ICT基本原理-課件

ppt課件1ICT基本測(cè)試原理ppt課件2ICT概況--何謂ICT？

ICT即是InCircuitTester的簡(jiǎn)稱，主要用于組裝電路板的測(cè)試。ICT可以視為一部自動(dòng)化的高級(jí)電表，并且因它具有隔離組件的功能，能準(zhǔn)確測(cè)量每一組件在電路內(nèi)的實(shí)際值。

ppt課件3ICT與電表功能的差異

電表是用以量測(cè)單一零件，而ICT除了可量單一零件外，更可經(jīng)由針床來量測(cè)實(shí)板上的零件。只是實(shí)板上有許多回路，易將信號(hào)源與以分流、分壓，故往往需加”Guarding”功能，才可使量測(cè)準(zhǔn)確。

ppt課件4ICT與ATE有何差異？

ICT只做靜態(tài)測(cè)試，即無電源測(cè)試，實(shí)板不需加電源；而ATE可做動(dòng)態(tài)測(cè)試。即ATE之目的為測(cè)試實(shí)板及板上零件之功能是否正常，故實(shí)板必須加電源才可使板上的零件工作。尤其ATE在送信號(hào)時(shí)，特別要考慮零件的特性、規(guī)格，否則易損壞零件

ppt課件5ICT能測(cè)些什么？

開、短路，電阻，電容，電感，IC保護(hù)二極管測(cè)試（含二極管，三極管，

Zener，IC）等。

ppt課件6電阻測(cè)試--基本電阻測(cè)試

Mode0RxIrUr恒電流測(cè)試模式Rx=Ur/IrTestResearch,Inc.Rx//R電阻實(shí)際值Rx，XY兩端測(cè)得值RmRm=Rx*R/(Rx+R)≠Rxppt課件7電阻測(cè)試–小電阻四線量測(cè)

Mode6TestResearch,Inc.小電阻(50歐姆以內(nèi))四線量測(cè)：小電阻兩端各下兩支探針，1-4號(hào)探針的接觸阻抗分別為R1-R4,Ra,Rb,Rc,Rd分別為四次測(cè)試之量測(cè)值Ra=R1+R2Rb=R3+R4Rc=R1+Rx+R4Rd=R2+Rx+R3Rx=(Rc+Rd-Ra-Rb)/2

1234R1R2R3R4Rxppt課件8電阻測(cè)試--Rx//CMode0，1測(cè)試順序是:[放電],充電和電壓測(cè)試考慮到電容的分流,要先對(duì)其充電,經(jīng)過T2以后,Ic→0.此時(shí)可量回準(zhǔn)確的阻值.故遇到R//C的情形,釆用定電流源測(cè)試時(shí),須加DELAYTIME.且電容越大,延遲要更久,才能得到準(zhǔn)確值.TestResearch,Inc.ppt課件9電阻測(cè)試--Rx//CMode2當(dāng)C較大(μ級(jí)以上)時(shí),若仍釆用定電流源方式,則電容會(huì)將電流源分流,直至電容充飽時(shí)才成斷路,這樣會(huì)消耗太久測(cè)量時(shí)間.此時(shí)改以電壓源(0.2VDC)對(duì)電容充電,迅速將電容加至0.2VDC(斷路),再量回電流Ix值,即可求得Rx,(RX=0.2VDC/IX)其量測(cè)電路可與L/C量測(cè)電路共享,同樣是“送電壓”，“量電流”方式.如果在被測(cè)電阻RX的相關(guān)電路中有電容存在,通過設(shè)置虛地隔離點(diǎn),可以提高測(cè)試速度

TestResearch,Inc.ppt課件10電阻測(cè)試--Rx//DMode1Rx//D,推而廣之,電阻與帶PN結(jié)的零件并聯(lián),(包括D,ZEN,LED,TR,FET,SCR,TRIAC,PHOTOCOUPLER,IC,etc).假設(shè)Rx=2kΩ

若Is=500μA

則Vr=IS*R=500*10-6(A)*2*103(Ω)=1(V)此時(shí)D已導(dǎo)通,將Rx兩端限壓至約0.7V.那么Rm=0.7(V)/(500*10-6(A))=1.4*103(Ω)=1.4kΩ≠Rx.此時(shí),要改以低一檔電流源測(cè)試,Is’=50μA,Vr=0.1VD處于截止?fàn)顟B(tài)，Rm=Rx另外,互換高低點(diǎn)(HI-PIN←→LO-PIN).即IS從DIODE的陰極注入,亦可避免D的“限壓”.互換高低點(diǎn)不可行的情況可能出現(xiàn)在以下連接電路.TestResearch,Inc.ppt課件11電阻測(cè)試--Rx//D//CMode2而對(duì)于Rx//D//C,見右圖.在TR-518FE(R)中,選擇MODE2:HIGHSPEEDFORR//C,因電壓源為0.2VDC,故D仍處于截止?fàn)顟B(tài),亦可避開D的“限壓”.TestResearch,Inc.ppt課件12電阻測(cè)試--Rx//LMode3，4，5若仍以電流源量測(cè)Rx.由于L的瞬時(shí)為由“OPEN”至“SHORT”,其瞬時(shí)時(shí)間不易控制,而穩(wěn)態(tài)時(shí)電感相當(dāng)于“SHORT”,將電流源完全分流,致Vx-→0,此時(shí),須以AC來測(cè)量,使得L呈現(xiàn)一阻抗值(愈大愈好).再利用相位差即可計(jì)算出RxIx’/Vs=1/Rm

