GB/T 41270.7-2022航空電子過程管理大氣輻射影響第7部分：航空電子產(chǎn)品設(shè)計中單粒子效應分析過程管理

ICS49020

CCSV.25

中華人民共和國國家標準

GB/T412707—2022

.

航空電子過程管理大氣輻射影響

第7部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計中

:

單粒子效應分析過程管理

Processmanagementforavionics—Atmosphericradiationeffects—

Part7ManaementofsinleeventeffectsSEEanalsisrocessin

:gg()yp

avionicsdesign

IEC/TR62396-72017MOD

(:,)

2022-03-09發(fā)布2022-10-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T412707—2022

.

目次

前言

…………………………Ⅰ

引言

…………………………Ⅱ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語定義和縮略語

3、………………………1

術(shù)語和定義

3.1…………………………1

縮略語

3.2………………1

輻射分析過程

4……………2

總則

4.1…………………2

分析的輸入

4.2SEE……………………3

電子器件敏感性評估

4.3SEE…………3

電子產(chǎn)品影響的識別和減緩措施

4.4SEE……………3

率計算及風險分析

4.5SEE……………4

輻射試驗

4.6……………5

設(shè)計更改

4.7……………5

影響評估

4.8SEE………………………5

影響分析

4.9SEE………………………5

持續(xù)器件管理

4.10………………………6

附錄資料性本文件與技術(shù)差異及其原因

A()IEC/TR62396-7:2017………………7

附錄資料性影響分析過程

B()SEE……………………8

附錄資料性電子器件的影響評估表

C()SEE…………9

參考文獻

……………………11

GB/T412707—2022

.

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是航空電子過程管理大氣輻射影響的第部分已經(jīng)發(fā)布

GB/T41270《》7。GB/T41270

了以下部分

:

第部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計中單粒子效應分析過程管理

———7:;

第部分航空電子設(shè)備單粒子效應故障率計算程序與方法

———9:。

本文件修改采用航空電子過程管理大氣輻射影響第部分航空電子

IEC/TR62396-7:2017《7:

產(chǎn)品設(shè)計中單粒子效應分析過程管理文件類型由的技術(shù)報告調(diào)整為我國的國家標準

》。IEC。

本文件與相比做了下述結(jié)構(gòu)調(diào)整

IEC/TR62396-7:2017:

將附錄調(diào)整為附錄

———AB;

將附錄調(diào)整為附錄

———BC。

本文件與相比存在較多技術(shù)差異在所涉及的條款的外側(cè)頁邊空白位置

IEC/TR62396-7:2017,,

用垂直單線進行了標示這些技術(shù)差異及其原因一覽表見附錄

(︱)。A。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任

。。

本文件由全國航空電子過程管理標準化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC427)。

本文件起草單位中國航空綜合技術(shù)研究所中國航空工業(yè)集團公司雷華電子技術(shù)研究所哈爾濱

:、、

工業(yè)大學中國電子科技集團第五十八研究所中國航空工業(yè)集團公司洛陽電光設(shè)備研究所

、、。

本文件主要起草人邵文韜張曉蕾史維佳許峰庫亮張崇關(guān)呂冰喻爭呼謝洋王曉煒

:、、、、、、、、、、

劉站平

。

Ⅰ

GB/T412707—2022

.

引言

大氣層內(nèi)工作的航空電子設(shè)備其關(guān)鍵器件在遭受大氣中子輻射下會產(chǎn)生多種單粒子效應傳遞至

,,

航空電子設(shè)備會產(chǎn)生單粒子效應軟故障和或硬故障會影響飛機的安全性考慮到只有設(shè)備級

,/,。SEE

故障率才參與系統(tǒng)級飛機級的安全分析過程因此在飛機安全性評估過程中需要提供設(shè)備級的

、。,

故障率及其計算方法與程序為航空電子設(shè)備安全性分析提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)

SEE,。

大氣輻射影響航空電子系統(tǒng)單粒子效應試驗指南和

GB/T34955—2017《》GB/T34956—2017

大氣輻射影響航空電子設(shè)備單粒子效應防護設(shè)計指南共同構(gòu)成航空電子產(chǎn)品開展單粒子效應設(shè)計

《》

與分析的基礎(chǔ)技術(shù)標準

。

規(guī)定了大氣中子單粒子效應分析試驗評價方法與程序擬由兩個部分構(gòu)成

GB/T41270、、,。

第部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計中單粒子效應分析過程管理目的在于規(guī)定航空電子產(chǎn)品設(shè)計

———7:。

中電子元器件單粒子效應分析的方法和程序

。

第部分航空電子設(shè)備單粒子效應故障率計算程序與方法目的在于規(guī)定航空電子設(shè)備單

———9:。

粒子效應故障率通用總故障率軟故障率硬故障率計算方法與計算程序

、、、。

Ⅱ

GB/T412707—2022

.

航空電子過程管理大氣輻射影響

第7部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計中

:

單粒子效應分析過程管理

1范圍

本文件規(guī)定了航空電子產(chǎn)品設(shè)計中電子元器件單粒子效應分析的方法和程序

。

本文件適用于依據(jù)航空電子產(chǎn)品單粒子效應分析而制定電子元器件管理計劃為改善航空電子產(chǎn)

,

品單粒子效應影響提供減緩和保護措施

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

大氣輻射影響航空電子設(shè)備單粒子效應防護設(shè)計指南

GB/T34956—2017(IEC62396-1:

2016,IDT)

3術(shù)語定義和縮略語

、

31術(shù)語和定義

.

界定的術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T34956—2017。

32縮略語

.

下列縮略語適用于本文件

。

自測試

BIT:(built-intest)

物料清單

BOM:(billofmaterial)

循環(huán)冗贅核對循環(huán)冗余校驗

CRC:(