標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 45325-2025 貴金屬鍵合絲熱影響區(qū)長(zhǎng)度測(cè)定 掃描電鏡法》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),旨在規(guī)定使用掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)來測(cè)量貴金屬鍵合絲在焊接或熱處理過程中產(chǎn)生的熱影響區(qū)長(zhǎng)度的方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的貴金屬鍵合絲,如金、銀、鉑及其合金等,在電子封裝行業(yè)中的應(yīng)用尤為重要。
根據(jù)這項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn),首先需要準(zhǔn)備合適的樣品,這通常涉及到將鍵合絲固定在一個(gè)能夠清晰顯示其橫截面的基底上,并通過適當(dāng)?shù)氖侄危ɡ鐧C(jī)械切割和拋光)暴露待測(cè)區(qū)域。然后利用掃描電鏡觀察這些經(jīng)過處理后的樣品表面形貌,特別是關(guān)注那些由于加熱而導(dǎo)致材料微觀結(jié)構(gòu)發(fā)生變化的區(qū)域。熱影響區(qū)是指因焊接或其他形式的局部加熱作用下,材料物理性能與原始狀態(tài)相比發(fā)生顯著改變的那一部分。
為了準(zhǔn)確界定熱影響區(qū)邊界,標(biāo)準(zhǔn)中定義了基于顯微組織特征變化的標(biāo)準(zhǔn),比如晶粒尺寸的變化、相變現(xiàn)象或者是其他可通過SEM圖像識(shí)別出來的微觀結(jié)構(gòu)差異。此外,還可能涉及對(duì)不同位置進(jìn)行元素分析以輔助判斷熱影響區(qū)范圍。最終,依據(jù)上述觀察結(jié)果,可以精確地測(cè)量出熱影響區(qū)的實(shí)際長(zhǎng)度。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 即將實(shí)施
- 暫未開始實(shí)施
- 2025-02-28 頒布
- 2025-09-01 實(shí)施



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GB/T 45325-2025貴金屬鍵合絲熱影響區(qū)長(zhǎng)度測(cè)定掃描電鏡法-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡(jiǎn)介
ICS7704099
CCSH.21.
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T45325—2025
貴金屬鍵合絲熱影響區(qū)長(zhǎng)度測(cè)定
掃描電鏡法
Determinationoflengthofheataffectedzoneforpreciousmetalbondingwire—
Scanningelectronmicroscopemethod
2025-02-28發(fā)布2025-09-01實(shí)施
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T45325—2025
前言
本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任
。。
本文件由中國(guó)有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)提出
。
本文件由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC243)。
本文件起草單位貴研檢測(cè)科技云南有限公司北京達(dá)博有色金屬焊料有限責(zé)任公司貴研半導(dǎo)
:()、、
體材料云南有限公司煙臺(tái)一諾電子材料有限公司國(guó)合通用青島測(cè)試評(píng)價(jià)有限公司郴州市產(chǎn)商
()、、()、
品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)所云南貴金屬實(shí)驗(yàn)室有限公司有色金屬技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究院有限責(zé)任公司北京有色金
、、、
屬與稀土應(yīng)用研究所有限公司浙江佳博科技股份有限公司
、。
本文件主要起草人王一晴毛端趙萬春陳雯陳國(guó)華周文艷向磊朱武勛閆茹林良齊岳峰
:、、、、、、、、、、、
薛子夜張曉辰張卓佳劉潔畢勤嵩袁曉虹梁辰金婭秋趙義東
、、、、、、、、。
Ⅰ
GB/T45325—2025
貴金屬鍵合絲熱影響區(qū)長(zhǎng)度測(cè)定
掃描電鏡法
1范圍
本文件描述了各類貴金屬鍵合絲以下簡(jiǎn)稱鍵合絲熱影響區(qū)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)定方法
(“”)。
本文件方法一適用于鍵合金絲熱影響區(qū)長(zhǎng)度的測(cè)定
。
本文件方法二適用于直徑不超過的純金屬合金或復(fù)合類鍵合絲的熱影響區(qū)長(zhǎng)度測(cè)定
50μm、。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文
。,
件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于
,;,()
本文件
。
微束分析掃描電子顯微術(shù)術(shù)語
GB/T23414—2009
貴金屬復(fù)合材料覆層厚度的掃描電鏡測(cè)定方法
GB/T38783—2020
3術(shù)語和定義
界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件
GB/T23414—2009。
31
.
自由空氣球freeairballFAB
;
引線鍵合燒球階段高壓電弧擊穿空氣并放出大量的熱使鍵合絲末端熔化冷卻時(shí)由于表面張力
,,,
作用使鍵合絲末端形成的一個(gè)金屬圓球
。
32
.
熱影響區(qū)heataffectedzoneHAZ
;
引線鍵合燒球過程中高溫熔化鍵合絲末端形成自由空氣球同時(shí)熱量傳導(dǎo)使鍵合絲近
,(FAB),
區(qū)域發(fā)生再結(jié)晶及晶粒長(zhǎng)大現(xiàn)象的區(qū)域
FAB。
33
.
聚焦離子束focusedionbeamFIB
;
將離子源通過離子槍加速電磁透鏡聚焦后形成的離子束流
、。
來源有修改
[:GB/T38783—2020,3.1,]
34
.
雙束電子顯微鏡dualbeamelectronmicroscope
由聚焦離子束與掃描電子顯微鏡結(jié)合而成的雙束電子束離子束系統(tǒng)
(/)。
來源有修改
[:GB/T38783—2020,3.2,]
35
.
氣體注入系統(tǒng)gasinjectionsystemGIS
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