標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 37665-2019 古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè) PIXE分析技術(shù)規(guī)范》是針對(duì)使用粒子誘發(fā)X射線發(fā)射光譜(PIXE)技術(shù)對(duì)古陶瓷進(jìn)行非破壞性化學(xué)成分分析而制定的標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)旨在提供一種科學(xué)、準(zhǔn)確的方法來確定古陶瓷樣品中的元素組成及其含量,從而為文物鑒定、考古研究等領(lǐng)域提供技術(shù)支持。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的古陶瓷材料,通過PIXE方法能夠檢測(cè)出樣品表面微區(qū)內(nèi)的多種元素信息,包括但不限于硅、鋁、鐵等主要構(gòu)成元素以及微量元素。它規(guī)定了從樣品準(zhǔn)備到數(shù)據(jù)分析整個(gè)過程的操作步驟和技術(shù)要求,確保不同實(shí)驗(yàn)室之間數(shù)據(jù)的一致性和可比性。
對(duì)于樣品制備部分,標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)調(diào)了選取代表性區(qū)域的重要性,并給出了如何清潔處理待測(cè)部位的具體指導(dǎo);在實(shí)驗(yàn)條件設(shè)置方面,則詳細(xì)描述了加速器參數(shù)選擇、束流強(qiáng)度控制等內(nèi)容;至于數(shù)據(jù)采集與處理環(huán)節(jié),明確了譜圖背景扣除、峰識(shí)別及定量計(jì)算的原則和方法。
此外,《GB/T 37665-2019》還特別關(guān)注了安全防護(hù)措施,提醒操作人員注意輻射防護(hù)和個(gè)人健康保護(hù)。同時(shí),為了保證測(cè)試結(jié)果的有效性和可靠性,標(biāo)準(zhǔn)也提出了質(zhì)量控制的要求,比如定期校準(zhǔn)儀器、采用標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)驗(yàn)證系統(tǒng)性能等。
此標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布實(shí)施有助于提高我國(guó)在文化遺產(chǎn)保護(hù)領(lǐng)域利用現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)手段的能力水平,促進(jìn)相關(guān)學(xué)科的發(fā)展進(jìn)步。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2019-06-04 頒布
- 2019-06-04 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
ICS0308099
A10..
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T37665—2019
古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè)
PIXE分析技術(shù)規(guī)范
Non-destructivetestingforchemicalcompositionsofancientceramics—
PIXEanalysistechniquestandards
2019-06-04發(fā)布2019-06-04實(shí)施
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T37665—2019
目次
前言
…………………………Ⅲ
范圍
1………………………1
原理
2………………………1
設(shè)備
3………………………1
樣品處理
4…………………1
測(cè)量及分析
5………………2
測(cè)試報(bào)告
6…………………3
附錄資料性附錄古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè)分析測(cè)試報(bào)告
A()PIXE………………4
Ⅰ
GB/T37665—2019
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)家文物局提出
。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)文物保護(hù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC289)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位復(fù)旦大學(xué)
:。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人承煥生張斌
:、。
Ⅲ
GB/T37665—2019
古陶瓷化學(xué)組成無(wú)損檢測(cè)
PIXE分析技術(shù)規(guī)范
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了古陶瓷化學(xué)元素組成無(wú)損檢測(cè)實(shí)驗(yàn)過程中質(zhì)子激發(fā)射線熒光分析技術(shù)的
X(PIXE)
要求
。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于古陶瓷化學(xué)元素組成的無(wú)損檢測(cè)
。
2原理
用經(jīng)加速器加速后的質(zhì)子束轟擊樣品使待測(cè)物質(zhì)中原子受激電離當(dāng)所形成的內(nèi)殼層空穴為外
,、,
層電子填充時(shí)發(fā)射特征射線通過探測(cè)特征射線的能量與強(qiáng)度來確定樣品中元素的種類和
,X,X,
含量
。
3設(shè)備
31加速器
.
能提供準(zhǔn)直質(zhì)子束的加速器例如單級(jí)靜電加速器或串列加速器
1.5MeV~4.0MeV,:。
32樣品臺(tái)
.
應(yīng)設(shè)置一個(gè)樣品的定位裝置樣品臺(tái)樣品臺(tái)可分為以下兩種方式
“”———。:
封閉式采用一定體積的真空靶室待檢測(cè)樣品置于靶室內(nèi)樣品大小受靶室?guī)缀纬叽缦拗?/p>
———:,,;
開放式采用外束測(cè)試待測(cè)樣品置于質(zhì)子束的引出端例如經(jīng)加速器獲得的準(zhǔn)直質(zhì)子束穿
———:,。:
越的膜引入大氣繼續(xù)穿越空氣層而到達(dá)待測(cè)樣品該方式的優(yōu)點(diǎn)是待測(cè)樣
7.5μmKapton,。
品的幾何尺寸可不受限制更換樣品比較方便
,。
33X射線測(cè)量系統(tǒng)
.
在測(cè)量系統(tǒng)中探測(cè)器對(duì)的的射線能量分辨率應(yīng)小于以保證探
PIXE,Mn5.894keVKα,150eV,
測(cè)精確度探測(cè)器的鈹窗厚度應(yīng)選擇以保證探測(cè)器對(duì)的能量為的
。7.5μm~12μm,Na1.041keVKα
射線有足夠的探測(cè)效率
。
采用封閉式靶室時(shí)應(yīng)抽真空進(jìn)行測(cè)試真空度應(yīng)在-4以下
,,10Pa。
采用外束方法時(shí)應(yīng)在樣品靶點(diǎn)與探測(cè)器窗之間充以氦氣以減少空氣對(duì)樣品發(fā)射的低能
PIXE,,X
射線的吸收否則測(cè)試系統(tǒng)對(duì)元素和探測(cè)將不靈敏或測(cè)量誤差過大
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