標準解讀

《GB/T 17711-1999 釔鋇銅氧(123相)超導薄膜臨界溫度Tc的直流電阻試驗方法》這一標準詳細規(guī)定了測量釔鋇銅氧（YBa2Cu3O7-x，簡稱為YBCO）超導薄膜材料臨界溫度Tc時所采用的直流電阻測試的具體步驟、設備要求、樣品制備及測試環(huán)境條件。然而，您提供的對比項似乎不完整，沒有明確指出要與哪個具體的標準或前一版標準進行比較。但基于該標準本身的內(nèi)容，可以概述其關鍵要點和可能相對于早期實踐或指導原則的變化趨勢：

  1. 測試精確度提升：該標準可能對測量精度提出了更嚴格的要求，以適應科研及工業(yè)應用中對超導材料性能評估的高準確性需求。這包括對測試儀器分辨率、穩(wěn)定性以及校準程序的明確規(guī)定。

  2. 樣品制備規(guī)范：明確了樣品的尺寸、形狀、表面處理及沉積工藝要求，確保測試結(jié)果的可比性和重復性。這反映了從材料制備到測試流程標準化的進步。

  3. 測試環(huán)境控制：強調(diào)了測試過程中對磁場強度、氣體環(huán)境（如氧氣壓強）、溫度控制的精確度要求，這些因素都直接影響超導薄膜的臨界溫度測量結(jié)果。

  4. 數(shù)據(jù)分析方法：規(guī)定了如何通過直流電阻的變化來準確確定超導轉(zhuǎn)變溫度Tc，可能引入了更為先進的數(shù)據(jù)處理算法或統(tǒng)計分析方法，以提高結(jié)果的可靠性。

  5. 安全與操作規(guī)范：包含了操作高真空設備、低溫系統(tǒng)及處理潛在有害材料時的安全指南，體現(xiàn)了對實驗室安全標準的升級。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1999-03-13 頒布
  • 1999-10-01 實施
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文檔簡介

ICS31.030L90中華人民共和國國家標準GB/T17711-1999鋇銅氧(123相)超導薄膜臨界溫度T。的直流電阻試驗方法TheDCelectricresistancetestmethodforthecriticaltemperatureTcofaYBaCu3O75superconductingthinfilm1999-03-13發(fā)布1999-10-01實施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準名領銅氧(123相)超導薄膜臨界溫度T。的直流電阻試驗方法GB/T17711-1999中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874471999年8月第一版2005年1月電子版制作書號：155066·1-16022版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報電話：（010)68533533

GB/T17711-1999本標準參考了IEC/TC90國際標準草案"Nb-Ti復合超導體剩余電阻比試驗方法（RRRWD-1Ver.2)"的制定方法和有關內(nèi)容。按該國際標準的制定方法，標準的不確定度由循環(huán)測試（RRT）的變化系數(shù)(COV)確定。由國家超導技術(shù)聯(lián)合研究開發(fā)中心組織和資助中國科學院物理研究所、北京大學、南京大學和中國科學技術(shù)大學的有關實驗室對標準樣品和大量實驗樣品進行了近兩年的循環(huán)測試，在可靠的實驗研究的基礎上起草了本標準本標準由中國科學院提出。本標準由國家超導技術(shù)聯(lián)合研究開發(fā)中心歸口本標準負資起草單位：中國科學院物理研究所超導國家重點實驗室本標準主要起草人：鄧廷璋、尹湖、戴遠東、王世光、程其恒、汪成友參加本標準的循環(huán)測試的還有：楊乾聲、劉宜平、肖玲、王瑞蘭、王煥華、周岳亮、胡曉東、熊光成、連貴君、王繼純、張云、楊森祖、王華兵、周贛東、曹烈兆和阮可青。

中華人民共和國國家標準鈍鋇銅氧(123相)超導薄膜臨界溫度T。的直流電阻試驗方法GB/T17711-1999TheDCelectricresistancetestmethodforthecriticaltemperatureTeofaYBaCugO,ssuperconductingthinfilm1范圍本標準規(guī)定了億鋇銅氧(123相)超導薄膜臨界溫度T、超導轉(zhuǎn)變寬度T、零電阻溫度T的直流電阻試驗方法本標準適用于膜厚為(100～500）nm的艦銅氧(123相)超導薄膜的臨界溫度7e、超導轉(zhuǎn)變寬度八T，零電阻溫度了。的測定。本標準不適用于多相和半導體型的視銅氧超導薄膜上述參數(shù)的測定。2定義2.1臨界溫度7。當電流、磁場為零時，超導薄膜在某一溫度以下呈現(xiàn)超導電性，此特定溫度規(guī)定為臨界溫度了2.2轉(zhuǎn)變寬度AT超導薄膜由正常態(tài)向超導態(tài)過渡的溫度范圍2.3零電阻溫度7e超導薄膜保持直流電阻為零的最高溫度3Tc.AT和Tco的實驗確定在直流電阻試驗方法中，首先應測出超導薄膜的直流電阻尺隨溫度了變化的關系曲線（R-T曲線）·然后，用以下方法確定上述定義的各參數(shù)。3.1Te的確定在直流電阻試驗方法中.規(guī)定超導轉(zhuǎn)變部分中點所對應的溫度為臨界溫度7。在超導薄膜電阻隨溫度變化的曲線（R-了曲線)上·將遠離電阻發(fā)生急劇變化的高溫端數(shù)據(jù)作線性擬合.求得一直線A;將超導轉(zhuǎn)變部分中間的數(shù)據(jù)作線性擬合，求得另一直線B.上述二直線的交點所對應的電阻值規(guī)定為正常態(tài)電阻尺。.如圖1所示。二分之一R。所對應的溫度值規(guī)定為T。值·即Te=T（0.5R.）3.2轉(zhuǎn)變寬度T的確定25%的K。與75%的K。所對應的溫度范圍規(guī)定為T，即：AT=T（0.75R）一T（0.25R,）3.3To的確定設定所用數(shù)字電壓表的噪聲電壓<0.5V,將電壓V。=0.5V作為本方法中超導薄膜失超的判據(jù)。若薄膜

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