超聲波無損探傷

1、 本章將重點講述超本章將重點講述超聲波的性質(zhì)，直接接觸聲波的性質(zhì)，直接接觸法超聲波探傷；簡單介法超聲波探傷；簡單介紹超聲波探傷設(shè)備。紹超聲波探傷設(shè)備。 第一節(jié)第一節(jié) 超聲波的產(chǎn)生、性質(zhì)及衰減超聲波的產(chǎn)生、性質(zhì)及衰減 第二節(jié)第二節(jié) 超聲波探傷設(shè)備簡介超聲波探傷設(shè)備簡介 第三節(jié)第三節(jié) 超聲波探傷原理及其應(yīng)用超聲波探傷原理及其應(yīng)用 第四節(jié)第四節(jié) 直接接觸法超聲波探傷直接接觸法超聲波探傷 l聲波及其分類聲波及其分類聲波是一種機械波，它的頻率（通常用字母聲波是一種機械波，它的頻率（通常用字母f f表示）表示）范圍很寬，按照人的聽力極限，將聲波劃分為三種：范圍很寬，按照人的聽力極限，將聲波劃分為三種：即次

2、聲波、聲波和超聲波。其中：即次聲波、聲波和超聲波。其中：l當(dāng)當(dāng)f f20Hz20Hz時，叫做次聲波；時，叫做次聲波；l當(dāng)當(dāng)f f為為20Hz20Hz20kHz20kHz時，叫做聲波；時，叫做聲波；l當(dāng)當(dāng)f f20kHz20kHz時，叫做超聲波。時，叫做超聲波。 l注：注：聲波是人耳可以聽得見的，而次聲波和超聲波則聲波是人耳可以聽得見的，而次聲波和超聲波則是人耳聽不見也感覺不到的是人耳聽不見也感覺不到的 。l目前金屬探傷中最常用的產(chǎn)生超聲波的方法目前金屬探傷中最常用的產(chǎn)生超聲波的方法是壓電法。是壓電法。l超聲波的產(chǎn)生與接收是利用超聲波探頭中壓超聲波的產(chǎn)生與接收是利用超聲波探頭中壓電晶片的壓電效應(yīng)

3、來實現(xiàn)的。電晶片的壓電效應(yīng)來實現(xiàn)的。 l探傷使用的超聲波頻率一般為探傷使用的超聲波頻率一般為0.50.51010MzMz，其中以其中以2 25 5MzMz最為常用。最為常用。l壓電法是利用壓電晶體（水晶、鈦酸鋇、鋯鈦壓電法是利用壓電晶體（水晶、鈦酸鋇、鋯鈦酸鉛和硫酸鋰）來產(chǎn)生超聲波。酸鉛和硫酸鋰）來產(chǎn)生超聲波。l用壓電晶體切出的晶片稱為壓電晶片。用壓電晶體切出的晶片稱為壓電晶片。l壓電晶片具有壓電效應(yīng)，即晶片受拉應(yīng)力或壓壓電晶片具有壓電效應(yīng)，即晶片受拉應(yīng)力或壓應(yīng)力作用而變形時，會在晶片表面出現(xiàn)電荷；應(yīng)力作用而變形時，會在晶片表面出現(xiàn)電荷；反之，在電荷或電場作用下，晶片會發(fā)生變形，反之，在電荷或

4、電場作用下，晶片會發(fā)生變形，前者稱為正壓電效應(yīng)；后者稱為逆壓電效應(yīng)前者稱為正壓電效應(yīng)；后者稱為逆壓電效應(yīng)。l超聲波是由壓電晶片的逆壓電效應(yīng)產(chǎn)生的。超聲波是由壓電晶片的逆壓電效應(yīng)產(chǎn)生的。1 1、超聲波具有、超聲波具有良好的指向性良好的指向性2 2、超聲波能在彈性介質(zhì)中、超聲波能在彈性介質(zhì)中傳播傳播，不能在真空中，不能在真空中傳播傳播3 3、異質(zhì)界面上的、異質(zhì)界面上的透射、反射、折射和波形轉(zhuǎn)換透射、反射、折射和波形轉(zhuǎn)換 4 4、具有可穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有具有可穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減衰減的特性的特性 l直線性直線性在彈性介質(zhì)中能象光波一樣沿直線傳播，并符合幾在彈性介質(zhì)中能象光波一樣沿直線傳播，并符

