產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證培訓(xùn)課程課件

Northstar從品檢(QI)--->全面品管(TQA)Northstar從品檢(QI)--->全面品管(T1Northstar1、連接器常用的測(cè)試規(guī)范及測(cè)試項(xiàng)目2、連接器的電氣特性測(cè)試：2-1絕緣阻抗測(cè)試(InsulationResistance);2-2耐電壓測(cè)試(DielectricsWithstandingVoltage);2-3低功率接觸阻抗(LowLevelContactResistance);2-4電容和電感測(cè)試(Capacitance&.Inductance)﹔2-5溫升測(cè)試(TemperatureRise)。

產(chǎn)品驗(yàn)證課程大綱Northstar1、連接器常用的測(cè)試規(guī)范及測(cè)試項(xiàng)目產(chǎn)品驗(yàn)證2Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-1單點(diǎn)插入與拔出力

(Engagement&.SeparationForce);3-2連接器的結(jié)合與拔出力

(Mating&.UnmatingForce)﹔3-3端子保持力(ContactRetentionForce);3-4端子正向力(NormalForce);3-5耐久性插拔(Durability)。

Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-1鹽水噴霧試驗(yàn)(SaltSpray)﹔4-2耐濕性試驗(yàn)(Humidity)﹔4-3振動(dòng)試驗(yàn)(Vibration)﹔4-4沖擊試驗(yàn)(Shock)﹔4-5熱沖擊試驗(yàn)(ThermalShock)﹔4-6高溫壽命試驗(yàn)(TemperatureLife)﹔4-7耐焊錫熱試驗(yàn)(ResistanceToSolderHeat)﹔4-8焊錫性試驗(yàn)(Solderability)﹔Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-1鹽水噴霧試驗(yàn)(4Northstar5.產(chǎn)品功能性驗(yàn)証：

5-1EIAStandard;5-2HPQualificationRequirements;5-3IntelQualificationRequirements.Northstar5.產(chǎn)品功能性驗(yàn)証：5-1EIASt5Northstar1-1-1MILSTD1344A;1-1-2MIL-STD-202F;1-1-3EIA-364C(美國(guó)電子工業(yè)學(xué)會(huì)ElectronicIndustriesAssociation);1-1-4IEC-512(國(guó)際電子委員會(huì)IntermationalElectromechanicalCommission).1-1國(guó)際規(guī)范：1、連接器常用的測(cè)試規(guī)范：Northstar1-1-1MILSTD1344A;161-2-1MIL-STD-24308CforD-SUBCONN;1-2-2PCI,EISAStandard;1-2-3IEEE1394;1-2-4PCMCIA;1-2-5EIA-540B000,EIA-540BAAAforZIFSOCKET;Northstar1-2產(chǎn)品或業(yè)界規(guī)范1、連接器常用的測(cè)試規(guī)范：1-3MIL-STD1344A與IEC-512之相通性。1-2-1MIL-STD-24308CforD-SUB7Northstar2-1絕緣阻抗測(cè)試(InsulationResistance);2、連接器的電氣特性測(cè)試：2-1-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器之絕緣材料在通過(guò)直流電壓后，其表面產(chǎn)生漏電流狀況，以判定其絕緣程度﹔2-1-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method3003.1;2-1-3量測(cè)方法：2-1-3-1測(cè)試位置為最靠近之相鄰兩端子或端子鐵殼，如果是同軸連接器則為內(nèi)部與外部之端子﹔2-1-3-2測(cè)試時(shí)間：2分鐘﹔2-1-3-3測(cè)試電壓：500Vdc或特別規(guī)定。Northstar2-1絕緣阻抗測(cè)試(Insulation8Northstar2-2耐電壓測(cè)試(DielectricsWithstandingVoltage);2、連接器的電氣特性測(cè)試：2-1-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器之安全額定電壓及承受瞬間脈沖電壓之安全性，進(jìn)而評(píng)估連接器的絕緣材料與其組成絕緣間隔是否適當(dāng)﹔2-2-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method3003.1;2-2-3量測(cè)方法：2-2-3-1測(cè)試點(diǎn)為最靠近之相鄰兩端子及Shell與最接近ShellR的端子間﹔2-2-3-2測(cè)試時(shí)間：1分鐘﹔2-2-3-3耐壓過(guò)程之漏電流除特別規(guī)定外，不得超過(guò)5mA，一般以0.5mA為測(cè)試需求﹔2-2-3-4測(cè)試電壓除特別規(guī)定外，一般以交流電壓為測(cè)試要求。Northstar2-2耐電壓測(cè)試(Dielectrics9Northstar2-3低功率接觸阻抗(LowLevelContactResistance);2、連接器的電氣特性測(cè)試：2-3-1量測(cè)目的：在不破壞端子表面的氧化薄膜下，測(cè)試結(jié)合兩端子間的接觸阻值，以作為連接器端子之總體性評(píng)估。2-3-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method3002-1;2-3-3量測(cè)方法：2-3-3-1以四線量測(cè)法量測(cè)結(jié)合端子之電阻值﹔2-3-3-2測(cè)試電流：100mAmaximum﹔2-3-3-3開(kāi)路電壓：20mAmaximum﹔Northstar2-3低功率接觸阻抗(LowLevel10Northstar2-4電容和電感測(cè)試(Capacitance&.Inductance):2-4-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器之電容值及電感值是否合乎規(guī)格需求，因連接器之目的即為傳輸信號(hào)。而傳輸線的電容、電感取決于導(dǎo)體的幾何形狀、介質(zhì)特性。若是設(shè)計(jì)不良，則會(huì)導(dǎo)致信號(hào)傳輸延遲，訊號(hào)扭曲及阻抗不匹配的現(xiàn)象。2-4-2量測(cè)依據(jù)：

