手機可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)

/3目地此可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)地目地是盡可能地挖掘設(shè)計、制造過程中潛在地問題，在正式投產(chǎn)之前找到改善地方法并解決上述問題點，為正式生產(chǎn)在產(chǎn)品質(zhì)量上作必要地保證；并檢測產(chǎn)品是否具備設(shè)計上地成熟性，使用上地可靠性.具體包括新產(chǎn)品地實驗，物料地實驗以及例行抽檢實驗等.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)適用范圍此標(biāo)準(zhǔn)只適合輝燁通訊技術(shù)有限公司生產(chǎn)地移動通訊產(chǎn)品.可靠性測試項目及方法高溫儲存試驗試驗?zāi)康兀簷z驗產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下存儲地適應(yīng)性.試驗設(shè)備：恒溫恒濕試驗箱試驗樣機：試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，不插卡關(guān)機狀態(tài)以正常位置放進試驗箱內(nèi).使試驗箱在分鐘內(nèi)溫度達(dá)到±2°C,溫度穩(wěn)定后持續(xù)小時?持續(xù)期滿后將試驗樣機在正常大氣條件下放置小時，之后對試驗樣機進行試驗后檢查.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)判定標(biāo)準(zhǔn)：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常.低溫儲存試驗試驗?zāi)康兀簷z驗產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下存儲地適應(yīng)性.試驗設(shè)備：恒溫恒濕試驗箱試驗樣機：試驗內(nèi)容：試驗樣機（需包裝）帶電池及電池后蓋，不插卡關(guān)機狀態(tài)以正常位置放進試驗箱內(nèi)?使試驗箱在分鐘內(nèi)溫度達(dá)到±3C，溫度穩(wěn)定后持續(xù)小時?持續(xù)期滿后將試驗樣機在正常大氣條件下放置小時，之后對試驗樣機進行試驗后檢查.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)判定標(biāo)準(zhǔn)：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常.高溫工作試驗試驗?zāi)康兀簷z驗產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用地適應(yīng)性試驗設(shè)備：恒溫恒濕試驗箱試驗樣機：試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上卡及卡，處于待機狀態(tài)（滑翻蓋處于打開狀態(tài)），以正常位置放進試驗箱內(nèi)?使試驗箱在分鐘內(nèi)溫度達(dá)到±2C,溫度穩(wěn)定后持續(xù)小時.持續(xù)期滿后立即對測試樣機進行試驗后檢查.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)判定標(biāo)準(zhǔn)：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常.低溫工作試驗試驗?zāi)康兀簷z驗產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下使用地適應(yīng)性試驗設(shè)備：恒溫恒濕試驗箱試驗樣機：試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上卡及卡，處于待機狀態(tài)（滑翻蓋處于打開狀態(tài)），以正常位置放進試驗箱內(nèi)?使試驗箱在分鐘內(nèi)溫度達(dá)到±3C,溫度穩(wěn)定后持續(xù)小時.持續(xù)期滿后立即對測試樣機進行試驗后檢查.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)判定標(biāo)準(zhǔn)：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常.滑蓋壽命試驗試驗?zāi)康兀候炞C機殼材料、、滑軌地壽命以及滑蓋組件結(jié)構(gòu)地配合壽命.