整機(jī)測試(印度標(biāo)準(zhǔn))V1

,可靠性試驗,,,,,,,,

,類別,序號,測試項目,樣機(jī)數(shù)量,測試時間,企標(biāo)要求,準(zhǔn)國標(biāo)要求,說明:,試驗方法

,B1環(huán)境可靠性試驗,B1.1,低溫運行試驗,5,3,-20℃（±3℃）開機(jī)運行2h后進(jìn)行功能、性能、外觀檢測,-10℃（±3℃）環(huán)境開機(jī)運行2h后進(jìn)行功能、性能、外觀檢測,按國標(biāo),(a)樣機(jī)裝上電池、SIM卡和TF卡等配套附件先進(jìn)行射頻性能、功能、外觀及裝配的初始檢測；(b)初始檢測合格后，樣機(jī)不包裝開機(jī)狀態(tài)，放入溫度箱中，在溫度穩(wěn)定后持續(xù)2h；(c)運行2小時后立即進(jìn)行射頻性能、功能、外觀及裝配檢測應(yīng)正常；(d)樣機(jī)的檢測在低溫試驗箱內(nèi)進(jìn)行，對于翻蓋（滑蓋）手機(jī)，應(yīng)將一半樣機(jī)合上翻蓋（滑蓋），一半樣機(jī)打開翻蓋（滑蓋）；在測試中移動電話機(jī)的供電電壓為低極端電壓。

,,B1.2,高溫運行試驗,5,3,65℃（±3℃）開機(jī)運行2h后進(jìn)行功能、性能、外觀檢測,同企標(biāo)要求,按國標(biāo),

,,B1.3,低溫貯存試驗,5,19,-40℃（±3℃）關(guān)機(jī)持續(xù)16h后進(jìn)行功能、性能、外觀檢測,同企標(biāo)要求,按國標(biāo),(a)樣機(jī)按裝上電池、SIM卡和TF卡等配套附件先進(jìn)行射頻性能、功能、外觀及裝配的初始檢測；(b)初始檢測合格后，樣機(jī)不包裝關(guān)機(jī)狀態(tài)，放入溫度箱，在溫度穩(wěn)定后持續(xù)16h；(c)試驗結(jié)束后將試驗樣品在常溫下恢復(fù)2小時后進(jìn)行射頻性能、功能、外觀及裝配檢測應(yīng)正常；(d)對于翻蓋/滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣機(jī)合上翻蓋（滑蓋），一半樣機(jī)打開翻蓋（滑蓋）

,,B1.4,高溫貯存試驗,5,19,65℃（±3℃）關(guān)機(jī)持續(xù)16h后進(jìn)行功能、性能、外觀檢測,55℃（±3℃）環(huán)境關(guān)機(jī)持續(xù)16h后進(jìn)行功能、性能、外觀檢測,按國標(biāo),

,,B1.5,恒定濕熱試驗,5,50,40℃（±2℃）相對濕度90%～95％關(guān)機(jī)持續(xù)48h后進(jìn)行功能、性能、外觀檢測,同企標(biāo)要求,按國標(biāo),"(a)樣機(jī)裝上電池、SIM卡和TF卡等配套附件且將時鐘設(shè)為當(dāng)前日期時間，樣機(jī)初測合格后不包裝,關(guān)機(jī)狀態(tài)，放入試驗箱中；箱內(nèi)溫度40℃（±2℃），相對濕度90%～95％，持續(xù)48h；(b)試驗后取出樣機(jī)進(jìn)行射頻性能、功能、外觀及裝配檢測應(yīng)正常且時鐘無異常；(c)對于翻蓋（滑蓋）手機(jī)，應(yīng)將一半樣機(jī)合上翻蓋（滑蓋），一半樣機(jī)打開翻蓋（滑蓋）；在測試中移動電話機(jī)的供電電壓為高極端電壓。"

,,B1.6,溫度沖擊試驗,5,9,低溫-40℃（±3℃）/高溫+65℃（±3℃），各持續(xù)30min后3min內(nèi)實現(xiàn)高低溫卻換，共循環(huán)5次，試驗后進(jìn)行功能、性能、外觀檢測,低溫-25℃（±3℃）/高溫30℃（±3℃），各持續(xù)30min后3min內(nèi)實現(xiàn)高低溫卻換，共循環(huán)5次，試驗后進(jìn)行功能、性能、外觀檢測,,(a)樣機(jī)裝上電池、SIM卡和TF卡等配套附件在標(biāo)準(zhǔn)條件下先進(jìn)行射頻性能、功能、外觀及裝配的初始檢測；(b)初檢合格后，樣機(jī)不包裝關(guān)機(jī)狀態(tài)，放入溫度箱；啟動溫度箱，將低溫箱調(diào)到要求的存儲溫度，高溫箱調(diào)到要求的高溫存儲溫度；在規(guī)定的低溫貯存溫度下持續(xù)30min后，在3min內(nèi)將試驗箱溫度提升到高溫貯存溫度，在規(guī)定的高溫貯存溫度下保持30min，然后再將試驗箱的溫度在3min內(nèi)轉(zhuǎn)換低溫貯存溫度狀態(tài)進(jìn)行下一個循環(huán)，每個循環(huán)由二個30min和二個轉(zhuǎn)換所需時間組成，如此循環(huán)5次;(c)試驗后樣機(jī)在標(biāo)準(zhǔn)條件下恢復(fù)2h后進(jìn)行射頻性能、功能、外觀及裝配檢測；(d)對于翻蓋（滑蓋）手機(jī)，應(yīng)將一半樣機(jī)合上翻蓋（滑蓋），一半樣機(jī)打開翻蓋（滑蓋）

