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文檔簡介

無損檢測檢驗員試題庫編寫人:檢測中心孫鳳華一、單項選擇題(四個答案中只有一個是正確的,在括號中寫上正確答案的序號,共100題)1、按《特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》中規(guī)定,無損檢測人員級別由低到高的正確順序為()A、Ⅲ、Ⅱ、ⅠB、Ⅱ、Ⅲ、ⅠC、Ⅰ、Ⅱ、ⅢD、以上都不對C2、哪一種不是鍋爐壓力容器常規(guī)五大檢驗方法()A、UTB、RTC、ETD、AETD3、壓力容器的焊接接頭,應(yīng)進行()檢查合格后,才能進行無損探傷檢驗。A、形狀尺寸B、表面飛濺物C、外觀質(zhì)量D、A和CD4、以下哪一種缺陷不屬于面積型缺陷()A、裂紋B、未熔合C、條狀夾渣D、咬邊C5、以下屬于鍋爐壓力容器常用的低合金鋼的是:()A、低合金結(jié)構(gòu)鋼B、低溫鋼C、耐熱鋼D、以上都是D6、有延遲裂紋傾向的材料焊接完成后()小時后才能探傷。A、24小時B、48小時C、12小時D、2小時A7、特種設(shè)備檢驗檢測人員,出具虛假的檢驗檢測結(jié)果、鑒定結(jié)論或者檢驗檢測結(jié)果、鑒定結(jié)論嚴(yán)重失實的,由特種設(shè)備安全監(jiān)督管理部門對檢驗檢測人員處()元罰款。A、5000~5萬B、2000~5萬C、2000~2萬D、1000~1萬A8、一旦發(fā)生放射事故,首先必須采取的正確步驟是()A、報告衛(wèi)生防護部門B、測定現(xiàn)場輻射強度C、制訂事故處理方案D、通知所有人員離開現(xiàn)場D9、坡口或焊材表面不清潔,有水或油污,可能引起()A、裂紋B、夾渣C、未熔合D、氣孔D10、在相同吸收劑量的情況下,對人體傷害最大的射線種類是()A、X射線B、γ射線C、中子射線D、β射線C11、在射線探傷中應(yīng)用最多的三種射線是()A、X射線、γ射線和中子射線B、α射線、β射線和γ射線C、X射線、γ射線和β射線D、X射線、γ射線和α射線A12、X射線的曝光量是指()A、管電流與曝光時間乘積B、管電壓與管電流乘積C、管電壓與曝光時間乘積D、管電流與焦距乘積A13、決定射線照相靈敏度的主要因素有()A、對比度B、清晰度C、顆粒度D、以上全部D14、決定X射線機使用周期長短的主要原因是()A、KV值B、工件厚度C、陽極冷卻效果D、焦點尺寸C15、小徑管環(huán)焊縫雙壁雙影透照時,適合的曝光參數(shù)是()A、較高電壓、較短時間B、較高電壓、較長時間C、較低電壓、較短時間D、較低電壓、較長時間A16、射線照相中,使用象質(zhì)計的主要目的是()A、測量缺陷大小B、評價底片靈敏度C、測定底片清晰度D、以上都是B17、平板射線照相時,下面四種關(guān)于象質(zhì)計擺放的敘述,唯一正確的位置是()A、近膠片一側(cè)的工件表面,并應(yīng)靠近膠片端頭;B、近射源一側(cè)的工件表面,金屬絲垂直焊縫,并位于工件中部;C、近膠片一側(cè)的工件表面,并應(yīng)處在有效照相范圍一端的焊縫上,金屬絲垂直于焊縫,細絲在外;D、近射源一側(cè)有效照相范圍一端的焊縫上,金屬絲垂直于焊縫,細絲在外。D18、觀片室的明暗程度最好是()A、越暗越好B、越亮越好C、與透過底片的亮度大致相同D、以上都不對C19、底片上出現(xiàn)寬度不等,有許多斷續(xù)分枝的鋸齒形黑線,它可能是()A、裂紋B、未熔合C、未焊透D、咬邊A20、底片上出現(xiàn)的白點影像,它可能是()A、鎢夾渣B、焊瘤C、焊接飛濺D、以上都是D21、在顯影過程中應(yīng)翻動膠片或攪動顯影液,其目的是()A、保護膠片,使其免受過大壓力B、使膠片表面的顯影液更新C、使膠片表面上未曝光的銀粒子散開D、防止產(chǎn)生網(wǎng)狀皺紋B22、盛放顯影液的顯影槽不用時應(yīng)用蓋蓋好,這主要是為了()A、防止藥液氧化B、防止落進灰塵C、防止水分蒸發(fā)D、防止溫度變化A23、圓形缺陷用評定框尺進行評定,框尺的長邊應(yīng)()A、與焊縫方向平行B、與焊縫成任意角度C、與焊縫方向垂直D、以上均可A24、與X射線相比,γ射線探傷優(yōu)點是()A、設(shè)備簡單B、設(shè)備體積小C、不用電源D、以上全部D25、Ir192的半衰期為()A、5.3年B、75天C、130天D、30年B26、DL/T821-2002規(guī)定,對外徑大于76mm且小于或等于89mm的管子,其焊縫采用雙壁雙投影法透照時,應(yīng)()A、分三次透照,兩次間隔120°B、分倆次透照,兩次間隔90°C、分四次透照,兩次間隔90°D、不分段,允許一次橢圓成像透照B27、DL/T821-2002規(guī)定,底片有效評定范圍內(nèi)的黑度為()A、X射線應(yīng)在1.5-3.5范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在1.8-3.5范圍內(nèi)B、X射線應(yīng)在1.5-3.5范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在2.0-3.5范圍內(nèi)C、X射線應(yīng)在1.5-3.0范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在2.0-4.0范圍內(nèi)D、X射線應(yīng)在1.5-3.0范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在1.8-3.5范圍內(nèi)A28、膠片浸入定影液1分鐘內(nèi)要上下移動,定影時間一般為()A、20分鐘B、底片通透即可C、通透時間的2倍D、30分鐘C29、底片定影后需在流動的清水中沖洗,一般為15-20分鐘,不得超過(),以防乳劑膜泡漲和粘附污物。