=∣1/Rx+1/(jωL)∣1/Rx=1/Rm*COSθRx=Rm/COSθTestResearch,Inc.ppt課件13電容測(cè)試--AC(3uF以下)Mode0,1,2,3由OSC分別產(chǎn)生1kHZ/10kHZ/100kHZ/1MHZ的AC輸出信號(hào),其振幅均為固定(40mVrms)∵Vs/Ix=Xc=∣1/(jωCx)∣=1/(2πfCx)∴量回Ix的振幅,即可求得CxTestResearch,Inc.晶振測(cè)試，若ICT無晶振測(cè)試板，則可作小電容測(cè)試ppt課件14電容測(cè)試--DC(3uF以上)Mode4,8對(duì)于大電容,若使用上述AC電壓源模式測(cè)試時(shí),將需要較低頻率來測(cè)試,從而增加ICT的測(cè)試時(shí)間.另外,大電容交流阻抗很小,如此無法判斷電容內(nèi)部是否有短路發(fā)生,此時(shí)須以DC測(cè)量

在被測(cè)電容上加載定電流,然后通過測(cè)量其積分電壓,計(jì)算其電容值.∵Q=C*V∴i=dQ/dt=C*dV/dt=C*?V/?T(dV/dt為曲線斜率)TestResearch,Inc.ppt課件15電容測(cè)試--Cx//CCx//CCm=Cx+C≠Cx

小電容與大電容并聯(lián)，一般小電容無法測(cè)試CxCTestResearch,Inc.ppt課件16電容測(cè)試--相位分離法Mode5,6,7Cx//R,釆用AC常規(guī)法,則因R的分流會(huì)使Cm>Cx相位分離法：IX’/VS=∣jωCM∣=∣jωCX+1/R∣

∣jωCX∣=∣jωCM∣*SINθCX=CM*SINθ.所以,IFR→∞

θ→90°SINθ≒1CX=CMR→0θ→0SINθ≒0CX≒0(并聯(lián)J或SHORT)

TestResearch,Inc.ppt課件17電容測(cè)試--電容極性測(cè)試C0C1TestJetC1方式1:漏電容測(cè)試法

Mode5，6以可程序電壓源,對(duì)電容充電,直至充飽后,再測(cè)量正向漏電流.正常情況下,反向漏電流會(huì)很大.據(jù)此可測(cè)插反情形方式2:三端電壓測(cè)試法上方加一探針觸及殼體.在電容的正負(fù)極加載直流電壓,至充飽后測(cè)量殼體電壓.由于正負(fù)極與殼體間的阻抗差異,故對(duì)于插反的電容所測(cè)量到的殼體電壓會(huì)與正確時(shí)不同.據(jù)此可判別電容的極性方式3:SMD鉭質(zhì)電容TestJet測(cè)試法TestResearch,Inc.ppt課件18電感測(cè)試--AC信號(hào)源Vs/Ix=XL=∣jωLx∣=2πfLx量回Ix振幅,即可求得LxTestResearch,Inc.ppt課件19PN結(jié)測(cè)試--D、LED、ZD測(cè)試方式:以可程序電壓源,對(duì)二極管加電流,測(cè)量正向電壓或反向電壓.(正向電壓約為0.7V.)加載電流:最大3mA,20mA或10mA.測(cè)試范圍:10V以內(nèi)Vd=0.7VVd>1.5VVd=0.7VVd=1.8VTestResearch,Inc.兩個(gè)二極管(推而廣之,指PN結(jié))異向并聯(lián),所有二極管均釆用正,反向雙步測(cè)試

