標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 13179-1991 硅(鋰)X射線探測(cè)器系統(tǒng)》是中國(guó)的一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),發(fā)布于1991年,主要規(guī)定了硅(鋰)X射線探測(cè)器系統(tǒng)的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存要求。該標(biāo)準(zhǔn)適用于以硅鋰 drift detector(Si(Li) drift detector)為核心元件的X射線能譜儀中的探測(cè)器系統(tǒng)。下面是對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的具體展開(kāi):
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范圍:明確了標(biāo)準(zhǔn)適用的產(chǎn)品類型,即硅鋰X射線探測(cè)器系統(tǒng),用于高分辨率的能量測(cè)量,特別是在材料分析、元素識(shí)別等領(lǐng)域。
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引用標(biāo)準(zhǔn):列出了實(shí)施該標(biāo)準(zhǔn)時(shí)需要參考的其他相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),確保各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)和測(cè)試方法的一致性和準(zhǔn)確性。
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術(shù)語(yǔ)和定義:對(duì)標(biāo)準(zhǔn)中使用的專業(yè)術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了定義,幫助讀者準(zhǔn)確理解相關(guān)內(nèi)容,如硅鋰漂移探測(cè)器的工作原理、分辨率等基本概念。
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分類與型號(hào):根據(jù)探測(cè)器的性能、結(jié)構(gòu)等特點(diǎn)進(jìn)行分類,并規(guī)定了相應(yīng)的型號(hào)命名規(guī)則,便于用戶識(shí)別和選擇適用的探測(cè)器系統(tǒng)。
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技術(shù)要求:
- 性能要求:包括能量分辨率、檢測(cè)效率、穩(wěn)定性、線性范圍等關(guān)鍵性能指標(biāo),這些指標(biāo)直接關(guān)系到探測(cè)器的測(cè)量精度和可靠性。
- 機(jī)械與結(jié)構(gòu)要求:涉及探測(cè)器的尺寸、材質(zhì)、密封性等,確保其在使用過(guò)程中的穩(wěn)定性和耐用性。
- 電氣要求:規(guī)定了供電條件、信號(hào)輸出格式及接口標(biāo)準(zhǔn),保證與外部設(shè)備的兼容性。
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試驗(yàn)方法:詳細(xì)說(shuō)明了如何進(jìn)行各項(xiàng)性能指標(biāo)的測(cè)試,包括測(cè)試環(huán)境、測(cè)試儀器、測(cè)試步驟和數(shù)據(jù)處理方法,確保測(cè)試結(jié)果的可重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
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檢驗(yàn)規(guī)則:規(guī)定了產(chǎn)品的出廠檢驗(yàn)和型式檢驗(yàn)項(xiàng)目、抽樣方案和合格判定準(zhǔn)則,用以驗(yàn)證產(chǎn)品是否滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。
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標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存:對(duì)產(chǎn)品的標(biāo)識(shí)信息、包裝材料、防護(hù)措施、運(yùn)輸條件以及儲(chǔ)存環(huán)境提出具體要求,以保護(hù)產(chǎn)品在流通和存儲(chǔ)過(guò)程中的安全和性能不變。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 13179-2008
- 1991-04-11 頒布
- 1992-05-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
UDC539.12.074.2F88中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)CB/T13179-91硅(鋰)X射線探測(cè)器系統(tǒng)Si(Li)X-raydetectorsystem1991-04-11發(fā)布1992-05-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T13179-91硅(鋰)X射線探測(cè)器系統(tǒng)Si(Li)X-raydetectorsystem主題內(nèi)客與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅(鋰)X射線探測(cè)器系統(tǒng)的產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法和檢測(cè)規(guī)則等.本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶有液氮存容器的室內(nèi)用硅(鋰)X射線探測(cè)器系統(tǒng),但不適用于掃描電鏡的、便攜式或非液氮冷卻硅(鋰)X射線探測(cè)器系統(tǒng)。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB8992硅(鋰)X射線探測(cè)器系統(tǒng)測(cè)試方法GB10257核核儀器與核輻射探測(cè)器質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)則3術(shù)語(yǔ)、符號(hào)3.1峰尾比P。:peak-to-tailratio任的X射線譜線中K。峰最高計(jì)數(shù)道計(jì)數(shù)與對(duì)應(yīng)能量為1keV處附近平均計(jì)數(shù)的比值。3.2R:能量分辨率、4產(chǎn)品分類1產(chǎn)品的標(biāo)記產(chǎn)品標(biāo)記由產(chǎn)品型號(hào)及特征代號(hào)組成。產(chǎn)品型號(hào)為GL-順序號(hào)半導(dǎo)體X射線探測(cè)器系統(tǒng)硅(鋰)漂移型型號(hào)后的特征代號(hào)由三組數(shù)字組成,其順序及含義為:XXX一XXX表示冷室和端帽形式表示靈敏面積-表示能量分辨率4.2產(chǎn)品規(guī)格產(chǎn)品規(guī)格按靈敏面積及能量分辨率劃分見(jiàn)表1.國(guó)家
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