標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 28893-2024 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息》相較于《GB/T 28893-2012》版本,在多個(gè)方面進(jìn)行了更新與調(diào)整,以反映技術(shù)進(jìn)步及方法論的改進(jìn)。具體變更內(nèi)容包括但不限于以下幾個(gè)方面:

  1. 術(shù)語(yǔ)定義:新標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)一些專業(yè)術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了修訂或增加了新的定義,確保表述更加準(zhǔn)確、符合當(dāng)前科學(xué)研究的需求。這有助于減少誤解,提高不同實(shí)驗(yàn)室之間數(shù)據(jù)交流的一致性。

  2. 儀器性能要求:隨著科技的發(fā)展,《GB/T 28893-2024》可能會(huì)提出更高標(biāo)準(zhǔn)的儀器性能指標(biāo),比如能量分辨率、檢測(cè)靈敏度等,以適應(yīng)更復(fù)雜樣品分析的需求。

  3. 實(shí)驗(yàn)條件控制:新版標(biāo)準(zhǔn)可能細(xì)化了對(duì)于實(shí)驗(yàn)過(guò)程中各種參數(shù)(如真空度、溫度、濕度等)的具體控制要求,以及如何處理這些變量的影響,從而保證測(cè)試結(jié)果的可靠性與重復(fù)性。

  4. 數(shù)據(jù)分析方法:考慮到近年來(lái)在數(shù)據(jù)分析領(lǐng)域取得的進(jìn)步,《GB/T 28893-2024》或許引入了更為先進(jìn)的數(shù)據(jù)處理技術(shù)和軟件工具,并詳細(xì)說(shuō)明了其使用指南,幫助研究人員更好地理解和解釋實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。

  5. 結(jié)果報(bào)告格式:為了促進(jìn)信息共享并便于同行評(píng)審,《GB/T 28893-2024》可能規(guī)定了更加規(guī)范化的結(jié)果報(bào)告模板,包括必須包含的關(guān)鍵要素、推薦使用的圖表類型等,使研究成果呈現(xiàn)更加系統(tǒng)化。

  6. 安全與環(huán)??剂?/strong>:鑒于日益增長(zhǎng)的安全意識(shí)及環(huán)境保護(hù)需求,《GB/T 28893-2024》也可能增加了關(guān)于操作人員健康保護(hù)措施、廢棄物處理等方面的指導(dǎo)建議。


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....

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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2024-03-15 頒布
  • 2024-10-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 28893-2024表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息_第1頁(yè)
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GB/T 28893-2024表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

ICS7104040

CCSG.04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T28893—2024/ISO209032019

:

代替GB/T28893—2012

表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和

X射線光電子能譜測(cè)定峰強(qiáng)度的

方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息

Surfacechemicalanalysis—Augerelectronspectroscopyand

X-rayphotoelectronspectroscopy—Methodsusedtodeterminepeak

intensitiesandinformationrequiredwhenreportingresults

ISO209032019IDT

(:,)

2024-03-15發(fā)布2024-10-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T28893—2024/ISO209032019

:

目次

前言

…………………………Ⅰ

引言

…………………………Ⅱ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

符號(hào)和縮略語(yǔ)

4……………1

測(cè)定直接譜峰強(qiáng)度的方法

5………………1

通則

5.1…………………1

非彈性本底的選擇和扣除

5.2…………2

峰強(qiáng)度的測(cè)量

5.3………………………3

用計(jì)算機(jī)軟件測(cè)量峰強(qiáng)度

5.4…………4

重疊峰譜圖的峰強(qiáng)度測(cè)量

5.5…………4

峰面積的測(cè)量不確定度

5.6……………5

俄歇電子微分譜的峰強(qiáng)度測(cè)定方法

6……………………5

通則

6.1…………………5

俄歇電子微分譜強(qiáng)度的測(cè)量

6.2………………………6

俄歇電子微分譜強(qiáng)度測(cè)量的不確定度

6.3……………6

測(cè)量峰強(qiáng)度方法的報(bào)告

7…………………8

一般要求

7.1……………8

測(cè)定直接譜峰強(qiáng)度的方法

7.2…………8

獲得和測(cè)定俄歇電子微分譜峰強(qiáng)度的方法

7.3………9

附錄資料性儀器對(duì)測(cè)量強(qiáng)度的影響

A()………………10

附錄資料性確定譜峰強(qiáng)度時(shí)可用的積分限值

B()XPS……………11

參考文獻(xiàn)

……………………12

GB/T28893—2024/ISO209032019

:

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)

GB/T1.1—2020《1:》

定起草

本文件代替表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和射線光電子能譜測(cè)定峰強(qiáng)

GB/T28893—2012《X

度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息與相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外主要技術(shù)

》,GB/T28893—2012,,

變化如下

:

更改了術(shù)語(yǔ)和定義見(jiàn)第章年版的第章

a)(3,20123);

更改了的內(nèi)容替換為包括處理共存化學(xué)態(tài)的現(xiàn)代方法見(jiàn)年版的

b)6.3,(6.3,20126.3)。

本文件等同采用表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和射線光電子能譜測(cè)定峰

ISO20903:2019《X

強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息

》。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位廈門荷清教育咨詢有限公司廈門大學(xué)

:、。

本文件主要起草人徐富春時(shí)海燕岑丹霞湯丁亮劉芬王水菊

:、、、、、。

本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為

:

年首次發(fā)布為

———2012GB/T28893—2012;

本次為第一次修訂

———。

GB/T28893—2024/ISO209032019

:

引言

俄歇電子能譜和射線光電子能譜的重要特征是能獲得固體樣品表面區(qū)域深度

X(≈1nm~10nm)

的定量分析結(jié)果這樣的分析需要測(cè)定譜峰的強(qiáng)度

,。

有幾種峰強(qiáng)度測(cè)量方法適用于和實(shí)際上方法的選擇將取決于所分析樣品的類型所

AESXPS。,、

用儀器的性能以及可用的數(shù)據(jù)采集與處理方法

GB/T28893—2024/ISO209032019

:

表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和

X射線光電子能譜測(cè)定峰強(qiáng)度的

方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息

1范圍

本文件規(guī)定了俄歇電子能譜和射線光電子能譜的峰強(qiáng)度測(cè)量的分析結(jié)果報(bào)告中所要求的必要

X

信息也提供了峰強(qiáng)度測(cè)量方法和導(dǎo)出的峰面積不確定度的信息

,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

表面化學(xué)分析詞匯第部分通用術(shù)語(yǔ)及譜學(xué)術(shù)語(yǔ)

ISO18115-11:(Surfacechemicalanalysis—

Vocabular—Part1:Generaltermsandtermsusedinsectrosco)

注y表面化學(xué)分析詞匯第部分p通用術(shù)語(yǔ)p及y譜學(xué)術(shù)語(yǔ)

:GB/T22461.1—20231:(ISO18115-1:2013,IDT)

3術(shù)語(yǔ)和定義

界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

ISO18115-1。

4符號(hào)和縮略語(yǔ)

下列符號(hào)和縮略語(yǔ)適用于本文件

A峰面積

:(peakarea)

俄歇電子能譜

AES:(Augerelectronspectroscopy)

b用于強(qiáng)度平均獲得基線的通道數(shù)

:

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