2-4-2-1電容量測(cè)MIL-STD-202F，method305﹔2-4-2-2電感量測(cè)EIA-364-692-4-2-3依客戶之測(cè)試要求2-4-3量測(cè)方法

2-4-3-1量測(cè)頻率：除特別規(guī)定外，一般以1Khz或1MHz﹔2-4-3-2電容量測(cè)：在相鄰2Pin的遠(yuǎn)端開(kāi)路，近端以電容表或LCRmeter量測(cè)其電容值﹔2-4-3-3電感量測(cè)：在相鄰2Pin遠(yuǎn)端短路，近端用LCRmeter量測(cè)其電感值﹔2、連接器的電氣特性測(cè)試：Northstar2-4電容和電感測(cè)試(Capacitanc11Northstar2-5溫升測(cè)試(TemperatureRise)。

2、連接器的電氣特性測(cè)試：2-5-1量測(cè)目的：評(píng)估端子能攜帶規(guī)格之額定電流在規(guī)格時(shí)間內(nèi)，其溫升不得超過(guò)規(guī)定值﹔2-5-2量測(cè)依據(jù)：IEC-512-3﹔2-5-3量測(cè)方法：2-5-3-1樣本試驗(yàn)之線路接法﹔2-5-3-2測(cè)試時(shí)間：5H﹔2-5-3-3除特別規(guī)定外，一般溫升變化的最大值為不超過(guò)室溫300C。Northstar2-5溫升測(cè)試(TemperatureR12Northstar3-1單點(diǎn)插入與拔出力(Engagement&.SeparationForce);3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-1-1量測(cè)目的：評(píng)估個(gè)別端子插入與拔出時(shí)所需之力量;3-1-2量測(cè)依據(jù)：EIA-364-37A﹔3-1-3量測(cè)方法：3-1-3-1用maximum測(cè)試pin預(yù)先插拔2次﹔3-1-3-2如無(wú)特別規(guī)定則以最大測(cè)度pin或測(cè)試板量測(cè)插入力以最小測(cè)試pin或測(cè)試板測(cè)拔出力﹔3-1-3-3測(cè)試之Gagepin應(yīng)注意其表面粗糙度規(guī)格須符合MS-3197之規(guī)定。Northstar3-1單點(diǎn)插入與拔出力(Engageme13Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-2連接器整體的結(jié)合力與拔出力(Mating&.UnmatingForce)﹔3-2-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器在不同環(huán)境下，測(cè)試前及測(cè)試后的整體插入與拔出力及連接器鐵殼之防護(hù)能力﹔3-2-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method2031.1﹔3-2-3量測(cè)方法：3-2-3-1一般以連接器公母實(shí)配為測(cè)試方法﹔3-2-3-2樣品為SLOT系列產(chǎn)品時(shí)，除特別規(guī)定外，則以最大尺寸測(cè)試板測(cè)試MatingForce,以最小尺寸測(cè)試板測(cè)UnmatingForce。Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-2連接器整體143-3端子保持力(ContactRetentionForce);Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-3-1量測(cè)目的：評(píng)估端子裝配進(jìn)塑膠后,端子所能承受之最大軸向力,以避免在使用時(shí)因操作錯(cuò)誤而造成退PIN現(xiàn)象;3-3-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method2007.1﹔3-3-3量測(cè)方法：可區(qū)分為兩種方式:3-3-3-1在端子上施加一規(guī)定靜荷重於規(guī)定時(shí)間后,量測(cè)端子之位移變化量是否符合規(guī)格需求﹔3-3-3-2在端子施加一軸向力,直至端子被退出塑膠體外,記錄其最大軸向力是否符合規(guī)格要求。3-3端子保持力(ContactRetentionFor153-4端子正向力(NormalForce);Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-4-1量測(cè)目的：量測(cè)正向力藉以驗(yàn)證端子設(shè)計(jì)及材料選定是否符合設(shè)計(jì)理念,進(jìn)而推算出各相關(guān)的力量,以作為設(shè)計(jì)變更之參考;3-4-2量測(cè)依據(jù)：EIA-364-04﹔3-4-3量測(cè)方法：

