工藝礦物學(xué)復(fù)習(xí)

1、1.1何謂工藝礦物學(xué)？它的基本任務(wù)是什么？ 答：工藝礦物學(xué)，即是以工業(yè)固體原料與其產(chǎn)物的礦物學(xué)特征和加工時(shí)組成礦物性狀為研究目標(biāo)的邊緣性學(xué)科。 研究工業(yè)固體原料與其產(chǎn)物的礦物組成及其分布；對(duì)影響或制約生產(chǎn)工藝運(yùn)行質(zhì)量的礦物性狀進(jìn)行分析，這些性狀包括幾何、物理、化學(xué)等方面的表現(xiàn)與特征。 1.3簡(jiǎn)要勒出工藝礦物學(xué)的10項(xiàng)研究?jī)?nèi)容，并指出其中哪幾項(xiàng)屬于學(xué)科的基礎(chǔ)知識(shí)、基本理論與基本技能。 答： 原料與產(chǎn)物中的礦物組成； 原料與產(chǎn)物中的礦物粒度分析； 原料與產(chǎn)物中的元素賦存狀態(tài)； 礦物在工藝加工進(jìn)程中的性狀； 礦

2、物工藝性質(zhì)改變的可能性和機(jī)理； 判明尾礦和廢渣綜合利用的可能性； 礦物的工藝性質(zhì)與元素組成和結(jié)構(gòu)的關(guān)系； 查明礦石的工藝類型空間分布規(guī)律，編制礦物工藝圖工藝地質(zhì)填圖； 研究工業(yè)固體原料加工前的表生變化； 分析礦物工藝性質(zhì)的生成條件；其中礦物組成、粒度分析、元素賦存狀態(tài)和礦物加工時(shí)的性狀等內(nèi)容，在學(xué)科中具有基礎(chǔ)知識(shí)、基本理論和基本技能的性質(zhì) 1.4取樣和誤差控制應(yīng)當(dāng)遵循的基本原則是什么？ 對(duì)樣品要求：要有充分的代表性。樣品的基本特征為：代表該礦床主金屬(或伴生有益組分)各品級(jí)儲(chǔ)量；代表該礦床各類型礦石的平均品位，其中包括高、中

3、低3種品位；代表礦石的礦物組成及其化學(xué)成分；代表圍巖、夾層、脈石的種類、性質(zhì)及含量；代表有用礦物粒度特征及礦石結(jié)構(gòu)、構(gòu)造特征。取樣方式：兩種從分選產(chǎn)品及試驗(yàn)用樣中抽?。辉诠に嚰庸と狱c(diǎn)上采取地質(zhì)標(biāo)本樣。 試樣觀測(cè)方法：是在顯微鏡下對(duì)礦石中的主要有用有害組分的含量、存在狀態(tài)、礦物粒度、嵌鑲關(guān)系以及礦石在破碎過程中的連生、解離狀況迅速做出可靠結(jié)論。 觀測(cè)一定數(shù)量的礦物顆粒，觀測(cè)點(diǎn)數(shù)：經(jīng)驗(yàn)的作法是取10001500個(gè)觀測(cè)點(diǎn)；另一種辦法是根據(jù)數(shù)理統(tǒng)計(jì)原理求取一個(gè)合理的試樣觀測(cè)值。 3.1反光顯微鏡與普通偏光顯微鏡又什么區(qū)別？ 答：反光顯微鏡與偏光顯微鏡相比，增加

4、了光源和垂直照明器。 3.2反光顯微鏡的反射器有哪兩種主要類型？他們各有什么優(yōu)缺點(diǎn)？ 玻片式，優(yōu)點(diǎn)是光線可以通過物鏡的全孔徑，視域亮度均勻，分辨率較強(qiáng)，可以進(jìn)行全孔徑偏光圖的觀察?？s小孔徑光圈可使光線近于垂直入射和反射，在礦物光學(xué)性質(zhì)測(cè)定時(shí)可以得到較正確的結(jié)果。缺點(diǎn)是光線損失大，因第二次反射產(chǎn)生耀光影響物質(zhì)的清晰度。 棱鏡式，優(yōu)點(diǎn)有效光線大、光線損失小。缺點(diǎn)是反射器擋住光路一半，降低物鏡的分辨率，偏光圖也只有一半，易發(fā)生明顯的橢圓偏振化和橢圓長(zhǎng)軸的旋轉(zhuǎn)，影響某些光學(xué)性質(zhì)的測(cè)定。 3.4影響礦物反射色的因素有哪些？  答：影響反射色觀察