A、25分鐘B、30分鐘C、35分鐘D、40分鐘B30、以下關(guān)于停顯液的敘述,哪一條是錯誤的()A、停顯液為酸性溶液B、使用停顯液可防止兩色性霧翳產(chǎn)生C、使用停顯液可防止定影液被污染D、為防止藥膜損傷,可在停顯液中加入堅膜劑無水亞硫酸鈉D31、顯影速度變慢,反差減小,灰霧增大,引起上述現(xiàn)象的原因可能是()A、顯影溫度過高B、顯影時間過短C、顯影時攪動不足D、顯影液老化D32、探傷裝置的安全使用期限為()年,禁止超期使用。A、6B、8C、10D、15C33、射線檢測人員任何一年中的有效劑量限值不應(yīng)超()A、60mSvB、50mSvC、40mSvD、20mSvB34、超聲波入射到異質(zhì)界面時可能發(fā)生()A、反射B、折射C、波型轉(zhuǎn)換D、以上全部D35、在金屬材料的超聲波檢測中,使用最多的頻率范圍是()A、10~25MHzB、1~1000MHzC、1~5MHzD、大于20000MHzC36、探頭上標(biāo)的2.5MHz是指()A、重復(fù)平率B、工作頻率C、觸發(fā)脈沖頻率D、以上都對B37、A型掃描顯示中,水平基線代表()A、超聲回波的幅度大小B、探頭移動距離C、聲波傳播時間D、缺陷尺寸大小C38、A型掃描顯示“盲區(qū)”是指()A、近場區(qū)B、聲速擴散角以外區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時間D、以上均是C39、儀器的水平線性的好壞直接影響()A、缺陷性質(zhì)判斷B、缺陷大小判斷C、缺陷的精確定位D、以上都對C40、超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為:()A、檢測靈敏度B、時基線性C、垂直線性D、分辨力D41、表示超聲波探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有()A、水平線性、垂直線性、衰減器精度B、靈敏度余量、盲區(qū)、遠場分辨力C、動態(tài)范圍、頻帶寬度、探測厚度D、垂直線性、水平極限、重復(fù)頻率B42、以下哪一條不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點()A、檢測精度高,定位定量準(zhǔn)確B、頻帶寬脈沖窄C、可記錄存貯信號D、儀器有計算和自檢功能B43、超聲檢驗中,當(dāng)探傷面比較粗糙時,宜選用()A、較低頻探頭B、較粘的耦合劑C、軟保護膜探頭D、以上全部D44、在厚焊縫斜探頭檢測時,宜使用什么方法標(biāo)定儀器時基線()A、水平定位法B、深度定位法C、聲程定位法D、一次波法B45、當(dāng)量大的缺陷實際尺寸()A、一定大B、不一定大C、一定不大D、等于當(dāng)量尺寸A46、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,探測中厚壁管焊接接頭橫向缺陷時,應(yīng)將距離——波幅曲線中各線靈敏度提高()A、6dBB、8dBC、10dBD、以上都不對A47、對有余高的焊縫作斜平行掃查探測焊縫橫向缺陷時,應(yīng)()A、保持靈敏度不變B、適當(dāng)提高靈敏度C、增加大K值探頭探測D、以上B和CB48、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,探頭的掃查速度不應(yīng)超過(),當(dāng)采用自動報警裝置掃查時不受此限制A、150m/sB、160m/sC、170m/sD、180mA49、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,儀器在使用過程中,每隔()個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進行一次測定A、一B、二C、三D、四C50、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,母材厚度大于()時,不得采用A級檢驗A、20mmB、30mmC、4D51、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,遇有哪種情況時,應(yīng)對儀器和探頭系統(tǒng)進行復(fù)核()A、校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時B、開路電壓波動或者檢測者懷疑靈敏度有變化時C、連續(xù)工作4小時以上,以及工作結(jié)束時D、以上都是D52、適合于磁粉探傷的材料是()A、順磁性材料B、有色金屬C、鐵磁性材料D、抗磁性材料C53、能夠進行磁粉探傷的材料是()A、碳鋼B、奧氏體不銹鋼C、黃銅D、鋁A54、采用非熒光檢測工件時,對磁痕的觀察環(huán)境應(yīng)為()A、黑光燈下B、一定強度的可見光下C、熒光下D、暗室B55、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,磁懸液的施加不可采用()A、噴灑法B、澆灑法C、浸泡法D、刷涂法D56、常用的記錄磁痕方法是()A、膠帶粘貼法B、照相法C、圖示法D、以上都是D57、有表面裂紋所產(chǎn)生的磁痕,其特征一般()A、大而不清晰B、寬闊、無明顯的邊緣C、明顯、清晰D、A和BC58、JB/T4730規(guī)定,對有延遲裂紋傾向的材料,磁粉檢測應(yīng)安排在焊后()進行A、24小時B、36小時C、12小時D、48小時A59、磁粉檢測標(biāo)準(zhǔn)試片的作用是()A、鑒定磁粉探傷儀性能是否符合要求B、選擇磁化規(guī)范C、鑒定磁懸液或磁粉性能是否符合要求D、以上都是D60、配置磁懸液時,保證濃度的合適是很重要的,因為磁粉太多會引起()A、降低磁化電流B、增加安匝數(shù)C、掩蓋磁痕顯示D、以上都不是C61、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,凡長度小于()的缺陷磁痕不計。