5、合幾何光學(xué)規(guī)律。何光學(xué)規(guī)律。超聲波在固定的介質(zhì)中傳播速度是常數(shù)超聲波在固定的介質(zhì)中傳播速度是常數(shù) l束射性束射性聲源發(fā)出的超聲波能集中在一定區(qū)域內(nèi)定向輻射。聲源發(fā)出的超聲波能集中在一定區(qū)域內(nèi)定向輻射。 l超聲波也有不同的波形，并且各類型波的傳播介質(zhì)、超聲波也有不同的波形，并且各類型波的傳播介質(zhì)、傳播速度和本身具有的特點也不完全相同。傳播速度和本身具有的特點也不完全相同。( (表表3-13-1、表表3-23-2) ) l超聲波在同一介質(zhì)中傳播時，縱波速度最快，橫波次超聲波在同一介質(zhì)中傳播時，縱波速度最快，橫波次之，表面波最慢。之，表面波最慢。l對同一頻率在同一介質(zhì)中傳播的超聲波縱波波長最長，對同

6、一頻率在同一介質(zhì)中傳播的超聲波縱波波長最長，橫波次之，表面波最短。橫波次之，表面波最短。l由于探測缺陷的分辨力（超聲波分辨相鄰缺陷的能力）由于探測缺陷的分辨力（超聲波分辨相鄰缺陷的能力）與波長有關(guān)，波長越短分辨力越高，因此表面波的分與波長有關(guān)，波長越短分辨力越高，因此表面波的分辨力最高，橫波次之，縱波最低。辨力最高，橫波次之，縱波最低。波波 形形定定 義義傳播介質(zhì)傳播介質(zhì)應(yīng)用范圍應(yīng)用范圍縱波縱波(L)(L)質(zhì)點振動方向與波的傳質(zhì)點振動方向與波的傳播方向相同播方向相同固 體 、 液固 體 、 液體、氣體體、氣體鋼板、鍛件、鋼板、鍛件、焊縫焊縫橫波橫波(S)(S)質(zhì)點振動方向與波的傳質(zhì)點振動方向與

7、波的傳播方向垂直播方向垂直固體固體焊縫、鋼管焊縫、鋼管表 面表 面波波(R)(R)質(zhì)點僅在固體表面作橢質(zhì)點僅在固體表面作橢圓形運動圓形運動固體表面固體表面鋼板、鋼管、鋼板、鋼管、鍛件表面鍛件表面 材料種類材料種類密度密度(g/cm(g/cm3 3) ) 縱波縱波C CL L(m/s) (m/s) 橫波橫波C CS S(m/s) (m/s) 鋁鋁2.762603080鑄鐵鑄鐵7.356003200鋼鋼7.859503230銅銅8.947002260有機玻璃有機玻璃1.1827301460陶瓷陶瓷2.456003500機油機油0.921400水水(20)1.01500空氣空氣0.0012340 l

8、垂直入射：透射、反射和繞射垂直入射：透射、反射和繞射 l傾斜入射：反射、折射和波形轉(zhuǎn)換傾斜入射：反射、折射和波形轉(zhuǎn)換1 1散射引起的衰減散射引起的衰減 超聲波在傳播過程中，遇到不均勻的和各向異性的金屬晶粒時超聲波在傳播過程中，遇到不均勻的和各向異性的金屬晶粒時則會在界面上發(fā)生散亂反射、折射和波形轉(zhuǎn)換，從而消耗超聲則會在界面上發(fā)生散亂反射、折射和波形轉(zhuǎn)換，從而消耗超聲波的能量，這種衰減稱為散射衰減。波的能量，這種衰減稱為散射衰減。 2 2介質(zhì)吸收引起的衰減介質(zhì)吸收引起的衰減 由于質(zhì)點之間的相對運動和相互摩擦使部分聲能轉(zhuǎn)換為熱能，由于質(zhì)點之間的相對運動和相互摩擦使部分聲能轉(zhuǎn)換為熱能，通過熱傳導(dǎo)引起

