深圳XXXX科技有限公司IQC物料檢驗規(guī)范

1、 文件類別：文件編號SI-IQC-XX-01檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次1 of 35IQC物料檢驗規(guī)范批準記錄擬制審核批準受控文件專用章登錄印章受控印章報廢印章發(fā)行記錄 董事長 生產(chǎn)部（PDA） 品質(zhì)部（QD） 運作部（OD） 董事總經(jīng)理 生產(chǎn)工程部（PIE） 文件控制中心（DCC） 人力資源部（HR） 廠務經(jīng)理 元件貼裝部（SMT） 進料檢驗部（IQC） 財務部（FIN） 管理者代表 產(chǎn)品組裝部（PD） 過程檢驗部（IPQC） 銷售部（SD） 研發(fā)部（RD） 物料計劃部（PMC） 出貨檢驗部（QA） 報關部（CUS） 倉管部（WH

2、） 技術支持部（FAE） 電腦部（MIS） 成品維修部（RMA） 驗證實驗室（VL） 采購部（PUR）文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次2 of 35修改記錄次數(shù)版本升級記錄修改時間修改類別修改頁次修改內(nèi)容簡述修改人員審核批準1生效時間2生效時間3生效時間4生效時間5生效時間6生效時間7生效時間8生效時間9生效時間10生效時間11生效時間12生效時間FM-QM-XX-01 Ver: A0 文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期200

3、2-04-17制定人員修改日期/頁 次3 of 35(一) PCB檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC檢驗PCB物料之依據(jù) 。2. 適用范圍適用于本公司所有之PCB檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 職責供應商負責PCB品質(zhì)之管制執(zhí)行及管理，IQC負責供應商之管理及進料檢驗。5. 允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.6. 參考文件1. IPC A - 600E, Acceptability of Printed Circuits Boards. 2. IPC R

4、 -700C, Rework Methods & Quality Conformance.7. 檢驗標準定義： 檢驗項目缺點名稱缺點定義檢驗標準檢驗方式備注線 路線路凸出MAa. 線路凸出部分不得 大于成品最小間距30%。帶刻度放大鏡殘銅MAa. 兩線路間不允許有殘銅。b. 殘銅距線路或錫墊不得小于0.1mm。c. 非線路區(qū)殘銅不可大于2.5mm×2.5mm，且不可露銅。帶刻度放大鏡線路缺口、凹洞MAa. 線路缺口、凹洞部分不可大于最小線寬的30%。帶刻度放大鏡斷路與短路CRa. 線路或錫墊之間絕不容許有斷路或短路之現(xiàn)象。放大鏡、萬用表線路裂痕MAa. 在線路或線路終端部分的

5、裂痕，不可超過原線寬1/3。帶刻度放大鏡線路不良MAa. 線路因蝕銅不良而呈鋸齒狀部分不可超過原線寬的 1/3。帶刻度放大鏡線路變形MAa. 線路不可彎曲或扭折。放大鏡線路變色MAa. 線路不可因氧化或受藥水、異物污染而造成變色。目檢線路剝離CRa. 線路必須附著性良好，不可翹起或脫落。目檢補線MAa. 補線長度不得大于5mm，寬度為原線寬的80%100%。b. 線路轉(zhuǎn)彎處及BGA內(nèi)部不可補線。c. C/S面補線路不得超過2處，S/S面補線不得超過1處。帶刻度放大鏡目檢板邊余量MAa. 線路距成型板邊不得少于0.5mm。帶刻度放大鏡刮傷MAa. 刮傷長度不超過6mm，深度不超過銅鉑厚度的1/3