3-4-3-1量測(cè)端子之Contactpoint間距離(Gap);3-4-3-2計(jì)算量測(cè)之位移量:Disp=MatingParts之直徑或厚度-Gap/2;若端子之Gap為單彈片設(shè)計(jì)如SmartCard則位移不需除以2;3-4-3-3剖開(kāi)塑膠露出待測(cè)pin之Contactpoint點(diǎn);3-4-3-4以推拉力測(cè)試機(jī)量測(cè)待測(cè)端子Contactpoint被壓至計(jì)算之測(cè)試位移量時(shí)力量,即為正向力.3-4端子正向力(NormalForce);Northst16Northstar3-5耐久性插拔(Durability):3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-5-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器連繨插拔后,其端子電鍍層磨耗程度或插拔前后之電氣特性與機(jī)械特性變化;3-5-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method2015.1;3-5-3量測(cè)方法：

3-5-3-1插拔速度除特別規(guī)定外,每小時(shí)不超過(guò)300cycle;3-5-3-2測(cè)試方式以連接器公母實(shí)配為測(cè)試原則,若為SLOT系列產(chǎn)品則以最大板厚之測(cè)試板執(zhí)行測(cè)試.AutoV-CUTNorthstar3-5耐久性插拔(Durability):17Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-1鹽水噴霧試驗(yàn)(SaltSpray):4-1-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器金屬配件及端子鍍層抗鹽霧腐蝕的能力﹔4-1-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method1001.1;4-1-3量測(cè)程序：

4-1-3-1量測(cè)條件：A.鹽水濃度：5%重量比﹔B試驗(yàn)倉(cāng)之溫度：35+1.1/-1.7

0C﹔C飽和桶溫度：47±0.20C。4-1-3-2量測(cè)時(shí)間：A：96H﹔B：48H﹔C：500H﹔D：1000H。4-1-3-3至少每16小時(shí)量一次，鹽霧量平均每小時(shí)為1-2ml;4-1-3-4樣品的放置應(yīng)不互相接觸，且測(cè)試面與垂直面成150﹔4-1-3-5試驗(yàn)完畢后除特別規(guī)定外，試樣應(yīng)以清水沖洗5分鐘(水溫不得超過(guò)350C)必要時(shí)以軟毛刷洗。Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-1鹽水噴霧試驗(yàn)(18GMOFFICE49Northstar4-2耐濕性試驗(yàn)(Humidity)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-2-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器在經(jīng)高溫之環(huán)境儲(chǔ)存后對(duì)產(chǎn)品特性的影響及在高溫高濕環(huán)境里的操作可行性評(píng)估﹔4-2-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method1002.2;4-2-3量測(cè)程序：耐濕性試驗(yàn)可區(qū)分為：4-2-3-1恆溫恆濕試驗(yàn)(SteadyState)A量測(cè)條件：溫度400C﹔濕度95%(R.H.)B量測(cè)時(shí)間：A240H﹔B96H﹔C540HD1344H.)4-2-3-2溫濕度循環(huán)試驗(yàn)(Humidity-TemperatureCycling)A量測(cè)時(shí)間：10Cycles;D1344H.)B最終量測(cè)應(yīng)在從試驗(yàn)倉(cāng)取出后，放置室溫在1-2天內(nèi)完成量測(cè)。.)GMOFFICE49Northstar4-2耐濕性試驗(yàn)(19Northstar4-3振動(dòng)試驗(yàn)(Vibration)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-3-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器耐振持久性，確認(rèn)連接器是否因夾持力太松，以致于振動(dòng)過(guò)程中造成瞬間斷電現(xiàn)象，及因振動(dòng)而發(fā)生接觸點(diǎn)腐蝕氧化現(xiàn)象而造成阻值變化﹔4-3-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method2005﹔4-3-3量測(cè)程序：

4-3-3-1量測(cè)電流：將結(jié)合樣品串聯(lián)成一人回路，并通一100mA之電流于回路上。4-3-3-2監(jiān)控?cái)嚯姇r(shí)間：1us(若無(wú)特別規(guī)定);4-3-3-3振動(dòng)軸向：X-Y-Z三軸﹔4-3-3-4正弦振動(dòng)之各測(cè)試條件及時(shí)間如下表﹔

Northstar4-3振動(dòng)試驗(yàn)(Vibration)﹔4、20正弦振動(dòng)之測(cè)試條件及時(shí)間Northstar正弦振動(dòng)之測(cè)試條件及時(shí)間Northstar21Northstar4-4沖擊試驗(yàn)(Shock)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-4-1量測(cè)目的：模擬連接器在承受運(yùn)輸途中或其他因素發(fā)生突發(fā)沖擊狀況時(shí)，對(duì)產(chǎn)品接觸功能性影響﹔4-4-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method2004-1﹔4-4-3量測(cè)程序：

