GB/T 12085.11-2022光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第11部分：長霉

ICS37020

CCSN.30

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T1208511—2022

.

代替GB/T1208511—2010

.

光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法

第11部分長霉

:

Opticsandphotonics—Environmentaltestmethods—

Part11Mouldrowth

:g

ISO9022-112015MOD

(:,)

2022-10-12發(fā)布2023-05-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T1208511—2022

.

目次

前言

…………………………Ⅰ

引言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

試驗(yàn)條件

4…………………1

條件試驗(yàn)

5…………………4

試驗(yàn)程序

6…………………5

環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記

7……………6

規(guī)范

8………………………6

附錄資料性霉菌及殺菌劑的選用

A()…………………7

參考文獻(xiàn)

………………………9

GB/T1208511—2022

.

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法的第部分已經(jīng)發(fā)布了以

GB/T12085《》11。GB/T12085

下部分

:

第部分術(shù)語試驗(yàn)范圍

———1:、;

第部分低溫高溫濕熱

———2:、、;

第部分機(jī)械作用力

———3:;

第部分鹽霧

———4:;

第部分砂塵

———6:;

第部分滴水淋雨

———7:、;

第部分高內(nèi)壓低內(nèi)壓浸沒

———8:、、;

第部分太陽輻射與風(fēng)化

———9:;

第部分長霉

———11:;

第部分污染

———12:;

第部分露霜冰

———14:、、;

第部分污染太陽輻射綜合試驗(yàn)

———17:、;

第部分含二氧化硫硫化氫的濕空氣

———20:、;

第部分低溫高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)

———22:、;

第部分低壓與低溫大氣溫度高溫或濕熱綜合試驗(yàn)

———23:、、。

本文件代替光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第部分長霉與

GB/T12085.11—2010《11:》。

相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外主要技術(shù)變化如下

GB/T12085.11—2010,,:

將全文中的光學(xué)儀器更改為光學(xué)和光子學(xué)儀器

———“”“”;

更改了范圍的適用界限見第章年版的第章

———“”(1,20101);

更改了環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記內(nèi)容見第章年版的第章

———(7,20106)。

本文件修改采用光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第部分長霉

ISO9022-11:2015《11:》。

本文件與相比做了下述結(jié)構(gòu)調(diào)整

ISO9022-11:2015:

增加了術(shù)語和定義一章

———“”;

和對應(yīng)了中的

———4.3.14.3.2ISO9022-11:20153.3。

本文件與的技術(shù)差異及其原因如下

ISO9022-11:2015:

將全文中的光學(xué)儀器更改為光學(xué)和光子學(xué)儀器以符合光學(xué)行業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域的要求

———“”“”,;

用規(guī)范性引用的替換了見第章以適應(yīng)我國的技術(shù)條件

———GB/T12085.1ISO9022-1(6.1、7),,

提高可操作性

。

本文件做了下列編輯性改動(dòng)

:

第章中用資料性引用的所有部分替換了

———7GB/T12085()ISO9022。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任

。。

本文件由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出

。

本文件由全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC103)。

本文件起草單位南京東利來光電實(shí)業(yè)有限責(zé)任公司天津航天瑞萊科技有限公司廣州粵顯光學(xué)

:、、

Ⅰ

GB/T1208511—2022

.

儀器有限責(zé)任公司上海理工大學(xué)上海雄博精密儀器股份有限公司寧波湛京光學(xué)儀器有限公司

、、、、

蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司梧州奧卡光學(xué)儀器有限公司麥克奧迪實(shí)業(yè)集團(tuán)有限公司上海唯視銳光

、、、

電技術(shù)有限公司寧波市教學(xué)儀器有限公司寧波舜宇儀器有限公司寧波永新光學(xué)股份有限公司南京

、、、、

江南永新光學(xué)有限公司上海千欣儀器有限公司上海光學(xué)儀器研究所寧波華光精密儀器有限公司

、、、。

本文件主要起草人洪宜萍李星李彌高張薇姜冠祥干林超韓森張韜楊澤聲王蔚生

:、、、、、、、、、、

王國瑞胡森虎崔志英姚晨華越馮瓊輝孔燕波

、、、、、、。

本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為

:

年首次發(fā)布為年第一次修訂

———1989GB12085.11—1989,2010;

本次為第二次修訂

———。

Ⅱ

GB/T1208511—2022

.

