GB/T 2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)

UDC621.3.001.4K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.25—92電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)BasicenvironmentaltestingproceduresforelectricandelectronicproductsTestZ/AM:combinedcold/lowairpressuretests1992-07-01發(fā)布1993-03-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)GB/T2423.25-92Basicenvironmentaltestingproceduresfor代替GB2423.25-81electricandelectronicproductsTestZ/AM：combinedcold/lowairpressuretests本標(biāo)準(zhǔn)參照采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-40(1976)，基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第二部分試驗(yàn)試驗(yàn)Z/AM低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》及其1983年的修改件.！主題內(nèi)客與適用范圍主題內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了散熱和非散熱試驗(yàn)樣品低溫（溫度新變和突變）和低氣壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)?zāi)康?、試?yàn)設(shè)備、嚴(yán)酷度等級(jí)和試驗(yàn)程序。1.2適用范圍1.2.1本本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的綜合試驗(yàn)通常只有在試驗(yàn)樣品進(jìn)行單一環(huán)境試驗(yàn)不能揭示綜合環(huán)境影響時(shí)使用。1.2.2本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)方法只適用于在試驗(yàn)期間能夠達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。1.2.3本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)方法一次只能試驗(yàn)一個(gè)散熱試驗(yàn)樣品，散熱試驗(yàn)樣品一般應(yīng)按GB2423.1的規(guī)定在無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱中進(jìn)行。1.2.4本標(biāo)準(zhǔn)僅適用于氣壓大于1kPa的壓力試驗(yàn)。1.2.5有關(guān)高度、壓力和溫度的關(guān)系見GB1920.1.2.6GB2423.1中有關(guān)非散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)和散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)應(yīng)用對(duì)比的指導(dǎo)也適用于本標(biāo)準(zhǔn)。注：非散熱試驗(yàn)樣品的定義按CB2422中的規(guī)定，不應(yīng)在低氣壓下測(cè)最其最熱點(diǎn)的溫度。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB1920《標(biāo)準(zhǔn)大氣（30公里以下）》GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程名詞術(shù)語(yǔ)GB2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N.溫度變化試驗(yàn)方法GB2424.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則GB2424.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程：溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則3試驗(yàn)?zāi)康暮鸵话阏f明3.1試驗(yàn)?zāi)康谋驹囼?yàn)的目的是確定元件、設(shè)備和其他