6、。放大鏡孔孔塞MAa. 零件孔不允許有孔塞現(xiàn)象。目檢孔黑MAa. 孔內(nèi)不可有錫面氧化變黑之現(xiàn)象。目檢變形MAa. 孔壁與錫墊必須附著性良好，不可翹起，變形或脫落。目檢PAD，RING錫墊缺口MAa. 錫墊之缺口、凹洞、露銅等，不得大于單一錫墊之總 面積1/4。目檢、放大鏡文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次4 of 35檢驗項目缺點名稱缺點定義檢驗標準檢驗方式備注PAD，RING錫墊氧化MAa. 錫墊不得有氧化現(xiàn)象。目檢錫墊壓扁MAa. 錫墊之錫面厚度力求均勻，不可有錫厚壓扁之現(xiàn)象或 造成間

7、距不足。目檢錫墊MAa. 錫墊不得脫落、翹起、短路。目檢防焊線路防焊脫落、起泡、漏印。MAa. 線路防焊必須完全覆蓋，不可脫落、起泡、漏印，而 造成沾錫或露銅之現(xiàn)象。目檢防焊色差Minor a. 防焊漆表面顏色在視覺上不可有明顯差異。目檢防焊異物Minora. 防焊面不可沾附手指紋印、雜質(zhì)或其他雜物而影響外 觀。目檢防焊刮傷MAa. 不傷及線路及板材(未露銅）之防焊刮傷，長度不可大于 15mm，且C/S面不可超過2條，S/S面不可超過1條。目檢防焊補漆MAa. 補漆同一面總面積不可大于30mm2，C/S面不可超過3 處；S/S面不可超過2處且每處面積不可大于20mm2 。b. 補漆應力求平整，

8、全面色澤一致，表面不得有雜質(zhì)或 涂料不均等現(xiàn)象。目檢防焊氣泡MAa. 防焊漆面不可內(nèi)含氣泡而有剝離之現(xiàn)象。目檢防焊漆殘留MAa. 金手指、SMT PAD&光學定位點不可有防焊漆。目檢防焊剝離MAa. 以3M scotch NO.600 0.5"寬度膠帶密貼于防焊面,密貼 長度約25mm,經(jīng)過30秒,以90度方向垂直拉起,不可有 脫落或翹起之現(xiàn)象。目檢BGABGA防焊MAa. 在BGA部分，不得有油墨覆蓋錫墊之現(xiàn)象，線路防焊 必需完全覆蓋。放大鏡BGA區(qū)域 導通孔塞孔MAa. BGA區(qū)域要求100%塞孔作業(yè)。放大鏡BGA區(qū)域 導孔沾錫MAa. BGA區(qū)域?qū)撞坏谜村a。目檢BG

9、A區(qū)域線 路沾錫、露銅MAa. BGA區(qū)域線路不得沾錫、露銅。目檢BGA區(qū)域補線MAa. BGA區(qū)域不得有補線。目檢BGA PADMAa. BGA PAD不得脫落、缺口、露銅、沾附防焊油墨及異物。目檢外觀 內(nèi)層黑（棕）化MAa. 內(nèi)層采用黑化處理，黑化不足或黑化不均，不可超過 單面總面積0.5%（棕化亦同）。目檢空泡&分層MAa.空泡和分層完全不允許。目檢文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次5 of 35檢驗項目缺點名稱缺點定義檢驗標準檢驗方式備注外觀板角撞傷MAa. 因制作不良或外

10、力撞擊而造成板邊（角）損壞時，則 依成型線往內(nèi)推不得大于0.5mm或板角以45度最大 值1.3mm為允收上限。目檢及帶刻度放大鏡章記MAa. 焊錫面上應有制造廠之UL號碼、生產(chǎn)日期、Vendor Mark；生產(chǎn)日期YY（年）、WW（周）采用蝕刻方式標示。目檢外觀尺寸MAa. 四層板及金手指的板子，量板子最厚的部分（銅箔及鍍金處）厚度為1.60mm±0.15mm，板長和寬分別參考不同Model的SPEC?？ǔ甙鍙?amp;板翹MAa. 板彎，板翹與板扭之允收百分比最大值為0.5%。塞規(guī) 平板玻璃板面污染MAa. 板面不得有外來雜質(zhì)，指印，殘留助焊劑，標簽， 膠帶或其他污染物。目檢基板變

