標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB 13539.4-1992 是一項(xiàng)中國國家標(biāo)準(zhǔn),專注于低壓熔斷器中專門用于半導(dǎo)體器件保護(hù)的熔斷體的補(bǔ)充要求。該標(biāo)準(zhǔn)在原有通用低壓熔斷器標(biāo)準(zhǔn)基礎(chǔ)上,針對(duì)半導(dǎo)體器件(如晶體管、二極管、集成電路等)的特性,制定了更為具體和嚴(yán)格的規(guī)定,以確保這些精密電子組件得到恰當(dāng)?shù)倪^電流保護(hù),避免因電流過大造成損壞。
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽包括:
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適用范圍:明確了標(biāo)準(zhǔn)適用于安裝在電路中,旨在保護(hù)半導(dǎo)體器件免受過電流危害的低壓熔斷器。這類熔斷器需能在過電流情況下快速響應(yīng),以減少對(duì)半導(dǎo)體器件的潛在損害。
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術(shù)語與定義:界定了與半導(dǎo)體保護(hù)熔斷體相關(guān)的專業(yè)術(shù)語,確保使用者對(duì)標(biāo)準(zhǔn)中的概念有統(tǒng)一理解。
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技術(shù)要求:
- 電氣性能:規(guī)定了熔斷體的額定電壓、分?jǐn)嗄芰?、熔斷特性等電氣參?shù),確保其能適應(yīng)半導(dǎo)體器件的工作環(huán)境和保護(hù)需求。
- 機(jī)械性能:包括熔斷體的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度、耐熱性、安裝尺寸及兼容性要求,保證安全穩(wěn)定地集成到電路系統(tǒng)中。
- 環(huán)境條件:考慮到不同使用環(huán)境下(如溫度、濕度)熔斷體應(yīng)保持的功能穩(wěn)定性。
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試驗(yàn)方法:詳細(xì)說明了對(duì)熔斷體進(jìn)行驗(yàn)證和測試的具體步驟和條件,如電氣試驗(yàn)、機(jī)械強(qiáng)度試驗(yàn)、環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)等,以驗(yàn)證其是否滿足規(guī)定的性能指標(biāo)。
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檢驗(yàn)規(guī)則:規(guī)定了產(chǎn)品出廠前的檢驗(yàn)項(xiàng)目、抽樣方案及合格判定準(zhǔn)則,確保每批產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
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標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存:要求熔斷體的標(biāo)識(shí)清晰,包裝適應(yīng)長途運(yùn)輸和儲(chǔ)存需要,防止因外因?qū)е碌膿p壞。
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附加信息:可能包含參考標(biāo)準(zhǔn)、實(shí)施日期和標(biāo)準(zhǔn)的替代或廢止情況說明等。
此標(biāo)準(zhǔn)的制定和實(shí)施,對(duì)于提升半導(dǎo)體器件應(yīng)用的安全性和可靠性具有重要意義,為制造商、設(shè)計(jì)工程師以及使用這些保護(hù)器件的行業(yè)提供了統(tǒng)一的技術(shù)遵循依據(jù)。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 13539.4-2005
- 1992-07-01 頒布
- 1993-03-01 實(shí)施
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GB 13539.4-1992低壓熔斷器半導(dǎo)體器件保護(hù)用熔斷體的補(bǔ)充要求-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡介
UDC621.316.923.027.2K31中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB13539.4-92低壓熔斷器半導(dǎo)體器件保護(hù)用熔斷體的補(bǔ)充要求Low-voltagefusesSupplementaryrequirementsforfuse-linksfortheprotectionofsemiconductordevices1992-07-01發(fā)布1993-03-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)低壓熔斷器半導(dǎo)體器件保護(hù)用熔斷體的補(bǔ)充要求GB13539.4-92中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼:100045電話:63787337、637874471993年3月第一版2005年11月電子版制作書號(hào):155066·1-26327版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話:010)68533533
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)低壓熔斷器GB13539.4-92半導(dǎo)體器件保護(hù)用熔斷體的補(bǔ)充要求Low-voltagefusesSupplementaryrequirementsforfuse-linksfortheprotectionofsemiconductordevices本標(biāo)準(zhǔn)參照采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC269-4(1986)《低壓熔斷器華導(dǎo)體器件保護(hù)用熔斷體的補(bǔ)充要術(shù)》本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與GB13539.1一92《低壓熔斷器本要求》一起使用。除非本標(biāo)準(zhǔn)另有說明,半導(dǎo)體器件保護(hù)用熔斷體,還應(yīng)符合GB13539.1的規(guī)定。1主題內(nèi)客與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體器件保護(hù)用熔斷體的額定值、正常使用下的溫升、耗散功率、時(shí)間-電流特性、分?jǐn)嗄芰?、截?cái)嚯娏魈匦浴?特性、電弧電壓特性、試驗(yàn)和標(biāo)志。本標(biāo)準(zhǔn)適用于交流額定電壓不超過1200V或直流額定電壓不超過1500V的電路中具有半導(dǎo)體器件的設(shè)備上使用的熔斷體。注:在多數(shù)情況下,以組合設(shè)備的一部分作為塔斷體的底座。由于設(shè)備種類繁多,難以作出一般的規(guī)定。組合設(shè)備是否通合用作熔斷體的底座,應(yīng)由用戶與制造廠協(xié)商。但是,當(dāng)采用獨(dú)立的婚斷器底座或支持件時(shí),則它們應(yīng)符合GB13539.1的有關(guān)規(guī)定。②這種熔斷體通常稱為“半導(dǎo)體熔斷體”2引用標(biāo)準(zhǔn)GB321優(yōu)先數(shù)和優(yōu)先數(shù)系GB13539.11低壓熔斷器基本要求3術(shù)語、符號(hào)、代號(hào)3.1術(shù)語3.1.1半導(dǎo)體器件基本特性是由于載流子在半導(dǎo)體中流動(dòng)引起的-j一種器件、3.1.2半導(dǎo)體熔斷體semiconductorfuse-link在規(guī)定條件下,能夠分?jǐn)?.2范圍內(nèi)的任何電流值的-一種限流熔斷體。注:GB13539.1中術(shù)語;“(熔斷體的)使用類別”本標(biāo)準(zhǔn)不適用.3.
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