標準解讀
《GB/T 17360-2008 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法》與前一版《GB/T 17360-1998 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法》相比,主要在以下幾個方面進行了更新和調(diào)整:
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技術(shù)內(nèi)容的修訂:2008版標準對電子探針定量分析的技術(shù)細節(jié)進行了修訂,以反映技術(shù)進步和實際應用中的新發(fā)現(xiàn)。這可能包括了更精確的測量參數(shù)、更先進的校準方法或更嚴格的精度要求,旨在提高分析結(jié)果的準確性和可靠性。
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儀器設備要求:隨著電子探針技術(shù)的發(fā)展,新版標準可能對用于分析的電子探針顯微分析儀的性能指標提出了新的要求,比如更高的分辨率、更寬的元素檢測范圍或是更先進的信號處理能力,以適應現(xiàn)代材料分析的需求。
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樣品制備與處理:2008版標準可能對樣品的制備過程和表面處理方法給出了更詳細或更新的指導,確保樣品能夠代表材料的真實成分,減少分析誤差。這可能包括樣品的切割、鑲嵌、磨拋以及清洗步驟的具體操作規(guī)范。
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分析方法與計算公式:標準中對于Si、Mn含量的定量分析方法及相應的數(shù)據(jù)處理公式可能有所改進,引入了更科學的校正模型或算法,以更準確地扣除背景干擾,提高分析精度。
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質(zhì)量控制與驗證:2008版標準加強了對分析過程的質(zhì)量控制要求,可能新增或細化了重復性、再現(xiàn)性試驗的規(guī)定,以及對標準物質(zhì)使用的要求,確保實驗室間結(jié)果的一致性。
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術(shù)語與定義:根據(jù)行業(yè)發(fā)展和國際標準化趨勢,新版標準可能對相關(guān)專業(yè)術(shù)語進行了更新或增補,以保持與國際標準的接軌,便于國內(nèi)外交流。
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參考文獻與附錄資料:為支持標準內(nèi)容,2008版可能更新了參考文獻列表,引入了更多最新的研究成果和標準實踐,同時,附錄部分也可能加入了新的數(shù)據(jù)表、流程圖或其他輔助性資料,方便使用者操作。
這些變動旨在適應科技進步和行業(yè)發(fā)展的需要,提高電子探針定量分析方法在測定鋼中低含量硅(Si)和錳(Mn)時的準確度和效率。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標準文檔。
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文檔簡介
犐犆犛71.040.99
犖53
中華人民共和國國家標準
犌犅/犜17360—2008
代替GB/T17360—1998
鋼中低含量犛犻、犕狀的電子探針
定量分析方法
犙狌犪狀狋犻狋犪狋犻狏犲犪狀犪犾狔狊犻狊犿犲狋犺狅犱狅犳犾狅狑犮狅狀狋犲狀狋犛犻犪狀犱犕狀犻狀狊狋犲犲犾
狑犻狋犺犲犾犲犮狋狉狅狀狆狉狅犫犲犿犻犮狉狅犪狀犪犾狔狊犻狊
20080616發(fā)布20090301實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
書
犌犅/犜17360—2008
前言
本標準代替GB/T17360—1998《鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法》。
本標準與GB/T17360—1998相比主要變化如下:
———英文名稱修改為“QuantitativeanalysismethodoflowcontentSiandMninsteelwithelec
tronprobemicroanalysis”;
———將標準中的公式統(tǒng)一編號;
———在4.1句末加上“或配有波譜儀的掃描電鏡”;
———在4.2和6.2中將“樣品”改為“試樣”;
———在5.1中對所用樣品做了具體的要求,并去掉樣品編號;
———在6.2的“需達到分析部位無污染及其他缺陷”前加上“經(jīng)拋光和清洗后”,將“無水酒精”改為
“無水乙醇”;
———在7.1.7和7.2.1中將“背景”改為“背底”;
———在7.2.2的a)句末加上“見附錄A”;
———在7.2.2的c)中,標定曲線的覆蓋范圍,Si:“0.4%~3.6%”改為“(0.40~4.51)%”;
———在9.1中將3.6%改為4.51%;
———在10中將“儀器出射角”改為“儀器檢出角”,并規(guī)范了實驗報告的格式和內(nèi)容;
———刪去附錄中的最后一段。
本標準的附錄A為資料性附錄。
本標準由全國微束分析標準化技術(shù)委員會提出并歸口。
本標準起草單位:中國科學院金屬研究所。
本標準主要起草人:孫愛芹、尚玉華、徐樂英。
本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T17360—1998。
Ⅰ
書
犌犅/犜17360—2008
鋼中低含量犛犻、犕狀的電子探針
定量分析方法
1范圍
本標準規(guī)定了低合金鋼和碳鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法,即標定曲線法。
本標準適用于帶波譜儀的掃描電鏡。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有
的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究
是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標準。
GB/T4930—1993微束分析電子探針分析標準樣品技術(shù)條件導則(GB/T4930—2008,
ISO14595:2003,IDT)
GB/T15074電子探針定量分析方法通則
3方法原理
在低含量范圍內(nèi),元素發(fā)射的特征X射線的強度比與含量之間有近似線性關(guān)系。根據(jù)這一特點,
采用至少5種不同Si含量、不同Mn含量的FeSi和FeMn系列組合標樣各一套,在常規(guī)實驗條件下,
分別繪制組合標樣中Si、Mn的含量犆犻(Si)、犆犻(Mn)與測定的Si和Mn的X射線強度比犓犻(Si)、
犓犻(Mn)的關(guān)系曲線(稱為標定曲線,見圖A.1),便可由測量強度比,在該標定曲線上獲得待測鋼樣中
低含量Si、Mn的含量。
在一定實驗條件下,元素Si、Mn的X射線強度比犓犻(Si)、犓犻(Mn)由式(1)、式(2)給出:
犓犻(Si)=犐犻(Si)/犐st(Si)………………(1)
犓犻(Mn)=犐犻(Mn)/犐st(Mn)………………(2)
式中:
犐犻(Si)、犐犻(Mn)分別為FeSi、FeMn組合標樣的Si犓α、Mn犓α線的強度;
犐st(Si)、犐st(Mn)分別為純Si、純Mn標樣中Si犓α、Mn犓α線的強度;
犻為組合標樣中單個標樣的序號。
4儀器與輔助設備
4.1電子探針分析儀或配有波譜儀的掃描電鏡。
4.2制備試樣裝置和金相顯微鏡。
4.3超聲波清洗裝置。
5標樣
5.1推薦使用符合GB/T4930—1993電子探針分析標準樣品通用技術(shù)條件的標準樣品,本標準所用
FeSi組合標樣,其中Si的標準成分分別是:0.
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