11、色MAa.基板不得有焦狀變色。目檢絲印文字清晰度Minora. 所有文字、符號均需清晰且能辨認，文字上線條之中 斷程度以可辨認該文字為主。目檢重影或漏印MAa.文字，符號不可有重影或漏印。目檢印錯MAa.極性符號、零件符號及圖案等不可印錯。目檢文字脫落MAa.文字不可有溶化或脫落之現(xiàn)象。目檢 異丙醇文字覆蓋 錫墊MAa.文字油墨不可覆蓋錫墊（無論面積大?。?。目檢Model No.MAa. MODEL NO不可印錯或漏印。目檢焊錫性焊錫性MAa. 鍍層不可有翹起或脫落現(xiàn)象且焊錫性應良好。用供 應商提供的試錫板分別過回流爐和波峰焊，上錫不良 的點不可大于單面錫墊點數(shù)的0.3%。目檢金手指G/F刮傷

12、MAa.金手指不可有見內(nèi)層之刮傷。放大鏡G/F變色MAa.金手指表面層不得有氧化變色現(xiàn)象。目檢 放大鏡G/F鍍層剝離MAa. 以3M scotch NO.600 0.5"寬度膠帶密貼于G/F鍍層上,密貼長度約25mm,經(jīng)過30秒,以90度方向垂直拉起,不可有脫落或翹起之現(xiàn)象。目檢G/F污染MAa. 金手指不可沾錫、沾漆、沾膠或為其他污染物。目檢金手指G/F凹陷MAa. 金手指凹陷、凹洞見底材或銅面刮傷，不得在金手指中間3/5的關鍵位置，唯測試探針之針點可允收，凹陷長度不可超過0.3mmMAX。放大鏡 G/F露銅MAa.金手指上不可有銅色露出。放大鏡文件名稱：文件編號SI-IQC-XX

13、-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次6 of 358. 板彎、板翹與板扭之測量方法8.1. 板彎：將PCB凸面朝上，放置于平板玻璃上，用塞規(guī)測量其凸起的高度。(如圖一)8.2. 板翹與板扭：將PCB翹曲面朝上，放置于平板玻璃上，用塞規(guī)測量其翹起的高度。 (如圖二)文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次7 of 35(二)IC類檢驗規(guī)范(包括BGA)1. 目的作為IQC人員檢驗IC類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有IC

14、（包括BGA）之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4.允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點數(shù)外觀檢驗MAa.

15、Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受；b. 來料品名錯，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超 過0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；f. 元件腳彎曲，偏位, 缺損或少腳，均不可接受；目檢或10倍以上 的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。 備注：凡用于真空完全密閉方式包裝的IC，由于管理與防護的特殊要求不能現(xiàn)場打開封裝的，IQC僅進行包裝檢驗，并加蓋免檢印章；該IC在SMT上拉前IQC須進行拆封檢驗。拆封后首先確認包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡20

16、%RH對應的位置有沒有變成粉紅色，若已變?yōu)榉奂t色則使用前必須按供應商的要求進行烘烤。文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次8 of 35（三） 貼片元件檢驗規(guī)范(電容,電阻,電感)1. 目的便于IQC人員檢驗貼片元件類物料。2. 適用范圍適用于本公司所有貼片元件（電容,電阻,電感）之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4.允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5

17、. 參考文件LCR數(shù)字電橋操作指引數(shù)字萬用表操作指引檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是 否都正確,任何有誤,均不可接受。 b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受；b. 來料品名錯，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超過

18、0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受； 目檢10倍以上的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。電性檢驗MA元件實際測量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測試儀數(shù)字萬用表檢驗時，必須佩帶靜電帶。二極管類型檢 測 方 法LED 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測量不發(fā)光；否則該二極 管不合格。 注：有標記的一端為負極。其它二極管 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測量，讀數(shù)需小于1，而反向測量讀數(shù)需無窮大；否則該二極管不合格。 注：有顏色標記的一端為負極。備注 抽樣計劃說明：對于CHIP二極管，執(zhí)行抽樣計劃時來料數(shù)量