A、1mmB、0.1mmC、0.5mmD、0.8mmC62、如果磁懸液不均勻,則()A、磁痕顯示的強度將發(fā)生變化,解釋可能出錯B、磁通量將不均勻C、零件將不能被磁化D、將影響磁懸液的流動性A63、熒光磁粉顯示應(yīng)在哪種光線下檢驗()A、熒光B、自然光C、黑光D、氖光C64、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,當(dāng)使用磁軛最大間距時,交流電磁軛至少應(yīng)有()的提升力A、4NB、45NC、68ND、92NB65、電磁軛的磁極間距應(yīng)控制在()A、70~200mm之間B、50~200mm之間C、75~250mm之間D、以上均可B66、當(dāng)采用磁軛法時,檢測的有效區(qū)為兩極連續(xù)兩側(cè)各()的范圍A、1/4磁極間距B、50mmC、1/4最大磁極間距D、15mmB67、用于磁粉探傷的磁粉應(yīng)具備的性能是()A、無毒B、磁導(dǎo)率高C、頑磁性低D、以上都是D68、磁粉探傷對哪種缺陷的檢測不可靠()A、表面折疊B、表面裂紋C、表面縫隙D、埋藏很深的洞D69、磁粉探傷的試件必須具備的條件是()A、電阻小B、探傷面能用肉眼觀察C、探傷面必須光滑D、試件必須有磁性D70、下列關(guān)于磁痕記錄的敘述中,正確的是()A、現(xiàn)場記錄磁痕,如有可能應(yīng)采用復(fù)印法B、磁痕復(fù)印應(yīng)在磁痕干燥后進行C、用拍照法記錄磁痕時,須把量尺同時拍攝進去D、以上都是D71、下列哪種方法有助于磁粉顯示的解釋()A、使用放大鏡B、復(fù)制顯示磁痕C、在顯示形成過程中觀察顯示形成D、以上都是D72、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,電磁軛的提升力至少()校驗一次A、一個月B、三個月C、六個月D、1年C73、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,磁痕顯示分為()A、相關(guān)顯示B、非相關(guān)顯示C、偽顯示D、以上都是D74、從事磁粉和滲透檢測人員的視力應(yīng)符合()A、不得低于0.5B、不得有色盲C、不得有色弱D、不得有色盲和色弱D75、液體滲透技術(shù)適合檢驗非多孔材料的()A、近表面缺陷B、表面和近表面缺陷C、表面開孔缺陷D、內(nèi)部缺陷C76、滲透液滲入表面缺陷的原因是()A、滲透液的粘性B、毛細管作用C、滲透液的化學(xué)作用D、滲透液的重量B77、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的滲透檢測標(biāo)準(zhǔn)溫度為()℃A、10~30B、5~30C、10~50D、15~30C78、滲透液在工件表面上噴涂時應(yīng)()A、越多越好B、保證覆蓋全部被檢表面,并保持不干狀態(tài)C、滲透時間盡可能的長D、只要滲透時間足夠長,保持不干狀態(tài)并不重要B79、使用溶劑去除型滲透檢測時,清洗多余滲透劑不得采用()A、往復(fù)擦洗B、平行焊縫擦洗C、一個方向擦洗D、垂直焊縫擦洗A80、噴灑顯像劑時要注意()A、不可過厚B、順一個方向噴灑C、噴灑前將顯像劑搖動均勻D、以上都是D81、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)要求,觀察顯示痕跡應(yīng)在顯像劑施加后()分鐘內(nèi)進行。A、10~20B、5~15C、7~6C82、滲透探傷中,裂紋顯示一般為()A、連續(xù)的直線狀或鋸齒狀顯示B、圓形顯示C、筆直的、單條實線顯示D、不規(guī)則的圓孔形或長孔形顯示A83、滲透探傷劑的存放應(yīng)避免()A、潮濕B、高溫C、干燥D、無限制B84、下列哪條不是滲透檢測中的安全措施()A、避免滲透劑與皮膚長時間接觸B、避免吸入過多的顯像劑粉末C、無論何時都必須帶防毒面具D、由于滲透檢測中使用的溶劑是易燃的,所以這種材料應(yīng)遠離明火C85、顯像后如發(fā)現(xiàn)工件表面本底污染嚴(yán)重?zé)o法判別時,應(yīng)該()A、重新顯像B、重新滲透C、重新清洗后再次顯像D、重復(fù)滲透探傷全過程D86、在實際檢測中,以下哪些做法是可取的()A、環(huán)境溫度低影響到噴灌的正常噴射時,可將其放到溫水中加熱B、用完的噴灌應(yīng)該在底部開個洞,釋放內(nèi)部物質(zhì)后再予以丟棄C、在有些情況下,可以采取輕微的敲擊、振動等措施,以促使?jié)B透劑的充分滲入D、以上全是D87、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,在標(biāo)準(zhǔn)溫度下滲透劑的滲透時間一般不少于()minA、5B、10C、7D、30B88、不使用顯像劑的滲透檢測方法所用滲透劑為()A、熒光滲透劑B、著色滲透劑C、以上均不可D、以上均可A89、由于大多數(shù)滲透劑中含有可燃性物質(zhì),所以在操作時應(yīng)注意防火,為此必須做到()A、現(xiàn)場遠離火源并設(shè)置滅火器材B、現(xiàn)場不得存放過量的滲透液,并且在溫度過低時,不得用明火加熱滲透液C、探傷設(shè)備應(yīng)加蓋密封并避免眼光直接照射D、以上都是D90、深的弧坑裂紋顯示常呈現(xiàn)為()A、小而緊密B、圓形C、細線狀D、微弱而斷續(xù)B91、在焊接件中可能發(fā)現(xiàn)下列哪種缺陷()A、疏松B、折疊C、縫隙D、未熔合D92、滲透探傷不能發(fā)現(xiàn)()A、內(nèi)部孔