5、的因素：光源，光源的強(qiáng)度與色調(diào)，當(dāng)光源較弱時(shí)，反射色會(huì)變黃，為了濾去光源中多余的黃光，顯微鏡上配備有藍(lán)色濾色片。（要求白光中不帶黃或藍(lán)的色調(diào)，常以方鉛礦為白色標(biāo)準(zhǔn)來調(diào)節(jié)光源色調(diào)）、光片，光片的磨光質(zhì)量要高，安裝必須正確。當(dāng)光片表面存在氧化膜時(shí)會(huì)出現(xiàn)各種色彩，故光片必須保持新鮮和清潔的表面。周圍環(huán)境、礦物的影響（視覺的色變效應(yīng)）。3.5反射色描述：色調(diào)、色調(diào)濃度、亮度 5.1礦物定量的目的、意義是什么？ 答：礦物定量指確定礦石（或流程產(chǎn)物）中各組成礦物相對(duì)含量的工作。 通過對(duì)選礦生產(chǎn)流程中各產(chǎn)物組成礦物的定量，可以從礦物學(xué)角度詳細(xì)分析各選礦作業(yè)的效率，有助于分析目的

6、礦物和有害礦物在流程中的走向及其行為規(guī)律，對(duì)于分析選礦流程結(jié)構(gòu)及工藝條件的合理性、指導(dǎo)選礦流程的優(yōu)化等具有重要意義。 基本方式主要是：分離礦物定量、目估定量、鏡下礦物定量、化學(xué)元素分析礦物定量、儀器定量 5.2分離礦物定量法基本原理是是什么？主要有哪幾種方法？    利用待測(cè)礦物與原料中其它礦物性質(zhì)的差異，將待測(cè)礦物從原料中分離出來而進(jìn)行的一種方法 主要方法：重力分離法、磁力分離法、介電分離、選擇性溶解、高壓靜電分離。  5.3對(duì)于結(jié)晶粒度粗大的磁鐵礦礦石中磁鐵礦的定量可采用哪些方法？ 

7、0;答:主要是分離礦物定量法 .5.4礦物鏡下定量方法：計(jì)點(diǎn)法、直線法、面積法 5.5礦物定量校核結(jié)果方程式：礦石中某礦物的定量統(tǒng)計(jì)值×該礦物中校核元素的含量礦石中該校核元素的化驗(yàn)分析值（兩者相對(duì)誤差值小于10即認(rèn)可合格） 6.1元素賦存狀態(tài)研究有何意義和作用？ 答：研究元素在礦石礦物中的賦存狀態(tài)，不但對(duì)礦產(chǎn)資源勘查具有重要意義，而且對(duì)礦山生產(chǎn)、礦山建設(shè)過程中礦石的選冶試驗(yàn)與生產(chǎn)更具有重要的指導(dǎo)意義。元素賦存特性直接和礦山企業(yè)的經(jīng)濟(jì)效益掛鉤，弄清賦存特征，可以有目的地指導(dǎo)采礦和選礦工作。 其目的是查明化學(xué)元素在礦物原料中的存在形式和分

8、布規(guī)律。為礦物加工和冶金工藝方法的選擇和最優(yōu)指標(biāo)的控制提供基礎(chǔ)資料和理論基礎(chǔ)。 6.2元素在礦物中組要與哪幾種存在形式，這些存在形式的主要特征是什么？又哪些研究方法？ 答：.獨(dú)立礦物：一種是肉眼或雙筒顯微鏡下可以挑選的礦物；一種是以微細(xì)包裹體形式存在于其他礦物中。 .類質(zhì)同像：是很普遍的一種現(xiàn)象。對(duì)類質(zhì)同像的研究，構(gòu)成了地質(zhì)領(lǐng)域的一個(gè)重要方面。 .離子吸附：是指元素呈吸附狀態(tài)存在于某種礦物中。根據(jù)吸附性質(zhì)可分物理吸附、化學(xué)吸附和交換吸附三種。 主要研究方法有：重砂法、選擇性溶解法、電滲析法、電子探針法、激光顯微鏡光譜法、數(shù)理統(tǒng)計(jì)法 6

