ICP-MS簡(jiǎn)單培訓(xùn)

1、ICP-MS簡(jiǎn)單培訓(xùn)資料一、ICP-MS 簡(jiǎn)介ICP-MS全稱電感耦合等離子體質(zhì)譜（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry），可分析幾乎地球上所有元素（Li-U）ICP-MS技術(shù)是80年代發(fā)展起來(lái)的新的分析測(cè)試技術(shù)。它以將ICP的高溫（8000K）電離特性與四極桿質(zhì)譜計(jì)的靈敏快速掃描的優(yōu)點(diǎn)相結(jié)合而形成一種新型的最強(qiáng)有力的元素分析、同位素分析和形態(tài)分析技術(shù)。該技術(shù)提供了極低的檢出限、極寬的動(dòng)態(tài)線性范圍、譜線簡(jiǎn)單、干擾少、分析精密度高、分析速度快以及可提供同位素信息等分析特性。自1984年第一臺(tái)商品儀器問(wèn)世以來(lái)，這項(xiàng)技術(shù)已從最初在地質(zhì)科學(xué)研究的應(yīng)用

2、迅速發(fā)展到廣泛應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)、半導(dǎo)體、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、石油、核材料分析等領(lǐng)域。被稱為當(dāng)代分析技術(shù)最激動(dòng)人心的發(fā)展。電感耦合等離子體質(zhì)譜分析法是將電感耦等離子體（ICP）技術(shù)和質(zhì)譜（MS）技術(shù)結(jié)合起來(lái)，利用等離子體作為離子源，由接口將等離子體中被電離了的試樣離子引入質(zhì)譜儀，用質(zhì)譜儀對(duì)離子進(jìn)行質(zhì)量分析（按m/Z 比值將不同的離子分開）并檢測(cè)記錄，根據(jù)所得質(zhì)譜圖進(jìn)行定性定量分析。二、ICP-MS 儀器和原理介紹標(biāo)準(zhǔn)樣品引入系統(tǒng)由兩個(gè)主要部分組成：樣品提升部分和霧化部分。 樣品提升部分可以使用蠕動(dòng)泵或自提升的霧化器。蠕動(dòng)泵用于提升樣品或提升經(jīng)T接頭混合的樣品/內(nèi)標(biāo)混和液，可以便捷地實(shí)現(xiàn)內(nèi)標(biāo)的在線加入

3、。使用標(biāo)準(zhǔn)的1.02mm內(nèi)徑的樣品管時(shí)，在0.1rps轉(zhuǎn)速下，蠕動(dòng)泵提升樣品的能力大約為0.4ml/min。而內(nèi)標(biāo)管的直徑為0.19mm，因此內(nèi)標(biāo)液的流速更慢，在0.1rps轉(zhuǎn)速下，蠕動(dòng)泵提升內(nèi)標(biāo)的能力大約為20l/min。也就是說(shuō)，內(nèi)標(biāo)溶液相對(duì)于被稀釋20倍，所以雖然我們要求引入系統(tǒng)的內(nèi)標(biāo)元素濃度為50ppb，但使用的內(nèi)標(biāo)溶液濃度為1ppm(1000ppb)。注：即使用自提升的霧化器，仍需要使用蠕動(dòng)泵，因?yàn)殪F化器里的廢液是通過(guò)蠕動(dòng)泵排到廢液桶中的。如果霧化器不排廢液，將導(dǎo)致信號(hào)不穩(wěn)定，如果過(guò)多的液體流入炬管，將導(dǎo)致熄火，對(duì)儀器造成危害。 樣品引入系統(tǒng)的第二部分是霧化器和霧化室。樣品以泵入方式

4、或者自提升方式進(jìn)入霧化器后，在載氣作用下形成小霧滴，并進(jìn)入霧化室。大的、重的霧滴碰到霧化室壁后被排至廢液中，只有小霧滴才可進(jìn)入等離子體內(nèi)。載氣的流量決定了霧化效率，當(dāng)載氣流量不夠大時(shí)，可以增加混合氣流量以保證霧化效率(例如：進(jìn)行冷等離子體實(shí)驗(yàn)時(shí))。下面介紹Agilent的兩種霧化器：高鹽霧化器(Babington)：高鹽霧化器使用高強(qiáng)惰性塑料材質(zhì)，可耐受除濃硫酸以外的所有的酸。霧化過(guò)程：樣品從小孔流出，順凹槽流下，與高速載氣相遇，發(fā)生霧化。高鹽霧化器可以耐受很高的總?cè)芙夤腆w量，不易發(fā)生堵塞，但它不是自提升霧化器，需要蠕動(dòng)泵引入樣品。氬氣出口Babinton霧化器樣品入口樣品出口氬氣入口 同心霧

