標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 15972.55-2009 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),專注于光纖試驗(yàn)方法的規(guī)范,特別針對(duì)環(huán)境性能的測(cè)量方法與試驗(yàn)程序中的氫老化測(cè)試。該標(biāo)準(zhǔn)為光纖制造商、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及使用光纖產(chǎn)品的行業(yè)提供了一套統(tǒng)一的評(píng)估流程,以確保光纖在長(zhǎng)期暴露于含氫環(huán)境中仍能保持其性能穩(wěn)定。

標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概述

  1. 適用范圍:本部分規(guī)定了光纖在特定氫氣環(huán)境下老化性能的測(cè)試方法和程序,適用于評(píng)估光纖材料在氫環(huán)境下潛在的老化效應(yīng),包括但不限于傳輸損耗的變化、機(jī)械強(qiáng)度的衰退等。

  2. 測(cè)試原理:氫老化測(cè)試通過(guò)將光纖樣品置于含有一定濃度氫氣的封閉環(huán)境中,模擬長(zhǎng)期氫暴露條件,考察此環(huán)境下光纖性能隨時(shí)間的變化情況。測(cè)試旨在模擬實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的極端或特定工作環(huán)境,如油氣田、核電站等場(chǎng)景下的氫氣影響。

  3. 測(cè)試條件:標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說(shuō)明了測(cè)試時(shí)的環(huán)境參數(shù),包括氫氣濃度、溫度、濕度以及試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間等,確保測(cè)試結(jié)果的一致性和可比性。同時(shí),對(duì)氫氣純度、壓力控制及測(cè)試室的密封性提出了具體要求。

  4. 樣品準(zhǔn)備:規(guī)范了光纖樣品的選擇、切割、清潔及預(yù)處理方法,確保所有測(cè)試樣品在測(cè)試前處于相同或可比較的狀態(tài),減少測(cè)試誤差來(lái)源。

  5. 性能指標(biāo)測(cè)量:明確了在氫老化測(cè)試前后,如何測(cè)量光纖的關(guān)鍵性能指標(biāo),如光衰減特性、機(jī)械強(qiáng)度(如抗彎、抗拉強(qiáng)度)、幾何尺寸變化等,用以量化氫老化對(duì)光纖性能的影響。

  6. 數(shù)據(jù)分析與評(píng)估:提供了數(shù)據(jù)處理方法和評(píng)價(jià)準(zhǔn)則,指導(dǎo)如何根據(jù)測(cè)試結(jié)果判斷光纖是否滿足特定的應(yīng)用要求或標(biāo)準(zhǔn),以及如何報(bào)告測(cè)試結(jié)果,包括但不限于統(tǒng)計(jì)分析、合格判定標(biāo)準(zhǔn)等。

  7. 安全措施:鑒于氫氣的特殊性質(zhì),標(biāo)準(zhǔn)還強(qiáng)調(diào)了實(shí)施測(cè)試過(guò)程中應(yīng)采取的安全措施,確保操作人員的安全和防止事故的發(fā)生。

實(shí)施意義

該標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施有助于光纖制造商優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì),提高光纖在特定工作環(huán)境下的可靠性和使用壽命;同時(shí),也為光纖使用者提供了選擇和評(píng)估產(chǎn)品的科學(xué)依據(jù),確保通信網(wǎng)絡(luò)和其他應(yīng)用系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。


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  • 現(xiàn)行
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  • 2009-09-30 頒布
  • 2009-12-01 實(shí)施
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GB/T 15972.55-2009光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第55部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序氫老化_第1頁(yè)
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GB/T 15972.55-2009光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第55部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序氫老化-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

犐犆犛33.180.10

犕33

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜15972.55—2009

光纖試驗(yàn)方法規(guī)范

第55部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和

試驗(yàn)程序氫老化

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20090930發(fā)布20091201實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書(shū)

犌犅/犜15972.55—2009

前言

GB/T15972《光纖試驗(yàn)方法規(guī)范》由若干部分組成:

———第10部分~第19部分:測(cè)量方法和試驗(yàn)程序總則(對(duì)應(yīng)IEC60793110~IEC60793119;代

替GB/T15972.1—1998);

