標準解讀
《GB/T 18043-2008 首飾 貴金屬含量的測定 X射線熒光光譜法》與《GB/T 18043-2000 貴金屬首飾含量的無損檢測方法 X射線熒光光譜法》相比,主要在以下幾個方面進行了調(diào)整和更新:
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適用范圍:2008版標準在適用范圍上可能有所擴展或明確,以適應(yīng)更多種類的首飾產(chǎn)品和貴金屬材料的測定需求,而2000版則可能側(cè)重于某一特定范圍或類別。
-
技術(shù)改進:隨著技術(shù)的發(fā)展,2008版標準可能引入了更先進的X射線熒光光譜儀技術(shù),提高了檢測精度和效率,包括但不限于更高的分辨率、更快的分析速度以及更準確的元素識別能力。
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檢測限值與精確度:新標準可能對貴金屬含量的最低檢測限和測量結(jié)果的精密度提出了更嚴格的要求,以確保測試結(jié)果的可靠性與國際標準接軌。
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樣品制備與處理:2008版標準可能更新了關(guān)于樣品準備的具體指導(dǎo),包括更細致的樣品清潔、均質(zhì)化處理步驟,以減少外部因素對檢測結(jié)果的干擾。
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質(zhì)量控制與驗證:增加了對實驗室質(zhì)量控制措施的要求,如定期校準儀器、使用標準物質(zhì)進行比對試驗等,確保檢測過程的一致性和準確性。
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術(shù)語與定義:根據(jù)行業(yè)進展,2008版標準可能對一些專業(yè)術(shù)語進行了更新或補充,使得定義更加清晰準確,便于理解和執(zhí)行。
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環(huán)境與安全要求:考慮到環(huán)境保護和操作人員安全,新版標準可能加入了關(guān)于檢測過程中輻射防護、廢棄物處理等方面的新規(guī)定。
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參考標準與國際接軌:2008版標準可能引用了更多的國際標準或先進國家的標準,以提升國內(nèi)檢測方法的國際化水平,增強檢測結(jié)果的國際認可度。
這些變化旨在提升貴金屬首飾含量測定的科學(xué)性、準確性及標準化水平,更好地服務(wù)于珠寶首飾行業(yè)的質(zhì)量控制和消費者權(quán)益保護。
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文檔簡介
犐犆犛39.060
犢88
中華人民共和國國家標準
犌犅/犜18043—2008
代替GB/T18043—2000
首飾貴金屬含量的測定
犡射線熒光光譜法
犑犲狑犲犾犾犲狉狔—犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狆狉犲犮犻狅狌狊犿犲狋犪犾犮狅狀狋犲狀狋—
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20081231發(fā)布20090701實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
書
犌犅/犜18043—2008
前言
本標準代替GB/T18043—2000《貴金屬首飾含量的無損檢驗方法X射線熒光光譜法》。
本標準與GB/T18043—2000的主要區(qū)別如下:
———標準名稱中去掉“無損”二字;
———根據(jù)國家標準制修訂情況,替換了相關(guān)引用標準;
———對儀器設(shè)備提出具體的技術(shù)要求;
———計算結(jié)果采用千分數(shù)表示,與GB11887的表示方法一致。
本標準由中國輕工業(yè)聯(lián)合會提出。
本標準由全國首飾標準化技術(shù)委員會(SAC/TC256)歸口。
本標準起草單位:國家首飾質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心。
本標準主要起草人:段體玉、李素青、李玉!、李武軍。
本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T18043—2000。
Ⅰ
書
犌犅/犜18043—2008
首飾貴金屬含量的測定
犡射線熒光光譜法
1范圍
本標準規(guī)定了應(yīng)用X射線熒光光譜測定首飾中貴金屬含量的方法及要求。
本標準僅適用于首飾及其他工藝品中貴金屬(金、銀、鉑、鈀)等含量的測定。本標準適用于委托檢
驗時需征得委托方及被委托方同意,適用于不包括生產(chǎn)質(zhì)量控制的生產(chǎn)企業(yè)內(nèi)部管理。監(jiān)督檢驗慎重
使用。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有
的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究
是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標準。
GB/T9288金合金首飾金含量的測定灰吹法(火試金法)(GB/T9288—2006,ISO11426:
1997,MOD)
GB/T17832銀合金首飾銀含量的測定溴化鉀容量法(電位滴定法)(GB/T17832—2008,
ISO11427:1993,MOD)
GB/T19720鉑合金首飾鉑、鈀含量的測定氯鉑酸銨重量法和丁二酮肟重量法
(GB/T19720—2005,ISO11210:1995,MOD)
GB/T21198.6貴金屬合金首飾中貴金屬含量的測定ICP光譜法第6部分:差減法
3方法原理
本方法的原理是貴金屬首飾表層經(jīng)X射線激發(fā),發(fā)射出特征X射線熒光光譜,測量特征譜線的能
量或波長,可進行定性分析,測量譜線強度,與標準物質(zhì)的工作曲線比較計算,即可進行定量分析。
4儀器和設(shè)備
4.1X射線熒光光譜分析儀:錳元素在5.89keV能量位置的峰,分辨率至少為200eV。
4.2金、銀、鉑、鈀等標準物質(zhì):須經(jīng)適當(dāng)方法準確定值,并可溯源。
5測試方法及要求
5.1儀器的校核
根據(jù)儀器的具體要求
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