2023無(wú)損檢測(cè)技術(shù)資格人員考試無(wú)損檢測(cè)超聲波三級(jí)考試試題三試卷(練習(xí)題庫(kù))

———無(wú)損檢測(cè)技術(shù)資格人員考試無(wú)損檢測(cè)超聲波三級(jí)考試試題三試卷(練習(xí)題庫(kù))

1、()可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力。

2、通常情況下，探傷面的修整應(yīng)能滿足()的掃查。

3、由于工件表面粗糙，而造成聲波傳播的損耗，其表面補(bǔ)償應(yīng)為()。

4、與表面光滑的工件相比，表面粗糙的工件直接接觸探傷時(shí)，應(yīng)使用()。

5、在毛面工件上使用軟保護(hù)膜探頭的優(yōu)點(diǎn)是()。

6、在手工探傷中一般使用直接接觸法而不使用液浸法，原因是()。

7、使用直接接觸法探傷，以下說(shuō)法正確的是()。

8、直探頭接觸法探傷時(shí)，()要涂布耦合劑。

9、超聲波入射到平面缺陷產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換時(shí)，與波的()。

10、超聲波只有在()時(shí)才能在異質(zhì)界面發(fā)生波型轉(zhuǎn)換，并且至少一側(cè)為固體。

11、超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)會(huì)產(chǎn)生()現(xiàn)象，通過(guò)這個(gè)現(xiàn)象可以獲得從異質(zhì)界面反射回來(lái)的不同波型

12、探頭指向角越小()。

13、探頭指向角是晶片尺寸和介質(zhì)中波長(zhǎng)的函數(shù)，它是隨()。

14、探頭晶片尺寸越大，其指向角()。

15、鍛件探傷靈敏度的校正方法()。

16、方形鍛件垂直法探傷時(shí)，熒光屏上出現(xiàn)一個(gè)缺陷回波，其波幅較低，但底波降低很大。該缺陷取向

17、鍛件中非金屬夾雜物的取向一般是()。

18、厚板超聲波探傷時(shí)，若縱波的頻率提高，其聲速將()。

19、鋼板探傷中可根據(jù)()判斷缺陷是否存在。

20、板材探傷的掃查方式有()。

21、鋼板超聲波檢測(cè)中,一般用來(lái)測(cè)量缺陷邊界位置的方法是()。

22、焊縫斜角探傷中，常用手指蘸耦合劑拍打回波源的辦法判定干擾回波，下面的說(shuō)法正確的是()。

23、焊縫中的裂紋缺陷一般用()與未焊透相區(qū)別。

24、()是指：每秒的脈沖次數(shù)。

25、熒光屏圖形上產(chǎn)生“幻影”的原因可能是()。

26、()的大小可以改變儀器的靈敏度。

27、與聲束不垂直的光滑平面狀缺陷反射波的顯示是()。

28、[題目]聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時(shí),缺陷表面粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是()。