洞B、表面分層C、表面裂紋D、表面密集孔洞A93、下列哪種小的顯示最容易看到()A、細而短的顯示B、寬而短的顯示C、細而長的顯示D、窄而短的顯示B94、下列哪種情況可能引起偽缺陷顯示()A、過分的清洗B、滲透探傷時工件或滲透劑太冷C、顯像劑施加不當(dāng)D、工件表面沾有棉絨或污垢D95、著色滲透劑的顯示呈現(xiàn)為()A、白色背景上的明亮紅光B、灰色背景上的紅色顯示C、白色背景上的紅色顯示D、發(fā)亮的白色背景上的紅色顯示C96、滲透檢測中,過度清洗最容易造成的漏檢是()A、深而窄的缺陷B、深的麻點C、淺而寬的缺陷D、以上都是C97、滲透后去除滲透劑時,過分使用清洗劑的后果是()A、造成浪費B、降低靈敏度發(fā)生漏檢C、造成污染D、只要掌握的好,可達到最佳清洗效果B98、下面哪一條是滲透探傷的主要局限性()A、不能用于鐵磁性材料B、不能發(fā)現(xiàn)淺的表面缺陷C、不能用于非金屬表面D、不能發(fā)現(xiàn)近表面缺陷D99、對于現(xiàn)場無水源和電源的檢測易采用下列哪種方法()A、溶劑去除型著色法B、水洗型著色法C、后乳化型著色法D、溶劑去除型熒光法A100、下列關(guān)于滲透檢測用試塊的敘述哪一條是正確的()A、著色滲透檢測用的試塊可以用于熒光滲透檢測B、熒光滲透檢測用的試塊可以用于著色滲透檢測C、試塊有阻塞時可繼續(xù)使用D、試塊使用后要用丙酮進行徹底清洗D二、判斷題(正確的在括號中劃“√”,錯誤的劃“×”,共100題)1、金屬的焊接是通過適當(dāng)?shù)氖侄?,使兩個分離的金屬物體,產(chǎn)生原子(分子)間結(jié)合的成一體的方法。()√2、檢測人員進行射線檢測過程中,發(fā)現(xiàn)放射源泄露后,首先應(yīng)立即疏散周圍施工人員,然后報告應(yīng)急指揮中心。()√3、進行射線檢測工作時,必須有劑量儀監(jiān)測,以免發(fā)生放射事故。()√4、各種熱裂紋只發(fā)生在焊縫上,不會發(fā)生在熱影響區(qū)。()×5、γ射線檢測機的安全鎖應(yīng)配兩把鑰匙,須專人保管,以免丟失。()√6、高空作業(yè)必須系好安全帶,安全帶應(yīng)掛在上方的牢固可靠處。()√7、在焊接缺陷中危害最大的是未焊透。()×8、射線檢測工作場所必須設(shè)置警戒區(qū),嚴(yán)禁非工作人員進入工作場所,以免造成誤照射。()√9、多組檢測作業(yè)同時進行時,檢測人員應(yīng)協(xié)調(diào)好開機時機。()√10、無損檢測應(yīng)評定的缺陷是:氣孔、未焊透、未焊滿、裂紋、咬邊等。()×11、具有初中學(xué)歷的人員可以在取得Ⅰ級資格一年后,報考Ⅱ級無損檢測資格。()×12、夜間進行射線檢測作業(yè)時,應(yīng)拉好照明燈。()√13、《特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》中規(guī)定無損檢測持證人員資格有效期為5年。()×14、凡準(zhǔn)備參加工業(yè)射線檢測工作的人員必須進行就業(yè)前的健康檢查,合格后方可從事檢測工作。()√15、半衰期是指放射性物質(zhì)原子數(shù)轉(zhuǎn)變?yōu)樵瓉淼囊话胨璧臅r間。()√16、小徑管雙壁透照的要點是選用較高管電壓、較低曝光量,其目的是減小底片反差,擴大檢出區(qū)域。()√17、當(dāng)照射量相同時,高能X射線比低能X射線對人體的傷害力更大一些。()√18、對曝光不足的底片,可采用增加顯影時間或提高顯影溫度的方法來增加底片黑度,從而獲得符合要求的底片。()×19、為保持顯影性能的穩(wěn)定,可采用定期添加補充液的方法進行,但添加補充液的總量不允許超過原顯影液體積的3倍。()√20、射線底片上產(chǎn)生黑的月牙形痕跡的原因可能是曝光后使膠片彎曲。()√21、使用被劃傷的鉛箔增感屏照相,底片上會出現(xiàn)與劃傷相應(yīng)的清晰的黑線。()√22、背散射線的存在會影響底片的對比度。通常可在工件和膠片之間放置一個鉛字B來驗證背散射線是否存在。()×23、當(dāng)對接接頭兩側(cè)的母材厚度不同時,應(yīng)取較厚側(cè)的厚度為評片的依據(jù)。()×24、按DL/T821-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,在評定框尺內(nèi),同時存在幾種類型缺陷時應(yīng)綜合評級,即各自評級,將級別之和減1作為最終評級。()√25、DL/T821-2002規(guī)定,外徑小于或等于76mm的管子,其對接接頭透照應(yīng)采用規(guī)定的Ⅰ型或Ⅱ型專用象質(zhì)計。()√26、DL/T869-2004規(guī)定,對同一焊接接頭同時采用射線和超聲波兩種方法進行檢驗時,只要有一種檢驗方法合格即可。()×27、DL/T869-2004規(guī)定,焊接接頭有超過標(biāo)準(zhǔn)的缺陷時,可采取挖補方式返修。但同一位置上的挖補次數(shù)一般不得超過三次,耐熱鋼不得超過兩次。()√28、X射線比γ射線更容易被人體吸收,所以X射線對人體的傷害比γ射線大。()×29、透照不銹鋼焊縫,可以使用碳素鋼絲象質(zhì)計。()√30、超聲波的波長越長,聲束擴散角就越大,發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強。()×31、當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上,會發(fā)生波形轉(zhuǎn)換。()√32、調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕,將會改變儀器的水平線性。()√33、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,母材厚度大于50mm時,不得采用A級檢驗。