4-4-3-1沖擊波形：A半正弦波﹔B鋸齒波﹔C方波。4-4-3-2沖擊次數(shù)：3軸6個(gè)面;每面3次共18次﹔4-4-3-3若無(wú)特別規(guī)定，則在測(cè)試樣品通100mA電流，并監(jiān)控其于沖擊中是否有1us之?dāng)嚯姮F(xiàn)象﹔4-4-3-4沖擊條件如附件附表：

Northstar4-4沖擊試驗(yàn)(Shock)﹔4、連接器的22NorthstarTABLEI.TestcondicionvaluesNorthstarTABLEI.Testcondici23GMOFFICE52Northstar4-5熱沖擊試驗(yàn)(ThermalShock)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-5-1量測(cè)目的：評(píng)估電子元件在急速的大溫差變化下，對(duì)于其功能品質(zhì)的影響4-5-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method1003-1﹔MIL-STD-202F，method1007-G﹔4-5-3量測(cè)程序：

4-5-3-1高低溫之溫度變化應(yīng)于5分鐘內(nèi)完成﹔4-5-3-2熱沖擊循環(huán)條件見(jiàn)附表﹔4-5-3-3量測(cè)時(shí)間見(jiàn)附表。

GMOFFICE52Northstar4-5熱沖擊試驗(yàn)(24熱沖擊循環(huán)條件4、連接器的環(huán)境測(cè)試：Northstar熱沖擊循環(huán)條件4、連接器的環(huán)境測(cè)試：Northstar25熱沖擊量測(cè)時(shí)間Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：(表二)熱沖擊量測(cè)時(shí)間Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：(表二26CAPABILITIES(Day)

GMOFFICE524-6高溫壽命試驗(yàn)(TemperatureLife)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：Northstar4-6-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器暴露在高溫環(huán)境于規(guī)定時(shí)間后端子及塑膠應(yīng)力是否有弛緩現(xiàn)象，及其他影響產(chǎn)品品質(zhì)因素存在﹔4-6-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method1005-1﹔4-6-3量測(cè)程序：

4-6-3-1量測(cè)時(shí)間及條件，如表所列：4-6-3-2除特別規(guī)定外，一般以Mating條件進(jìn)烘箱測(cè)試。CAPABILITIES(Day)GMO27GMOFFICE57量測(cè)時(shí)間及條件4、連接器的環(huán)境測(cè)試：NorthstarGMOFFICE57量測(cè)時(shí)間及條件4、連接器的環(huán)境測(cè)試：28Northstar4-7耐焊錫熱試驗(yàn)(ResistanceToSolderHeat)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-7-1量測(cè)目的：評(píng)估電子元件經(jīng)過(guò)錫槽時(shí)，其承受焊錫熱或幅射熱的能力﹔4-7-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-202F，method201A﹔4-7-3量測(cè)方法：

4-7-3-1將沾完肋焊濟(jì)后的待測(cè)物端子直接浸泡于錫爐內(nèi)﹔4-7-3-2浸泡深度至距塑膠體1.57mm處﹔4-7-3-3浸泡時(shí)間及溫度條件如下表：Northstar4-7耐焊錫熱試驗(yàn)(Resistance29GMOFFICE58Northstar浸泡時(shí)間及溫度條件4、連接器的環(huán)境測(cè)試：公差視規(guī)格而定GMOFFICE58Northstar浸泡時(shí)間及溫度條件30GMOFFICE58Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-8焊錫性試驗(yàn)(Solderability)﹔4-8-1量測(cè)目的：評(píng)估電鍍后之端子，經(jīng)焊錫性試驗(yàn)后，經(jīng)由顯微觀察其沾錫表面是否有拒焊、針孔等品質(zhì)異常現(xiàn)象。4-8-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-202F，method208F﹔4-8-3量測(cè)程序：

4-8-3-1樣品先執(zhí)行蒸汽老化試驗(yàn)4-8H﹔4-8-3-2浸泡RTYPE或RMATYPE之助焊濟(jì)5-9秒﹔4-8-3-3沾錫條件：A.浸泡速度：1±?inch;B.浸泡時(shí)間：5±?秒;C.錫爐溫度：245±50C。

4-8-4測(cè)試后之樣品如沾有過(guò)剩之助焊濟(jì)則需浸泡ISOPROPLYALCOHOL將其去除。GMOFFICE58Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)31Northstar5-1-1測(cè)試環(huán)境需求：A.溫度150C-350C﹔B.濕度：20%-80%(R.H.)C.大氣壓力650-800mmHg。5-1-2測(cè)試樣本數(shù)及測(cè)試點(diǎn)數(shù)：

5-1-2-1樣本數(shù)：除特別規(guī)定外，其測(cè)試的樣本數(shù)參考如下：A.TestGroup1：4pcs.Mimimum﹔B..TestGroup2-5：2pcs.Mimimum5-1-2-1測(cè)試點(diǎn)數(shù)：抽測(cè)25%PERSample，若少于25對(duì)，則全測(cè)。5-1-3precondition的插拔次數(shù)：