9、衰減，這種衰減稱為介質(zhì)吸收引起的衰減。通過熱傳導(dǎo)引起衰減，這種衰減稱為介質(zhì)吸收引起的衰減。 3 3聲束擴散引起的衰減聲束擴散引起的衰減 超聲波在傳播過程中會發(fā)生擴散，且隨傳播距離的增加，擴散超聲波在傳播過程中會發(fā)生擴散，且隨傳播距離的增加，擴散程度也將會增大。聲束擴散導(dǎo)致聲束的截面增大，從而使單位程度也將會增大。聲束擴散導(dǎo)致聲束的截面增大，從而使單位面積上的聲能減小。這種形式引起的超聲波能量衰減稱為擴散面積上的聲能減小。這種形式引起的超聲波能量衰減稱為擴散衰減。衰減。 一、探頭一、探頭二、超聲波探傷儀二、超聲波探傷儀三、試塊三、試塊1 1、直探頭、直探頭2 2、斜探頭、斜探頭3 3、探頭的主要

10、參數(shù)與型號、探頭的主要參數(shù)與型號l聲束垂直于被檢工件表面入射的探頭稱聲束垂直于被檢工件表面入射的探頭稱為直探頭。為直探頭。l直探頭用于發(fā)射和接收縱波。直探頭用于發(fā)射和接收縱波。 l組成：組成：壓電元件：產(chǎn)生和接收超聲波壓電元件：產(chǎn)生和接收超聲波吸收塊：吸收雜波吸收塊：吸收雜波保護膜：保護元件不受磨損保護膜：保護元件不受磨損殼體：安裝上述元件殼體：安裝上述元件 l利用透聲斜楔塊使聲束傾斜于工件表面射入工利用透聲斜楔塊使聲束傾斜于工件表面射入工件的探頭稱為斜探頭。件的探頭稱為斜探頭。l 用于發(fā)射和接收橫波。用于發(fā)射和接收橫波。l組成：組成：探頭蕊探頭蕊( (壓電元件和吸收塊組成，與直探頭相似壓電元

11、件和吸收塊組成，與直探頭相似) )斜楔塊斜楔塊殼體殼體 l斜楔塊由有機玻璃制成，它與工件組成固定傾斜的異斜楔塊由有機玻璃制成，它與工件組成固定傾斜的異質(zhì)界面，使壓電元件發(fā)射的超聲波通過波形轉(zhuǎn)換，使質(zhì)界面，使壓電元件發(fā)射的超聲波通過波形轉(zhuǎn)換，使在工件中傳播的只有折射橫波。在工件中傳播的只有折射橫波。l斜楔塊的角度不同就使得入射工件的超聲波的角度不斜楔塊的角度不同就使得入射工件的超聲波的角度不同，因而可以探測不同厚度的工件。同，因而可以探測不同厚度的工件。l通常斜探頭是以橫波在鋼中的折射角標(biāo)稱：通常斜探頭是以橫波在鋼中的折射角標(biāo)稱：=40=400 0、45450 0、50500 0、60600 0

12、、70700 0；或以折射角的正切值標(biāo)稱：；或以折射角的正切值標(biāo)稱：k=tgk=tg=1.0=1.0、1.51.5、2.02.0、2.52.5、3.03.0。1 1）探頭）探頭K K值值 K K值大小決定聲束入射工件的方向和在工件中的傳值大小決定聲束入射工件的方向和在工件中的傳播途徑，可以依據(jù)該值進行缺陷的定位計算，因此播途徑，可以依據(jù)該值進行缺陷的定位計算，因此探頭使用磨損后應(yīng)重新測量探頭使用磨損后應(yīng)重新測量K K值。值。2 2）前沿長度）前沿長度 聲束入射點至探頭前端面的距離稱為前沿長度。聲束入射點至探頭前端面的距離稱為前沿長度。 2.5 B 20 Z 5 P 6x6 K 3直探頭直探頭圓

13、晶片直徑圓晶片直徑(mm)鈦酸鋇陶瓷晶片鈦酸鋇陶瓷晶片基本頻率基本頻率2.5Mz斜探頭斜探頭k=3以以K值表示的斜探頭值表示的斜探頭方形晶片尺寸方形晶片尺寸基本頻率基本頻率5.0Mz鋯鈦酸鉛陶瓷晶片鋯鈦酸鉛陶瓷晶片l分類分類：按超聲波的連續(xù)性分類：脈沖波、連續(xù)波和調(diào)頻波三種。按超聲波的連續(xù)性分類：脈沖波、連續(xù)波和調(diào)頻波三種。按缺陷顯示方式分類：按缺陷顯示方式分類：探傷儀分為探傷儀分為A A型顯示（缺陷波幅顯型顯示（缺陷波幅顯示）、示）、B B型顯示（缺陷側(cè)視圖象顯示）、型顯示（缺陷側(cè)視圖象顯示）、C C型顯示（缺陷俯視型顯示（缺陷俯視圖象顯示）和圖象顯示）和3D3D型顯示（型顯示（ 缺陷三維圖