()√34、對于打磨光潔度較高的工件表面進行檢測時,可不用耦合劑進行耦合。()×35、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,根據(jù)不同焊接接頭質(zhì)量要求,檢驗等級分為A、B、C三級,檢驗的完善程度A級最低、C級最高。()√36、超聲波探頭頻率一般在5~10MHz范圍內(nèi)選擇。()×37、在新探頭開始使用時,應(yīng)對探頭進行一次全面的性能校準(zhǔn)。()√38、采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實際尺寸。()√39、焊縫橫波探傷時,如采用直射法,可不考慮結(jié)構(gòu)反射、變型波等干擾回波的影響。()×40、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對于中厚壁管焊接接頭檢驗,最大反射波幅度位于Ⅱ區(qū)的缺陷,其指示長度小于10mm時,按5mm計。()√41、對于中小徑薄壁管焊接接頭檢驗,可采用甲基纖維素的糊狀物或甘油為基本成分的耦合劑,也可采用油類為耦合劑。()×42、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,探測中厚壁管焊接接頭橫向缺陷時,應(yīng)將距離—波幅曲線中各線靈敏度提高6dB。()√43、半波高度法用來測量小于聲束截面的缺陷的尺寸。()×44、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對于中厚壁管焊接接頭檢驗,相鄰兩缺陷各向間距小于10mm時,兩缺陷指示長度之和作為單個缺陷的指示長度。()×45、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,最大反射波幅度不超過EL線,和反射波幅度位于Ⅰ區(qū)的裂紋、未熔合、根部未焊透性質(zhì)的缺陷,評定為Ⅰ級。()×46、無損檢測通用工藝規(guī)程應(yīng)根據(jù)相關(guān)法規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)的技術(shù)文件和JB/T4730本部分的要求,并針對檢測機構(gòu)的特點和檢測能力進行編制。()√47、JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,磁粉探傷設(shè)備上的電流表至少每年應(yīng)校驗一次。()×48、對磁粉檢測油載液要求的粘度指標(biāo)主要是考慮其流動性,低閃點指標(biāo)主要是考慮安全性問題。()×49、JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁軛法探傷時,磁軛的磁極間距應(yīng)控制在50-200mm之間,檢測的有效區(qū)域為兩極連線兩側(cè)各50mm范圍內(nèi)。()×50、根據(jù)JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,磁懸液的施加可可采用噴、澆、刷、浸等方法,但無論用哪種方法,均不應(yīng)使檢測面上磁懸液的流速過快。()×51、任何物體的周圍都存在磁場。()√52、磁粉檢測適用于檢查鐵磁性材料的表面和近表面的缺陷。()√53、1Cr13不銹鋼材料的磁導(dǎo)率很低,不適宜磁粉檢測。()×54、使用標(biāo)準(zhǔn)試片時,必須將有槽的一面朝向工件。()√55、磁粉檢測只能探測開口于時間表面的缺陷,而不能探測近表面缺陷。()×56、磁粉檢測不能檢測奧氏體不銹鋼材料,也不能檢測銅、鋁等非磁性材料。()√57、磁粉檢測中,偽顯示和非相關(guān)顯示的意義是相同的。()×58、焊縫中層間未熔合,容易用磁粉檢測方法檢出。()×59、旋轉(zhuǎn)磁場是一種特殊的復(fù)合磁場,它可以檢測工件任何方向的表面及近表面缺陷。()√60、磁懸液的濃度越大,對缺陷的檢出能力就越高。()×61、使用任何磁化方法都應(yīng)保持探傷儀和工件的良好接觸,以減少磁路上的磁阻和防止燒傷工件表面。()√62、連續(xù)法應(yīng)在磁化的同時施加磁粉或磁懸液,應(yīng)先斷電后停止施加磁粉或磁懸液。()×63、在磁粉檢測中,認為假顯示和非相關(guān)顯示的意義是相同的。()×64、由于熱處理使試件某些區(qū)域的磁導(dǎo)率改變,可能形成非相關(guān)顯示。()√65、磁粉檢測難以發(fā)現(xiàn)埋藏較深的孔洞,以及與工件表面夾角大于20°的分層。()×66、JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:采用干法時,應(yīng)確認檢測面和磁粉已完全干燥,然后再施加磁粉。()√67、JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:實施無損檢測的人員應(yīng)按無損檢測通用工藝規(guī)程進行操作。()×68、JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:滲透檢測人員的未經(jīng)矯正或矯正視力應(yīng)不低于5.0,不得有色盲、色弱,并每年檢查1次。()×69、JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:施加水濕式顯像劑時,檢測面應(yīng)在施加后進行干燥處理。()√70、JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:鍍鉻試塊主要用于檢驗滲透檢測劑系統(tǒng)靈敏度及操作工藝正確性。()√71、滲透探傷可以檢查非疏孔性金屬和非金屬的表面開口缺陷。