5、化器(Concentric)：同心霧化器也是一種常用霧化器，由石英材料制成，因此除HF和強(qiáng)堿外適用于各種樣品溶液。霧化過(guò)程：通過(guò)蠕動(dòng)泵或者自提升系統(tǒng)將樣品引入毛細(xì)管中，毛細(xì)管周圍噴出的載氣將樣品霧化。因?yàn)橥撵F化器中的樣品毛細(xì)管內(nèi)徑極細(xì)，容易被固體顆粒堵塞，所以要求使用不含固體顆粒的純凈樣品。氬氣入口樣品入口同心霧化器霧化室的主要目的是去除大液滴，阻止其進(jìn)入炬管，保證只有小顆粒的氣溶膠可以進(jìn)入等離子體。使用霧化室可以提高等離子體的穩(wěn)定性和離子化的效率。大液滴碰撞到霧化室的室壁，并由廢液管排出。炬管和霧化室可以通過(guò)計(jì)算機(jī)x、y、z三維調(diào)控，調(diào)節(jié)精確度可達(dá)0.1mm；使用接頭夾固定炬管和連接管，方

6、便器件的維護(hù)、更換；通過(guò)化學(xué)工作站軟件可以控制、移動(dòng)整個(gè)炬管箱至后方，方便用戶直接維護(hù)錐和提取透鏡。 Agilent 7500 ICP-MS使用的是ICP儀器上通用的Fassel型炬管。這種炬管由三個(gè)同心石英管組成，每層管路中流經(jīng)的氣體也有所不同。如果最中心的管路使用鉑或藍(lán)寶石材質(zhì)的內(nèi)插管，則可檢測(cè)含HF的樣品。 炬管的一端深入工作線圈中，工作線圈可以誘導(dǎo)產(chǎn)生用于樣品離子化的等離子體。為防止等離子體的高溫將炬管融化(等離子體的溫度可以達(dá)到10,000K)，系統(tǒng)向炬管的最外層石英管中引入冷卻氣(又稱等離子體氣)，其流量達(dá)15L/min。冷卻氣/等離子體氣的主要作用是將等離子體推離炬管內(nèi)壁，避免炬

7、管融化，同時(shí)也為等離子體的形成提供了支持氣。在炬管第二層石英管中引入的是輔助氣，其流量大約為1L/min，其作用是將等離子體推離中心樣品引入管的末端，同時(shí)維持等離子體“火焰”。 載氣從炬管的最中心管路進(jìn)入炬管，同時(shí)將霧化室內(nèi)形成的氣溶膠帶入炬管。載氣流路(包括霧化器中引入的載氣和混合氣)的流量要足夠大，保證可以在等離子體中心吹出一個(gè)“孔”，以將樣品引入到等離子體中，實(shí)現(xiàn)樣品的離子化；但載氣流量又不能太大，以免降低氣溶膠解離和離子化效率，并避免降低等離子體溫度。一般說(shuō)來(lái)，使用標(biāo)準(zhǔn)2.5mm的炬管時(shí)，推薦的載氣流速為1.2L/min。使用氬氣作為等離子氣的原因：氬的第一電離能高于絕大多數(shù)元素的第一

8、電離能(除He、F、Ne外)，且低于大多數(shù)元素的第二電離能(除Ca、Sr、Ba等)。因此，大多數(shù)元素在氬氣等離子體環(huán)境中，只能電離成單電荷離子，進(jìn)而可以很容易地由質(zhì)譜儀器分離并加以檢測(cè)。ICP離子源中的物質(zhì)1） 已電離的待測(cè)元素：As+, Pb +, Hg +, Cd +, Cu +, Zn +, Fe +, Ca +, K +, 2） 主體：Ar原子(99.99)3） 未電離的樣品基體：Cl, NaCl(H2O) n, SOn, POn, CaO, Ca(OH)n, FeO, Fe(OH) n,這些成分會(huì)沉積在采樣錐、截取錐、第一級(jí)提透鏡、第二級(jí)提取透鏡（以上部件在真空腔外） 、聚焦透鏡、W