9、.3重砂法能否用于研究呈類質(zhì)同象狀態(tài)的元素？答：不能，重砂法：適用于顆粒大、含量高、易于分選的礦物。 7.1名詞解釋  顆粒  粒度   標(biāo)準(zhǔn)粒度   工藝粒度 答：顆粒: 系由封閉表面圈定,于某種環(huán)境中不可再分且不含有空洞、孔隙的單元固體。 粒度：是對(duì)顆粒幾何形體大小的衡量。 標(biāo)準(zhǔn)粒度：顆粒是填充于自身組織系統(tǒng)中的幾何實(shí)體。每個(gè)顆粒都占據(jù)有一定大小的空間，它的數(shù)值是體積V。不論顆粒的形狀如何，體積V是其占有空間大小的唯一真實(shí)數(shù)據(jù)。當(dāng)用線性值D標(biāo)

10、定顆粒大小時(shí)，DV1/3稱之為它的標(biāo)準(zhǔn)粒度。 工藝粒度：進(jìn)入破碎、磨礦作業(yè)的礦石受力粉碎時(shí)，組成礦物分離成為單一成分的最大顆粒尺寸，稱之為該礦物的工藝粒度。工藝粒度界定的顆粒，形狀趨于呈各向等長(zhǎng)的不規(guī)則粒狀，組成礦物原則上只能是元素、結(jié)構(gòu)相同的物質(zhì)。 7.2何謂礦物嵌布特征？它主要有哪幾種分選類型? 答：礦物的嵌布特征：礦物的嵌布特征指礦石中有用礦物的顆粒大小、形狀、與脈石礦物的結(jié)合關(guān)系以及空間分布特點(diǎn)。分析礦物的顆粒大小，形狀，與脈石礦物的結(jié)合關(guān)系以及空間分布特征（如分散、集結(jié)、均勻程度）等。 礦物顆粒大小指凡屬相同礦物聚合一起所占據(jù)的空間，均劃歸到一

11、個(gè)顆粒之中； 形狀主要有粒狀、非粒狀（不規(guī)則顆粒、長(zhǎng)條形、薄層狀顆粒等）兩大類。 結(jié)合關(guān)系結(jié)合面光滑平直和不規(guī)則（鋸齒狀、放射狀、港灣狀等）兩大類。 空間關(guān)系是礦石中有用礦物分布的均勻程度?？捎玫V物在礦石中 的分散與集結(jié)及其稠密度（相鄰兩個(gè)包體中心間的平均距離與包體的平均直徑之比）來說明。分單一包體（比值30）、極稀疏包體（比值1030）、稀疏包體（比值410）、密的包體（比值24）、稠密包體（比值1.52）、極稠密包體（比值（11.5）等六種類型。 7.3粒度測(cè)量誤差產(chǎn)生的原因有哪些？ 答：第一類是人為因素引起的偶然性系統(tǒng)誤差； 第

12、二類是測(cè)試統(tǒng)計(jì)誤差； 第三類是體視學(xué)運(yùn)算帶來的誤差。 8.1名詞解釋：?jiǎn)误w、連生體、單體解離度、粉碎解離度、脫離解離度、毗鄰型連生體、粒級(jí)解離度、解離度測(cè)定體視學(xué)誤差 單體:塊體礦石經(jīng)碎、磨成粉末狀顆粒產(chǎn)品，其中的顆粒僅含有一種礦物稱之為單體。 連生體: 礦石經(jīng)碎、磨成粉末狀顆粒產(chǎn)品時(shí)，有用礦物和脈石共存成連生體。高登分類的連生體類型有毗鄰型、細(xì)脈型、殼層型、包裹型 單體解離度：產(chǎn)物中某種礦物的單體含量(qm)與該礦物總含量(qm+ql)比值的百分?jǐn)?shù)，稱之為所求礦物的單體解離度。 粉碎解離度：是指粒度較粗的連生體顆粒，被碎、磨成粒度小

