集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證與測(cè)試方法考核試卷

一、單項(xiàng)選擇題(本題共20小題，每小題1分，共20分，在每小題給出只有一項(xiàng)是符合題目要求的)1.集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證的主要目的是()2.以下哪項(xiàng)不屬于集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證的方法()3.在集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證中，靜態(tài)時(shí)序分析主要關(guān)注()A.電路的功能B.電路的功耗D.電路的面積4.以下哪種方法通常用于檢測(cè)電路中的功能性故障()5.以下哪個(gè)工具不屬于EDA工具()6.在VerilogHDL中，描述時(shí)序邏輯的關(guān)鍵字是()7.以下哪種測(cè)試方法主要用于檢測(cè)電路中的互連故障()8.在進(jìn)行集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證時(shí)，以下哪個(gè)步驟不是必須的()9.以下哪種方法通常用于提高電路的可測(cè)試性()10.在集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證中，以下哪個(gè)指標(biāo)用于評(píng)估測(cè)試的質(zhì)量()11.以下哪種故障模型通常用于模擬電路故障()C.熱故障模型12.在進(jìn)行形式驗(yàn)證時(shí)，以下哪個(gè)方法用于檢查電路的可達(dá)性()B.SAT-basedVerific13.以下哪個(gè)標(biāo)準(zhǔn)與集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證相關(guān)()14.以下哪個(gè)概念與邊界掃描測(cè)試相關(guān)()15.在VerilogHDL中，用于定義線(xiàn)網(wǎng)的關(guān)鍵字是()16.以下哪種方法通常用于降低測(cè)試成本()17.以下哪個(gè)工具主要用于功耗分析()18.以下哪個(gè)概念與測(cè)試向量生成相關(guān)()D.TestProgramGener19.在集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證中，以下哪個(gè)步驟用于確保電路的可靠性()A.功能仿真20.以下哪個(gè)指標(biāo)用于評(píng)估電路的性能()C.面積D.功耗(以下為其他題型，請(qǐng)自行添加)二、多選題(本題共20小題，每小題1.5分，共30分，在每小題給出的四個(gè)選項(xiàng)中，至少有一項(xiàng)是符合題目要求的)1.集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證過(guò)程包括以下哪些階段?()2.以下哪些是靜態(tài)時(shí)序分析工具?()3.以下哪些方法可以用于提高電路的可測(cè)試性?()4.以下哪些屬于數(shù)字集成電路的故障類(lèi)型?()A.永久故障5.在VerilogHDL中，哪些關(guān)鍵字用于定義變量?()6.以下哪些工具可以用于模擬集成電路的功耗?()7.以下哪些方法可以用于生成測(cè)試向量?()8.以下哪些因素會(huì)影響集成電路的測(cè)試質(zhì)量?()9.以下哪些是與邊界掃描測(cè)試相關(guān)的概念?()10.以下哪些是常見(jiàn)的集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證方法?()11.以下哪些工具屬于EDA工具?()12.以下哪些技術(shù)可以用于提高集成電路的可靠性?()A.多重模塊冗余13.以下哪些因素會(huì)影響集成電路的時(shí)序性能?()C.電源噪聲14.以下哪些是常見(jiàn)的數(shù)字電路測(cè)試方法?()15.在VerilogHDL中，哪些關(guān)鍵字用于描述時(shí)序邏輯?()16.以下哪些方法可以用于檢測(cè)電路中的靜態(tài)故障?()17.以下哪些工具可以用于進(jìn)行形式驗(yàn)證?()B.SAT-basedVerific18.以下哪些因素會(huì)影響集成電路的功耗?()A.電路活動(dòng)19.以下哪些是測(cè)試向量生成時(shí)需要考慮的因素?()C.測(cè)試時(shí)間20.以下哪些方法可以用于評(píng)估集成電路的性能?()三、填空題(本題共10小題，每小題2分，共20分，請(qǐng)將正確答案填到題目空白處)2.集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證通常分為_(kāi)驗(yàn)證和物理驗(yàn)證兩個(gè)階段。5.測(cè)試是一種通過(guò)檢測(cè)電路的功耗變化來(lái)檢測(cè)故障的方法。6.是指在不違反電路設(shè)計(jì)規(guī)范的前提下，生成的測(cè)試向量能夠檢測(cè)出所有可7.在集成電路設(shè)計(jì)中，_是指電路在沒(méi)有外部輸入的情況下能夠達(dá)到穩(wěn)定8._是一種基于布爾可滿(mǎn)足性的驗(yàn)證方法，用于檢查電路設(shè)計(jì)9.集成電路的面積主要取決于電路的和工藝技術(shù)。四、判斷題(本題共10小題，每題1分，共10分，正確的請(qǐng)?jiān)诖痤}括號(hào)中畫(huà)v,錯(cuò)誤的畫(huà)1.集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證的主要任務(wù)是發(fā)現(xiàn)并修正電路設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤。()2.功能驗(yàn)證是通過(guò)軟件模擬來(lái)驗(yàn)證電路的功能是否正確。()3.形式驗(yàn)證可以100%保證電路中沒(méi)有功能性錯(cuò)誤。()4.時(shí)序驗(yàn)證主要關(guān)注電路的功耗問(wèn)題。()5.IDDQ測(cè)試可以檢測(cè)電路中的所有故障類(lèi)型。()6.在VerilogHDL中，always塊只能用來(lái)描述時(shí)序邏輯。()7.邊界掃描測(cè)試可以檢測(cè)電路中的所有故障。()8.多項(xiàng)式時(shí)間復(fù)雜度的算法可以用于解決所有類(lèi)型的驗(yàn)證問(wèn)題。()9.集成電路的面積和功耗與電路的性能無(wú)關(guān)。()10.判斷題的答案只能是v或x,不能留空或填寫(xiě)其他字符。()五、主觀題(本題共4小題，每題10分，共40分)1.請(qǐng)簡(jiǎn)述集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證的基本流程，并說(shuō)明各個(gè)階段的主要任務(wù)2.描述形式驗(yàn)證與功能驗(yàn)證的區(qū)別和聯(lián)系，并給出至少兩種常用的形式驗(yàn)證方法。3.請(qǐng)闡述IDDQ測(cè)試的原理，以及它在集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證中的作4.針對(duì)一個(gè)簡(jiǎn)單的時(shí)序電路，請(qǐng)說(shuō)明如何進(jìn)行時(shí)序分析，以及需要關(guān)注哪些關(guān)鍵指標(biāo)準(zhǔn)答案一、單項(xiàng)選擇題二、多選題1.功能4.延遲/建立時(shí)間7.初始狀態(tài)四、判斷題