9、偏轉(zhuǎn)透鏡、偏置透鏡、預(yù)四極桿、四極桿、檢測(cè)器上（按先后順序依次減少），是實(shí)際樣品分析時(shí)使儀器不穩(wěn)定的主要因素，也是儀器污染的主要因素；4） 已電離的樣品基體：ArO+, Ar +, ArH+, ArC +, ArCl +, ArAr +,（Ar基分子離子） CaO+, CaOH +, SOn +, POn +, NOH +, ClO + （ 樣品基體產(chǎn)生），這些成分因?yàn)榉肿恿颗c待測(cè)元素如Fe, Ca, K, Cr, As, Se, P, V, Zn, Cu等的原子量相同，是測(cè)定這些元素的主要干擾； 特別需要注意的是，1ppt濃度的樣品元素在0.4mL/min（Babinton霧化器，0.1rp

10、s）速度進(jìn)樣時(shí)，相當(dāng)于每秒進(jìn)入儀器10,000,000個(gè)原子；而在檢測(cè)器得到的離子數(shù)在101000之間，即99.99%的樣品及其基體停留在儀器內(nèi)部或被排廢消除；因此，加大進(jìn)樣量提高靈敏度的后果是同時(shí)加大儀器受污染速度。 碰撞反應(yīng)池系統(tǒng)有三種工作方式：1）Collisional Induced Dissociation （干擾離子碰撞解離CID）什么是碰撞誘導(dǎo)解離（CID）？這是一個(gè)通過(guò)中性分子的碰撞把能量傳遞給離子的過(guò)程。這種能量傳遞足以使分子鍵斷裂和所選擇的離子重排。 為什么它那么重要？在70年代初期McLafferty (JACS, 95, 3886, 1973) 論證了從離子觀測(cè)得的鍵斷

11、裂和重排，表明了CID是中性分子的分子結(jié)構(gòu)的典型代表。 在質(zhì)譜圖被獲得之前，母離子在碰撞池或室中被打碎?？蓲呙枳与x子來(lái)獲取母離子的信息。通過(guò)碎片指紋分析，這種類型的數(shù)據(jù)可用于排序（縮氨酸和糖），結(jié)構(gòu)分析和分析物鑒定。分裂最常用的方法就是碰撞誘導(dǎo)解離(CID)，有時(shí)也稱碰撞激發(fā)分解(CAD)。2）Reaction （反應(yīng)模式,）3）（動(dòng)能歧視KED，7500-ORS以此為主）Agilent 7500 四級(jí)桿Agilent 7500系列使用的是四級(jí)桿質(zhì)量過(guò)濾器。四級(jí)桿由四根精密加工的雙曲面桿平行成對(duì)兒排列而成。四級(jí)桿由純鉬材料制成，四個(gè)桿的中央空隙部分排列著離子束。RF電壓和DC電壓加在對(duì)角的兩個(gè)

12、桿上，而在另外兩個(gè)桿上加的是相同大小的負(fù)電壓。電壓的交替改變，產(chǎn)生了電磁場(chǎng)，與離子束發(fā)生相互作用。在特定的電壓下，只有特定質(zhì)量數(shù)的離子才能穩(wěn)定的沿軌道穿過(guò)四級(jí)桿。因此，通過(guò)快速掃描、變換電壓的方式，不同質(zhì)量數(shù)的離子可以在不同時(shí)間內(nèi)穩(wěn)定，并穿過(guò)四級(jí)桿到達(dá)檢測(cè)器。四級(jí)桿質(zhì)量過(guò)濾器的掃描速度超過(guò)每秒3000amu，相對(duì)于每秒時(shí)間內(nèi)可以對(duì)整個(gè)質(zhì)量范圍掃描10次。 因?yàn)樗臉O桿的掃描速度畢竟是有限的，所以如果離子進(jìn)入四級(jí)桿的速度太快，就會(huì)導(dǎo)致四極桿分離離子的能力降低。因此，儀器在四級(jí)桿之前使用了一個(gè)Plate Bias透鏡，并在其上施加電壓以降低離子進(jìn)入質(zhì)量過(guò)濾器的速度。如果在該透鏡上施加的是正電壓(最大