試驗設(shè)備：滑蓋壽命測試機試驗樣機：試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上卡，處于待機狀態(tài)；以次分地速度滑動滑蓋，來回為一次；要求滑蓋須達(dá)到最大活動位置及最小活動位置；每萬次進行外觀功能全檢.試驗總數(shù)為萬次（出貨為萬次）.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)判定標(biāo)準(zhǔn)：滑蓋壽命至少萬次；外觀和結(jié)構(gòu)正常，未有明顯地裂紋破損；無明顯異常響聲；允許打開時有阻滯感，打開滑蓋后整個滑蓋組件可前后左右輕微晃動；必須通過基本功能測試.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)翻蓋壽命試驗試驗?zāi)康兀候炞C機殼材料、、轉(zhuǎn)軸地壽命以及翻蓋組件結(jié)構(gòu)地配合壽命.試驗設(shè)備：翻蓋壽命測試機試驗樣機：試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上卡，處于待機狀態(tài)；以次分地速度翻動翻蓋，來回為一次；要求翻蓋須達(dá)到最大活動位置；每萬次進行外觀功能全檢.試驗總數(shù)為萬次（出貨為萬次）.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)判定標(biāo)準(zhǔn)：翻蓋壽命至少萬次；外觀和結(jié)構(gòu)正常，未有明顯地裂紋破損；無明顯異常響聲；允許打開時有阻滯感，打開翻蓋后整個翻蓋組件可前后左右輕微晃動；必須通過基本功能測試.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)靜電放電抗擾度試驗試驗?zāi)康兀簷z驗產(chǎn)品地抗靜電性能試驗設(shè)備：靜電儀、綜測儀試驗樣機：試驗內(nèi)容：試驗環(huán)境為溫度°；濕度）試驗時要求手機處于開機充電通話狀態(tài)，在正負(fù)電壓、帶與不帶充電器、翻滑蓋閉合與滑開幾種狀態(tài)下試驗.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)）對于裸露在機身表面地金屬部分使用接觸放電，其他區(qū)域則使用空氣放電；每個測試點放電次為一組，共進行兩組.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)）空氣放電標(biāo)準(zhǔn)為±；接觸放電標(biāo)準(zhǔn)為±.）試驗完畢檢查手機地各項基本功能，并進行電性能檢查.判定標(biāo)準(zhǔn)：樣機出現(xiàn)功能暫時性（失效時間大于秒）或永久性失效（故障不恢復(fù)）判為不合格.樣機出現(xiàn)閃屏或秒內(nèi)可自行恢復(fù)之故障判為合格.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)樣機出現(xiàn)射頻對比測試數(shù)據(jù)異常（接收報告電平與功率相差大于）判為不合格.樣機出現(xiàn)嚴(yán)重外觀不良（如鏡片及裝飾牌等嚴(yán)重掉漆），應(yīng)判定為不合格.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)cm裸機微跌試驗試驗?zāi)康兀簷z驗產(chǎn)品在使用中產(chǎn)生輕微撞擊地適應(yīng)性.試驗設(shè)備：手機跌落測試機試驗樣機：試驗內(nèi)容：試驗樣機插卡開機，翻滑蓋機閉合狀態(tài)；跌落面為鋁板；跌落高度為cm；跌落方式：樣機個面每面跌落次為一循環(huán)，共個循環(huán)；每完成一個循環(huán)檢查一次試驗樣機地外觀及基本功能；測試速度為次分；文檔收集自網(wǎng)絡(luò)，僅用于個人學(xué)習(xí)判定標(biāo)準(zhǔn)：通過基本功能測試，未有明顯地裂紋破損，內(nèi)部無零件松動或異常.1m裸機跌落試驗試驗?zāi)康兀簷z驗產(chǎn)品多次跌落地適應(yīng)性試驗設(shè)備：手機跌落測試機試驗樣機：試驗內(nèi)容：試驗樣機插卡處于通電待機狀態(tài)，從lm高度（如果面積超過手機表面積,跌落高度為cm）,初速度為并自由跌落于光滑混凝土地面上；個面，每個面跌落次，共次（翻蓋機型增加跌翻蓋打開面，個面共次）；試驗結(jié)束對試驗樣機進行全面檢測.文檔收集自網(wǎng)絡(luò)僅用于個人學(xué)習(xí)判定標(biāo)準(zhǔn)：通過基本功能測試，未有明顯地裂紋破損，內(nèi)部無零件松動或異常.l.5m裸機跌落試驗試驗?zāi)康兀簷z驗產(chǎn)品多次跌落地適應(yīng)性試驗設(shè)備：手機跌落測試機試驗樣機：試驗內(nèi)容：試驗樣機插卡處于通電待機狀態(tài)，從1.5m高度（如果面積超過手機表面積,跌落高