13、于其組成礦物晶體粒度的細(xì)粒時(shí)，由于顆粒體積減少使該組成礦物部分地解離成單體。 脫離解離度：是外力作用下的連生體各組成礦物沿共用邊界相互分離。 毗鄰型連生體:它的組成礦物連生邊界平直，舒緩，邊界線呈線性彎曲狀。一般只有當(dāng)?shù)V物結(jié)晶粒度遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出粉碎顆粒粒度時(shí)，才會(huì)有它的產(chǎn)生。 解離度測(cè)定的體現(xiàn)學(xué)誤差：在光片上觀測(cè)的到的單體解離度，總是要大于礦物的真實(shí)解離度。這種經(jīng)由平面觀測(cè)產(chǎn)生的解離度誤差稱為解離度測(cè)定體視學(xué)誤差。 8.2在礦物分選時(shí)，如何有效的利用工藝礦物流程圖？ 答：選礦專業(yè)常用線和圖表示礦石連續(xù)加工的工藝過程，這種圖稱為工藝流程圖。常用的工藝流

14、程圖有：原則流程圖、線流程圖、數(shù)質(zhì)量流程圖、礦漿流程圖、機(jī)械流程圖。 數(shù)質(zhì)量流程圖，是在線流程圖上把包括原礦和中間產(chǎn)物在內(nèi)的各產(chǎn)物的產(chǎn)率、礦量品位和回收率等數(shù)量和質(zhì)量指標(biāo)均標(biāo)示出來，同時(shí)將各設(shè)備的型號(hào)規(guī)格和主要作業(yè)參數(shù)也表示出來的流程圖。工藝礦物流程圖區(qū)別于傳統(tǒng)數(shù)質(zhì)量流程圖，它是在線流程圖基礎(chǔ)上加入了礦物在流程中不同狀態(tài)的標(biāo)志量，它必須通過流程考察才能得出，并且是評(píng)價(jià)和指導(dǎo)生產(chǎn)不可缺少的重要依據(jù)。 首先對(duì)整個(gè)選礦生產(chǎn)系統(tǒng)各流程階段考察制成選礦線流程圖，并針對(duì)所研究的對(duì)象（如磨礦效果、礦漿濃度、選礦藥劑等）采集各作業(yè)點(diǎn)的產(chǎn)品試樣，進(jìn)行相應(yīng)指標(biāo)（如礦物含量、單體解離度、粒度、濃

15、度、PH值等等）的測(cè)定分析，匯入線流程圖制成完整的工藝礦物流程圖；然后對(duì)整個(gè)工藝礦物流程圖進(jìn)行分析研究，找出生產(chǎn)流程中的薄弱環(huán)節(jié)從而進(jìn)行改進(jìn)實(shí)驗(yàn)研究；最后進(jìn)行生產(chǎn)試驗(yàn)，論證后做出生產(chǎn)改進(jìn)。 1.硫化礦物的計(jì)算：某地閃鋅礦、黃銅礦、雌黃鐵礦組成的礦石中，經(jīng)過多元素化學(xué)分析，得知含有(Cu)=0.997%(Zn)=39.164%、（Fe）=23.652%以及（S）=33.508%。求礦石中個(gè)礦物的含量。 解：各單位礦物的元素含量：閃鋅礦：（Zn）=56.7%、（Fe）=10%、（S）34.9%；黃銅礦：（Cu）=34.6%、（Fe）=30.4%、（S）=34.9%；黃鐵礦：（F