29、原子序數(shù)是標(biāo)志元素在元素周期表中次序的序號(hào)，亦即是該元素原子()。

30、“同位素”指的是()。

31、放射性同位素在單位時(shí)間內(nèi)的原子衰變數(shù)稱為()。

32、()遲到時(shí)間與工件的長(zhǎng)度和直徑有關(guān)。

33、鍛件探傷時(shí)，()會(huì)在熒光屏上產(chǎn)生非缺陷回波。

34、下列同位素中()的半衰期最長(zhǎng)。

35、放射性物質(zhì)原子數(shù)衰變到原來(lái)的()所需的時(shí)間稱為半衰期。

36、光電效應(yīng)發(fā)生時(shí)，光子的能量()。

37、“光電效應(yīng)”的光子能量按()形式被吸收。

38、光電效應(yīng)的特征是()。

39、X射線與γ射線的區(qū)別是()。

40、γ射線通過(guò)被檢查物質(zhì)時(shí)，其強(qiáng)度衰減取決于()。

41、γ射線的波長(zhǎng)僅決定于()。

42、射線的線質(zhì)越硬，其光子能量越大，波長(zhǎng)越短，衰減系數(shù)越小,半價(jià)層厚度()。

43、半價(jià)層的大小與()有關(guān)。

44、使穿透射線的強(qiáng)度衰減為入射線強(qiáng)度的一半時(shí)的吸收體厚度，稱為半值層（δ），其數(shù)學(xué)表達(dá)式為

45、對(duì)X射線基本性質(zhì)的敘述錯(cuò)誤的是()。

46、X、γ射線的主要特征有()。

47、X、γ射線的主要特征有()。

48、x射線屬于()。

49、X射線和γ射線的共同點(diǎn)是()。

50、射線檢測(cè)所采用的X射線、γ射線屬于()。

51、射線照相的原理主要是利用了X射線與γ射線的()。

52、康普頓效應(yīng)過(guò)程的特征是()。

53、當(dāng)光子與物質(zhì)相互作用時(shí)，光子的波長(zhǎng)增大，運(yùn)動(dòng)方向改變，這是由于()的結(jié)果。

54、在射線檢驗(yàn)所采用的能量范圍（約100keV～10MeV）線穿過(guò)鋼鐵強(qiáng)度衰減的最主

55、管電壓為150kV時(shí)，輻射的X射線光子能量最大為()。

56、光子能量的數(shù)學(xué)表達(dá)式是()。

57、射線透過(guò)物質(zhì)時(shí)，電子對(duì)生成效應(yīng)只能在入射線光子能量達(dá)到()時(shí)才能發(fā)生。

58、射線的線質(zhì)越硬，其光子能量越()。

59、曝光曲線是()。

60、曝光曲線的斜率越大，一次透照的厚度差范圍()。

61、不同透照電壓的厚度寬容度不同，這直接反映在其曝光曲線的()。

62、從曝光曲線上的斜率()判斷不同透照電壓的厚度、寬容度大小。

63、由于射線源的尺寸、射線源到被檢件的距離、被檢件到膠片的距離等原因，在顯示缺陷的邊緣輪廓時(shí)

64、射線照相的幾何不清晰度Ug與焦點(diǎn)的大小()。

65、不屬于膠片感光特性的量是()。

66、射線通過(guò)膠片時(shí)，能在膠片上激發(fā)出自由電子，這些散亂的自由電子也能使膠片感光，形成不清晰度

67、在中子照相中需要使用轉(zhuǎn)換屏，它在接受中子照射后能放出()輻射而使X射線膠片感光。

68、未經(jīng)曝光而直接進(jìn)行暗室處理后所得底片黑度稱為()。

69、GB3323——87標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定A級(jí)、AB級(jí)照相底片的黑度為()。

70、連續(xù)X射線的總強(qiáng)度可表達(dá)為()。

71、當(dāng)管電壓為一定值時(shí)，增大管電流，則連續(xù)X射線的線質(zhì)強(qiáng)度和波長(zhǎng)將發(fā)生()。

72、高速運(yùn)動(dòng)的電子在與靶金屬的原子核外電場(chǎng)作用時(shí)，發(fā)射出()。

73、()的表達(dá)式是指射線劑量率與離射線源的距離平方成反比，。

74、透照厚工件時(shí)要選用較高管電壓的原因是它的波長(zhǎng)()穿透能力強(qiáng)。

75、電磁波波長(zhǎng)的數(shù)字計(jì)算式為()。

76、波長(zhǎng)()的X射線和γ射線具有相同的性質(zhì)。

77、電磁波中的頻率f、速度C、波長(zhǎng)λ三者之間的關(guān)系是()。

78、寬容度大的膠片，其()。

79、在X射線機(jī)窗口前裝濾光片的目的是吸收軟X射線、()和減少散射線對(duì)底片的影響。

80、可以充分顯示在射線底片上的工件厚度范圍稱作()。

81、某給定物質(zhì)對(duì)連續(xù)X射線而言，其線衰減系數(shù)()。

82、當(dāng)一束射線透過(guò)某金屬時(shí)得到的衰減系數(shù)μ=3cm-1，其半值層厚度為()。

83、射線的線質(zhì)越硬，其光子能量越大，衰減系數(shù)()。

84、對(duì)某給定物質(zhì)對(duì)連續(xù)X射線而言，線衰減系數(shù)()。

85、K值為焊縫的透照厚度比，縱縫的AB級(jí)K值不大于()。

86、透照厚度差別較大的工件時(shí)，為了增大寬容度，可以采用()的方法。

87、使用襯度較低的射線膠片，必要時(shí)采用單面乳劑膠片，()。

88、曝光量是()。

89、一般來(lái)說(shuō)，曝光量只有選擇在膠片特性曲線的直線部分，()。

90、對(duì)于管電壓和管電流都不變的某一曝光量，當(dāng)焦距從1200毫米減少到800毫米時(shí)，其曝光