14、象顯示）缺陷三維圖象顯示） 三種。三種。按超聲波的通道數(shù)目按超聲波的通道數(shù)目：按超聲波的通道數(shù)目又可將其分為單按超聲波的通道數(shù)目又可將其分為單通道和多通道兩種。通道和多通道兩種。 l焊縫探傷中廣泛使用的焊縫探傷中廣泛使用的是是A A型顯示脈沖反射式單通道型顯示脈沖反射式單通道超聲波探傷儀。超聲波探傷儀。 l試塊是按一定用途設(shè)計制作的具有簡單形狀人試塊是按一定用途設(shè)計制作的具有簡單形狀人工反射體的試件。工反射體的試件。l它是探傷標(biāo)準(zhǔn)的一個組成部分，是判定探傷對它是探傷標(biāo)準(zhǔn)的一個組成部分，是判定探傷對象的重要尺度。象的重要尺度。l超聲波探傷的靈敏度通過試塊來確定。超聲波探傷的靈敏度通過試塊來確定。

15、l試塊分為標(biāo)準(zhǔn)試塊和對比試塊。試塊分為標(biāo)準(zhǔn)試塊和對比試塊。lCSKCSKIBIB試塊的主要用途：試塊的主要用途：利用利用R100mmR100mm圓弧面測定探頭入射點和前沿長度，圓弧面測定探頭入射點和前沿長度，利用利用50mm50mm孔的反射波測定斜探頭折射角或孔的反射波測定斜探頭折射角或K K值。值。校驗探傷儀的水平線性和垂直線性。校驗探傷儀的水平線性和垂直線性。利用利用1.5mm1.5mm橫通孔的反射波調(diào)整探傷靈敏度，利橫通孔的反射波調(diào)整探傷靈敏度，利用用R100mmR100mm圓弧面調(diào)整探測范圍。圓弧面調(diào)整探測范圍。 lRBRB試塊主要用于繪制距離試塊主要用于繪制距離波幅曲線，調(diào)整探測范圍

16、波幅曲線，調(diào)整探測范圍和掃描速度，確定探傷靈敏度和評定缺陷大小。和掃描速度，確定探傷靈敏度和評定缺陷大小。 l試塊有三種，分別適用于不同的板厚試塊有三種，分別適用于不同的板厚 。l直接接觸法超聲波探傷直接接觸法超聲波探傷垂直入射法垂直入射法斜角探傷法斜角探傷法l液浸法超聲波探傷液浸法超聲波探傷l垂直入射法（簡稱垂直法）是采用直探頭將垂直入射法（簡稱垂直法）是采用直探頭將聲束垂直入射工件表面進行探傷。聲束垂直入射工件表面進行探傷。l該法是利用縱波進行探傷，故又稱縱波法該法是利用縱波進行探傷，故又稱縱波法l垂直法探傷能發(fā)現(xiàn)與探傷面平行或近似于平垂直法探傷能發(fā)現(xiàn)與探傷面平行或近似于平行的缺陷，適用于

17、厚鋼板、軸類、輪等幾何行的缺陷，適用于厚鋼板、軸類、輪等幾何形狀簡單的工件。形狀簡單的工件。 l斜角探傷法（簡稱斜射法）是采用斜探頭將聲斜角探傷法（簡稱斜射法）是采用斜探頭將聲束傾斜入射工件表面進行探傷。束傾斜入射工件表面進行探傷。l該法是利用橫波進行探傷，故又稱橫波法。該法是利用橫波進行探傷，故又稱橫波法。l斜角探傷法能發(fā)現(xiàn)與探測表面成角度的缺陷，斜角探傷法能發(fā)現(xiàn)與探測表面成角度的缺陷，常用于焊縫、環(huán)狀鍛件、管材的檢查。常用于焊縫、環(huán)狀鍛件、管材的檢查。 直射法：在直射法：在0.50.5跨距的聲程以內(nèi)，超聲波不經(jīng)底面跨距的聲程以內(nèi)，超聲波不經(jīng)底面反射而直接對準(zhǔn)缺陷的探傷方法，又稱一次波法。反

