標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 16596-1996 確定晶片坐標(biāo)系規(guī)范》是中國一項(xiàng)關(guān)于半導(dǎo)體晶片坐標(biāo)系統(tǒng)確立的國家標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了如何在半導(dǎo)體晶片上建立統(tǒng)一、準(zhǔn)確的坐標(biāo)體系,這對于集成電路設(shè)計(jì)、制造、測試及封裝等環(huán)節(jié)至關(guān)重要,確保了產(chǎn)業(yè)鏈上下游之間的有效溝通和工藝一致性。
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容要點(diǎn)包括:
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晶片坐標(biāo)系定義:明確了晶片坐標(biāo)系的原點(diǎn)選擇、坐標(biāo)軸方向及其符合的國際通用標(biāo)準(zhǔn),通常晶片坐標(biāo)系的原點(diǎn)設(shè)定與晶片制造過程中的對準(zhǔn)標(biāo)記或特定幾何特征相關(guān)聯(lián)。
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坐標(biāo)系確定方法:闡述了通過光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡等高精度設(shè)備,結(jié)合特定的測量與定位技術(shù),如何精確測定晶片上的關(guān)鍵點(diǎn)位置,進(jìn)而建立坐標(biāo)系。這包括了圖像處理、幾何變換等步驟,確保坐標(biāo)系的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
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坐標(biāo)表示與標(biāo)注:規(guī)定了晶片上各個(gè)功能區(qū)域、測試點(diǎn)等關(guān)鍵要素在坐標(biāo)系下的表示方法和標(biāo)注規(guī)則,便于設(shè)計(jì)文件與實(shí)際晶片間的信息交換。
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誤差與精度要求:針對坐標(biāo)系建立過程中的測量誤差,設(shè)置了允許的最大偏差范圍,確保坐標(biāo)系的建立能滿足集成電路生產(chǎn)加工的精度需求。
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驗(yàn)證與校正:提出了坐標(biāo)系驗(yàn)證的方法和校正流程,確保坐標(biāo)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和長期使用的準(zhǔn)確性,包括定期的系統(tǒng)校驗(yàn)和根據(jù)實(shí)際生產(chǎn)數(shù)據(jù)進(jìn)行的適時(shí)調(diào)整。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 16596-2019
- 1996-11-04 頒布
- 1997-04-01 實(shí)施
文檔簡介
ICS29.045H21中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T16596—1996確定晶片坐標(biāo)系規(guī)范Speciticationforestablishingawafercoordinatesystem1996-11-04發(fā)布1997-04-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
GB/T16596-1996本標(biāo)準(zhǔn)等效采用半導(dǎo)體設(shè)備和材料國際組織SEMIM20—92《確定品片坐標(biāo)系規(guī)范》結(jié)合我國的實(shí)際情況制定的,用于唯一確定晶片上任意一點(diǎn)位置的極坐標(biāo)或直角坐標(biāo)的品片坐標(biāo)系。本標(biāo)準(zhǔn)可以用確切的術(shù)語描述GB/T12964中晶片上某一點(diǎn)的位置,配備有關(guān)設(shè)備,可以識別晶片特征和定位晶片。與本標(biāo)準(zhǔn)配套的標(biāo)準(zhǔn)有GB/T16595—1996《品片通用網(wǎng)格規(guī)范》。本標(biāo)準(zhǔn)由中國有色金屬工業(yè)總公司提出。本標(biāo)準(zhǔn)由中國有色金屬工業(yè)總公司標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由中國有色金屬工業(yè)總公司標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量研究所負(fù)責(zé)起草.本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:吳福立。本標(biāo)準(zhǔn)1996年11月首次發(fā)布。
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)確定晶片坐標(biāo)系規(guī)范GB/r16596-1996Specificationforestablishingawafercoordinatesystem花圍1.1本規(guī)范規(guī)定了利用晶片中心作為極坐標(biāo)(-8-<)或直角坐標(biāo)(-y-)的原點(diǎn),可用于確定晶片上任意一點(diǎn)位置的晶片坐標(biāo)系。1.2對于非構(gòu)圖晶片,可直接使用本晶片坐標(biāo)系或與矩形陣列或極坐標(biāo)重疊陣列一起使用本晶片坐標(biāo)1.3本晶片坐標(biāo)系也可用于確定另一坐標(biāo)系的原點(diǎn)或其他基準(zhǔn)點(diǎn)的位置,而這另一坐標(biāo)系則常表示或記錄在構(gòu)圖或非構(gòu)圖晶片上的局部區(qū)域、芯片或圖形陣列的位置特征。這樣,該陣列坐標(biāo)系可定位晶片的實(shí)際幾何圖形。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過在本規(guī)范中引用而構(gòu)成為本規(guī)范的條文。本規(guī)范出版時(shí),所示版本均為有效,所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂,使用本規(guī)范的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。2.1我國標(biāo)準(zhǔn)GB/T12964-1996硅單晶拋光片GB/T16595-1996晶片通用網(wǎng)格規(guī)范2.2SEMI標(biāo)準(zhǔn)SEMIE5-92設(shè)備通信規(guī)范2,報(bào)文內(nèi)容(SECSII)SEMIM1一94硅單晶拋光片規(guī)范SEMIM12-92品片正面系列字母數(shù)字標(biāo)志規(guī)范SEMIM13-88硅片字母數(shù)字標(biāo)志規(guī)范3確定晶片坐標(biāo)系程序3.1確定晶片中心3.1.1晶片正面向上。3.1.2對本規(guī)范來說,假定晶片的圓周是最小圓包圍著,而忽略參考面和所有其他邊緣的不規(guī)則區(qū)域.該圓的圓心為晶片中心。3.2確定右旋的直角坐標(biāo)系3.2.1坐標(biāo)系的原點(diǎn)位于品片的幾何中心。3.2.2坐標(biāo)系的y軸在正面的直徑上。該直徑平分主基準(zhǔn)面(參考面或缺口)3.2.3坐標(biāo)系的軸在正面的直徑上
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