16、e）=46.5%、（S）=53.5%：雌黃鐵礦：（Fe）=63.5%、(S)=36.5%。 列線性方程組：設(shè)礦石中黃鐵礦的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為cpw；閃鋅礦的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為sphw；黃鐵礦的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為pyw；雌黃鐵礦的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為pyrw。據(jù)此可列出建立在元素平衡基礎(chǔ)上的線性方程組。ïïî0. 工藝礦物學(xué)：是以工業(yè)固體原料及其加工產(chǎn)物的礦物學(xué)特征和加工時(shí)組成礦物的性狀為研究目標(biāo)的邊緣性科學(xué)。1.自然光：在垂直光波傳播方向的平面內(nèi)作任意方向的振動(dòng)，各個(gè)振動(dòng)方向的振幅相等。2.偏光：只在垂直光傳播方向的某一固定方向上振動(dòng)的光波，稱平面偏振光，簡(jiǎn)稱偏振光或偏光。3.偏光化作用

17、：使自然光轉(zhuǎn)變?yōu)槠獾淖饔梅Q為偏光化作用4.均質(zhì)體： 等軸晶系礦物和非晶質(zhì)物質(zhì)在各方向的光學(xué)性質(zhì)相同，稱為光性均質(zhì)體，簡(jiǎn)稱均質(zhì)體。5.非均質(zhì)體： 中級(jí)晶族和低級(jí)晶族的礦物其光學(xué)性質(zhì)隨方向而發(fā)生變化，稱為光性非均質(zhì)體，簡(jiǎn)稱非均質(zhì)體，絕大多數(shù)礦物屬于非均質(zhì)體。6.光率體：光波在晶體中傳播時(shí)，折射率值隨光波振動(dòng)方向變化的一種立體幾何圖形。7.雙折射：光波射入非均質(zhì)體，除特殊方向外，都要發(fā)生雙折射，分解形成振動(dòng)方向不同、傳播速度不同、折射率值不等的2個(gè)偏光8.光軸：光波沿非均質(zhì)體的特殊方向入射時(shí)(如沿中級(jí)晶族晶體的Z軸方向)，不發(fā)生雙折射，不改變?nèi)肷涔獠ǖ恼駝?dòng)特點(diǎn)和振動(dòng)方向，這個(gè)特殊方向稱為光軸。9.

18、礦物的顏色： 礦物的顏色是由光波透過礦片時(shí)經(jīng)礦物的選擇性吸收后產(chǎn)生的10.多色性 ：礦物的顏色隨光波振動(dòng)方向的不同而發(fā)生改變的現(xiàn)象。12. 吸收性： 礦物的顏色深淺發(fā)生變化的現(xiàn)象 13.礦物的邊緣： 在薄片中2種折射率不同的物質(zhì)接觸處，光線透過時(shí)可看到比較黑暗的邊緣，稱為礦物的邊緣14. 貝克線：在礦物的邊緣附近可看到一條比較明亮的細(xì)線，升降鏡筒時(shí)亮線移動(dòng)，該亮線稱為貝克線或光帶。 15. 糙面： 在單偏光鏡下觀察礦物的表面時(shí)，某些礦物表面比較光滑，某些礦物表面較為粗糙，呈現(xiàn)麻點(diǎn)狀，好像粗糙皮革，這種現(xiàn)象稱為糙面。16. 突起： 在薄片中，不同礦物表面好像高低不同，某些礦物表面顯得高一些，某些

19、礦物則顯得低平一些，這種現(xiàn)象稱為突起17. 消光現(xiàn)象： 礦片在正交偏光鏡間變黑暗的現(xiàn)象，稱為消光現(xiàn)象18. 消光位： 非均質(zhì)體在正交偏光鏡間處于消光時(shí)的位置稱為消光位 19. 干涉色譜表：根據(jù)光程差公式R=d(Ng-Np)，把公式中光程差與切片厚度、雙折射率三者之間的關(guān)系，用圖表方式表示出來，這種圖表稱為色譜表20. 補(bǔ)色法則(消色法則)： 在正交偏光鏡間放置2個(gè)非均質(zhì)體任意方向的切片，在45度位置時(shí)，光通過兩切片后總的光程差的增減法則，稱為補(bǔ)色法則，又稱消色法則。 21. 補(bǔ)色器：又稱試板或消色器。常用的類型有石膏試板、云母試板、石英楔3種。22. 反射器:反射器是垂直照明器中重要的部件，其

