GB/T 17473.5-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定

標準解讀

GB/T 17473.5-1998 是一項中華人民共和國國家標準，全稱為《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 第5部分：粘度測定》。這項標準詳細規(guī)定了用于厚膜微電子技術(shù)中的貴金屬漿料粘度檢測的方法、設(shè)備要求、操作步驟以及數(shù)據(jù)處理方式，旨在確保不同實驗室間測試結(jié)果的一致性和可比性，提升產(chǎn)品質(zhì)量控制水平。

標準適用范圍

該標準適用于測定在厚膜微電子技術(shù)領(lǐng)域中使用的各種貴金屬（如金、銀、鉑等）漿料的粘度特性。這些漿料廣泛應(yīng)用于電子元件的制造，如電阻、電容、電感及混合集成電路等，對產(chǎn)品的性能有直接影響。

測試原理與方法

標準中描述的粘度測試基于特定的物理學(xué)原理，通常采用旋轉(zhuǎn)粘度計進行。測試前需將樣品充分攪拌均勻并在規(guī)定的溫度下預(yù)處理，以消除溫度對粘度的影響。通過測量在固定剪切速率或剪切應(yīng)力下漿料的流動阻力，進而計算出其粘度值。

設(shè)備要求

標準明確了進行粘度測試所需儀器的類型、精度及校準要求，確保測試設(shè)備的準確性和可靠性。這包括旋轉(zhuǎn)粘度計的轉(zhuǎn)子規(guī)格、轉(zhuǎn)速控制精度、溫度控制裝置等。

操作步驟

1. 樣品準備：按照規(guī)定方法制備試樣，確保無氣泡且溫度穩(wěn)定。
2. 儀器校準：使用標準參考物質(zhì)對粘度計進行校正，確保測試結(jié)果的準確性。
3. 測試條件設(shè)定：根據(jù)漿料特性和實際應(yīng)用需求，設(shè)定合適的測試溫度和轉(zhuǎn)速。
4. 數(shù)據(jù)采集：在穩(wěn)定狀態(tài)下記錄粘度讀數(shù)，必要時進行多次測量以提高數(shù)據(jù)可靠性。
5. 結(jié)果處理：計算平均粘度值，并對異常數(shù)據(jù)進行分析處理。

數(shù)據(jù)處理與報告

標準還提供了數(shù)據(jù)處理規(guī)則，包括如何處理異常數(shù)據(jù)、計算平均值及不確定度評估等，確保測試報告的規(guī)范性和科學(xué)性。報告中應(yīng)包含測試條件、所用設(shè)備、測試結(jié)果及必要的數(shù)據(jù)分析。

結(jié)論

本標準為厚膜微電子技術(shù)領(lǐng)域中貴金屬漿料的粘度測試提供了一套標準化流程和要求，對于保證產(chǎn)品質(zhì)量、促進技術(shù)交流和貿(mào)易具有重要意義。它強調(diào)了測試過程的標準化、精確度和可重復(fù)性，是該行業(yè)生產(chǎn)和研發(fā)不可或缺的技術(shù)依據(jù)。

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