D//C時(shí),電容充電后再測(cè)試D正向?qū)妷?，建議加延時(shí)及用Mode1D//R時(shí),若R<50歐時(shí)，D基本無法測(cè)試ppt課件20PN結(jié)測(cè)試--PNP、NPNBCEBECGHLVCE<0.2V1.5V1.5V三極管是由2個(gè)PN結(jié)組成，SMD類型三極管以及B極在兩側(cè)腳的DIP類型PNP或NPN只需要測(cè)其之兩PN結(jié)。DIP類型三極管之B極位于中間腳時(shí)，必須增加一個(gè)測(cè)試步驟：三極管三端電壓測(cè)試Mode3,4以NPN為例，右圖中，C極為高點(diǎn)，E極為低點(diǎn)，B極為隔離點(diǎn)，提供約1.5V電壓時(shí)，CE間飽和壓降接近0V。認(rèn)為小于0.2V即正常。三極體在共射極接法時(shí)的電流放大系數(shù)β.β≒IC/Ib(有時(shí)用hFE代表)TestResearch,Inc.ppt課件21PN結(jié)測(cè)試--PHOTOCOUPLER測(cè)量PC3,4腳的飽和電壓,即在1,2腳加一電壓使PC導(dǎo)通,再量回3,4腳的壓降約在0.2V左右高低點(diǎn)及隔離點(diǎn)設(shè)置如右圖所示一般再增加一步1-2腳間的PN結(jié)測(cè)試V1-2=1VTestResearch,Inc.ppt課件22PN結(jié)測(cè)試--FET以N型溝道增強(qiáng)型絕緣柵場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET)為例1由于柵極(g)處于不導(dǎo)電(絕緣)狀態(tài),通常,源極(s)與襯底連在一起,故在漏極(d),源極(s)存在一PN結(jié),可將其當(dāng)作D來測(cè).2三點(diǎn)測(cè)試,類似三極體的三點(diǎn)測(cè)試方式.在FET的g-s腳及d-s腳各施加一可程序電壓源(最高為5V),使之導(dǎo)通,再測(cè)量漏極電流Id.TestResearch,Inc.ppt課件23PN結(jié)測(cè)試--SCR1k,g之間有一PN結(jié),可作D來測(cè);2三點(diǎn)測(cè)試,類似三極體的三點(diǎn)測(cè)試方式.在FET的g-k腳及a-k腳各施加一可程序電壓源(最高為5V),使之導(dǎo)通,再測(cè)量陽極電流Iak晶閘管的導(dǎo)通條件為:除在陽-陰極間加上一定大小的正向電壓外,還要在控制極-陰極間加正向觸發(fā)電壓TestResearch,Inc.ppt課件24PN結(jié)測(cè)試--IC保護(hù)二極管大部分IC在I/OPIN中,會(huì)加上保護(hù)DIODE.故可通過測(cè)其DIODE來判定插反,空焊,漏件,開/短路以及IC保護(hù)DIODE不良等情形,但對(duì)IC內(nèi)部的電性不良則必須依賴功能測(cè)試.GndVccTPIC并聯(lián)之保護(hù)二極管無法測(cè)試；一般記憶性IC很少內(nèi)建PN結(jié)，如ROM，RAM，EPPROM等TestResearch,Inc.ppt課件25跳線測(cè)試--J/F/W/CON/SWUMPER,FUSE,WIRE,CONNECTOR,SWITCH,etc.阻抗值機(jī)器內(nèi)識(shí)別值熒幕顯示值(0,5]01(5,25]11(25,55]23(55,∞)34TestResearch,Inc.ppt課件26開短路測(cè)試

>55Ω

≦55Ω>5Ω

≦5ΩOPENFAIL

PASS

SHORTFAILOPENTESTINGSHORTTESTINGLEARNING

≦25Ω>25ΩSHORTOPEN

開/短路學(xué)習(xí)凡兩兩之間電阻≦25Ω的針號(hào)歸入一個(gè)SHORTGROUP,反之亦然.

開路測(cè)試在SHORTGROUP內(nèi)進(jìn)行以55Ω為判斷標(biāo)準(zhǔn)

短路測(cè)試在SHORTGROUP之間進(jìn)行不處于任何SG內(nèi)的點(diǎn)可視為單點(diǎn)SG以5Ω為判斷標(biāo)準(zhǔn)TestResearch,Inc.ppt課件27開短路測(cè)試--EXAMPLETestResearch,Inc.ppt課件28IC空焊測(cè)試

--Agilent

TestJet技術(shù)

放大器

Cx

GND

Testpin Fixture

300mV,10KHz

放大器

Cx

Cy

Testpin open Fixture

300mV,10KHz

傳統(tǒng)的IC保護(hù)二極管測(cè)試方式一般來說能測(cè)試IC除VCC與GND之外的70-80%的引腳的開路問題，而TestJet技術(shù)的應(yīng)用則使這一比例達(dá)到98%以上并足夠穩(wěn)定。TestResearch,Inc.ppt課件29不良報(bào)表--不良報(bào)表的閱讀

ppt課件30不良報(bào)表--不良報(bào)表的閱讀以H0代有上限值（標(biāo)準(zhǔn)值，L0代表下限值）：L1表示：量測(cè)值介于

L0與L0-（H0-L0）10%之間L2表示：量測(cè)值介于

L1與L0-（H0-L0）20%之間VL表示：量測(cè)值低于

L2H1表示：量測(cè)值介于H0與H0+（H0-L0）10%之間H2表示：量測(cè)值介于H1與H0+（H0-L0）20%之間

VH表示：量測(cè)值高于H2.

ppt課件31不良報(bào)表--不良記錄

*******OpenFail*******

（48）（4548）表示48點(diǎn)與短路組（4548）斷開，可能是探針未接觸到PCB焊盤，或板上有斷路。

********ShortFail********

（20）（23）表示20點(diǎn)與23點(diǎn)短（R<5Ω），可能是板上有錫渣造成Short，裝錯(cuò)零件造成Short，零件腳過長(zhǎng)造成Short等。

ppt課件32不良報(bào)表--不良記錄******ComponentFail******1

R3M-V：52.06K，Dev：+10.7%，Act-V=47K，Std-V=47K