20、作用為將來自進(jìn)光管的水平入射光垂直向下反射，透過物鏡達(dá)到光片表面。 常用的反射器有玻片式和棱鏡式兩種。23. 反射率:反射率是表示礦物磨光面反光能力的參數(shù)，用符號(hào)R表示. 指反光顯微鏡下,垂直入射光經(jīng)礦物光面反射后的反射光強(qiáng)度(Ir)與原入射光強(qiáng)度(Ii)的比率，用百分?jǐn)?shù)表示，即：R=Ir/Ii*100% 24. 雙反射:礦物反射率隨晶體方向而變化，當(dāng)旋轉(zhuǎn)物臺(tái)時(shí)，礦物亮度發(fā)生改變，反射率隨方向而變化的現(xiàn)象稱為礦物的雙反射。25. 反射色：礦物光片在單偏光鏡下呈現(xiàn)的顏色稱為礦物的反射色。26. 反射多色性：礦物反射色隨光性方位而變化的現(xiàn)象稱為反射多色性27. 內(nèi)反射: 當(dāng)光線照射到具有一定透明度

21、的礦物光片表面時(shí)，有一部分光線折射透入礦物內(nèi)部，遇到礦物內(nèi)部的某些界面(如解理、裂隙、空洞、晶粒、包裹體等)，光線被反射出來或散射開，該現(xiàn)象稱為礦物的內(nèi)反射。28. 晶形: 晶體的天然幾何多面體外形稱為晶形。 29. 解理：礦物在外力作用下沿晶格中一定方向發(fā)生破裂的固有性質(zhì)稱為解理，沿解理裂開的平面叫解理面。30. 雙晶: 2個(gè)或多個(gè)同種晶體按一定的對(duì)稱規(guī)律形成的規(guī)則連生體，稱為雙晶。 31. 環(huán)帶: 有些礦物的晶粒內(nèi)部，沿晶面方向有一系列環(huán)狀的紋線和條帶 32. 分離礦物定量法： 利用待測(cè)礦物與原料中其他礦物性質(zhì)的差異，將待測(cè)礦物從原料中分離出來而進(jìn)行定量的一種方法33. 顯微鏡下礦物定量：

22、是從待測(cè)礦物原料中選取少量有代表性的樣品，加工制備成光片或薄片，在顯微鏡下通過測(cè)定不同礦物在光片或薄片上所占的比例，達(dá)到礦物定量的目的。34. 二次電子：在單電子激發(fā)過程中,被入射電子轟擊出來的核外電子，稱為二次電子。 35. 俄歇電子：從距樣品表面小于1nm深度范圍內(nèi)發(fā)射的并具有特征能量的二次電子。36. 背散射電子：電子射入試樣后，受到原子的彈性和非彈性散射，有一部分電子的總散射角大于90度，會(huì)新從試樣表面逸出，這種電子為背散射電子，這個(gè)過程稱為背散射。37. 電子探針微區(qū)分析（EPMA或EPA）：是一種微區(qū)化學(xué)成分分析儀器。它將電子光學(xué)技術(shù)和X射線光譜技術(shù)有機(jī)結(jié)合起來，使礦物中元素的定性

23、和定量分析的空間分辨率達(dá)到微米級(jí)水平。 38.x射線衍射物相分析：將待測(cè)的單相或多相物質(zhì)進(jìn)行x射線衍射實(shí)驗(yàn)，得到衍射花樣或衍射的有關(guān)數(shù)據(jù)，然后將衍射花樣或數(shù)據(jù)跟標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)或標(biāo)準(zhǔn)礦物的衍射卡片作對(duì)比，從而達(dá)到確定單相或多相物質(zhì)的目的，這個(gè)過程稱為x射線衍射物相分析39. 選擇性溶解法：選擇性溶解法是利用礦物化學(xué)性質(zhì)的差異，特別是礦物在不同溶劑中溶解性的差異，使不同礦物分離。40. 干涉色級(jí)序：在正交偏光鏡間由薄至厚慢慢插入石英楔，石英楔干涉色連續(xù)不斷地變化，依次為暗灰灰白淺黃橙紫紅藍(lán)藍(lán)綠一黃綠一橙黃一紫紅一藍(lán)一藍(lán)綠一黃一橙紅直至亮白色。這種由低到高有規(guī)律的變化，就構(gòu)成了干涉色級(jí)序。41. 電子探針

