標準解讀
《GB/T 11162-2009 光學分劃零件通用技術(shù)條件》相比于其前版《GB/T 11162-1989》,主要在以下幾個方面進行了修訂和更新:
-
技術(shù)內(nèi)容的擴充與細化:新版標準對光學分劃零件的材料、設(shè)計、制造工藝、檢驗方法及驗收規(guī)則等方面均進行了更詳細的規(guī)定,以適應(yīng)近年來光學技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用需求的提高。
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性能指標的提升:針對光學分劃的精度、清晰度、穩(wěn)定性等關(guān)鍵性能指標,2009版標準提出了更為嚴格的要求,確保光學分劃零件能夠滿足高精度儀器和設(shè)備的使用標準。
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檢測方法的改進:引入了新的檢測技術(shù)和手段,對光學分劃零件的檢測方法進行了優(yōu)化,提高了檢測的準確性和效率,確保產(chǎn)品質(zhì)量控制的可靠性。
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標準化與國際接軌:2009版標準在制定過程中參考了國際上先進的標準和技術(shù)規(guī)范,增強了標準的國際化水平,便于國內(nèi)外技術(shù)交流和產(chǎn)品互認。
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環(huán)境保護與安全要求:新增了對生產(chǎn)過程中的環(huán)保要求和產(chǎn)品使用安全性的規(guī)定,體現(xiàn)了對可持續(xù)發(fā)展和社會責任的關(guān)注。
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術(shù)語和定義的更新:根據(jù)光學領(lǐng)域的新進展,對部分專業(yè)術(shù)語進行了重新定義或補充,使標準的表述更加準確、科學。
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結(jié)構(gòu)和格式的調(diào)整:標準的結(jié)構(gòu)布局和表述形式按照最新的國家標準編寫規(guī)則進行了調(diào)整,使得標準內(nèi)容更加條理清晰,便于使用者查閱和執(zhí)行。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2009-09-30 頒布
- 2009-12-01 實施




文檔簡介
犐犆犛37.020
犖30
中華人民共和國國家標準
犌犅/犜11162—2009
代替GB/T11162—1989
光學分劃零件通用技術(shù)條件
犌犲狀犲狉犪犾狊狆犲犮犻犳犻犮犪狋犻狅狀狅犳狅狆狋犻犮犪犾犮狅犿狆狅狀犲狀狋狊犳狅狉狋犺犲狊犮犪犾犲犪狀犱狊狌狉犳犪犮犲犱犲犳犲犮狋狊
20090930發(fā)布20091201實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
書
犌犅/犜11162—2009
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4試驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
5圖紙上的標注!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7
附錄A(規(guī)范性附錄)線條光密度的標準樣品!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9
附錄B(資料性附錄)分劃區(qū)的劃分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!10
附錄C(資料性附錄)分劃線寬度測量瞄準基準!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!11
書
犌犅/犜11162—2009
前言
本標準代替GB/T11162—1989《光學分劃零件通用技術(shù)條件》。
本標準與GB/T11162—1989的主要差異為:
———規(guī)范了GB/T11162—1989第2章中的引用標準。
———按GB/T1.1的編寫要求,將GB/T11162—1989第3章劃分為“要求”和“試驗方法”兩章。
———將“網(wǎng)格板”增加到適用范圍中。
———將試驗工具“線紋比較儀”改為“阿貝線紋比較儀”,部分條款改為“測量不確定度為被測指標偏
差(1/3~1/5)的測量儀器”。
———刪除字型和符號的筆劃線寬度和長度變化的規(guī)定。
———增加附錄C(資料性附錄):分劃線寬度測量瞄準基準。
本標準的附錄A為規(guī)范性附錄,附錄B、附錄C為資料性附錄。
本標準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。
本標準由全國光學和光子學標準化技術(shù)委員會(SAC/TC103)歸口。
本標準負責起草單位:上海理工大學、南京志業(yè)光電精密技術(shù)有限責任公司。
本標準參加起草單位:南京江南永新光學有限公司、寧波永新光學股份有限公司、蘇州一光儀器有
限公司。
本標準主要起草人:黃衛(wèi)佳、劉懷道。
本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T1784—1979;
———GB/T11162—1989。
Ⅰ
犌犅/犜11162—2009
光學分劃零件通用技術(shù)條件
1范圍
本標準規(guī)定了光電儀器用光學分劃零件的分劃線、字型和符號的筆劃線、表面疵病的要求、試驗方
法和在圖紙上的標注。
本標準適用于玻璃分劃板(鏡)、分劃尺、網(wǎng)格板和度盤,其他種類的光學分劃零件可參照使用。
本標準不適用于光柵尺、光柵盤、編碼盤和分辨率板等。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有
的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究
是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標準。
GB/T1184形狀和位置公差未注公差的規(guī)定(GB/T1184—1996,eqvISO27682:1989)
GB/T1185光學零件表面疵病(GB/T1185—2006,ISO101107:1996,NEQ)
3要求
3.1分劃線寬度基本尺寸偏差和同一零件上寬度基本尺寸相同的分劃線彼此間寬度均勻性,不應(yīng)超過
表1的規(guī)定。
表1分劃線寬度基本尺寸偏差和寬度均勻性單位為毫米
基本尺寸犅犅≤0.0030.003<犅≤0.0070.007<犅≤0.0120.012<犅≤0.020.02<犅≤0.03
偏差±0.0005±0.001±0.0015±0.0025±0.0040
1級
均勻性0.00050.00100.00150.00250.0040
偏差±0.0010±0.0015±0.0030±0.0050±0.0070
2級
均勻性0.00100.00150.00300.00500.0070
基本尺寸犅0.03<犅≤0.050.05<犅≤0.080.08<犅≤0.120.12<犅≤0.2犅>0.2
偏差±0.006±0.010±0.015±0.020正負線寬的10%
1級
均勻性0.0060.0080.0100.015線寬的10%
偏差±0.010±0.015±0.030±0.030正負線寬的15%
2級
均勻性0.0100.012
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