引言

光學(xué)和光子學(xué)儀器廣泛應(yīng)用于國民經(jīng)濟(jì)及國際科技各個(gè)領(lǐng)域由于其使用及運(yùn)輸環(huán)境條件非常復(fù)

,

雜有來自物理的化學(xué)的生物的氣候的以及電氣的等各種環(huán)境條件的影響都會(huì)使光學(xué)和光子學(xué)儀

,、、、,

器的性能發(fā)生變化而不能正常發(fā)揮功能

。

鑒于上述原因?yàn)榱吮ＷC光學(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品的質(zhì)量需要模擬各種復(fù)雜的環(huán)境條件變化對光

,,,

學(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品進(jìn)行試驗(yàn)考核其經(jīng)受嚴(yán)酷環(huán)境條件的能力因而包含了試驗(yàn)條件

,,GB/T12085、

條件試驗(yàn)試驗(yàn)程序環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記等條款同時(shí)由于環(huán)境條件內(nèi)容較多且分屬不同的類型為了便于

、、。,

標(biāo)準(zhǔn)的貫徹根據(jù)環(huán)境條件的類型擬分為個(gè)部分

,GB/T1208515。

第部分術(shù)語試驗(yàn)范圍目的在于統(tǒng)一環(huán)境試驗(yàn)方法的術(shù)語和定義試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)

———1:、。、

標(biāo)記

。

第部分低溫高溫濕熱目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電

———2:、、。、、、()

等特性受到溫度和濕度影響的變化程度

。

第部分機(jī)械作用力目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特

———3:。、、、()

性在受到機(jī)械作用力影響的變化程度

。

第部分鹽霧目的在于對儀器表面和保護(hù)涂鍍層抵抗鹽霧的能力進(jìn)行評估

———4:。()。

第部分砂塵目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特性受到

———6:。、、、()

砂塵影響的變化程度

。

第部分滴水淋雨目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特性

———7:、。、、、()

受到滴水淋雨影響的變化程度

、。

第部分高內(nèi)壓低內(nèi)壓浸沒目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜

———8:、、。、、、(

電等特性受到環(huán)境氣體高壓低壓或浸沒影響的變化程度

)、。

第部分太陽輻射與風(fēng)化目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電

———9:。、、、()

等特性受到太陽輻射或風(fēng)能太陽照射濕熱影響的變化程度

(、)。

第部分長霉目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特性受到

———11:。、、、()

長霉的影響程度以及評估霉菌代謝產(chǎn)物比如酶或酸性物質(zhì)導(dǎo)致對零件的腐蝕程度或引起

,()

線路板的短路等嚴(yán)重程度

。

第部分污染目的在于研究儀器尤其是儀器的表面涂層或合成材料短時(shí)間內(nèi)暴露在

———12:。,、

試劑中的抵抗能力

。

第部分露霜冰目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特性

———14:、、。、、、()

受露霜冰的影響的程度

、、。

第部分污染太陽輻射綜合試驗(yàn)?zāi)康脑谟谘芯績x器尤其是儀器的表面涂層或合成材

———17:、。,、

料短時(shí)間內(nèi)受試劑腐蝕及太陽輻射的抵御能力

。

第部分含二氧化硫硫化氫的濕空氣目的在于研究試樣的光學(xué)氣候機(jī)械化學(xué)和電

———20:、。、、、

氣包括靜電等特性受二氧化硫或硫化氫的影響

()。

第部分低溫高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)?zāi)康脑谟谘芯吭嚇拥墓鈱W(xué)

———22:、。、

氣候機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等特性受到綜合低溫高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)

、、()、

的影響的變化程度

。

第部分低壓與低溫大氣溫度高溫或濕熱綜合試驗(yàn)?zāi)康脑谟谘芯吭嚇拥墓鈱W(xué)氣候

———23:、、。、、

機(jī)械化學(xué)和電氣包括靜電等性能特性受到綜合低壓和低溫常溫或高溫的影響程度

、()、。

Ⅲ

GB/T1208511—2022

.

光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法

第11部分長霉

:

1范圍

本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)長霉試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)方法

。

本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器包括來自其他領(lǐng)域的組件如機(jī)械化學(xué)和電子設(shè)備的長霉

,(、)

試驗(yàn)

。

本文件不適用于常規(guī)生產(chǎn)檢查

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款