()√72、滲透檢測滲透劑進入缺陷的原因是缺陷內(nèi)存在引力。()×73、檢驗鐵磁性材料的表面裂紋時,滲透檢驗法的靈敏度一般要低于磁粉檢驗法。()√74、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,不同類型的滲透劑不得混用。()√75、為了使?jié)B透劑充分均勻,提高滲透效果,噴灌式溶劑去除型滲透劑使用前應(yīng)充分搖勻。()×76、施加滲透探傷劑時,應(yīng)注意使?jié)B透劑在工件表面上始終保持潤濕狀態(tài)。()√77、當(dāng)用溶劑清晰多余的滲透劑時,不得用清洗劑在工件表面上被檢處直接沖洗。()√78、為顯示細微裂紋,施加顯像劑時,顯像層越厚越好。()×79、對同一檢測工件,不能混用不同類型的滲透檢測劑。()√80、由于滲透檢測檢出的缺陷是開口缺陷,因此只要出現(xiàn)顯示,痕跡就可斷定其必是缺陷。()×81、滲透探傷時,淺而寬的缺陷最容易檢出。()×82、熒光滲透探傷的靈敏度等級分為很低級、低級、中級、高級、超高級共五個級別。()√83、對滲透檢測操作要求最高的工序是痕跡解釋和評定。()√84、做過著色滲透檢測試驗的標(biāo)準(zhǔn)試塊不能再做熒光滲透檢測,反之則可以。()×85、溶劑去除型滲透劑用清洗劑去除。不得往復(fù)擦拭,不得用清洗劑直接在被檢面上沖洗。()√86、JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:顯示分為相關(guān)顯示,非相關(guān)顯示和虛假顯示,小于0.5mm的顯示不計,其它任何顯示均應(yīng)記錄和評定。()×87、JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:長度與寬度之比小于3的缺陷顯示,按圓形缺陷處理。()×88、JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:對于有延遲裂紋傾向的材料,至少應(yīng)在焊接完成后24h后進行焊接接頭的滲透檢測。()√89、對現(xiàn)場無水源、電源的檢測易采用溶劑去除型熒光法。()×90、JB/T4730-2005規(guī)定:著色滲透檢測時,缺陷的顯示記錄可采用照相、錄像和可剝性塑料薄膜等方式記錄,同時應(yīng)用草圖進行標(biāo)示。()√91、滲透檢測劑必須具有良好的檢測性能,對試件無腐蝕,對人體完全無毒害作用。()×92、磁粉檢測標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。()√93、每天檢測工作開始前,應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)試片檢驗磁粉檢測設(shè)備及磁粉和磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度)。()√94、磁懸液的施加可以采用噴、澆、浸、刷涂等方法,無論采用何種方法,均不應(yīng)使檢測面上磁懸液的流速過快。()×95、采用連續(xù)法進行磁粉檢測時,為保證磁化效果應(yīng)至少反復(fù)磁化三次。()×96、使用交叉磁軛裝置時,四個磁極斷面與檢測面之間應(yīng)盡量貼合,最大間隙不應(yīng)超過1.5mm。()√97、缺陷磁痕的觀察應(yīng)在磁痕形成后立即進行。()√98、磁粉檢測結(jié)束時,應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)試片再次驗證檢測靈敏度是否符合要求。()√99、對于噴灌式滲透檢測劑,其噴灌表面不得有銹蝕,噴灌不得出現(xiàn)泄漏。()√100、同時在兩個以上特種設(shè)備檢驗檢測機構(gòu)中執(zhí)業(yè)的檢驗檢測人員,情節(jié)嚴(yán)重的,給予停止執(zhí)業(yè)6個月以上2年以下的處罰。()√三、填空題(共50題)1、《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》自起施行。2002、凡從事射線檢測的工作人員,必須經(jīng)環(huán)保部門培訓(xùn)合格,取得資格證后方可上崗。輻射人員3、焊接接頭由焊縫、和熱影響區(qū)三個部分組成。熔合區(qū)4、夾渣的分布與形狀有單個點狀夾渣、、鏈狀夾渣和密集夾渣。條狀夾渣5、從產(chǎn)生溫度上看,裂紋分為熱裂紋、。冷裂紋6、射線檢測人員通常采取的防護方法是、、屏蔽防護。時間、距離7、工業(yè)射線檢測裝置指和。γ射線探傷機、X射線探傷機8、γ射線檢測作業(yè)結(jié)束后,放射源則應(yīng)及時入庫,并進行核對登記,嚴(yán)禁將γ射線探傷機放在臨時設(shè)施的房內(nèi),以防放射源。丟失被盜9、當(dāng)γ射線檢測作業(yè)結(jié)束后,檢測人員應(yīng)使用射線報警器監(jiān)測,確認已安全回收到射線探傷裝置中后,才能離開現(xiàn)場。放射源10、γ射線探傷機射源輸出輸入轉(zhuǎn)動控制纜搖柄時,應(yīng),嚴(yán)禁用力猛搖造成傳輸控制纜損壞??焖佥p搖11、射線檢驗人員必須正確穿戴符合專業(yè)要求的勞動防護用品,并佩帶和個人劑量儀,以測定工作環(huán)境的射線照射量和個人受照的累積劑量當(dāng)量。輻射報警器12、χ或γ射線檢驗時,檢驗人員必須根據(jù)射線強度劃出和監(jiān)督區(qū),在警戒區(qū)邊界上拉好警戒繩并懸掛“當(dāng)心電離輻射”等字樣的警示標(biāo)識,當(dāng)確認作業(yè)區(qū)內(nèi)無其他人員后方可工作??刂茀^(qū)13、Se75放射源的半衰期為。120天14、X射線管的陽極靶最常用的材料是。