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無機含氧酸的氧化還原性及影響因素曾巽凌董思琦葉美玲Contents含氧酸氧化還原性強弱的規(guī)律影響含氧酸氧化能力的因素

Clicktoaddtitleinhere21含氧酸氧化還原性強弱的規(guī)律同一周期元素最高氧化數(shù)的氧化性隨原子序數(shù)的增加而增強如H2SiO4<H3PO4<H2SO4<HClO4如HClO>HBrO>HIOPayattention

限于同主族或同副族的比較。若同族且族數(shù)相同,主族元素含氧酸氧化性強于副族元素Reaseon

中心原子結(jié)合電子的能力中心原子電負性越強,結(jié)合電子能力越強,越易被還原,含氧酸的氧化能力越強同族元素最高氧化數(shù)含氧酸的氧化性隨原子序數(shù)的增加呈鋸齒形變化如HNO3>H3AsO4>H3PO4H2SeO4>H2TeO4>H2SO4HBrO4>HIO4>HClO4同一元素的不同氧化數(shù)的含氧酸,低氧化數(shù)含氧酸的氧化性較強如HClO>HClO2>HClO3>HClO4;HNO2>HNO3(稀)Reason1:對于含氧酸而言,非羥基氧原子數(shù)越多,對電子的排斥作用就越強,使得成酸元素不易繼續(xù)得電子,從而氧化性減弱,從HClO到HClO4,非羥基氧原子數(shù)依次增加,所以氧化性依次降低,酸性依次增強。Reason2

中心原子X與氧原子之間鍵的強度

當X-O鍵越強,X-O鍵數(shù)越多時,所需能量越多,含氧酸越穩(wěn)定,氧化能力越弱so穩(wěn)定性

HClO4>HClO3>HClO3>HClOOntheotherhandX-O鍵的強度與中心原子X的電子層結(jié)構(gòu),成鍵情況,溫度及H離子的反極化作用有關(guān)含氧酸的氧化性強于含氧酸鹽,在酸性介質(zhì)中的氧化性強于堿性介質(zhì)如KMn04在酸性溶液中可以氧化Cl-離子,在堿性溶液中無法氧化從電極電勢上看,增大酸根或氫離子的濃度,氧化能力增強,這可由Nernst方程解釋:E=Eθ+0.0592/nlg(ox)m/(red)n,對于有H+參加的反應(yīng),氧化態(tài)物質(zhì)應(yīng)包括H+,由此方程式可知:增大H+濃度,可提高電極電勢,從而使酸的氧化性增強。影響含氧酸氧化能力的因素影響含氧酸氧化性的因素較多,目前沒有統(tǒng)一的解釋。具體表現(xiàn)是各種影響因子的總和及互相制約結(jié)構(gòu):含氧酸根實際上是一個以氧負離子作為配位基的配離子,近代化學(xué)鍵理論認為,中心原子和氧原子存在配位鍵,所以中心原子的電子層結(jié)構(gòu)對X-O鍵的強度有影響Meanwhile,由于H+對中心原子有強的反極化作用,使X-O鍵易斷裂,氧化能力增加。不能只考慮中心原子電負性和斷裂的X-O鍵數(shù)量,在相同的H+濃度條件下,H5IO6的濃度大于HClO4,所以反極化作用較大,故H5IO6的氧化能力大于HClO4其他過程的能量效應(yīng)在氧化過程中常伴隨其他一些非氧化還原反應(yīng)。使熵增大或者使焓減小都有利于反應(yīng)的進行。如非電解質(zhì)的形成,沉淀或者配合物的形成,溶劑化或者去溶劑化都將影響含氧酸的酸性BCNOFAlSiPSClGaGeAsSeBrInSn

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