GB/T 24365-2009通信用光電探測器組件測試方法

犐犆犛３３．１８０．０１

犕３３

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２４３６５—２００９

通信用光電探測器組件測試方法

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２００９０９３０發(fā)布２００９１２０１實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書

犌犅／犜２４３６５—２００９

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語和定義、縮略語!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４測試方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４．１測試環(huán)境要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４．２測試儀器設(shè)備要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４．３測試方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

附錄Ａ（資料性附錄）參考曲線圖!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!９

Ａ．１光譜響應(yīng)范圍曲線圖!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!９

Ａ．２光電倍增因子曲線圖!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!９

Ⅰ

書

犌犅／犜２４３６５—２００９

前言

《通信用光電探測器組件》系列標(biāo)準(zhǔn)包括：

———《通信用光電探測器組件測試方法》；

———《通信用光電探測器組件技術(shù)要求》。

本標(biāo)準(zhǔn)與ＧＢ／Ｔ２４３６６《通信用光電探測器組件技術(shù)要求》配套使用。

本標(biāo)準(zhǔn)在編制過程中，主要參照ＩＥＣ６２００７２《用于纖維光學(xué)系統(tǒng)的半導(dǎo)體光電子器件第２部分：

測試方法》。

本標(biāo)準(zhǔn)在起草過程中，注意到與下列標(biāo)準(zhǔn)的協(xié)調(diào)一致：

———ＧＢ／Ｔ１５６５１—１９９５《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第５部分：光電子器件》；

———ＧＢ／Ｔ１５６５１．３—２００３《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第５３部分：光電子器件測試方法》。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄Ａ為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國通信標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：深圳新飛通光電子技術(shù)有限公司、武漢郵電科學(xué)研究院。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：李春芳、梁澤、鐘迪新、鎮(zhèn)磊、鄧紅兵、苗玉柱、楊現(xiàn)文。

Ⅲ

犌犅／犜２４３６５—２００９

通信用光電探測器組件測試方法

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通信用光電探測器組件相關(guān)參數(shù)的測試方法，包括光學(xué)參數(shù)、電參數(shù)。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于通信用光電探測器組件。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ２４３６６—２００９通信用光電探測器組件技術(shù)要求

３術(shù)語和定義、縮略語

ＧＢ／Ｔ２４３６６—２００９確立的術(shù)語和定義、縮略語適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

４測試方法

４．１測試環(huán)境要求

溫度：１５℃～３５℃

相對濕度：４５％～７５％

大氣壓力：８６ｋＰａ～１０６ｋＰａ

當(dāng)不能在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下進(jìn)行測試時(shí)，應(yīng)在測試報(bào)告上寫明測試環(huán)境條件。

４．２測試儀器設(shè)備要求

各類測試儀器設(shè)備，應(yīng)在規(guī)定的有效期范圍內(nèi)，測試精度應(yīng)高于所測參數(shù)精度的一個(gè)數(shù)量級(jí)。

４．３測試方法

４．３．１光響應(yīng)波長的測試

４．３．１．１測試框圖

測試框圖見圖１。

圖１光響應(yīng)波長測試框圖

４．３．１．２測試步驟

ａ）被測探測器加上規(guī)定的工作電壓；

ｂ）將不同波長、相同功率的單色光送入被測探測器，被測探測器輸出信號(hào)送入掃描儀；

ｃ）掃