19、以盤為單位，樣本數(shù)也以盤為單位；從抽檢的每 盤中取35pcs元件進行檢測；AQL不變。檢驗方法見LCR數(shù)字電橋測試儀操作指引 和 數(shù)字萬用表操作指引。文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次9 of 35（四） 插件用電解電容.1. 目的作為IQC人員檢驗插件用電解電容類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(M

20、A): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件LCR數(shù)字電橋操作指引、數(shù)字電容表操作指引。檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. 極性等標記符號印刷不清，難以辨認不可接受；b. 電解電容之熱縮套管破損、脫落，不可接受；c. 本體變形，破損等不可接受；d.Pin生銹氧化，均不可接受。目檢可焊性檢驗MAa.Pin上錫

21、不良，或完全不上錫不可接受。(將PIN沾上現(xiàn)使 用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實際操作每LOT取510PCS在 小錫爐上驗 證上錫性尺寸規(guī)格檢驗MA a. 外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受?？ǔ呷粲糜谛碌腗odel，需在PCB上對應的位置進行試插電性檢驗MAa. 電容值超出規(guī)格要求則不可接受。用數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測試儀量測文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次10 of 35（五） 晶體類檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗

22、晶體類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件數(shù)字頻率計操作指引檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都 正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點數(shù)外觀檢

23、驗MAa. 字體模糊不清，難以辨認不可接受；b. 有不同規(guī)格的晶體混裝在一起，不可接受；c. 元件變形，或受損露出本體等不可接受；d. Pin生銹氧化、上錫不良，或斷Pin，均不可接受。目檢每LOT取510PCS在小錫爐上驗證上錫性電性檢驗MAa. 晶體不能起振不可接受；b. 測量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。測試工位 和數(shù)字頻率計電性檢測方法晶體檢 測 方 法32.768KHz 16.934MHz25.000MHz 在好的樣板的相應位置插上待測晶體, 再接通電源開機; 在正常開機后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計測量晶體，看 測量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開機或測量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合

24、格。24.576MHz在好的樣板的相應位置插上待測晶體、CPU、內(nèi)存條等，再接通電源開機，看能否正常開機顯示；在正常開機顯示后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計測量晶體，看測量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開機顯示或測量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次11 of 35（六） 三極管檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗三極管類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式

25、請參考抽樣計劃。4. 允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受；b. 來料品名錯，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形

26、，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超 過0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗時，必須佩帶靜電帶。電性檢驗無文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次12 of 35（七） CPU Scoket檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗CPU Socket類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有類型CPU Scoket之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105

27、E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MA a. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. Marking錯；b. 塑料與針腳不能緊固連接；c. 塑料體破損，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水

28、；d. 過錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮;e. 針腳擰結(jié)，彎曲，偏位, 缺損，斷針或缺少；f. 針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹;g. 內(nèi)部端子變形，不貼壁，氧化;h. 拉桿松緊不適，或產(chǎn)生較大的磨擦聲目檢放大鏡焊錫性檢驗MAa.PIN上錫不良，或完全不上錫,均不可接受；(將零件腳插入現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi)，全部浸潤，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實際操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗證上錫性安裝檢驗MAa. 針腳不能與標準PCB順利安裝;b. 上蓋過松不可接受;c. 針腳露出機板長度小于0.5mm或大于2.0mm;將拉桿扳至卡位處稍用力繼續(xù)下

29、壓，檢查上蓋是否松脫,若過松易脫落不可接受. 針腳露出機板長度的標準為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)。文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次13 of 35(八) 排針&插槽(座)類檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗排針&插槽(座)類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有排針&插槽(座)之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.

