標(biāo)準解讀
《YS/T 585-2013 銅及銅合金板材超聲波探傷方法》與《YS/T 585-2006 銅及銅合金板材超聲波探傷方法》相比,在多個方面進行了修訂和完善。具體變更包括但不限于以下幾個方面:
首先,新版標(biāo)準對術(shù)語和定義部分做了更新,增加了部分專業(yè)術(shù)語的解釋,并對已有術(shù)語進行了更加精確的界定,確保了行業(yè)內(nèi)對于相關(guān)概念理解的一致性。
其次,在檢測設(shè)備要求上,《YS/T 585-2013》細化了超聲波探傷儀的技術(shù)參數(shù)要求,比如頻率范圍、靈敏度等,同時新增了關(guān)于探頭選擇的具體指導(dǎo)原則,這有助于提高檢測結(jié)果的準確性和可靠性。
再者,針對實際操作流程,《YS/T 585-2013》提供了更為詳盡的操作指南,包括如何準備試樣、設(shè)定儀器參數(shù)、執(zhí)行掃描以及記錄數(shù)據(jù)等步驟。此外,還強調(diào)了安全注意事項,旨在保障操作人員的安全。
另外,新版本加強了對缺陷評定標(biāo)準的規(guī)定,明確了不同類型缺陷(如裂紋、夾雜等)的識別依據(jù)及其允許的最大尺寸限制,這對于保證產(chǎn)品質(zhì)量具有重要意義。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2013-04-25 頒布
- 2013-09-01 實施



文檔簡介
ICS7704020
H26..
中華人民共和國有色金屬行業(yè)標(biāo)準
YS/T585—2013
代替
YS/T585—2006
銅及銅合金板材超聲波探傷方法
Methodofultrasonicinspectionforcopperandcopperalloysplates
2013-04-25發(fā)布2013-09-01實施
中華人民共和國工業(yè)和信息化部發(fā)布
YS/T585—2013
前言
本標(biāo)準按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準代替銅及銅合金板材超聲波探傷方法本標(biāo)準與相
YS/T585—2006《》。YS/T585—2006
比主要變化如下
:
擴大了銅及銅合金板材的探傷范圍由原標(biāo)準的板材厚度為擴大為厚度為
———,“6mm~70mm”“
的銅板及厚度為的銅合金板材
6mm~150mm6mm~200mm”。
增加了單個缺陷連續(xù)缺陷密集性缺陷和由缺陷引起的底波降低量等術(shù)語和定義
———“、、”。
增加了超聲波探傷的頻率范圍由原標(biāo)準的改為
———,“1.25MHz~5.0MHz”“0.5MHz~
5.0MHz”。
刪除雙晶直探頭的性能要求一條
———“”。
將雙晶直探頭用階梯平板對比試塊改為用平底孔對比試塊
———。
對雙晶直探頭和單晶直探頭的探傷靈敏度進行了的修改由原標(biāo)準的Φ平底孔當(dāng)量改
———,4mm
為Φ平底孔當(dāng)量
2mm。
對缺陷的分類和分級進行了修改以滿足不同用戶的使用要求
———,。
對原標(biāo)準中的個別條款進行了適當(dāng)補充和完善
———。
本標(biāo)準由全國有色金屬標(biāo)準化技術(shù)委員會歸口
(SAC/TC243)。
本標(biāo)準負責(zé)起草單位中鋁洛陽銅業(yè)有限公司中國有色金屬工業(yè)無損檢測中心寧波興業(yè)盛泰集
:、、
團有限公司
。
本標(biāo)準主要起草人李湘海婁東閣張光濟馬萬軍韋紹林苑和峰王楠張文光
:、、、、、、、。
本標(biāo)準所代替標(biāo)準的歷次版本發(fā)布情況為
:
———YS/T585—2006。
Ⅰ
YS/T585—2013
銅及銅合金板材超聲波探傷方法
1范圍
本標(biāo)準規(guī)定了用型超聲波脈沖反射式接觸法手工檢測銅及銅合金板材的探傷方法內(nèi)容包括
A。
原理一般要求探傷裝置探傷方法缺陷的確定和分級探傷報告等
、、、、、。
本標(biāo)準適用于厚度為的銅板以及厚度為的銅合金板材的超聲波
6mm~150mm6mm~200mm
探傷
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
無損檢測人員資格鑒定與認證
GB/T9445
型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件
JB/T10061A
超聲探傷用探頭性能測試方法
JB/T10062
3術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于本文件
。
31
.
單個缺陷singleflaw
按法測定缺陷指示長度當(dāng)探頭中心移動距離小于所用探頭晶片直徑時稱為單個缺陷
6dB,,。
32
.
連續(xù)缺陷continuousflaws
按法測定缺陷指示長度當(dāng)探頭中心移動距離大于所用探頭晶片直徑均能測出缺陷時或相
6dB,,
鄰缺陷間距小于所用探頭晶片直徑時稱為連續(xù)缺陷
。
33
.
密集性缺陷aclusterofflaws
在熒光屏掃描線相當(dāng)于聲程范圍內(nèi)同時有個或個以上的缺陷反射信號或是在
50mm55;50mm
的檢測面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有個或個以上的缺陷反射信號其反射波幅均大于
×50mm55。
Φ平底孔當(dāng)量的反射波幅
2mm。
34
.
由缺陷引起的底波降低量lossofbackreflectioncausedbyflaws
BGBF
/
在靠近缺陷處的無缺陷完好區(qū)域內(nèi)第一次底波幅度與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底波幅度之
(BG)(BF)
比單位為分貝
。(dB)。
4方法原理
溫馨提示
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