13、為+5V)，那么就更可以有效地降低離子速率，得到更好的峰形。影響儀器檢測(cè)能力的因素1.環(huán)境污染與實(shí)驗(yàn)室工作條件2.實(shí)驗(yàn)步驟的優(yōu)化設(shè)計(jì)3.試劑污染因素4.購(gòu)買適合測(cè)定要求的高純?cè)噭?.分子離子的干擾因素6.優(yōu)化樣品引入系統(tǒng), 干擾校正方法, 屏蔽炬, 冷等離子體技術(shù), 碰撞池或反應(yīng)池7.記憶效應(yīng)8.優(yōu)化樣品引入系統(tǒng), 加長(zhǎng)沖洗時(shí)間, 操作人員的素質(zhì)9.接口效應(yīng)，基體效應(yīng)10.選擇信號(hào)強(qiáng)度隨著基體元素的基體效應(yīng)、接口效應(yīng)而與待測(cè)元素信號(hào)強(qiáng)度同時(shí)增強(qiáng)或降低的內(nèi)標(biāo)進(jìn)行校正11.隨機(jī)背景12.四極桿、離子透鏡、真空系統(tǒng)等的優(yōu)化組合設(shè)計(jì)三、ICPMS 常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法如遇到儀器有問(wèn)題，先進(jìn)入Diagno

14、stics菜單，查看Error log一，Error1203，1218，1219點(diǎn)不著火最常見(jiàn)的原因就是漏氣導(dǎo)致氬氣不純。1.首先在儀器維護(hù)界面中purge管路，2.檢查樣品管是否在水中。3.檢查與矩管連接的兩路氣Plasma gas 和 Aux gas 接頭是否擰緊。Spray chamber ，連接管，矩管及霧化器安裝是否正常4.廢液管與spray chamber 連接是否正常。EndCap與spray chamber 間的密封圈是否老化。5.如問(wèn)題還沒(méi)有解決，摘下spray chamber 和矩管中間的連接管。用封口膜封住矩管磨口端，點(diǎn)火。如果正常了，重復(fù)2 到46.檢查矩管是否變形，如

15、有shield plate 請(qǐng)檢查shield plate 和 石英bonnet是否變形。7.檢查氣瓶，減壓表，及所有氣路接口及管線是否漏氣。8.檢查矩管下的光纖位置是否正常?？捎秒娡舱展饫w，觀察儀器控制面板中plasma 是否出現(xiàn)。9.檢查調(diào)諧參數(shù)中RF Matching數(shù)值是否合理（1.6-1.7）如果完成上述檢查還不能點(diǎn)火請(qǐng)致電Agilent二，Error1208，2151，2152通常是真空問(wèn)題，在由StandbyAnalysis 過(guò)程中門閥打開后，IF/BK 真空不能維持在450Pa 以內(nèi)1.首先檢查樣品錐錐孔是否變大，樣品錐密封O 圈是否老化2.plasma 離錐口距離是否太大，調(diào)

16、整矩管位置，調(diào)整Sample depth3.檢查機(jī)械泵油是否變色或缺油4.打開儀器大蓋，檢查真空泵管是否松動(dòng)三，Error21521.檢查Purge valve是否擰緊2.真空腔上蓋是否關(guān)緊3.首先檢查樣品錐錐孔是否變大，樣品錐密封O 圈是否老化4.plasma 離錐口距離是否太大，調(diào)整矩管位置，調(diào)整Sample depth5.檢查機(jī)械泵油是否變色或缺油6.按照維護(hù)光盤清洗Penning Gauge中的BodyTube，如還不正常右鍵點(diǎn)擊儀器控制面板上側(cè)的藍(lán)條，選中Cmdline On在commandline中輸入如下命令 scwrite “fake:ain:pgan 1,0.0004”使分析

17、器真空顯示為4E-4Pa再輸入scwrite “frcd:bout:pgan off ” 關(guān)掉Penning gauge四，靈敏度低1. 檢查氬氣壓力是否正常2. 首先檢查霧化器樣品提升是否正常，將樣品管從水中抽出再放入，觀察樣品管中有無(wú)氣泡提升或者取下EndCap在維護(hù)菜單中打開氬氣閥，將Carrier gas 設(shè)為1L/min,直接觀察霧化效果3檢查spray chamber，connector 及矩管連接是否正常4清洗整個(gè)進(jìn)樣系統(tǒng)和樣品錐及截取錐5觀察矩管中心通道是否變形或堵塞6檢查炬管位置是否正確7檢查Axis和Resolution是否正常8檢查離子透鏡固定螺絲是否擰緊9如果儀器在反應(yīng)