30、4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MA根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MA a. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. Marking錯或模糊不能辯認；b. 塑料與針腳不能緊固連接；c. 塑料體破損，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水；d. 過錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮;e. 針腳擰結(jié)，彎曲，偏位, 缺損，斷針或缺少；f. 針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹;g.

31、針腳端部成蘑菇狀影響安裝.目檢焊錫性檢驗MAa. PIN上錫不良，或完全不上錫,均不可接受；(將零件腳插入 現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi)，全部浸潤，再插入小錫爐5秒鐘 左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實際操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗證上錫性安裝檢驗MAa. 針腳不能與標準PCB順利安裝;b. 針腳露出機板長度小于0.5mm或大于2.0mm;卡尺針腳露出機板長度的標準為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)。文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次14 of 35(九) 電池檢驗規(guī)

32、范1. 目的作為IQC人員檢驗電池類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所用電池之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件數(shù)字萬用表操作指引。檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MA a. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,

33、若不吻合不可接 受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. 表面要光滑，若有明顯劃痕不可接受；b. 電池表面腐蝕、生銹等，不可接受；c. 電池極性標記要清晰，否則不可接受；d. 來料品名錯或混裝不同規(guī)格的電池均不可接受。目檢尺寸規(guī)格檢驗MAa.池外徑：D=2.0cm，若不符不可接受。卡尺電性檢驗MAa. 字萬用表指向直流電壓檔20V，兩表筆分別接在電池兩端(即正負極)，電壓的讀數(shù)需在3.1V以上。若電池電壓小于3.10V則不可接受。用數(shù)字萬用表量測檢驗時不能短路電池兩端文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁

34、次15 of 35(十) CABLE類檢驗規(guī)范1. 目的作為C人員檢驗CABLE類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有CABLE類之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 料數(shù)量與送檢單

35、上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點數(shù)外觀檢驗MAa. 五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良；b.塑料體變形、劃傷、毛邊、破（斷）裂、異色等不良；c.排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不 可接受；d.排線與支架等組裝不牢，易松脫；e.標識CABLE接插方向的顏色不能明確分辯；c. 排線接頭的顏色不符合規(guī)格要求;g.排線表面的絲印錯.1.目檢2.按前后左右上下各輕搖3次排線接頭處，看有無松脫現(xiàn)象參考Mechanical Drawing of Cable尺寸檢驗MAa.長度不符合規(guī)格要求不可接受.卷尺尺寸參考Mechanical Drawing of Cable電性

36、測試檢驗MAa. 排線的接線方式錯不可接受;b. 排線接觸不良或不能運行不可接受;c. IDE排線的傳輸速率不符合要求不可接受.每批取10pcs送QA,請QA的同事幫助測試拉力測試檢驗MAa. 與公端對插,插拔力不符合規(guī)格要求的不可接受.( 拉力測試: 用標準Box Header與排線對插好，用拉力計測出其CABLE完全被拉出后的最大拔出力。)實際操作備注 1. 要求如下(低于20PIN 的不作要求)： 80PIN: 4.07.0Kgf ; 40PIN:3.56.0kgf : 34PIN:3.05.0kgf ;26PIN:2.04.0kgf ;20PIN:1.43.4kg2.接插CABLE要輕

37、插，不可插壞主板之插座；3.測拉力時，必需沿水平方向拔出，如果拉拔力均不符合要求，須重測三次；如有一次符合，則此CABLE拉拔 力合格；如三次均不符合要求，需轉(zhuǎn)換另一BOX HEADER (可連續(xù)轉(zhuǎn)換三次新的BOX HEADER)，以同樣的 方式測試。更換三次后仍不符合，則拒收退貨。文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次16 of 35(十一) 散熱片檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗散熱片類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有散熱片之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，L

38、EVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點數(shù)外觀檢驗MAa. 將散熱片的正面朝向檢驗員，若可見表面的鍍漆脫落且露 出內(nèi)部基材，則不可接受；b. 若正表面有“TOMATO”

