標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 17626.11-1999 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子及電氣設(shè)備在遭受電壓暫降、短時中斷以及電壓變化情況下的抗擾度測試方法,旨在確保設(shè)備在電網(wǎng)異常狀況下仍能保持正常工作或適當(dāng)恢復(fù)功能,減少因電力質(zhì)量問題導(dǎo)致的設(shè)備故障和系統(tǒng)中斷。

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于評估各類電氣和電子設(shè)備、系統(tǒng)在供電網(wǎng)絡(luò)中遇到電壓暫降、短時中斷及電壓變化時的性能穩(wěn)定性。這些現(xiàn)象可能由電網(wǎng)故障、負(fù)載突變或其他外部因素引起。

主要內(nèi)容概述

  1. 定義與術(shù)語:明確了電壓暫降、短時中斷、電壓變化等關(guān)鍵概念,為后續(xù)測試提供了統(tǒng)一的術(shù)語基礎(chǔ)。

  2. 測試設(shè)備與設(shè)施:描述了進(jìn)行抗擾度試驗所需設(shè)備的類型、規(guī)格及其校準(zhǔn)要求,包括電源模擬器、測量儀器等。

  3. 試驗配置:規(guī)定了被測設(shè)備(EUT)的正確連接方式、接地條件以及輔助設(shè)備的設(shè)置,確保測試環(huán)境的標(biāo)準(zhǔn)化。

  4. 試驗程序

    • 電壓暫降試驗:模擬電壓在短時間內(nèi)下降并恢復(fù)的過程,測試EUT在此期間的性能表現(xiàn)。
    • 短時中斷試驗:模擬完全斷電后迅速恢復(fù)供電的情況,評估EUT的重啟能力及數(shù)據(jù)保護(hù)機制。
    • 電壓變化試驗:檢驗EUT在電壓緩慢上升或下降過程中的適應(yīng)性。
  5. 試驗等級與嚴(yán)酷程度:根據(jù)不同的應(yīng)用場合,設(shè)定了不同等級的電壓暫降深度、持續(xù)時間和變化率,以覆蓋廣泛的實際情況。

  6. 評價準(zhǔn)則:明確了測試結(jié)果的評判依據(jù),包括EUT是否能維持正常運行、功能是否受影響、數(shù)據(jù)丟失情況等。

  7. 試驗報告:要求詳細(xì)記錄測試環(huán)境、參數(shù)設(shè)置、觀察到的現(xiàn)象及最終結(jié)論,以便于評估和追溯。

測試意義

實施此標(biāo)準(zhǔn)的測試有助于制造商和用戶了解設(shè)備在非理想電力供應(yīng)條件下的可靠性,促進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計改進(jìn),提高整體系統(tǒng)的穩(wěn)定性和兼容性,減少因電壓異常造成的經(jīng)濟(jì)損失和安全風(fēng)險。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17626.11-2008
  • 1999-09-13 頒布
  • 2000-06-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 17626.11-1999電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗_第1頁
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文檔簡介

ICS33.100L06中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)SBT.11626.11:1999idtIEc61000-4-11:1994電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗ElectromagneticcompatibilityTestingandmeasurementtechniguesVoltagedips.shortinterruptionsandvoltagevariationsimmunityytests1999-09-13發(fā)布2000-06-01實施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17626.11-1999前言IEC前言IEC引言1范圍2引用標(biāo)準(zhǔn)概述3·····4定義5試驗等級5.1電壓暫降和短時中斷5.2電壓變化(供選擇)6試驗設(shè)備·6.1試驗發(fā)生器6.1.1發(fā)生器的性能和特性6.1.2電壓暫降、短時中斷和電壓變化發(fā)生器的特性校驗6.2測量峰值沖擊電流能力的電流監(jiān)視器的特性6.3電源·············7試驗布置8試驗程序8.1試驗室參考條件8.1.1氣候條件8.1.2電磁條件8.2試驗………8.2.1電壓暫降和短時中斷8.2.2電壓變化(供選擇)…9試驗結(jié)果和試驗報告·………附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)試驗電路說明附錄B(提示的附錄)試驗等級選擇導(dǎo)則…附錄C(提示的附錄)試驗儀器…

GB/T17626:11-1999本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-11:1994。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電氣和電子設(shè)備對電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗等級和測量方法。本標(biāo)準(zhǔn)是《電磁兼容試驗和測量技術(shù)》系列國家標(biāo)準(zhǔn)之一,該系列標(biāo)準(zhǔn)包括以下標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.1—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論GB/T17626.2—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗GB/T17626.3—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場抗擾度試驗GB/T17626.4—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗GB/T17626.5—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗GB/T17626.6—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)強擾抗擾度GB/T17626.7—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及相連設(shè)備的諧波、諧間波的測量和測量儀器導(dǎo)則GB/T17626.8—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗GB/T17626.9—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗GB/T17626.10—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗GB/T17626.11—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù):電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗GB/T17626.12—1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗本標(biāo)準(zhǔn)中附錄A是標(biāo)準(zhǔn)的附錄·附錄B、附錄C為提示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由國家機械工業(yè)局提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化聯(lián)合工作組歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:機械工業(yè)部上海電器科學(xué)研究所、電子工業(yè)部第三研究所、機械工業(yè)部廣州電器科學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位:上海三基電子工業(yè)有限公司、電力部武漢高壓研究所、機械工業(yè)部上海電動工具研究所、機械工業(yè)部上海自動化儀表研究所、電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:樓鼎夫、楊自佑、彭聰、陳紅潔、劉國榮、郎維川、王慶、邱云林、陳峰

