GB/T 18043-2000貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法

ICS39.060Y88中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18043—2000貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法Preciousmetaljewellerycontentnon-damagedtestmethod-X-rayfluorescencespectrometry2000-04-05發(fā)布2000-09-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T18043-2000該檢測(cè)方法無(wú)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線熒光光譜法對(duì)貴金屬首飾進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)的方法及測(cè)試要求，適用于首飾及其他工藝品中金、銀、鉑等貴金屬表層含量的測(cè)定。本標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)家輕工業(yè)局提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)首飾標(biāo)準(zhǔn)化中心歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：國(guó)家首飾質(zhì)基監(jiān)督檢驗(yàn)中心。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：沈洋、范積芳。本標(biāo)準(zhǔn)委托全國(guó)首飾標(biāo)準(zhǔn)化中心負(fù)責(zé)解釋

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法GB/T18043—2000Preciousmetaljewellerycontentnon-damagedtestmethodX-rayfluorescencespectrometry1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了貴金屬首飾含量的X射線熒光光譜無(wú)損檢測(cè)方法及要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于首飾及其他工藝品中貴金屬金、銀、鉑等表層含量的測(cè)定及委托檢驗(yàn)(需征得委托方及被委托方同意)和生產(chǎn)企業(yè)內(nèi)部管理(不包括生產(chǎn)質(zhì)量控制)引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文.通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性GB/T9288—1998首飾含金量分析方法GB/T11886—1989首飾含銀量化學(xué)分析方法QB/T1656—1992鉑首飾化學(xué)分析方法鈀、鉻、鉑量的測(cè)定方法原理本方法的原理是貴金屬首飾表層經(jīng)射線激發(fā)·發(fā)射出特征X射線熒光光譜,測(cè)量特征譜線的能量或波長(zhǎng)，可進(jìn)行定性分析;測(cè)量譜線強(qiáng)度，即可進(jìn)行定量分析4儀器和設(shè)備4.1X射線熒光光譜分析儀。4.2金、銀、鉑國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)側(cè)測(cè)試方法及要求5.1儀器的校核根據(jù)儀器的具體要求進(jìn)行校核。5.2測(cè)試條件5.2.1實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境條件要求應(yīng)滿足相應(yīng)儀器要求。5.2.2儀器達(dá)到穩(wěn)定狀況方可進(jìn)行測(cè)量。5.3測(cè)試方法5.3.1選取測(cè)試點(diǎn)不得少于三點(diǎn)。5.