39、LOGO印刷要求的，則字體斷層、 模糊，或字體上有直徑大于0.2mm的漏漆等，不可接受;c. 散熱片的四個側(cè)面若有碰撞掉漆,其直徑大于1.0mm則不可 接受;對于兩個剪切側(cè)面的電鍍痕,若未延伸至正面則可接受;d. 表面、邊沿或凹槽內(nèi)殘留任何臟污、鐵屑及毛邊等，均不 可接受；e. 對于正表面上未露出基材的劃痕，可將散熱片置于檢驗者的正前方約一臂遠，與視線分別成90度和45度，若兩個角度均可見則不可接受；f. 散熱片正表面在拉鋁過程中留下的針孔，若其直徑大于 0.5mm則不可接受；g. 散熱片被切割不整齊不可接受；h. 散熱片背面的雙面膠須平整地貼在其內(nèi)部，若膠紙皺在一 起或伸出散熱片均不可接受。

40、目檢樣品比對尺寸檢驗MAa. 用直尺或卷尺測量實際尺寸與規(guī)格尺寸是否相符,不符不可 接受。直尺或卷尺試貼檢驗MAa. 按BOM要求，將散熱片貼到對應的主板上的芯片上，若散熱片的尺寸小于芯片或散熱片過大而碰撞到芯片周圍的元件均不接受。試貼文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次17 of 35(十二) 海棉檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗海綿類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有海棉之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣

41、計劃。4. 允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件表面阻抗測試儀操作指引。檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝LABEL上的P/N及實物是否都 正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MAa. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點數(shù)外觀檢驗MAa. 表面無明顯色差，或空洞，虛邊，劃傷，破裂等,否則不可 接受;b. 表面無明顯污跡等，否則不可接受；c. 表面無永久性折皺，否則不可接受。目檢

42、尺寸檢驗CRa. 用直尺或卷尺測量實際尺寸與規(guī)格尺寸是否相符,不符不可接 受。直尺或卷尺表面阻抗檢測MAa. 表面阻抗要求達到1081011,否則不可接受。表面阻抗表試裝檢驗MAa. 將對應MODEL裝配后的主板與海棉配疊好，若海棉明顯小于機板或海棉尺寸過大均不接受;試裝文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次18 of 35(十三) 靜電袋檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗靜電袋類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有靜電袋之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL I

43、I正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準（AQL）嚴重缺點(CR): 0;主要缺點(MA): 0.4;次要缺點(MI): 1.5.5. 參考文件表面阻抗測試儀操作指引。檢驗項目缺陷屬性缺陷描述檢驗方式備注包裝檢驗MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝LABEL上的P/N及實物是否都 正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗MA a. 實際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點數(shù)外觀檢驗MAa. 表面光滑，無明顯折皺、破損、裂紋等,否則不可接受;b. 表面無明顯污跡、水跡等，否則不可接受；c.

44、 兩側(cè)邊的壓合須牢固，若壓合不牢，開裂等不可接受。目檢尺寸檢驗CRa. 用直尺或卷尺測量實際尺寸與規(guī)格尺寸是否相符,不符不可接 受。直尺或卷尺所測尺寸為內(nèi)部尺寸表面阻抗檢測MAa. 表面阻抗要求達到1081011,否則不可接受。表面阻抗表試裝檢驗MAa. 將對應MODEL裝配后的主板與海棉小心翼翼地裝入靜電袋，注意不要刮傷袋口,若不能順利裝入袋內(nèi)或袋的尺寸太大均不接受；實際操作文件名稱：文件編號SI-IQC-XX-01IQC物料檢驗規(guī)范文件版本1.0制定部門IQC制定日期2002-04-17制定人員修改日期/頁 次19 of 35(十四) 說明書檢驗規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗說明書類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有說明書之檢驗。3. 抽樣計劃依MIL-STD-105E，LEVEL II正常單次抽樣計劃；具體抽樣方式請參考抽樣計劃。4. 允收水準（AQL）