5-1-3-125cyclesforconnectors﹔

5-1-3-25cyclesforsocket。

5.產(chǎn)品功能性驗(yàn)証：5-1量測(cè)依據(jù)(EIAStandard)Northstar5-1-1測(cè)試環(huán)境需求：A.溫度15032Northstar5-2量測(cè)依據(jù)(HPQualificationRequirements)：5.產(chǎn)品功能性驗(yàn)証：5-2-1測(cè)試環(huán)境需求：A.溫度250C±50C﹔B.濕度：50%-20%C.大氣壓力650-800mmHg。5-2-2測(cè)試樣本數(shù)：

5-1-2-1Group1：5pairsmated樣品Mimimum(Plug和Receptacle各5PCS)5-1-2-2Group2unmsted樣品(3Plug和3Receptacle)。5-2-3precondition的插拔次數(shù)：

5-2-3-125cyclesforconnectors﹔

5-2-3-25cyclesforsocket。

Northstar5-2量測(cè)依據(jù)(HPQualifica33Northstar5-3量測(cè)依據(jù)IntelQualificationRequirements.5.產(chǎn)品功能性驗(yàn)証：5-3-1測(cè)試環(huán)境：A.溫度150C-350C﹔B.濕度：20%-80%(R.H.);C.大氣壓力650-800mmHg。5-3-2測(cè)試樣本數(shù)：

5-3-2-1Group1～Group4：8PCS;5-3-2-2Group5～Group7：4PCS。Northstar5-3量測(cè)依據(jù)IntelQualifi34演講完畢，謝謝觀看！演講完畢，謝謝觀看！35Northstar從品檢(QI)--->全面品管(TQA)Northstar從品檢(QI)--->全面品管(T36Northstar1、連接器常用的測(cè)試規(guī)范及測(cè)試項(xiàng)目2、連接器的電氣特性測(cè)試：2-1絕緣阻抗測(cè)試(InsulationResistance);2-2耐電壓測(cè)試(DielectricsWithstandingVoltage);2-3低功率接觸阻抗(LowLevelContactResistance);2-4電容和電感測(cè)試(Capacitance&.Inductance)﹔2-5溫升測(cè)試(TemperatureRise)。

產(chǎn)品驗(yàn)證課程大綱Northstar1、連接器常用的測(cè)試規(guī)范及測(cè)試項(xiàng)目產(chǎn)品驗(yàn)證37Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-1單點(diǎn)插入與拔出力

(Engagement&.SeparationForce);3-2連接器的結(jié)合與拔出力

(Mating&.UnmatingForce)﹔3-3端子保持力(ContactRetentionForce);3-4端子正向力(NormalForce);3-5耐久性插拔(Durability)。

Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：38Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-1鹽水噴霧試驗(yàn)(SaltSpray)﹔4-2耐濕性試驗(yàn)(Humidity)﹔4-3振動(dòng)試驗(yàn)(Vibration)﹔4-4沖擊試驗(yàn)(Shock)﹔4-5熱沖擊試驗(yàn)(ThermalShock)﹔4-6高溫壽命試驗(yàn)(TemperatureLife)﹔4-7耐焊錫熱試驗(yàn)(ResistanceToSolderHeat)﹔4-8焊錫性試驗(yàn)(Solderability)﹔Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-1鹽水噴霧試驗(yàn)(39Northstar5.產(chǎn)品功能性驗(yàn)証：

