǎo)體。3)半導(dǎo)體載流子在輸運(yùn)過程中,會受到各種散射機(jī)構(gòu)的散射,主要散射機(jī)構(gòu)
5、有晶格振動散射、 電離雜質(zhì)散射、中性雜質(zhì)散射、位錯散射、載流子間的散 射和等價能谷間散射。4)半導(dǎo)體中的載流子復(fù)合可以有很多途徑,主要有兩大類:帶間電子-空穴直 接復(fù)合和通過禁帶內(nèi)的復(fù)合中心 進(jìn)行復(fù)合。5)反向偏置 pn 結(jié),當(dāng)電壓升高到某值時,反向電流急劇增加,這種現(xiàn)象稱為pn結(jié)擊穿,主要的擊穿機(jī)理有兩種:雪崩 擊穿和 隧道 擊穿。三、簡答題(15 分)1)當(dāng)電子和空穴的濃度是空間和時間的函數(shù)時,它們隨時間的變化率將由載流 子的擴(kuò)散、漂移及其產(chǎn)生和復(fù)合所決定,由電子數(shù)、空穴數(shù)的守恒原則,試寫 出載流子隨時間的凈變化率(生)和(算),并加以說明。(6分)dtdt解:載流子隨時間的凈變化率(|)
6、和(專)為 分) 右邊第一項為擴(kuò)散項,第二項為漂移項,第三項為產(chǎn)生,第四項為復(fù)合。注意 為電場,是幾何空間坐標(biāo)的函數(shù),該式為連續(xù)性方程.dp (QAp) dtdt=dp (QAp) dtdt=D V2ppe) + 8 一空ppG Tdn _ (dAn) dtdt_ D V2n +yV(ne) + 8 -nnG Tp每個式子 2 分,說明 22)請描述小注入條件正向偏置和反向偏置下的 pn 結(jié)中載流子的運(yùn)動情況,寫 出其電流密度方程,請解釋為什么 pn 結(jié)具有單向?qū)щ娦??? 分)解:在 p-n 結(jié)兩端加正向偏壓 VF, VF 基本全落在勢壘區(qū)上,由于正向偏壓 產(chǎn)生的電場與內(nèi)建電場方向相反,勢壘
7、區(qū)的電場強(qiáng)度減弱,勢壘高度由平衡時 的qVD下降到q(VD-V,耗盡區(qū)變窄,因而擴(kuò)散電流大于漂移電流,產(chǎn)生正向 注入。過剩電子在p區(qū)邊界的結(jié)累,使一x力處的電子濃度由熱平衡值n0p上升 并向p區(qū)內(nèi)部擴(kuò)散,經(jīng)過一個擴(kuò)散長度Ln后,又基本恢復(fù)到n0p。在-兀力處電子 濃度為n(-xTp),同理,空穴向n區(qū)注入時,在n區(qū)一側(cè)勺處的空穴濃度上升到 P(XTn),經(jīng)Lp后,恢復(fù)到p0n。反向電壓VR在勢壘區(qū)產(chǎn)生的電場與內(nèi)建電場方向一致,因而勢壘區(qū)的電場 增強(qiáng),空間電荷數(shù)量增加,勢壘區(qū)變寬,勢壘高度由qVD增高到qVD+g勢壘 區(qū)電場增強(qiáng)增強(qiáng),破壞了原來載流子擴(kuò)散運(yùn)動和漂移運(yùn)動的平衡,漂移運(yùn)動大 于擴(kuò)散運(yùn)
8、動。這時,在區(qū)邊界處的空穴被勢壘區(qū)電場逐向p區(qū),p區(qū)邊界的電 子被逐向n區(qū)。當(dāng)這些少數(shù)載流子被電場驅(qū)走后,內(nèi)部少子就來補(bǔ)充,形成了 反向偏壓下的空穴擴(kuò)散電流和電子擴(kuò)散電流。(5 分)電流密度方程:j二j電流密度方程:j二jDsexpqV2 分)正向偏置時隨偏置電壓指數(shù)上升,反向偏壓時,反向擴(kuò)散電流與V無關(guān),它正比于少子濃度,數(shù)值是很小的,因此可以認(rèn)為是單向?qū)щ?。? 分)四、計算題 (共 3 小題,每題 10 分,共 30分)1.已知室溫時鍺的本征載流子濃度n=2-1 x 1013cim-3,均勻摻雜百萬分之一的硼 原子后,又均勻摻入1.442xl0i7cm-3的砷,計算摻雜鍺室溫時的多子濃度
9、和少子 濃度以及Ef的位置。(10分)解:硼的濃度:NA=4.42x10i6cm-3。有效施主雜質(zhì)濃度為: ND=(14.42-4.42)x1016cm-3=1017cm-3室溫時下雜質(zhì)全部電離,由于有效雜質(zhì)濃度遠(yuǎn)大于本征載流子濃度2.4x10i3cm-3,鍺半導(dǎo)體處于飽和電離區(qū)。多子濃度 n0=ND= 10i7cm-3少子濃度 p0=ni2/n0=(2.4x 1013)2/10i7=5.76x109(cm-3)費(fèi)米能級:EF=EC+k0Tln(ND/NC)=EC+0.026ln10i7/(1.1 x 10i9)=EC - 0.122(eV) 2、摻有1.1x1015 cm-3硼原子和9x10
10、14 cm-3磷原子的Si樣品,試計算室溫時多Nd=9 Nd=9 x1014cm-3; NA=1-1x1015cm-3; TTOOK 時 ni=24x1013cm-3解:對于 Si多子濃度:no=N 一 N = 2 x 1014 cm -3多子濃度:noD A ;p0少子濃度: 0n2 = (2.4x 1013)2 cm-3 = 2.88x 1012cm-32 x1014P =nqp + pqpn qpnp 0 n=8.01Q.cm2x1014 x1.6 x10 -19 x 39003.由電阻率為4G.cm的p型Ge和0.4Q.Cm的n型Ge半導(dǎo)體組成一個p-n結(jié),計算在室溫(300K)時內(nèi)建
11、電勢VD和勢壘寬度xD。已知在上述電阻率下,p區(qū)的空穴遷移率卩=1650cm2/V.S, np區(qū)的電子遷移率卩=3000cm 2 / V.S,Ge的本征載流子濃度 n = 2.5x1013 /cm3,i真空介電常數(shù)80= 8.85 x 10 一12 F / m, 8 = 16. s10分)解:o = = nq p n n =-n P n P qp0.4x1.6x10-19x3600nn n=4.34 x 1015 cm-3 ( 2 分)=pqp n p = 9.19x 1014cm-3(2 分)ppp qp4 x1.6 x 10-19 x1700pp pKT np 1.38x10-23x3004.34 x1015 x 9.19 x1014= In =In= 0.2267V (3 分)q n 2
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