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GB/T 5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備_第1頁
GB/T 5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備_第2頁
GB/T 5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備_第3頁
GB/T 5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備_第4頁
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文檔簡介

ICS19.040K04中華人民共和國國家標準GB/T5170.17-2005代替GB/T5170.17-—1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備Inspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Combinedsequentialcoldlowairpressureanddampheattestingequipments2005-08-26發(fā)布2006-04-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會

GB/T5170.17-2005次前言范圍2規(guī)范性引用文件3檢定項目4檢定用主要儀器及要求5檢定條件6測量點數(shù)量及位置7檢定步·……………….8數(shù)據(jù)處理與檢定結果附錄A(規(guī)范性附錄)溫度波動度、溫度均勻度檢定方法A.1檢定步驃·………A.2數(shù)據(jù)處理與計算附錄B(規(guī)范性附錄)干濕表法測量相對濕度·B.1干濕表法測量相對濕度的方法B.2風速的測量

GB/T5170.17-2005本部分是GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法》的第17部分本部分代替GB/T5170.17—1987。與GB/T5170.17—1987比較技術內(nèi)容主要有如下變化明確本部分適用于環(huán)境試驗設備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式檢驗、出廠檢驗等:增加了“規(guī)范性引用文件”一章;在“檢定用主要儀器及要求"一章中.給出了儀器的擴展不確定度(=2)的要求;增加了“檢定條件”一章;對于溫度測量點數(shù)量.設備的工作空間容積由“以1m2分界"改為"以2m2分界”.對于"大于2m的設備".溫度和風速的測量點由21點減少為15點;在“數(shù)據(jù)處理與檢定結果"中,給出了“溫度偏差、降溫速率、氣壓偏差、氣壓變化速率、風速”的計算公式:在溫度與氣壓綜合檢定時,如果低氣壓值低于10kPa.則“溫度偏差"允許適當放寬;增加了“環(huán)境參數(shù)場的調整”和“試驗設備儀表修正值的范圍”.并且對限用的范圍給予了必要的說明:本部分的附錄中給出“溫度波動度、溫度均勻度的檢定方法和計算公式”及“干濕表法測量相對濕度”:h)刪除了記錄表格。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術標準化技術委員會歸口本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所本部分主要起草人:謝晨浩、賴文光。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況-GB/T5170.17-1987。

GB/T5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備范圍1.1本部分規(guī)定了低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及布放位置、檢定步霖、數(shù)據(jù)處理及檢定結果等內(nèi)容。1.2本部分適用于對GB/T2423.27-—2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD:低溫低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法》所用試驗設備的周期檢定本部分也適用于類似試驗設備的周期檢定規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T2423.27—2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:低溫低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(IEC60068-2-39:1976.IDT)GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T6999環(huán)境試驗用相對濕度查算表檢定項目本部分規(guī)定的檢定項目如下:降溫速率與溫度偏差;降壓速率;溫度偏差和氣壓偏差綜合檢定:升溫時間、升壓時間和加濕時間:溫度與相對濕度:風速4檢定用主要儀器及要求41溫度測量儀器采用由鉑電阻、熱電偶或其他溫度傳感器組成的溫度測量系統(tǒng)。溫度測最系統(tǒng)的擴展不確定度(A=2)不大于0.4C:傳感器的熱時間常數(shù):20s~40。4.2低氣壓測量儀器采用擴展不確定度(人=

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