搪玻璃層試驗(yàn)方法 第6部分:高電壓試驗(yàn) 編制說明_第1頁
搪玻璃層試驗(yàn)方法 第6部分:高電壓試驗(yàn) 編制說明_第2頁
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文檔簡介

人員收集了國內(nèi)外有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)及技術(shù)資料,通過多種方式、多種渠道向搪玻璃設(shè)備制造企業(yè)、用戶、設(shè)本標(biāo)準(zhǔn)采用GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》編寫,以及GB/T7991.6在執(zhí)行過程中發(fā)現(xiàn)的一些問題進(jìn)行修訂,適用于搪玻璃設(shè)備搪玻璃層高電壓試驗(yàn)。本文件對搪玻璃設(shè)備搪玻璃層高電壓試驗(yàn)的試驗(yàn)原理、試驗(yàn)裝置和儀器、試樣、測試電壓和試驗(yàn)步驟等都作了明確、詳細(xì)、全面的規(guī)定,經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)起草組和搪玻璃設(shè)備生產(chǎn)企業(yè)、專業(yè)檢測結(jié)構(gòu)進(jìn)行大量的化為擴(kuò)大了高電壓試驗(yàn)時(shí)試驗(yàn)電壓的范圍和搪玻璃設(shè)備適用范圍,增加了另一種進(jìn)行高電壓試驗(yàn)的儀器脈沖直流電壓發(fā)生器,增加了試驗(yàn)時(shí)搪玻璃層(搪瓷層)厚度與最小測試電壓對應(yīng)值,將高電壓試驗(yàn)方法根據(jù)測試電壓不同細(xì)分為兩種。為了與國際標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)水平保持一致,縮小我國標(biāo)準(zhǔn)與國際標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)水平的差距,本次修訂,修改采用了ISO2746:2015,并結(jié)合我國搪玻璃設(shè)備制造工藝的特點(diǎn)和相關(guān)標(biāo)在ISO國際標(biāo)準(zhǔn)中,搪玻璃設(shè)備與搪瓷產(chǎn)品在英文文字表述上沒有區(qū)分,統(tǒng)稱為Vitreousandporcelainenamels。ISO2746:2015《搪玻璃層高電壓方法B。試驗(yàn)方法A用于在特定的測試電壓下檢測厚度較薄的搪玻試驗(yàn)方法B用于檢測定位產(chǎn)品的缺陷和薄弱點(diǎn),通常是在搪玻璃層加高電壓并擊穿薄弱點(diǎn)。是為了確定在高度腐蝕性環(huán)境下使用的搪玻璃設(shè)備安全性,例如用于檢測化工用搪玻璃設(shè)備搪玻璃層的缺陷和薄弱點(diǎn),也可以用于檢測搪玻璃設(shè)備的絕緣性能。這兩種方法的區(qū)別是(例如氣泡、夾雜物、淺層裂紋等)的同時(shí)并是因?yàn)閲鴥?nèi)外語言習(xí)慣和環(huán)境的不同,國外表述時(shí)會(huì)分成兩種方法,因此在將該國際標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)化為我國標(biāo)直流電壓發(fā)生器相關(guān)內(nèi)容,因?yàn)檫M(jìn)行搪玻璃設(shè)備搪玻璃層高電壓試驗(yàn)時(shí),使用脈沖直流電壓發(fā)生器可能試樣邊緣之間搪玻璃層厚度較小或沒有,可能會(huì)產(chǎn)生電弧,所以高電壓試驗(yàn)不適用于此區(qū)域缺陷和薄弱搪玻璃層厚度測量儀的要求,IEC/TS60479-2規(guī)本標(biāo)準(zhǔn)在修訂過程中,秘書處組織搪玻璃設(shè)備生產(chǎn)企業(yè)和相關(guān)檢測單位依據(jù)修訂后的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了多次試驗(yàn)驗(yàn)證,驗(yàn)證結(jié)果表明,修訂后的標(biāo)準(zhǔn)是可行的,搪玻璃設(shè)備生產(chǎn)企業(yè)和相關(guān)檢測單位完全可依據(jù)修訂后標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,準(zhǔn)確測定出搪玻璃設(shè)備搪玻璃層中存在的缺陷和薄弱搪玻璃設(shè)備是一類專業(yè)性強(qiáng)、制造工藝獨(dú)特、用途非常廣泛的防腐設(shè)備,主要用于化工、石化、制貯存和換熱。由于搪玻璃設(shè)備內(nèi)盛裝的介質(zhì)腐蝕性特別強(qiáng),因此,一旦搪玻璃層中存在針孔、裂紋和雜質(zhì)等貫穿性的缺陷和質(zhì)量薄弱點(diǎn),腐蝕性介質(zhì)透過缺陷腐蝕金屬基體,形成穿孔,介質(zhì)泄露造成環(huán)境污染、危及人身健康和安全。高電壓試驗(yàn)是搪玻璃設(shè)備一項(xiàng)最基本、最重要的檢測項(xiàng)目,搪玻璃設(shè)備出廠前、或設(shè)備檢修投用前,全部搪玻璃層應(yīng)進(jìn)行直流高電壓試驗(yàn),以保證搪玻璃層中不存在針孔、裂紋、標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測試方法與國際標(biāo)準(zhǔn)保持一致,實(shí)現(xiàn)國內(nèi)外檢測數(shù)據(jù)的可比性,此次修訂,為了能準(zhǔn)確地檢測出所有缺陷和薄弱點(diǎn),增加了“測試電壓”確定時(shí)考慮的因素。這對準(zhǔn)確檢測和定位搪玻璃層中的缺

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