18、射而直接對準(zhǔn)缺陷的探傷方法，又稱一次波法。一次反射法：超聲波只在底面反射一次而對準(zhǔn)缺陷一次反射法：超聲波只在底面反射一次而對準(zhǔn)缺陷的探傷方法，又稱二次波法。的探傷方法，又稱二次波法。 一、探傷前的準(zhǔn)備一、探傷前的準(zhǔn)備二、實時探傷操作二、實時探傷操作三、缺陷性質(zhì)估判和定位三、缺陷性質(zhì)估判和定位四、焊縫質(zhì)量評定四、焊縫質(zhì)量評定1 1、檢驗等級的確定、檢驗等級的確定2 2、探傷面及探傷方法的選擇、探傷面及探傷方法的選擇3 3、探頭的選擇、探頭的選擇4 4、探傷儀的調(diào)節(jié)、探傷儀的調(diào)節(jié)lGB/T11345GB/T1134519891989標(biāo)準(zhǔn)中把檢驗劃分為標(biāo)準(zhǔn)中把檢驗劃分為A A、B B、C C三個三個

19、級別：級別：lA A級級檢驗時完善程度最低，難度系數(shù)最小。適用于檢驗時完善程度最低，難度系數(shù)最小。適用于普通鋼結(jié)構(gòu)檢驗。普通鋼結(jié)構(gòu)檢驗。lB B級級檢驗時完善程度一般，難度系數(shù)較大。適用于檢驗時完善程度一般，難度系數(shù)較大。適用于壓力容器檢驗、船舶等。壓力容器檢驗、船舶等。lC C級級檢驗時完善程度最高，難度系數(shù)最大。適用于檢驗時完善程度最高，難度系數(shù)最大。適用于核容器與管道等檢驗。核容器與管道等檢驗。l各檢驗等級的的檢驗范圍見表各檢驗等級的的檢驗范圍見表3 37 7。 檢驗等級檢驗等級 板厚板厚 項目項目ABC5050100100100100100100100100探頭角度數(shù)量探頭角度數(shù)量11

20、或或2222探傷面數(shù)量探傷面數(shù)量11或或2212探傷側(cè)數(shù)量探傷側(cè)數(shù)量12222串列掃查串列掃查 0或或22母材檢驗?zāi)覆臋z驗 11縱向缺陷探測方向與次數(shù)縱向缺陷探測方向與次數(shù)12或或44610橫向缺陷探測方向與次數(shù)橫向缺陷探測方向與次數(shù)00或或40或或444l選擇探傷方法要根據(jù)工件的結(jié)構(gòu)特點和采用的選擇探傷方法要根據(jù)工件的結(jié)構(gòu)特點和采用的焊接方法的特點，并結(jié)合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進行，見表焊接方法的特點，并結(jié)合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進行，見表3 38 8l探傷面應(yīng)根據(jù)不同的檢驗等級和板厚來選擇，探傷面應(yīng)根據(jù)不同的檢驗等級和板厚來選擇，見表見表3 37 7、表、表3 38 8的規(guī)定。的規(guī)定。板厚板厚/mm探探 傷傷 面面探

21、傷方法探傷方法使用使用K值值A(chǔ) A級級B B級級C C級級2525單面單單面單側(cè)側(cè)單面雙側(cè)單面雙側(cè)或或雙面單側(cè)雙面單側(cè)直射法直射法一次反射一次反射法法2.5；2.0252550502.5；2.0；1.55050100100無無A級級直射法直射法1 1或或1.51.5；1 1和和1.51.5并用；并用；1 1和和2.02.0并用并用100100雙面雙側(cè)雙面雙側(cè)1 1和和1.51.5或或2.02.0并并用用 1 1、探頭形式：焊縫探傷選用斜探頭、探頭形式：焊縫探傷選用斜探頭2 2、晶片尺寸：根據(jù)工件厚度選擇，一般、晶片尺寸：根據(jù)工件厚度選擇，一般直徑直徑為為5 540mm 40mm 3 3、探頭頻