鎢15、DL/T821-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,底片上應(yīng)清晰地顯示出象質(zhì)計、深度對比塊、和識別標(biāo)記。定位標(biāo)記16、當(dāng)象質(zhì)計放在膠片側(cè)工件表面時,應(yīng)附加標(biāo)記以示區(qū)別。F17、DL/T821-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,當(dāng)透照呈排狀的管子并使數(shù)個管子焊縫透照在同一張底片上時,象質(zhì)計應(yīng)放在最側(cè)的管子上。外18、對于外徑小于或等于76mm的管子,其焊縫采用雙壁雙投影法透照時,允許一次透照并應(yīng)選擇較高管電壓,曝光量宜控制在mA·min以內(nèi),管子內(nèi)壁輪廓應(yīng)清晰的顯現(xiàn)在底片上。7.519、DL/T821-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,凡焊縫內(nèi)有裂紋和未熔合即評為級。Ⅳ20、隨著射線能量的降低,透照圖像的對比度將增加,因此,在保證穿透力和檢測范圍的前提下,應(yīng)盡量采用的射線能量。較低21、χ射線裝置長期不使用時或不是連續(xù)使用的,每月必須訓(xùn)機一次并應(yīng)訓(xùn)機至%以上。7022、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對于中厚壁管焊接接頭的檢驗,可采用前后、左右、和環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。轉(zhuǎn)角23、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,母材厚度大于mm時,不得采用A級檢驗。5024、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,焊縫兩側(cè)的母材,檢驗前應(yīng)測量管壁厚度,至少每隔°測量一點,并做好記錄。9025、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,在使用過程中,儀器的水平線性和垂直線性每隔至少應(yīng)進行一次測定。三個月26、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)的磁粉檢測部分適用于鐵磁性材料制承壓設(shè)備的原材料、零部件和焊接接頭表面、缺陷的檢測。近表面27、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,但使用磁軛最大間距時,交叉磁軛至少應(yīng)有的提升力。118N28、磁粉檢測標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法,使用時,應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝。外29、磁化方向包括、周向磁化和復(fù)合磁化。縱向磁化30、采用磁軛法檢測工件時,磁化區(qū)域每次應(yīng)有不少于的重疊。15mm31、磁粉探傷是利用缺陷處漏磁場與磁粉相互作用的原理,檢測鐵磁性材料缺陷的一種無損檢測方法。表面及近表面32、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,關(guān)于磁粉檢測在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在多種缺陷時,應(yīng)進行評級。綜合33、磁粉探傷不能檢測奧氏體不銹鋼材料,也不能檢測銅、鋁等。非磁性材料34、工件磁化通電方式可分為和剩磁法。連續(xù)法35、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,缺陷磁痕的顯示記錄可采用、錄像和可剝性塑料薄膜等方式記錄。照相36、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,磁痕顯示分為相關(guān)顯示、非相關(guān)顯示和。偽顯示37、滲透探傷滲透劑進入缺陷的原因是由于原理。毛細作用38、溶劑去除型滲透檢測劑一般包括滲透劑、清洗劑和。顯像劑39、在清洗多余滲透劑時,不得擦拭,不得用清洗劑直接在被檢面沖洗。往復(fù)40、噴施顯像劑時,噴嘴離被檢面距離為mm,噴灑方向與被檢面夾角為30~40°。300~40041、根據(jù)滲透液所含染料成分,滲透探傷分為、著色法和熒光著色法三大類。熒光法42、JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)的滲透檢測部分適用于非多孔性金屬材料或非金屬材料制承壓設(shè)備在制造、安裝及使用中產(chǎn)生的缺陷的檢測。表面開口43、滲透檢測操作的基本步驟有:預(yù)清洗、施加滲透劑、、干燥、施加顯像劑、觀察及評定。去除多余的滲透劑44、施加滲透劑時,應(yīng)能保證被檢部位完全被滲透劑覆蓋,并在整個滲透時間內(nèi)保持狀態(tài)。潤濕45、《特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》中規(guī)定,無損檢測持證人員資格有效期為年。446、特種設(shè)備檢驗檢測機構(gòu)和檢驗檢測人員應(yīng)當(dāng)、、及時地出具檢驗檢測結(jié)果、鑒定結(jié)論??陀^、公正47、檢驗檢測人員從事檢驗檢測工作,必須在特種設(shè)備檢驗檢測機構(gòu)執(zhí)業(yè),但不得同時在以上檢驗檢測機構(gòu)中執(zhí)業(yè)。