GB/T 13166-2018電子測(cè)量?jī)x器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn)

ICS17220

L85.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T13166—2018

代替

GB/T13166—1991

電子測(cè)量?jī)x器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn)

Designmarginandabusetestsforelectronicmeasuringinstrument

2018-06-07發(fā)布2019-01-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T13166—2018

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)代替電子測(cè)量?jī)x器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn)

GB/T13166—1991《》。

本標(biāo)準(zhǔn)與相比除編輯性修改外主要技術(shù)變化如下

GB/T13166—1991,:

刪除了試驗(yàn)?zāi)康囊?jiàn)年版的第章

———(19912);

增加了規(guī)范性引用文件見(jiàn)第章

———(2);

刪除了試驗(yàn)要求見(jiàn)年版的第章

———(19913);

增加了術(shù)語(yǔ)和定義見(jiàn)第章

———(3);

刪除了程序見(jiàn)年版的第章

———(19914);

增加了儀器的三級(jí)指標(biāo)見(jiàn)

———(4.1.1);

增加了儀器設(shè)計(jì)余量?jī)?nèi)容見(jiàn)

———(4.1.2);

增加了儀器參數(shù)和指標(biāo)確定見(jiàn)

———(4.1.3);

增加了儀器余量設(shè)計(jì)方案見(jiàn)

———(4.2);

增加了軟件工程化設(shè)計(jì)見(jiàn)

———(4.2.4);

增加了設(shè)計(jì)驗(yàn)證見(jiàn)

———(4.3);

增加了模擬誤用見(jiàn)第章

———(5);

增加了資料性附錄設(shè)計(jì)余量試驗(yàn)示例和模擬誤用及預(yù)防措施示例見(jiàn)附錄和附錄

———“”“”(AB)。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專(zhuān)利的責(zé)任

。。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電子測(cè)量?jī)x器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC153)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院蘇州市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督綜合檢驗(yàn)檢測(cè)中

:、

心中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第研究所

、41。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人黃英華宋敏曹玲江巖

:、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T13166—1991。

Ⅰ

GB/T13166—2018

電子測(cè)量?jī)x器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn)

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子測(cè)量?jī)x器以下簡(jiǎn)稱(chēng)儀器新產(chǎn)品在設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)進(jìn)行的設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn)

()。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有環(huán)境組別的電子測(cè)量?jī)x器

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

工業(yè)科學(xué)和醫(yī)療射頻設(shè)備騷擾特性限值和測(cè)量方法

GB4824、(ISM)

電子測(cè)量?jī)x器通用規(guī)范

GB/T6587

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.2

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.3

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群騷擾抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.4

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.6

3術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

。

31

.

設(shè)計(jì)余量designmargin

在設(shè)計(jì)時(shí)對(duì)產(chǎn)品的關(guān)鍵參數(shù)保留的裕度其中包括安全因素和性能因素

,。

32

.

模擬誤用abuse

使用者不按照操作規(guī)程進(jìn)行的可能會(huì)對(duì)儀器性能和指標(biāo)造成影響嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)p壞儀器和被測(cè)

,,

件甚至對(duì)人身造成傷害的操作

。

4設(shè)計(jì)余量

41通則

.

411儀器的三級(jí)指標(biāo)

..

儀器設(shè)計(jì)階段的指標(biāo)分為合同指標(biāo)內(nèi)控指標(biāo)和調(diào)試指標(biāo)三個(gè)等級(jí)

、。

412儀器設(shè)計(jì)余量?jī)?nèi)容

..

儀器正式設(shè)計(jì)之前應(yīng)對(duì)目標(biāo)儀器的全壽命周期中規(guī)定的環(huán)境條件與應(yīng)力變量做全面分析并科學(xué)

,

地制定足夠的設(shè)計(jì)余量將設(shè)計(jì)余量與最優(yōu)系統(tǒng)效能電磁兼容性