22、率：、探頭頻率：焊縫探傷推薦采用焊縫探傷推薦采用2 22.5Hz2.5Hz 4 4、探頭、探頭K K值：值：焊縫探傷中，薄工件宜采用焊縫探傷中，薄工件宜采用 K K 值大的值大的探頭；大厚度工件宜采用探頭；大厚度工件宜采用 K K 值小的探頭。且探頭值小的探頭。且探頭K K值在值在每次使用前和使用過程中要重新測定每次使用前和使用過程中要重新測定。l測定探頭入射點測定探頭入射點 把探頭放把探頭放在在CSKCSKIBIB試塊上前后移動，找出試塊上前后移動，找出R100mmR100mm圓弧面最高反射波，此時在斜楔塊上與圓弧面最高反射波，此時在斜楔塊上與R100mmR100mm圓弧圓弧面圓心對應(yīng)的點即

23、為探頭的入射點，同時還可求得面圓心對應(yīng)的點即為探頭的入射點，同時還可求得入射點至探頭底面前端的距離，即前沿長度。入射點至探頭底面前端的距離，即前沿長度。l測定探頭值測定探頭值 利用利用50mm50mm孔的反射，用同樣方法找出其最高反射孔的反射，用同樣方法找出其最高反射波，此時與入射點對應(yīng)的波，此時與入射點對應(yīng)的K K值，即為探頭值，即為探頭K K值。值。 l探傷范圍的調(diào)節(jié)探傷范圍的調(diào)節(jié)l掃描速度的調(diào)節(jié)掃描速度的調(diào)節(jié)l探傷靈敏度的選定及其調(diào)整探傷靈敏度的選定及其調(diào)整1 1確定檢驗區(qū)寬度確定檢驗區(qū)寬度 檢驗區(qū)寬度應(yīng)是焊縫寬度加上焊縫兩側(cè)相當(dāng)于母材厚度檢驗區(qū)寬度應(yīng)是焊縫寬度加上焊縫兩側(cè)相當(dāng)于母材厚度

24、3030的的區(qū)域，一般為區(qū)域，一般為101020 mm 20 mm 2 2確定探頭移動區(qū)確定探頭移動區(qū) 直射法探傷時，移動區(qū)寬度直射法探傷時，移動區(qū)寬度L L0.75P0.75P；一次反射法時，移動區(qū)寬度一次反射法時，移動區(qū)寬度L L1.25P 1.25P 3 3單探頭的掃查方法單探頭的掃查方法鋸齒形掃查、鋸齒形掃查、基本掃查、平行掃查、斜平行掃查基本掃查、平行掃查、斜平行掃查4 4雙探頭的掃查方法雙探頭的掃查方法 串列掃查、交叉掃查和串列掃查、交叉掃查和V V形掃查形掃查 l氣孔氣孔l裂紋裂紋 l夾渣夾渣 l未焊透未焊透 l未熔合未熔合 l單個氣孔回波高度低，波形為單峰，較穩(wěn)定，單個氣孔回波

25、高度低，波形為單峰，較穩(wěn)定，當(dāng)探頭繞缺陷轉(zhuǎn)動時，缺陷波高大致不變，但當(dāng)探頭繞缺陷轉(zhuǎn)動時，缺陷波高大致不變，但探頭定點轉(zhuǎn)動時，反射波立即消失；密集氣孔探頭定點轉(zhuǎn)動時，反射波立即消失；密集氣孔會出現(xiàn)一簇反射波，其波高隨氣孔大小而不同，會出現(xiàn)一簇反射波，其波高隨氣孔大小而不同，當(dāng)探頭作定點轉(zhuǎn)動時，會出現(xiàn)此起彼伏現(xiàn)象。當(dāng)探頭作定點轉(zhuǎn)動時，會出現(xiàn)此起彼伏現(xiàn)象。l缺陷回波高度大，波幅寬，常出現(xiàn)多峰。缺陷回波高度大，波幅寬，常出現(xiàn)多峰。探頭平移時，反射波連續(xù)出現(xiàn)，波幅有探頭平移時，反射波連續(xù)出現(xiàn)，波幅有變動；探頭轉(zhuǎn)動時，波峰有上下錯動現(xiàn)變動；探頭轉(zhuǎn)動時，波峰有上下錯動現(xiàn)象。象。l點狀夾渣的回波信號類似于單個