兩個48、特種設(shè)備檢驗檢測機構(gòu)和檢驗檢測人員對涉及的被檢驗檢測單位的商業(yè)機密,負有義務(wù)。保密49、無損檢測人員應(yīng)按照無損檢測規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)、無損檢測和無損檢測工藝卡的要求開展無損檢測試驗工作。作業(yè)指導(dǎo)書50、無損檢測人員負責(zé)試驗數(shù)據(jù)的記錄、整理、評定與處理,并出具。試驗報告四、名詞解釋(共20題)1、無損檢測是指在不損壞試件的前提下,以物理或化學(xué)方法為手段,借助先進的技術(shù)和設(shè)備器材,對試件進行檢查和測試的方法。2、未焊透指母材金屬未熔化,焊縫金屬沒有進入接頭跟部的現(xiàn)象。3、未熔合指焊縫金屬與母材金屬,或焊縫金屬之間未溶化結(jié)合在一起的缺陷。4、焊接接頭在焊接結(jié)構(gòu)中,各零部件之間用焊接方法連接的部分稱為焊接接頭,焊接接頭包括焊縫、熔合區(qū)和熱影響區(qū)三個部分。5、放射性同位素的半衰期指放射性物質(zhì)原子數(shù)轉(zhuǎn)變?yōu)樵瓉淼囊话胨璧臅r間。6、圓形缺陷長寬比小于或等于3的缺陷(包括氣孔、夾渣、夾鎢)定義為圓形缺陷。7、條狀缺陷長寬比大于3的缺陷(包括氣孔、夾渣、夾鎢)定義為條狀缺陷。8、一次透照長度是指采用分段曝光時,每次曝光所檢測的焊縫長度。9、透照厚度射線照射方向上材料的公稱厚度。10、射線裝置是指X線機、加速器、中子發(fā)生器以及含放射源的裝置。11、輻射事故是指放射源丟失、被盜、失控,或者放射性同位素和射線裝置失控導(dǎo)致人員受到意外的異常照射。12、超聲波的衰減超聲波在介質(zhì)中傳播時,隨著傳播距離的增加,超聲波的能量逐漸減弱的現(xiàn)象稱為超聲波的衰減。13、耦合劑在探頭與工作表面之間施加的一層透聲介質(zhì),稱為耦合劑。14、超聲波缺陷定量指超聲波探傷中確定工件中缺陷的大小和數(shù)量。15、磁粉檢測偽顯示不是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示,也叫假顯示。16、磁痕通常把磁粉檢測時磁粉聚集形成的圖象稱為磁痕。17、磁粉檢測相關(guān)顯示磁粉檢測時由缺陷產(chǎn)生的漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。18、滲透檢測虛假顯示由于滲透劑污染等所引起的滲透劑顯示。19、滲透檢測是一種毛細作用原理為基礎(chǔ),用于檢查非疏孔性金屬和非金屬試件表面開口缺陷的無損檢測方法。20、滲透檢測相關(guān)顯示滲透檢測時由缺陷產(chǎn)生的滲透劑顯示。五、簡答題(共20題)1、目前無損檢測常用的方法有哪幾種?是如何表示的?目前常用的無損檢測方法有五種,即射線檢測,以RT表示,超聲波檢測,以UT表示,磁粉檢測,以MT表示,滲透檢測,以PT表示,渦流檢測,以ET表示。2、焊接接頭中常見的內(nèi)部缺陷有哪些?內(nèi)部缺陷包括:未焊透、未熔合、裂紋、氣孔、夾渣、夾鎢等。3、射線可分為哪幾類,用于工業(yè)探傷的射線有哪幾種?(1)X射線和γ射線,它們都是波長很短的電磁波。(2)電子射線和β射線,它們都是高速電子流。(3)質(zhì)子射線、氘核射線和α射線,它們都是帶正電的粒子流。(4)中子射線,它是高速中子流。目前用于探傷的主要是X射線、γ射線和中子射線,其中X射線和γ射線廣泛用于工業(yè)探傷,中子射線用于特種檢驗。4、底片上應(yīng)有什么標(biāo)記?具體內(nèi)容是什么?底片上應(yīng)有定位標(biāo)記和識別標(biāo)記。定位標(biāo)記包括:搭接標(biāo)記和中心標(biāo)記;識別標(biāo)記包括:像質(zhì)計、工件編號、焊縫編號、部位編號、焊工代號、透照日期、返修標(biāo)記等。5、簡述射線防護的三大方法?射線防護的三大方法是:時間防護、距離防護和屏蔽防護。6、環(huán)焊縫透照方式有哪幾種?環(huán)焊縫透照方式有外透法和內(nèi)透法。外透法包括單壁透照法、雙壁單投影法、雙壁雙投影法;內(nèi)透法包括中心全周透照法、偏心透照法。7、試述X射線機訓(xùn)練的目的?新的或長期不用的X射線機使用前必須進行訓(xùn)練,其目的是為了提高X射線管真空度,保證儀器工作穩(wěn)定。8、簡述影響顯影的因素有哪些?影響顯影的因素有:顯影時間、顯影溫度、攪動的影響、顯影液活度的影響。9、射線探傷通告內(nèi)容至少包括哪些內(nèi)容?射線探傷通告內(nèi)容至少包括但不限于以下內(nèi)容:探傷地點、檢驗項目、射線裝置名稱、探傷時間、警戒措施、探傷聯(lián)系人等。射線探傷通告上應(yīng)有輻射防護標(biāo)志。10、什么是超聲波?工業(yè)探傷應(yīng)用的頻率范圍是多少?頻率大于20000Hz的聲波稱為超聲波;工業(yè)探傷應(yīng)用的頻率范圍是1~5MHz。11、焊縫檢測時,斜探頭的基本掃查方式有哪些?焊縫檢測時斜探頭的基本掃查方式有鋸齒形掃查、左右掃查、前后掃查、轉(zhuǎn)角掃查、環(huán)繞掃查、平行斜平行及交叉掃查、串列式掃查。12、探頭保護膜的作用是什么?作用:保護壓電晶片和電極,防止其磨損和碰壞。13、DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,常用焊縫檢測試塊有哪幾種?中厚壁管:CSK-ⅠB型標(biāo)準(zhǔn)試塊、RB系列對比試塊、SD-Ⅳ型試塊、月牙槽對比試塊;中小徑薄壁管:DL-1型專用試塊;奧氏體中小徑薄壁管:專用短槽試塊等。14、磁粉如何分類?按磁痕觀察分為熒光磁粉和非熒光磁粉。按施加方式分為濕法磁粉和干法磁粉。15、簡

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