GB/T17626.11-1999IEC前言1)國際電工委員會(IEC)是包括所有國家委員會(IEC國家委員會)在內(nèi)的世界性標(biāo)準(zhǔn)化組織,其主要目的是促進(jìn)電氣和電子方面有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化的全部問題的國際一致。此外.還出版國際標(biāo)準(zhǔn).并委托技術(shù)委員會做這些工作。在該活動中.任何國家委員會均可參加其感興趣的項目。與IEC相聯(lián)系的國際、政府和韭政府組織也可參加這一工作。IEC與國際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)按照兩組織間協(xié)議的條件進(jìn)行緊密合作。2)由于各技術(shù)委員會中都有對有關(guān)內(nèi)容感興趣國家的代表,所以IEC對有關(guān)技術(shù)內(nèi)容作出的決定或協(xié)議都盡可能地與國際意見一致。3)所出版的標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)報告或?qū)t是用推薦形式供國際使用,并在此意義上為各個國家委員會所接受。44)為了促進(jìn)國際一致的原則,國家委員會在制定國家和地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)時,盡可能在最大限度上采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn),相應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)與IC國際標(biāo)準(zhǔn)之間任何分歧均應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)中清楚地說明。國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-11是由IEC第77技術(shù)委員會(電磁兼容性)的77B分技術(shù)委員會(高頻現(xiàn)象)負(fù)責(zé)起草的。本標(biāo)準(zhǔn)為IEC61000的第四部分第11分部分,根據(jù)IEC第107號導(dǎo)則規(guī)定其為基礎(chǔ)性EMC標(biāo)本標(biāo)準(zhǔn)文本基于下列文件:國際標(biāo)準(zhǔn)草案表決報告77B(CO)1777B(CO)20本標(biāo)準(zhǔn)表決通過的全部資料可在上面表格中列出的表決報告中查到上表所列的表決報告中可找到表決通過本標(biāo)準(zhǔn)的全部信息.附錄A是本標(biāo)準(zhǔn)的組成部分。附錄B和附錄C僅作參考。

GB/T17626:11-1999IEC引言本標(biāo)準(zhǔn)是IEC61000系列標(biāo)準(zhǔn)的一部分,該系列標(biāo)準(zhǔn)的構(gòu)成如下:第一部分:綜述綜合考慮(概述、基本原理)定義、術(shù)語第二部分:環(huán)境環(huán)境的描述環(huán)境的分類兼容性電平第三部分:限值發(fā)射限值抗擾度限值(到目前為止,它們尚不屬于產(chǎn)品委員會的責(zé)任范圍)第四部分:試驗與測量技術(shù)測量技術(shù)試驗技術(shù)第五部分:安裝和減緩導(dǎo)則安裝導(dǎo)則減緩方法和裝置第六部分::一般標(biāo)準(zhǔn)第九部分:其他每一部分又可分為若干分部分,它們作為國際標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)報告出版

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化GB/T17626.11-1999的抗擾度試驗idtIEC61000-4-11:1994ElectromagneticcompatibilityTestingandmeasurementtechniquesvoltagedips.shortinterruptionsandvoltagevariationsimmunitytests范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了與低壓供電網(wǎng)連接的電氣和電子設(shè)備對電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗方法和優(yōu)選的試驗等級范圍。本標(biāo)準(zhǔn)適用于額定輸入電流每相不超過16A的電氣和電子設(shè)備本標(biāo)準(zhǔn)不適用于與直流網(wǎng)絡(luò)或400H交流網(wǎng)絡(luò)相連接的電氣和電子設(shè)備。這些網(wǎng)絡(luò)的試驗將在以后的標(biāo)準(zhǔn)中涉及。本標(biāo)準(zhǔn)的目的是建立一種評價電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的抗擾度的通用準(zhǔn)則。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文·通過在本標(biāo)準(zhǔn)中的引用,而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時·所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T4365—1995電磁兼容術(shù)語(idtIEV50(161):1990)GB/T17626.1一1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論(idtIEC61000-4-1:1992)IEC68-1:1988環(huán)境試驗第1部分:總則和導(dǎo)則IEC61000-2-1:1990電磁兼容性(EMC)第2部分:環(huán)境第1分部分:環(huán)境的描述公共供電網(wǎng)中低頻傳導(dǎo)騷擾和信號傳輸?shù)碾姶怒h(huán)境IEC61000-2-2:1990電磁兼容性(EMC)第2部分:環(huán)境第2分部分:低壓公共供電網(wǎng)中低頻傳導(dǎo)騷抗和信號傳播的兼容性水平3概述電氣和電子設(shè)備會受到供電電源電壓暫降、短時中斷或電壓變化的影響電壓暫降、短時中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。這些

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