,,B1.7,高溫充電試驗,2,7,（-55±2）℃環(huán)境中充電，6小時內(nèi)能正常充電且能顯示充電完成，且電池電壓≥4.00V,同企標(biāo)要求,,(a)樣機(jī)裝上低電量電池（電池放電到自動關(guān)機(jī)），與充電器一起放入環(huán)境溫度為55℃（±2℃）的試驗箱中存放1小時后測試電池當(dāng)前電壓且做好記錄；(b)在低溫環(huán)境試驗箱內(nèi)將主機(jī)插上充電器加電對電池進(jìn)行充電且檢查主機(jī)是否能正常顯示充電狀態(tài)；在充電過程中每1小時左右進(jìn)行檢查一次主機(jī)是否能正常顯示充電狀態(tài)。

,B2耐久性機(jī)械壽命試驗,B2.1,自由跌落試驗,5,1,"普通機(jī)型1.5米（<4.0屏直板機(jī)1.5米，翻蓋.滑蓋，觸摸屏1.2米，≥4.0及以上屏1米）；

超低端1.5米",普通機(jī)型1.0米（2.8及以上屏0.6米）,按國標(biāo):1M跌,(a)樣機(jī)裝上電池、SIM卡和TF卡，開機(jī)狀態(tài)下，試驗要求的高處自由跌落到大理石地板表面；每個面朝下跌落2次，六個面共跌落12次，有翻蓋的手機(jī)應(yīng)將翻蓋合上；(b)在試驗過程中允許電池脫落，但恢復(fù)后仍可以正常通話使用;試驗完后進(jìn)行各項功能、外觀及裝配檢測應(yīng)符合相應(yīng)要求（手機(jī)不應(yīng)有損壞，允許機(jī)殼有輕微裂紋，但不得出現(xiàn)開裂及裂紋長度不得大于1.0mm）測試時應(yīng)有詳細(xì)的測試報告和圖片

,攝像頭,部品測試,拍照測試,5,,見拍照測試,,,

,充電器,,充電器性能測試,5,,見部品測試,,,

,電池,,電池性能測試,5,,見部品測試,,,

,射頻,,射頻測試,2,,GSM：自由場測試，高、中、低三個信道：>31dBm，-108Bm(900M)；>28dBm，-106Bm(1800M)；>26dBm，-108Bm(850)；>25dBm，-108Bm(1900),,,"自由空間模型，

測試信道：GSM900：975、37、124；DCS1800：512、698、885；

850MHz：128、190、251；1900MHZ：512、661、810"

,試驗說明,,,,,,,,

,外觀及裝配檢測,,,外觀及裝配檢測采用目測法和手感法進(jìn)行檢查；樣品外觀表面不應(yīng)出現(xiàn)有凹痕、裂紋、變形，表面涂層不應(yīng)起泡、龜裂、脫落。金屬零件不應(yīng)有銹蝕和機(jī)械損傷，灌注物不應(yīng)外溢、所有裝飾片不得翹起、脫落等現(xiàn)象；開關(guān)、按鍵、旋鈕等裝配件的操作應(yīng)靈活可靠，零部件及裝配件應(yīng)無松動；指示燈及屏幕面板燈應(yīng)能正確指示；說明功能的文字、圖形符號標(biāo)志應(yīng)無磨損現(xiàn)象；等等,,,,,

,功能檢測,,,包含：開關(guān)功能測試、通話功能測試、顯示功能測試、拍照攝像功能測試、鈴聲檢測、振動馬達(dá)檢測、按鍵功能檢測、觸摸屏功能檢測、藍(lán)牙功能檢測、LED顯示檢測、SD卡功能檢測、耳機(jī)功能檢測及其它樣機(jī)所具備的功能檢測等（如充電應(yīng)正常、手機(jī)上電后不得有明顯發(fā)熱現(xiàn)象、手機(jī)上時間設(shè)置后拆裝電池后時間不得歸零、時間不得太快、太慢等異常（與正常時間對比）；其它此文件不包含的一些特殊功能測試要求按照試驗申請人提交的試驗申請單上的測試要求或提交的相關(guān)資料進(jìn)行檢測。）,,,,,

,性能檢測,,,指射頻指標(biāo)的高中低信道測試,,,,,

,樣機(jī)需求及周期,,總數(shù),樣機(jī)：40臺、電池：40個、充電器（含數(shù)據(jù)線）：10個、耳機(jī)3根;試驗周期：EVT階段試驗4天、DVT/PVT階段試驗7天,,,,,

,,,EMC組,"樣機(jī)2-4臺，試驗周期2天

OTA天線測試1臺

QA系統(tǒng)射頻一致性綜測1臺；【EVT4臺:全信道3臺，QA1臺】",,,,,

,,,環(huán)境組,"樣機(jī)20臺，試驗周期5天；

第①組5臺：高低溫運行→高低溫貯存→溫度沖擊→恒定濕熱→低溫跌落（5臺；

第②組5臺：隨機(jī)振動試驗（3臺）→自由跌落5臺【加急情況下為高低溫運行或儲存（5臺）→隨機(jī)振動試驗（3臺）→自由跌落（5臺）】；

第③組3臺：音頻性能3臺→音量測試3臺→USB吸收電流、最大充電電流、最大充電電壓、揚聲器受話器及按鍵功率測試1臺；

第④組2臺：ESD3臺；鹽霧2臺；

第⑤組2臺：沙塵→滾筒跌落試驗2臺",,,,,

,,,機(jī)械組,"樣機(jī)16-18臺，試驗周期7天；

第①組2臺：重復(fù)跌落2臺→充電口/數(shù)據(jù)線/耳機(jī)口/手寫筆插拔2臺；

第②組2臺：按鍵壽命→扭曲試驗2臺→I/O口軟件穩(wěn)