26、氣孔。點狀夾渣的回波信號類似于單個氣孔。條狀夾渣回波信號多呈鋸齒狀，波幅不條狀夾渣回波信號多呈鋸齒狀，波幅不高且形狀多呈樹枝狀。探頭平移和繞缺高且形狀多呈樹枝狀。探頭平移和繞缺陷移動時，波幅都會發(fā)生變化。陷移動時，波幅都會發(fā)生變化。l未焊透的回波波幅均較高。探平頭移未焊透的回波波幅均較高。探平頭移時，波形較穩(wěn)定。在焊縫兩側(cè)探傷時，時，波形較穩(wěn)定。在焊縫兩側(cè)探傷時，均能得到大致相同的反射波幅。均能得到大致相同的反射波幅。l當(dāng)聲波垂直入射該缺陷表面時，回波高當(dāng)聲波垂直入射該缺陷表面時，回波高度大。探頭平移時，波形穩(wěn)定。焊縫兩度大。探頭平移時，波形穩(wěn)定。焊縫兩側(cè)探傷時，反射波幅不同，有時只能從側(cè)探傷

27、時，反射波幅不同，有時只能從一側(cè)探測到。一側(cè)探測到。l垂直入射法缺陷定位垂直入射法缺陷定位l斜角探傷法缺陷定位斜角探傷法缺陷定位水平調(diào)節(jié)法定位水平調(diào)節(jié)法定位深度調(diào)節(jié)法定位深度調(diào)節(jié)法定位l用垂直入射法探傷時，缺陷就在直探頭的下面，用垂直入射法探傷時，缺陷就在直探頭的下面，缺陷定位只需確定缺陷在工件中的深度即可。缺陷定位只需確定缺陷在工件中的深度即可。l 當(dāng)探傷儀按當(dāng)探傷儀按1 1：n n調(diào)節(jié)縱波掃描速度時，則有調(diào)節(jié)縱波掃描速度時，則有Z Zf f=n=nf fl缺陷在探頭前方的下面，其位置可用入射點至缺陷在探頭前方的下面，其位置可用入射點至缺陷的水平距離缺陷的水平距離L Lf f、缺陷到探傷面的

28、垂直距離、缺陷到探傷面的垂直距離Z Zf f兩個參數(shù)來確定。兩個參數(shù)來確定。l探傷儀按水平探傷儀按水平1 1：n n調(diào)節(jié)橫波掃描速度調(diào)節(jié)橫波掃描速度 直射法探傷直射法探傷 L Lf f= n= nf f Z Zf f= n= nf f/K/K 一次反射法一次反射法 L Lf f= n= nf f Z Zf f=2=2- n- nf f/K/Kl注意：注意：上述公式使用時，需要根據(jù)上述公式使用時，需要根據(jù)f f與與K K或或的關(guān)系的關(guān)系首先判斷缺陷是有一次波還是二次波發(fā)現(xiàn)的。首先判斷缺陷是有一次波還是二次波發(fā)現(xiàn)的。l缺陷在探頭前方的下面，其位置可用入射點至缺陷在探頭前方的下面，其位置可用入射點至

29、缺陷的水平距離缺陷的水平距離L Lf f、缺陷到探傷面的垂直距離、缺陷到探傷面的垂直距離Z Zf f兩個參數(shù)來確定。兩個參數(shù)來確定。l探傷儀按深度探傷儀按深度1 1：n n調(diào)節(jié)橫波掃描速度調(diào)節(jié)橫波掃描速度 直射法探傷直射法探傷 L Lf f=K n=K nf f Z Zf f= n= nf f一次反射法探傷一次反射法探傷 L Lf f=K n=K nf f Z Z= 2= 2-n-nf fl注意：注意：上述公式使用時，需要根據(jù)上述公式使用時，需要根據(jù)f f與與K K或或的關(guān)系的關(guān)系首先判斷缺陷是有一次波還是二次波發(fā)現(xiàn)的。首先判斷缺陷是有一次波還是二次波發(fā)現(xiàn)的。l焊縫質(zhì)量等級根據(jù)焊縫質(zhì)量等級根據(jù) 距離距離-波幅曲線波