———第20部分~第29部分:尺寸參數(shù)的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序(對(duì)應(yīng)IEC60793120~IEC60793

129;代替GB/T15972.2—1998);

———第30部分~第39部分:機(jī)械性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序(對(duì)應(yīng)IEC60793130~IEC60793

139;代替GB/T15972.3—1998);

———第40部分~第49部分:傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序(對(duì)應(yīng)IEC60793140~

IEC60793149;代替GB/T15972.4—1998);

———第50部分~第59部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序(對(duì)應(yīng)IEC60793150~IEC60793

159;代替GB/T15972.5—1998)。

其中GB/T15972.5×由以下部分組成:

———第50部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序恒定濕熱;

———第51部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序干熱;

———第52部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序溫度循環(huán);

———第53部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序浸水;

———第54部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序伽瑪輻照;

———第55部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序氫老化。

本部分為GB/T15972的第55部分。本部分中基準(zhǔn)試驗(yàn)方法主要參考了IEC60793250:2008

《光纖第250部分:產(chǎn)品規(guī)范B類單模光纖分規(guī)范》(英文版),同時(shí)結(jié)合了國(guó)內(nèi)試驗(yàn)的具體情況制

定的。

本部分的附錄A為資料性附錄。

本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出。

本部分由中國(guó)通信標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)歸口。

本部分起草單位:武漢郵電科學(xué)研究院、長(zhǎng)飛光纖光纜有限公司。

本部分主要起草人:陳永詩(shī)、李海清、李婧、劉騁、程淑玲。

書(shū)

犌犅/犜15972.55—2009

光纖試驗(yàn)方法規(guī)范

第55部分:環(huán)境性能的測(cè)量方法和

試驗(yàn)程序氫老化

1范圍

GB/T15972的本部分規(guī)定了光纖在給定的含氫環(huán)境中進(jìn)行氫老化試驗(yàn)的方法和試驗(yàn)程序。

本部分主要適用于評(píng)估GB/T15972.10—2008中規(guī)定的B1.3類波長(zhǎng)段擴(kuò)展的非色散位移單模光

纖的氫老化性能,也可用于評(píng)估B4類單模光纖的氫老化性能。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)GB/T15972的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本

部分。

GB/T9771.3—2008通信用單模光纖第3部分:波長(zhǎng)段擴(kuò)展的非色散位移單模光纖特性

GB/T15972.10—2008光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第10部分:測(cè)量方法和試驗(yàn)程序總則

(IEC6079311:2002,Opticalfibres—Part11:Measurementmethodsandtestprocedures—General

andguidline,MOD)

GB/T15972.40—2008光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第40部分:傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)

程序衰減(IEC60793140:2001,Opticalfibres—Part140:Measurementmethodsandtestproce

dures—Attenuation,MOD)

3試驗(yàn)裝置

3.1試驗(yàn)箱

試驗(yàn)裝置包括一個(gè)環(huán)境試驗(yàn)箱。試驗(yàn)箱的大小應(yīng)能夠容納試驗(yàn)樣品,不得使試樣受到直接輻射熱,

它能維持規(guī)定的溫度在規(guī)定的容差內(nèi),可用空氣循環(huán)維持試驗(yàn)箱內(nèi)的均勻條件。

3.2光纖容器

容器大小應(yīng)能夠容納試驗(yàn)光纖樣品,它能維持所需的含氫環(huán)境。容器應(yīng)置于環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi),且容器

材料傳熱性能能保證容器內(nèi)的光纖樣品與環(huán)境試驗(yàn)箱的設(shè)定溫度達(dá)到一致。

3.3其他裝置

完成試驗(yàn)和測(cè)量所必須的其他裝置,如裝有(H2+He)(氫氣和氦氣)或(H2+N2)(氫氣和氮?dú)猓┗?/p>

合氣體瓶等。

4試樣和試樣制備

為達(dá)到所要求的衰減測(cè)量重復(fù)性,單模光纖試樣長(zhǎng)度應(yīng)至少為2000m。暴露在試驗(yàn)箱外面的光

纖應(yīng)盡可能短,如果暴露在外面的部分超過(guò)試樣總長(zhǎng)度的10%,則宜記錄

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