5-1EIAStandard;5-2HPQualificationRequirements;5-3IntelQualificationRequirements.Northstar5.產(chǎn)品功能性驗(yàn)証：5-1EIASt40Northstar1-1-1MILSTD1344A;1-1-2MIL-STD-202F;1-1-3EIA-364C(美國(guó)電子工業(yè)學(xué)會(huì)ElectronicIndustriesAssociation);1-1-4IEC-512(國(guó)際電子委員會(huì)IntermationalElectromechanicalCommission).1-1國(guó)際規(guī)范：1、連接器常用的測(cè)試規(guī)范：Northstar1-1-1MILSTD1344A;1411-2-1MIL-STD-24308CforD-SUBCONN;1-2-2PCI,EISAStandard;1-2-3IEEE1394;1-2-4PCMCIA;1-2-5EIA-540B000,EIA-540BAAAforZIFSOCKET;Northstar1-2產(chǎn)品或業(yè)界規(guī)范1、連接器常用的測(cè)試規(guī)范：1-3MIL-STD1344A與IEC-512之相通性。1-2-1MIL-STD-24308CforD-SUB42Northstar2-1絕緣阻抗測(cè)試(InsulationResistance);2、連接器的電氣特性測(cè)試：2-1-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器之絕緣材料在通過(guò)直流電壓后，其表面產(chǎn)生漏電流狀況，以判定其絕緣程度﹔2-1-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method3003.1;2-1-3量測(cè)方法：2-1-3-1測(cè)試位置為最靠近之相鄰兩端子或端子鐵殼，如果是同軸連接器則為內(nèi)部與外部之端子﹔2-1-3-2測(cè)試時(shí)間：2分鐘﹔2-1-3-3測(cè)試電壓：500Vdc或特別規(guī)定。Northstar2-1絕緣阻抗測(cè)試(Insulation43Northstar2-2耐電壓測(cè)試(DielectricsWithstandingVoltage);2、連接器的電氣特性測(cè)試：2-1-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器之安全額定電壓及承受瞬間脈沖電壓之安全性，進(jìn)而評(píng)估連接器的絕緣材料與其組成絕緣間隔是否適當(dāng)﹔2-2-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method3003.1;2-2-3量測(cè)方法：2-2-3-1測(cè)試點(diǎn)為最靠近之相鄰兩端子及Shell與最接近ShellR的端子間﹔2-2-3-2測(cè)試時(shí)間：1分鐘﹔2-2-3-3耐壓過(guò)程之漏電流除特別規(guī)定外，不得超過(guò)5mA，一般以0.5mA為測(cè)試需求﹔2-2-3-4測(cè)試電壓除特別規(guī)定外，一般以交流電壓為測(cè)試要求。Northstar2-2耐電壓測(cè)試(Dielectrics44Northstar2-3低功率接觸阻抗(LowLevelContactResistance);2、連接器的電氣特性測(cè)試：2-3-1量測(cè)目的：在不破壞端子表面的氧化薄膜下，測(cè)試結(jié)合兩端子間的接觸阻值，以作為連接器端子之總體性評(píng)估。2-3-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method3002-1;2-3-3量測(cè)方法：2-3-3-1以四線量測(cè)法量測(cè)結(jié)合端子之電阻值﹔2-3-3-2測(cè)試電流：100mAmaximum﹔2-3-3-3開(kāi)路電壓：20mAmaximum﹔Northstar2-3低功率接觸阻抗(LowLevel45Northstar2-4電容和電感測(cè)試(Capacitance&.Inductance):2-4-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器之電容值及電感值是否合乎規(guī)格需求，因連接器之目的即為傳輸信號(hào)。而傳輸線的電容、電感取決于導(dǎo)體的幾何形狀、介質(zhì)特性。若是設(shè)計(jì)不良，則會(huì)導(dǎo)致信號(hào)傳輸延遲，訊號(hào)扭曲及阻抗不匹配的現(xiàn)象。2-4-2量測(cè)依據(jù)：

2-4-2-1電容量測(cè)MIL-STD-202F，method305﹔2-4-2-2電感量測(cè)EIA-364-692-4-2-3依客戶之測(cè)試要求2-4-3量測(cè)方法

2-4-3-1量測(cè)頻率：除特別規(guī)定外，一般以1Khz或1MHz﹔2-4-3-2電容量測(cè)：在相鄰2Pin的遠(yuǎn)端開(kāi)路，近端以電容表或LCRmeter量測(cè)其電容值﹔2-4-3-3電感量測(cè)：在相鄰2Pin遠(yuǎn)端短路，近端用LCRmeter量測(cè)其電感值﹔2、連接器的電氣特性測(cè)試：Northstar2-4電容和電感測(cè)試(Capacitanc46Northstar2-5溫升測(cè)試(TemperatureRise)。