18、池模式靈敏度低首先檢查在無(wú)氣體模式時(shí)靈敏度是否符合要求。四、ICP-MS的基本操作1）、開機(jī)1、 開電腦（密碼3000hanover），打印機(jī)；2、 打開儀器的總電源開關(guān)（在儀器后面的下角）和前面的電源開關(guān)；3、雙擊桌面的“ICP-MS TOP”圖標(biāo)進(jìn)入工作站，如下圖所示：4、從Instument菜單中選擇“Instrument control ”或者單擊“Instrument control ”圖標(biāo)進(jìn)入下圖所示的儀器控制界面。從“Vacuum ” 菜單中選擇“vacuum on”，抽真空，第一次開機(jī)需要抽過(guò)夜。儀器狀態(tài)從“SHUTDOWN”到“STANDBY”狀態(tài)轉(zhuǎn)換。狀態(tài)從界面的上方的標(biāo)題

19、欄看出，如下圖5、從“Meters”菜單中選擇“Meter Control Panel”，進(jìn)入如下圖所示的畫面，可以對(duì)真空、水流量、環(huán)境溫度、霧室溫度、氣體壓力及射頻功率進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。（最多同時(shí)可選5項(xiàng)）一般選擇以下幾項(xiàng)IF/BK Pressure-接口及背壓閥壓力； Water Temperature 循環(huán)水溫；S/C Temperature 霧室溫度；Forward Power 入射功率；Reflected Power 反射功率6、首次開機(jī)，因?yàn)橛惺褂门鲎渤兀€需從，從“Maintenance”菜單中選擇“Reaction Gas”，勾選“Open Bypass Valve”，設(shè)置所需反應(yīng)

20、氣流量2-5 mL/min，進(jìn)行反應(yīng)氣氣路吹掃。如果每天使用反應(yīng)池吹掃5-10min即可;如長(zhǎng)期不用使用前需提前2 mL/min吹掃過(guò)夜。7、儀器狀態(tài)轉(zhuǎn)換為“STANDBY”狀態(tài)后，開氬氣（0.7M pa）,循環(huán)水、排風(fēng)?？ㄉ先鋭?dòng)泵管，樣品管必須放入DIW (去離子水)中，若連有內(nèi)標(biāo)管，亦放入DIW 中。8、從“Maintenance”菜單中選擇“Sample Introduction ”,進(jìn)入如下圖設(shè)置檢查確認(rèn)“Inputs ”顯示與“Outputs ”輸入一致，蠕動(dòng)泵的樣品及排液管工作正常。幾分鐘后，點(diǎn)擊“Close ”退出Sample Introduction Maintenance界面

21、。9、 從Instument control界面選擇“Plasma”菜單中的“Plasma ON”進(jìn)行點(diǎn)火，儀器由“Standby ”狀態(tài)向“Analysis”狀態(tài)轉(zhuǎn)換。若已經(jīng)開機(jī)一段時(shí)間，天天使用儀器，可直接從步驟6開始做。2）、調(diào)諧1、 點(diǎn)火后，30 Miin 預(yù)熱儀器，點(diǎn)擊“ICP-MS Top ”畫面的“Tune” 圖標(biāo)進(jìn)入下圖所示的調(diào)諧畫面。2、 將樣品管放入 1 ppb 調(diào)諧液中。在菜單“ALS”中，如調(diào)諧液在89號(hào)位，可在輸入框輸入“1089”，點(diǎn)擊“Start”進(jìn)樣進(jìn)行調(diào)諧，看質(zhì)荷比89的信號(hào)響應(yīng)度，若大于1000，則表示正常，后點(diǎn)擊“Stop”停止采集，如大盤的1.2.3.號(hào)

22、位中，1號(hào)位為去離子水，在“ALS”菜單中，將進(jìn)樣管移至1號(hào)位點(diǎn)擊“Start”看質(zhì)荷比56的信號(hào)響應(yīng)度，若在1800以下，則表示正常，點(diǎn)擊“Stop”停止采集這時(shí)可以保存，在“File”的菜單下點(diǎn)擊“Save tune values”，輸入名稱，一般用日期命名保存。3、 單擊“分辨率/質(zhì)量軸調(diào)諧”圖標(biāo)，進(jìn)入分辨率/質(zhì)量軸調(diào)諧畫面。點(diǎn)擊“Start” 按鈕啟動(dòng)采集。點(diǎn)擊“Stop”按鈕停止采集。確認(rèn)分辨率/質(zhì)量軸是否達(dá)到要求如(CeO/Ce) 1%，(Ce2+/Ce) 3.0%。否則調(diào)整參數(shù)。4、 P/A Factor調(diào)諧（一般一個(gè)月做一次）將內(nèi)標(biāo)管插入1ppm內(nèi)標(biāo)液中，點(diǎn)擊“Tune ”菜單

