標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 33523.603-2022 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 表面結(jié)構(gòu) 區(qū)域法 第603部分:非接觸(相移干涉顯微)式儀器的標(biāo)稱特性》這一標(biāo)準(zhǔn)主要針對(duì)使用非接觸方式,特別是相移干涉顯微技術(shù)進(jìn)行表面結(jié)構(gòu)測(cè)量時(shí)所使用的儀器提出了具體的要求。該文件詳細(xì)定義了這類設(shè)備應(yīng)具備的基本性能參數(shù)及其測(cè)試方法,旨在為制造、校準(zhǔn)及用戶之間提供一個(gè)統(tǒng)一的技術(shù)交流平臺(tái)。
標(biāo)準(zhǔn)中明確了相移干涉顯微鏡的關(guān)鍵指標(biāo),包括但不限于分辨率、重復(fù)性誤差、線性度等,并給出了相應(yīng)的評(píng)估程序。此外,還規(guī)定了如何通過特定樣本或已知特性的材料來驗(yàn)證這些關(guān)鍵性能是否符合要求的方法。對(duì)于不同應(yīng)用場(chǎng)景下可能遇到的各種復(fù)雜表面特征(如粗糙度、波紋度),該標(biāo)準(zhǔn)也提供了處理建議和技術(shù)指導(dǎo)。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于研發(fā)機(jī)構(gòu)、生產(chǎn)企業(yè)以及任何需要利用相移干涉顯微技術(shù)對(duì)物體表面形貌進(jìn)行精確測(cè)量和分析的場(chǎng)合。它不僅有助于提高相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)產(chǎn)品質(zhì)量控制水平,同時(shí)也促進(jìn)了國(guó)際間在精密測(cè)量技術(shù)方面的交流合作。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2022-12-30 頒布
- 2023-04-01 實(shí)施
![GB/T 33523.603-2022產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法第603部分:非接觸(相移干涉顯微)式儀器的標(biāo)稱特性_第1頁(yè)](http://file4.renrendoc.com/view/1d6f3a348474c4b6f9cdfc491f81aa48/1d6f3a348474c4b6f9cdfc491f81aa481.gif)
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文檔簡(jiǎn)介
ICS1704020
CCSJ0.4.
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T33523603—2022/ISO25178-6032013
.:
產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范GPS
()
表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法
第603部分非接觸相移干涉顯微式
:()
儀器的標(biāo)稱特性
GeometricalroductsecificationsGPS—SurfacetextureAreal—
pp():
Part603Nominalcharacteristicsofnon-contacthase-shiftininterferometric
:(pg
microscoinstruments
py)
ISO25178-6032013IDT
(:,)
2022-12-30發(fā)布2023-04-01實(shí)施
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T33523603—2022/ISO25178-6032013
.:
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語(yǔ)和定義
3………………1
影響量的描述
4……………11
附錄資料性相移干涉顯微鏡的組件
A()(PSI)………14
附錄資料性相移干涉顯微鏡的工作原理
B()(PSI)…………………15
附錄資料性相移干涉顯微鏡的誤差和修正
C()(PSI)………………18
附錄資料性與矩陣模型的關(guān)系
D()GPS……………21
參考文獻(xiàn)
……………………22
Ⅰ
GB/T33523603—2022/ISO25178-6032013
.:
前言
本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件是產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法的第部分
GB/T33523《(GPS)》603。GB/T33523
已經(jīng)發(fā)布了以下部分
:
第部分表面結(jié)構(gòu)的表示法
———1:;
第部分術(shù)語(yǔ)定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)
———2:、;
第部分規(guī)范操作集
———3:;
第部分表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類
———6:;
第部分實(shí)物測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
———70:;
第部分軟件測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
———71:;
第部分文件格式
———72:XMLx3p;
第部分接觸觸針式儀器的標(biāo)稱特性
———601:();
第部分非接觸共聚焦色差探針式儀器的標(biāo)稱特性
———602:();
第部分非接觸相移干涉顯微式儀器的標(biāo)稱特性
———603:();
第部分非接觸相干掃描干涉式儀器的標(biāo)稱特性
———604:();
第部分非接觸點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探針式儀器的標(biāo)稱特性
———605:();
第部分非接觸變焦式儀器的標(biāo)稱特性
———606:();
第部分接觸觸針式儀器的校準(zhǔn)與測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
———701:()。
本文件等同采用產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法第部
ISO25178-603:2013《(GPS)603
分非接觸相移干涉顯微式儀器的標(biāo)稱特性
:()》。
本文件增加了規(guī)范性引用文件一章
“”。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任
。。
本文件由全國(guó)產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC240)。
本文件起草單位清華大學(xué)山東大學(xué)深圳市中圖儀器股份有限公司哈爾濱工業(yè)大學(xué)中機(jī)生產(chǎn)
:、、、、
力促進(jìn)中心有限公司中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院廣州計(jì)量檢測(cè)技術(shù)研究院中機(jī)研標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院北京
、、、()
有限公司
。
本文件主要起草人尉昊赟閆鵬馬俊杰劉儉施玉書代鯤鵬朱悅
:、、、、、、。