2、連接器的電氣特性測(cè)試：2-5-1量測(cè)目的：評(píng)估端子能攜帶規(guī)格之額定電流在規(guī)格時(shí)間內(nèi)，其溫升不得超過(guò)規(guī)定值﹔2-5-2量測(cè)依據(jù)：IEC-512-3﹔2-5-3量測(cè)方法：2-5-3-1樣本試驗(yàn)之線路接法﹔2-5-3-2測(cè)試時(shí)間：5H﹔2-5-3-3除特別規(guī)定外，一般溫升變化的最大值為不超過(guò)室溫300C。Northstar2-5溫升測(cè)試(TemperatureR47Northstar3-1單點(diǎn)插入與拔出力(Engagement&.SeparationForce);3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-1-1量測(cè)目的：評(píng)估個(gè)別端子插入與拔出時(shí)所需之力量;3-1-2量測(cè)依據(jù)：EIA-364-37A﹔3-1-3量測(cè)方法：3-1-3-1用maximum測(cè)試pin預(yù)先插拔2次﹔3-1-3-2如無(wú)特別規(guī)定則以最大測(cè)度pin或測(cè)試板量測(cè)插入力以最小測(cè)試pin或測(cè)試板測(cè)拔出力﹔3-1-3-3測(cè)試之Gagepin應(yīng)注意其表面粗糙度規(guī)格須符合MS-3197之規(guī)定。Northstar3-1單點(diǎn)插入與拔出力(Engageme48Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-2連接器整體的結(jié)合力與拔出力(Mating&.UnmatingForce)﹔3-2-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器在不同環(huán)境下，測(cè)試前及測(cè)試后的整體插入與拔出力及連接器鐵殼之防護(hù)能力﹔3-2-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method2031.1﹔3-2-3量測(cè)方法：3-2-3-1一般以連接器公母實(shí)配為測(cè)試方法﹔3-2-3-2樣品為SLOT系列產(chǎn)品時(shí)，除特別規(guī)定外，則以最大尺寸測(cè)試板測(cè)試MatingForce,以最小尺寸測(cè)試板測(cè)UnmatingForce。Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-2連接器整體493-3端子保持力(ContactRetentionForce);Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-3-1量測(cè)目的：評(píng)估端子裝配進(jìn)塑膠后,端子所能承受之最大軸向力,以避免在使用時(shí)因操作錯(cuò)誤而造成退PIN現(xiàn)象;3-3-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method2007.1﹔3-3-3量測(cè)方法：可區(qū)分為兩種方式:3-3-3-1在端子上施加一規(guī)定靜荷重於規(guī)定時(shí)間后,量測(cè)端子之位移變化量是否符合規(guī)格需求﹔3-3-3-2在端子施加一軸向力,直至端子被退出塑膠體外,記錄其最大軸向力是否符合規(guī)格要求。3-3端子保持力(ContactRetentionFor503-4端子正向力(NormalForce);Northstar3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-4-1量測(cè)目的：量測(cè)正向力藉以驗(yàn)證端子設(shè)計(jì)及材料選定是否符合設(shè)計(jì)理念,進(jìn)而推算出各相關(guān)的力量,以作為設(shè)計(jì)變更之參考;3-4-2量測(cè)依據(jù)：EIA-364-04﹔3-4-3量測(cè)方法：

3-4-3-1量測(cè)端子之Contactpoint間距離(Gap);3-4-3-2計(jì)算量測(cè)之位移量:Disp=MatingParts之直徑或厚度-Gap/2;若端子之Gap為單彈片設(shè)計(jì)如SmartCard則位移不需除以2;3-4-3-3剖開(kāi)塑膠露出待測(cè)pin之Contactpoint點(diǎn);3-4-3-4以推拉力測(cè)試機(jī)量測(cè)待測(cè)端子Contactpoint被壓至計(jì)算之測(cè)試位移量時(shí)力量,即為正向力.3-4端子正向力(NormalForce);Northst51Northstar3-5耐久性插拔(Durability):3、連接器的機(jī)械特性測(cè)試：3-5-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器連繨插拔后,其端子電鍍層磨耗程度或插拔前后之電氣特性與機(jī)械特性變化;3-5-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method2015.1;3-5-3量測(cè)方法：

3-5-3-1插拔速度除特別規(guī)定外,每小時(shí)不超過(guò)300cycle;3-5-3-2測(cè)試方式以連接器公母實(shí)配為測(cè)試原則,若為SLOT系列產(chǎn)品則以最大板厚之測(cè)試板執(zhí)行測(cè)試.AutoV-CUTNorthstar3-5耐久性插拔(Durability):52Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-1鹽水噴霧試驗(yàn)(SaltSpray):4-1-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器金屬配件及端子鍍層抗鹽霧腐蝕的能力﹔4-1-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method1001.1;4-1-3量測(cè)程序：

4-1-3-1量測(cè)條件：A.鹽水濃度：5%重量比﹔B試驗(yàn)倉(cāng)之溫度：35+1.1/-1.7

0C﹔C飽和桶溫度：47±0.20C。4-1-3-2量測(cè)時(shí)間：A：96H﹔B：48H﹔C：500H﹔D：1000H。4-1-3-3至少每16小時(shí)量一次，鹽霧量平均每小時(shí)為1-2ml;4-1-3-4樣品的放置應(yīng)不互相接觸，且測(cè)試面與垂直面成150﹔4-1-3-5試驗(yàn)完畢后除特別規(guī)定外，試樣應(yīng)以清水沖洗5分鐘(水溫不得超過(guò)350C)必要時(shí)以軟毛刷洗。Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-1鹽水噴霧試驗(yàn)(53GMOFFICE49Northstar4-2耐濕性試驗(yàn)(Humidity)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-2-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器在經(jīng)高溫之環(huán)境儲(chǔ)存后對(duì)產(chǎn)品特性的影響及在高溫高濕環(huán)境里的操作可行性評(píng)估﹔4-2-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method1002.2;4-2-3量測(cè)程序：耐濕性試驗(yàn)可區(qū)分為：4-2-3-1恆溫恆濕試驗(yàn)(SteadyState)A量測(cè)條件：溫度400C﹔濕度95%(R.H.)B量測(cè)時(shí)間：A240H﹔B96H﹔C540HD1344H.)4-2-3-2溫濕度循環(huán)試驗(yàn)(Humidity-TemperatureCycling)A量測(cè)時(shí)間：10Cycles;D1344H.)B最終量測(cè)應(yīng)在從試驗(yàn)倉(cāng)取出后，放置室溫在1-2天內(nèi)完成量測(cè)。.)GMOFFICE49Northstar4-2耐濕性試驗(yàn)(54Northstar4-3振動(dòng)試驗(yàn)(Vibration)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-3-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器耐振持久性，確認(rèn)連接器是否因夾持力太松，以致于振動(dòng)過(guò)程中造成瞬間斷電現(xiàn)象，及因振動(dòng)而發(fā)生接觸點(diǎn)腐蝕氧化現(xiàn)象而造成阻值變化﹔4-3-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method2005﹔4-3-3量測(cè)程序：