23、，選擇“P/A Factor”，選“hot”模式，點(diǎn)擊“run”按鈕，儀器將自動(dòng)得到P/A Factor Tuning報(bào)告。3）、建立方法1、 在“ICP-MSTop”畫面，從“Methods” 菜單中選擇“Edit entire method”如下圖2、 出現(xiàn)下圖；點(diǎn)擊“OK”后出現(xiàn)下圖，輸入對(duì)方法的描述4、 在“Method Comments” 中輸入方法注解。如“This is the test method ”。選中“Data Acquisition ”和“Data Analysis” ，點(diǎn)擊“OK”按鈕，進(jìn)入以下畫面。5、在“Select Sample Type” 畫面，將Sampl

24、eBLK、CalStd 、QuantBLK 、Sample 全部add到右邊框中。點(diǎn)擊“OK”按鈕。6、在“Acquisition Mode”界面，選中“Spectrum”選項(xiàng)，點(diǎn)擊“OK”按鈕，進(jìn)入如下圖8、 點(diǎn)擊“Periodic Table ”進(jìn)如下一界面；9、 點(diǎn)擊“Clear All” 按鈕清除歷史的記錄，點(diǎn)擊左鍵選中要分析的元素和ISTD 元素，如：Na, Mg, K, Ca, Fe, V,Cr, As, Cu, Ni, Zn,Hg, Pb, Cd 等及內(nèi)標(biāo)元素ISTD Sc, Ge, In, Bi。點(diǎn)右鍵為不選該元素，雙擊選中的元素，則可以選擇元素的不同質(zhì)量數(shù)，點(diǎn)擊“OK”進(jìn)入下

25、一界面。11、 選中“Set every Mass”，在 “Repetition” 窗口輸入“3” 或“2” 。然后在“Integration Time sec”窗口，設(shè)定為 0.3 sec ；Se, Cd, Hg -2 sec；As -1Sec 。一般較難電離的元素所需要積分的時(shí)間較長(zhǎng)些，設(shè)為0.3甚至更長(zhǎng)，一般容易電離的元素設(shè)為0.1s即可。點(diǎn)擊“OK”進(jìn)入下一界面。12、 因本界面都為ALS的清洗及蠕動(dòng)泵的提升速率，時(shí)間的設(shè)定，都設(shè)定好了的，不需改變，接點(diǎn)“OK”按鈕進(jìn)入以下界面13、 點(diǎn)擊左下角的“New”，出現(xiàn)上圖，在“Load Element list From Current M

26、ethod”前打鉤，點(diǎn)擊“OK”。點(diǎn)擊左下角的“Configure IS/TD Analysis”選擇內(nèi)標(biāo)元素，“Add”到上圖中的右邊欄目中。點(diǎn)擊“OK”；14、 點(diǎn)擊“OK”出現(xiàn)以下的界面。在下圖中，將選擇的內(nèi)標(biāo)元素，“VIS”欄下，雙擊表格，“VIS”變?yōu)椤癘N”，在待測(cè)元素的“IS/TD”欄目下，每個(gè)都選擇“VIS”，單位（Unit）標(biāo)品的濃度進(jìn)行選擇，比如Ca的濃度為1mg/L，則選擇mg/L，Level1的濃度為0，則寫為0，Level2的濃度為1，則寫為1，如下圖，為，在Ag的Level2下寫為10，Ag的單位為ug/L，選中Level2下，Ca和Ag的濃度，點(diǎn)擊右鍵，選擇子菜單中的“Conc.Multiply”選擇標(biāo)品的濃度，一般為從低到高，點(diǎn)擊“OK”。如下圖13、 點(diǎn)擊“OK”出現(xiàn)以下界面點(diǎn)擊“OK”后出現(xiàn)以下界面15、 點(diǎn)擊“OK”按鈕，進(jìn)入下一畫面。16、 輸入方法名，如“Ch123”，點(diǎn)擊“OK”按鈕，進(jìn)入下一界面，點(diǎn)擊“Yes”，方法設(shè)定完畢。4）、采集數(shù)據(jù)1、 在圖標(biāo)中，點(diǎn)擊子菜單下的“Edit Sample Log Table”，在窗口下調(diào)出，我們檢測(cè)時(shí)所需要的方法，這時(shí)出現(xiàn)一個(gè)表格，設(shè)定樣品類型，樣品位置，樣品名稱等，如下圖設(shè)置。2、 點(diǎn)擊 子菜單中