Ⅲ
GB/T33523603—2022/ISO25178-6032013
.:
引言
隨著國(guó)家產(chǎn)品質(zhì)量提升計(jì)劃的實(shí)施對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造測(cè)量和檢驗(yàn)過程中使用的統(tǒng)一規(guī)范或原則
,、、
的需求越來越迫切原有產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范中表面結(jié)構(gòu)的表示方法及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)已不能滿足產(chǎn)品制造過
。
程中的表面質(zhì)量控制要求
。
產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法基于新一代產(chǎn)品幾何規(guī)范體
GB/T33523《(GPS)》GPS
系通過數(shù)字化測(cè)量技術(shù)軟件分析技術(shù)及計(jì)量評(píng)定等手段構(gòu)建一套全新的三維表面結(jié)構(gòu)測(cè)量與分析
,、,
的推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)在提出表面結(jié)構(gòu)表示法表面結(jié)構(gòu)參數(shù)及規(guī)范操作集的基礎(chǔ)上分析
。GB/T33523、,
了表面結(jié)構(gòu)測(cè)量的方法給出了使用的測(cè)量技術(shù)及儀器的標(biāo)稱特性特別是在涵蓋接觸
,。,GB/T33523
式測(cè)量?jī)x器的同時(shí)重點(diǎn)引入了在高精度測(cè)量應(yīng)用中具有重要價(jià)值但缺乏標(biāo)準(zhǔn)支撐的多種非接觸式測(cè)
,
量?jī)x器標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)范了實(shí)物測(cè)量和軟件測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)給出了軟件文件標(biāo)準(zhǔn)和表面結(jié)構(gòu)測(cè)量的計(jì)量特性
。,。
實(shí)現(xiàn)了從二維輪廓測(cè)量到三維表面結(jié)構(gòu)測(cè)量的跨越為產(chǎn)品幾何規(guī)范體系提供了計(jì)
GB/T33523,GPS
量測(cè)試支撐
。
擬由個(gè)部分構(gòu)成
GB/T3352314。
第部分表面結(jié)構(gòu)的表示法目的在于規(guī)定產(chǎn)品技術(shù)文件例如圖紙規(guī)范合同和報(bào)告中
———1:。(、、)
利用圖形符號(hào)表示區(qū)域表面結(jié)構(gòu)的規(guī)則
。
第部分術(shù)語(yǔ)定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)目的在于規(guī)定用區(qū)域法評(píng)定表面結(jié)構(gòu)的術(shù)語(yǔ)定義和
———2:、。、
參數(shù)
。
第部分規(guī)范操作集目的在于規(guī)定適用于區(qū)域法評(píng)定表面結(jié)構(gòu)尺度限定表面的完整規(guī)
———3:。()
范操作集
。
第部分表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類目的在于規(guī)定主要用于表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法的分類體系
———6:。,
定義三類方法描述三類方法之間的關(guān)系并對(duì)具體方法做簡(jiǎn)要說明
,,。
第部分實(shí)物測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)目的在于規(guī)定用于定期驗(yàn)證和調(diào)整區(qū)域法表面結(jié)構(gòu)測(cè)量?jī)x器的實(shí)
———70:。
物測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的特性
。
第部分軟件測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)目的在于規(guī)定用于測(cè)量?jī)x器軟件校驗(yàn)的型和型軟件測(cè)量標(biāo)
———71:。S1S2
準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)具的術(shù)語(yǔ)定義
()。
第部分文件格式目的在于規(guī)定用于存儲(chǔ)和交換形貌及輪廓數(shù)據(jù)的文件
———72:XMLx3p。XML
格式
x3p。
第部分接觸觸針式儀器的標(biāo)稱特性目的在于規(guī)定表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法接觸觸針式儀
———601:()。()
器的標(biāo)稱特性
。
第部分非接觸共聚焦色差探針式儀器的標(biāo)稱特性目的在于規(guī)定使用基于白光軸向
———602:()。
色散特性的共聚焦色差探針測(cè)量表面結(jié)構(gòu)的非接觸式儀器的設(shè)計(jì)與計(jì)量特性
。
第部分非接觸相移干涉顯微式儀器的標(biāo)稱特性目的在于規(guī)定相移干涉法輪廓
———603:()。(PSI)
和區(qū)域表面結(jié)構(gòu)測(cè)量顯微鏡的計(jì)量特性
。
第部分非接觸相干掃描干涉式儀器的標(biāo)稱特性目的在于規(guī)定用于表面高度三維映
———604:()。
射的相干掃描干涉測(cè)量系統(tǒng)的計(jì)量特性
(CSI)。
第部分非接觸點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探針式儀器的標(biāo)稱特性目的在于規(guī)定使用點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探
———605:()。
針測(cè)量表面結(jié)構(gòu)的非接觸式儀器的計(jì)量特性
。
第部分非接觸變焦式儀器的標(biāo)稱特性目的在于規(guī)定使用變焦傳感器測(cè)量表面
———606:()。(FV)
結(jié)構(gòu)的非接觸式儀器的設(shè)計(jì)與計(jì)量特性
。
Ⅳ
GB/T33523603—2022/ISO25178-6032013
.:
第部分接觸觸針式儀器的校準(zhǔn)與測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)目的在于規(guī)定區(qū)域法表面結(jié)構(gòu)接觸觸
———701:()。(
針式儀器用作測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)物量具的特性殘余誤差的評(píng)定方法校準(zhǔn)驗(yàn)收和周期檢定的檢
),,、
測(cè)方法
。
Ⅴ
GB/T33523603—2022/ISO25178-6032013
.:
產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范GPS
()
表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法
第603部分非接觸相移干涉顯微式
:()
儀器的標(biāo)稱特性
1范圍
本文件規(guī)定了相移干涉法輪廓和區(qū)域表面結(jié)構(gòu)測(cè)量顯微鏡的計(jì)量特性
(PSI)
溫馨提示
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