4-3-3-1量測(cè)電流：將結(jié)合樣品串聯(lián)成一人回路，并通一100mA之電流于回路上。4-3-3-2監(jiān)控?cái)嚯姇r(shí)間：1us(若無(wú)特別規(guī)定);4-3-3-3振動(dòng)軸向：X-Y-Z三軸﹔4-3-3-4正弦振動(dòng)之各測(cè)試條件及時(shí)間如下表﹔

Northstar4-3振動(dòng)試驗(yàn)(Vibration)﹔4、55正弦振動(dòng)之測(cè)試條件及時(shí)間Northstar正弦振動(dòng)之測(cè)試條件及時(shí)間Northstar56Northstar4-4沖擊試驗(yàn)(Shock)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-4-1量測(cè)目的：模擬連接器在承受運(yùn)輸途中或其他因素發(fā)生突發(fā)沖擊狀況時(shí)，對(duì)產(chǎn)品接觸功能性影響﹔4-4-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method2004-1﹔4-4-3量測(cè)程序：

4-4-3-1沖擊波形：A半正弦波﹔B鋸齒波﹔C方波。4-4-3-2沖擊次數(shù)：3軸6個(gè)面;每面3次共18次﹔4-4-3-3若無(wú)特別規(guī)定，則在測(cè)試樣品通100mA電流，并監(jiān)控其于沖擊中是否有1us之?dāng)嚯姮F(xiàn)象﹔4-4-3-4沖擊條件如附件附表：

Northstar4-4沖擊試驗(yàn)(Shock)﹔4、連接器的57NorthstarTABLEI.TestcondicionvaluesNorthstarTABLEI.Testcondici58GMOFFICE52Northstar4-5熱沖擊試驗(yàn)(ThermalShock)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-5-1量測(cè)目的：評(píng)估電子元件在急速的大溫差變化下，對(duì)于其功能品質(zhì)的影響4-5-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method1003-1﹔MIL-STD-202F，method1007-G﹔4-5-3量測(cè)程序：

4-5-3-1高低溫之溫度變化應(yīng)于5分鐘內(nèi)完成﹔4-5-3-2熱沖擊循環(huán)條件見(jiàn)附表﹔4-5-3-3量測(cè)時(shí)間見(jiàn)附表。

GMOFFICE52Northstar4-5熱沖擊試驗(yàn)(59熱沖擊循環(huán)條件4、連接器的環(huán)境測(cè)試：Northstar熱沖擊循環(huán)條件4、連接器的環(huán)境測(cè)試：Northstar60熱沖擊量測(cè)時(shí)間Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：(表二)熱沖擊量測(cè)時(shí)間Northstar4、連接器的環(huán)境測(cè)試：(表二61CAPABILITIES(Day)

GMOFFICE524-6高溫壽命試驗(yàn)(TemperatureLife)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：Northstar4-6-1量測(cè)目的：評(píng)估連接器暴露在高溫環(huán)境于規(guī)定時(shí)間后端子及塑膠應(yīng)力是否有弛緩現(xiàn)象，及其他影響產(chǎn)品品質(zhì)因素存在﹔4-6-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-1344A，method1005-1﹔4-6-3量測(cè)程序：

4-6-3-1量測(cè)時(shí)間及條件，如表所列：4-6-3-2除特別規(guī)定外，一般以Mating條件進(jìn)烘箱測(cè)試。CAPABILITIES(Day)GMO62GMOFFICE57量測(cè)時(shí)間及條件4、連接器的環(huán)境測(cè)試：NorthstarGMOFFICE57量測(cè)時(shí)間及條件4、連接器的環(huán)境測(cè)試：63Northstar4-7耐焊錫熱試驗(yàn)(ResistanceToSolderHeat)﹔4、連接器的環(huán)境測(cè)試：4-7-1量測(cè)目的：評(píng)估電子元件經(jīng)過(guò)錫槽時(shí)，其承受焊錫熱或幅射熱的能力﹔4-7-2量測(cè)依據(jù)：MIL-STD-202F，method201A﹔4-7-3量測(cè)方法：

4-7-3-1將沾完肋焊濟(jì)后的待測(cè)物端子直接浸泡于