GB/T 2424.15-2008電工電子產品環(huán)境試驗溫度/低氣壓綜合試驗導則

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜２４２４．１５—２００８／犐犈犆６００６８３２：１９７６

代替ＧＢ／Ｔ２４２４．１５—１９９２

電工電子產品環(huán)境試驗

溫度／低氣壓綜合試驗導則

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（ＩＥＣ６００６８３２：１９７６，Ｂａｓｉｃｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌｔｅｓｔｉｎｇｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ—

Ｐａｒｔ３：Ｂａｃｋｇｒｏｕｎｄｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ—Ｓｅｃｔｉｏｎｔｗｏ—Ｃｏｍｂｉｎｅｄｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ／ｌｏｗ

ａｉｒｐｒｅｓｓｕｒｅｔｅｓｔｓ，ＩＤＴ）

２００８１２３０發(fā)布２００９１００１實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜２４２４．１５—２００８／犐犈犆６００６８３２：１９７６

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１范圍和規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２一般說明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３環(huán)境影響!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

４試驗設備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

５環(huán)境參數(shù)的測量!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

圖１氣壓和空氣流速對試驗樣品表面溫度的綜合影響!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

書

犌犅／犜２４２４．１５—２００８／犐犈犆６００６８３２：１９７６

前言

ＧＢ／Ｔ２４２４包含以下部分：

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１電工電子產品環(huán)境試驗高溫低溫試驗導則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２電工電子產品環(huán)境試驗濕熱試驗導則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．５電工電子產品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認

———ＧＢ／Ｔ２４２４．６電工電子產品環(huán)境試驗溫度／濕度試驗箱性能確認

———ＧＢ／Ｔ２４２４．７電工電子產品環(huán)境試驗試驗Ａ和Ｂ（帶負載）用溫度試驗箱的測量

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１０電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程大氣腐蝕加速試驗的通用導則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１３電工電子產品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法溫度變化試驗導則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１４電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法太陽輻射試驗導則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１５電工電子產品環(huán)境試驗第３部分：溫度／低氣壓綜合試驗導則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１７電工電子產品環(huán)境試驗錫焊試驗導則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１９電工電子產品環(huán)境試驗模擬貯存影響的環(huán)境試驗導則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２２電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動（正弦）綜合試

驗導則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２５電工電子產品環(huán)境試驗第３部分：試驗導則地震試驗方法

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２６電工電子產品環(huán)境試驗第３部分：支持文件和導則振動試驗選擇

本部分為ＧＢ／Ｔ２４２４的第１５部分。本部分等同采用ＩＥＣ６００６８３２：１９７６《基本環(huán)境試驗規(guī)程

第３部分：背景資料第２節(jié)：溫度／低氣壓綜合試驗》（英文版）。

根據(jù)ＧＢ／Ｔ１．１－２０００《標準化工作導則第１部分：標準的結構和編寫規(guī)則》要求，對編排格式進

下列編輯性修改：

———刪除國際標準的前言并新增國家標準的前言；

———增加了規(guī)范性引用文件；

———“本版”改成“本部分”；

———修改氣壓的單位ｍｂａｒ為ｋＰａ。

本部分代替ＧＢ／Ｔ２４２４．１５—１９９２《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度／低氣壓綜合試驗導

則》。

本部分與ＧＢ／Ｔ２４２４．１５—１９９２相比主要變化如下：

———調整了各章節(jié)結構使之與ＩＥＣ原文結構一致；

———修改３．１的標準條件（３５℃和１０１．３ｋＰａ）為（２５℃和１０１．３ｋＰａ）；

———粘度改成絕對粘度；

———刪除了“注：對于電工專業(yè)產品，尤其是電壓在１０００Ｖ以上的電工產品，其環(huán)境條件的修正系

數(shù)應按有關標準規(guī)定?！保ǎ保梗梗材臧娴模矗保玻?。

本部分由全國電工電子產品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準技術化委員會（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分起草單位：廣州電器科學研究院、廣州威凱檢測技術研究所、重慶四達試驗設備有限公司。

本部分主要起草人：劉功桂、肖立、陳云生。

本部分所替代標準的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１５—１９８１、ＧＢ／Ｔ２４２４．１５—１９９２。

Ⅰ

犌犅／犜２４２４．１５—２００８／犐犈犆６００６８３２：１９７６

電工電子產品環(huán)境試驗

溫度／低氣壓綜合試驗導則

１范圍和規(guī)范性引用文件

１．１范圍

ＧＢ／Ｔ２４２４的本部分規(guī)定的溫度／低氣壓綜合試驗，涉及地面或空中應用的一系列氣壓。

本部分不適用于氣壓小于１ｋＰａ的試驗。

１．２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ２４２４的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議

的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

ＧＢ／Ｔ２４２４．１—２００５電工電子產品環(huán)境試驗高溫低溫試驗導則（ＩＥＣ６００６８３１：１９７４，ＩＤＴ）

２一般說明

在本部分規(guī)定的空氣密度范圍內，空氣分子的平均自由程始終為零點幾毫米，因而空氣的導熱性和

絕對粘度均與氣壓無關?？諝饬饕话銓儆跍餍突蛲牧餍?，服從常壓下的各種規(guī)律。

自由空氣對流和強迫空氣對流這二種傳熱基本規(guī)律與在正常大氣壓力下時相同。因此，

ＧＢ／Ｔ２４２４．１中有關對流方面的要求也適用于低氣壓綜合試驗（至少通常情況下適用）。