標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 17360-2008 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法》與前一版《GB/T 17360-1998 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法》相比,主要在以下幾個方面進(jìn)行了更新和調(diào)整:
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技術(shù)內(nèi)容的修訂:2008版標(biāo)準(zhǔn)對電子探針定量分析的技術(shù)細(xì)節(jié)進(jìn)行了修訂,以反映技術(shù)進(jìn)步和實(shí)際應(yīng)用中的新發(fā)現(xiàn)。這可能包括了更精確的測量參數(shù)、更先進(jìn)的校準(zhǔn)方法或更嚴(yán)格的精度要求,旨在提高分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
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儀器設(shè)備要求:隨著電子探針技術(shù)的發(fā)展,新版標(biāo)準(zhǔn)可能對用于分析的電子探針顯微分析儀的性能指標(biāo)提出了新的要求,比如更高的分辨率、更寬的元素檢測范圍或是更先進(jìn)的信號處理能力,以適應(yīng)現(xiàn)代材料分析的需求。
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樣品制備與處理:2008版標(biāo)準(zhǔn)可能對樣品的制備過程和表面處理方法給出了更詳細(xì)或更新的指導(dǎo),確保樣品能夠代表材料的真實(shí)成分,減少分析誤差。這可能包括樣品的切割、鑲嵌、磨拋以及清洗步驟的具體操作規(guī)范。
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分析方法與計(jì)算公式:標(biāo)準(zhǔn)中對于Si、Mn含量的定量分析方法及相應(yīng)的數(shù)據(jù)處理公式可能有所改進(jìn),引入了更科學(xué)的校正模型或算法,以更準(zhǔn)確地扣除背景干擾,提高分析精度。
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質(zhì)量控制與驗(yàn)證:2008版標(biāo)準(zhǔn)加強(qiáng)了對分析過程的質(zhì)量控制要求,可能新增或細(xì)化了重復(fù)性、再現(xiàn)性試驗(yàn)的規(guī)定,以及對標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)使用的要求,確保實(shí)驗(yàn)室間結(jié)果的一致性。
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術(shù)語與定義:根據(jù)行業(yè)發(fā)展和國際標(biāo)準(zhǔn)化趨勢,新版標(biāo)準(zhǔn)可能對相關(guān)專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了更新或增補(bǔ),以保持與國際標(biāo)準(zhǔn)的接軌,便于國內(nèi)外交流。
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參考文獻(xiàn)與附錄資料:為支持標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容,2008版可能更新了參考文獻(xiàn)列表,引入了更多最新的研究成果和標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐,同時(shí),附錄部分也可能加入了新的數(shù)據(jù)表、流程圖或其他輔助性資料,方便使用者操作。
這些變動旨在適應(yīng)科技進(jìn)步和行業(yè)發(fā)展的需要,提高電子探針定量分析方法在測定鋼中低含量硅(Si)和錳(Mn)時(shí)的準(zhǔn)確度和效率。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17360-2020
- 2008-06-16 頒布
- 2009-03-01 實(shí)施
文檔簡介
犐犆犛71.040.99
犖53
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜17360—2008
代替GB/T17360—1998
鋼中低含量犛犻、犕狀的電子探針
定量分析方法
犙狌犪狀狋犻狋犪狋犻狏犲犪狀犪犾狔狊犻狊犿犲狋犺狅犱狅犳犾狅狑犮狅狀狋犲狀狋犛犻犪狀犱犕狀犻狀狊狋犲犲犾
狑犻狋犺犲犾犲犮狋狉狅狀狆狉狅犫犲犿犻犮狉狅犪狀犪犾狔狊犻狊
20080616發(fā)布20090301實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
書
犌犅/犜17360—2008
前言
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T17360—1998《鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法》。
本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T17360—1998相比主要變化如下:
———英文名稱修改為“QuantitativeanalysismethodoflowcontentSiandMninsteelwithelec
tronprobemicroanalysis”;
———將標(biāo)準(zhǔn)中的公式統(tǒng)一編號;
———在4.1句末加上“或配有波譜儀的掃描電鏡”;
———在4.2和6.2中將“樣品”改為“試樣”;
———在5.1中對所用樣品做了具體的要求,并去掉樣品編號;
———在6.2的“需達(dá)到分析部位無污染及其他缺陷”前加上“經(jīng)拋光和清洗后”,將“無水酒精”改為
“無水乙醇”;
———在7.1.7和7.2.1中將“背景”改為“背底”;
———在7.2.2的a)句末加上“見附錄A”;
———在7.2.2的c)中,標(biāo)定曲線的覆蓋范圍,Si:“0.4%~3.6%”改為“(0.40~4.51)%”;
———在9.1中將3.6%改為4.51%;
———在10中將“儀器出射角”改為“儀器檢出角”,并規(guī)范了實(shí)驗(yàn)報(bào)告的格式和內(nèi)容;
———刪去附錄中的最后一段。
本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國科學(xué)院金屬研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:孫愛芹、尚玉華、徐樂英。
本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T17360—1998。
Ⅰ
書
犌犅/犜17360—2008
鋼中低含量犛犻、犕狀的電子探針
定量分析方法
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低合金鋼和碳鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法,即標(biāo)定曲線法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶波譜儀的掃描電鏡。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有
的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究
是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T4930—1993微束分析電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則(GB/T4930—2008,
ISO14595:2003,IDT)
GB/T15074電子探針定量分析方法通則
3方法原理
在低含量范圍內(nèi),元素發(fā)射的特征X射線的強(qiáng)度比與含量之間有近似線性關(guān)系。根據(jù)這一特點(diǎn),
采用至少5種不同Si含量、不同Mn含量的FeSi和FeMn系列組合標(biāo)樣各一套,在常規(guī)實(shí)驗(yàn)條件下,
分別繪制組合標(biāo)樣中Si、Mn的含量犆犻(Si)、犆犻(Mn)與測定的Si和Mn的X射線強(qiáng)度比犓犻(Si)、
犓犻(Mn)的關(guān)系曲線(稱為標(biāo)定曲線,見圖A.1),便可由測量強(qiáng)度比,在該標(biāo)定曲線上獲得待測鋼樣中
低含量Si、Mn的含量。
在一定實(shí)驗(yàn)條件下,元素Si、Mn的X射線強(qiáng)度比犓犻(Si)、犓犻(Mn)由式(1)、式(2)給出:
犓犻(Si)=犐犻(Si)/犐st(Si)………………(1)
犓犻(Mn)=犐犻(Mn)/犐st(Mn)………………(2)
式中:
犐犻(Si)、犐犻(Mn)分別為FeSi、FeMn組合標(biāo)樣的Si犓α、Mn犓α線的強(qiáng)度;
犐st(Si)、犐st(Mn)分別為純Si、純Mn標(biāo)樣中Si犓α、Mn犓α線的強(qiáng)度;
犻為組合標(biāo)樣中單個標(biāo)樣的序號。
4儀器與輔助設(shè)備
4.1電子探針分析儀或配有波譜儀的掃描電鏡。
4.2制備試樣裝置和金相顯微鏡。
4.3超聲波清洗裝置。
5標(biāo)樣
5.1推薦使用符合GB/T4930—1993電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件的標(biāo)準(zhǔn)樣品,本標(biāo)準(zhǔn)所用
FeSi組合標(biāo)樣,其中Si的標(biāo)準(zhǔn)成分分別是:0.
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