IEC62368與IEC60950-1標(biāo)準(zhǔn)的差異

1、針對直插式電源適配器IEC/EN 62368-1IEC/EN 60950-1共冋點（測試要求基本相冋,可能有些細(xì)微的差異）輸入測試輸入測試標(biāo)簽測試標(biāo)簽測試限功率源測試限功率源測試工作電壓工作電壓穩(wěn)定力測試，10N （內(nèi)部元器件）穩(wěn)定力測試，10N （內(nèi)部元器件）跌落測試跌落測試扭矩測試扭矩測試球壓測試球壓測試恒溫恒濕測試恒溫恒濕測試不同點N/A章節(jié)的能量危險測試正常 SELV 測試異常 SELV 測試 限電流測試電氣能量源等級（可接觸部分在正常、異常和單一異常電氣能量等級測試，能量等級包含電壓和漏電流測準(zhǔn)截圖）liJJiB S*na*rdlllM 吟界 -CvH Hi!AR4taV1llMUF

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3、的測試，溫升測試方式基本相同，區(qū)別如下:1.1. 368368 標(biāo)準(zhǔn)中多了外殼外表面的溫升限值，而 950950 標(biāo)準(zhǔn)是不需要管控這個點位的，其測試方式與 368368 標(biāo)準(zhǔn)正常溫升測試相同. .1.1.外殼表面的要求標(biāo)準(zhǔn)中外殼外表面的限值規(guī)定在2525 度的限值，也就是說在申請的環(huán)境溫度下測試（如 ta=40ta=40 C C）, ,如果外殼表面的溫度超過了標(biāo)準(zhǔn)的限定值 可以在2525 度下只針對外殼外表面進(jìn)行測試，只Tali*- FME ivmp-KiUi*th*ir|i: 1 U ifeHEABCfliMIP*II4JMK -VWv-l-MVh-wtot ni rtc Lmtlvd MW

4、桿Mm-UiUifefa E-VMh BOfM MCRM ESIU-n HL al 0、JBI rg, |.樣機內(nèi)部兀器件的限值與368 標(biāo)準(zhǔn)樣異常條件下測試r Htehi 1 - E h ct-lci-l *!) )jn Durs-a IIMHa tat atwad Hlahi E 1-1HR4 E S-J368368 標(biāo)準(zhǔn)截圖v Toucn remperarure leversTabk 3Mm t*fnp4raturt柑鼻卻f iQMtal Glaifti. per*lJiin an dVHFI-OM mAun-ailflCMlt：IndniblrWood18-1kiMjbK griq.

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11、度測試1.所有的點擊強度測試都是在恒溫恒濕測試之后和溫升測試后進(jìn)行測試2. 368 標(biāo)準(zhǔn) 初次級：加強絕緣 4000Vdc,基本/附加絕緣 2500Vdc950 標(biāo)準(zhǔn) 初次級：加強絕緣 3000Vac,基本/附加絕緣至少 1500Vac（具體需要查章節(jié)的表格）基本/附加絕緣至少 1500Vac（具體需要保險絲之間或零火線之間）功率源電路的分級（PS）N/A應(yīng)力消除測試應(yīng)力消除測試368 和 950 增加塑膠外殼的應(yīng)力消除基本一樣，但 368 增加了對內(nèi)部塑膠外殼和絕緣片都需要進(jìn)行應(yīng)力消除測試，950 標(biāo)準(zhǔn)則不需要.放電測試2.1.1.7 放電測試1. .與 950950 標(biāo)準(zhǔn)不同，標(biāo)準(zhǔn)中沒有說

12、 X X 電容小于 就不要做放電測試，也就是說在 368368 標(biāo)準(zhǔn)中只要1.標(biāo)出的輸入電壓如果大于和60Vdc,則需要進(jìn)行放電測試；反之，則不需要進(jìn)行Th* ESI and ES2時 宦+r. airiiA capacrEance viiuq -ar hted n Tacis $TaOle 5 - eieCiriC*l energy source UmitS TCir品criarged C-SpaeiWT有 X X 電容都需要進(jìn)行放電測試放電測試.2.2. X X 電容容值還需要增加上3.3. 950950 標(biāo)準(zhǔn)只有正常放電，電，也需要做單一故障的放電一顆泄放電阻( (與 950950 標(biāo)準(zhǔn)

13、不一樣，與 6565 標(biāo)準(zhǔn)是一樣的) )標(biāo)準(zhǔn)截圖2. X 電容小于，不需要放電3. X 電容大于，需要放電.37%*Vpeak 衰減的電壓要大于1S 的電壓,或者是 37%*Vpeak 衰減的時間要小于1S.標(biāo)準(zhǔn)截圖Hi?wctpiicHdrtM pquvmBWl*|J| W V9 yd4戸mi心頁*嚴(yán)破時orf iii Hiihi- J epi r4f nk. al v-w. lie. nha-b P-onij :fiar p- = zaps tianiriHH4mhV p電*qii阿 ki*,阿|1s c*rfaihT 0ISL：p!-T* 之之鼻點 aA uqpAibedflqd寧? W

14、 電 IV沁沁耳皿羊n# 屛FP3=1 rf -ipl fl-mCfTE DhwflM-rJwval0DIM THMosnvH lbM hK ctecsd p W af Mkiifud ikH漏電流測試按照 IECIEC 6099060990 標(biāo)準(zhǔn)中 FigureFigure 4 4 和 FigureFigure 5 5 網(wǎng)絡(luò) 進(jìn)行測試. .漏電流等于 U2U2 (Vpeak)/500(Vpeak)/500 和 U3U3(Veak)/500(Veak)/500(如果單一異常超過 ES1,ES1,屬于 ES2,ES2, 則需要使用 U3U3 網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行測試),),漏電流不超過章 節(jié)表格 4 4 中

15、的限定值漏電流測試(EC 60990 標(biāo)準(zhǔn) Figure 4) 附件網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行測試(EC 60990 標(biāo)準(zhǔn) Figure4),漏電流等于 U2(Vrms)/500, 對 II 類產(chǎn) 品 ,對 I 類產(chǎn)品，與地相連 ,不與地相 連rAlniLir uXI FIJIF? L HEIAF1iff , iMhr rMr-riJ n mmuimxlEWI0 C. rr 貝暑I(lǐng)TLWnfTh CapaEitHnca is itie ratd r alu* df Ihn匚afAc.ir!$r plus Fh 口件日aalcriancai斗I ntn fABIPQ OCR鼻脣EOD flCt0購眄d 0,22

16、nFFlgiurrv 4 - WiMHUflng Hhfeorhcurrifni wHgh1d hrwrBEllnUs SNQ%20 DM Qg wuCj u.wirpFCfa腫RFG.W1 pF民10 DDaNOTE - uu 1由M nuan-町MfMiTD電口富迅 百1 2*F( (urH 1 - Mi*kiiriFo. biMh cuiTflqE ui*lch curr*nE IhA in-EirunyMT! _=Md! 1ar町3耳呻令：i口Mih. m引QW扌申IE.：盟I昨出T III ElW產(chǎn)丄前仔IF hl tslKl jI *bl 4 - ElMiirtJNl AHaryv leud-et lamlEi FSF II4V-IUE* 5-1 E9i1HH litaqiMHTMB iMli lifil iwiiHiinig mriBHai UlBiiiB1MM CIM1HTHA IgTIL%1f紳HMHifTM : HOkirrai4UVM4UfRiili I ! i 1: IQ4g ItSEC 609#fl0 fl-MS-初級到