24、的分析方法有定點(diǎn)分析、線掃描分析和面掃描分析二 問答題1.工藝礦物學(xué)研究?jī)?nèi)容 （1）原料與產(chǎn)物中的礦物組成 (任務(wù)：查清原料與產(chǎn)物中所有礦物種(亞種)屬；判明各主要礦物成分的變化規(guī)律；考察伴生物質(zhì)的特征，確定各組分的含量?；A(chǔ)性工作)（2）原料與產(chǎn)物中的礦物粒度分析 (有用礦物的粒度大小，既是確定磨礦細(xì)度的關(guān)鍵因素，又對(duì)流程方案的選擇有重要影響。) （3）原料與產(chǎn)物中元素的賦存狀態(tài) (元素賦存狀態(tài)指元素在原料或產(chǎn)物中的存在形式及其在各組成物相中的分配比例)(4)礦物在工藝加工進(jìn)程中的性狀 (礦物在生產(chǎn)工藝中受到一定的物理或化學(xué)作用時(shí)，所呈現(xiàn)的狀態(tài)形式的改變，即為它的性狀)（5）礦物工藝性質(zhì)改變

25、的可能性和機(jī)理（6）判明尾礦和廢渣（工業(yè)廢棄物）綜合利用的可能性（7）礦物的工藝性質(zhì)與元素組成和結(jié)構(gòu)的關(guān)系 （8）查明礦石工藝類型空間分布規(guī)律，編制礦物工藝圖（目的是為礦山采掘、選廠生產(chǎn)的合理高效運(yùn)行提供依據(jù)。）（9）研究工業(yè)固體原料加工前的表生變化（出露地表的礦床由風(fēng)化作用產(chǎn)生的改變（10）分折礦物工藝性質(zhì)的生成條件 ( 礦物是地殼上各種地質(zhì)作用的產(chǎn)物，具有的各種工藝性質(zhì)都與自身成礦作用有關(guān)。)2.工藝礦物學(xué)研究中的取樣問題（1）基本要求樣品具有充分的代表性。（2）獲取樣品的方式有2種： 一是在現(xiàn)場(chǎng)取樣點(diǎn)上采取地質(zhì)標(biāo)本樣。二是從分選產(chǎn)品及試驗(yàn)用礦樣中抽??；（3）樣品的取樣網(wǎng)絡(luò)布置方法：:在平

26、面上，要照顧到全區(qū)情況，適當(dāng)布點(diǎn)；在剖面上，要顧及到上、中、下各段都有取樣點(diǎn)。取樣點(diǎn)的數(shù)目一般至少要有4個(gè)以上的采樣點(diǎn)。如果試樣為G，則全礦區(qū)實(shí)際取樣重量不得小于2G；一般試樣重100200kg，個(gè)別可到1t。取樣方法，根據(jù)地質(zhì)條件、礦石品位、取樣點(diǎn)數(shù)及工作目的而定。常用的有爆破法、方格法、刻槽法、全巷剝層法等。（4）工藝礦物學(xué)研究中常見的樣品處理方法：i樣品混勻法： 鐵锨拌勻法、環(huán)錐法、滾移法、槽型分樣器法ii樣品縮分法 常用堆錐四分法或網(wǎng)格法進(jìn)行。3.調(diào)節(jié)焦距 調(diào)節(jié)焦距目的是為了使物像清晰可見。a) 將觀察的礦物薄片置于物臺(tái)中心，并用薄片夾子將薄片夾緊。b) 轉(zhuǎn)動(dòng)粗動(dòng)螺旋，從側(cè)面看鏡頭，將

27、鏡頭下降到最低位置。c) 若使用高倍物鏡，需要下降到幾乎與薄片接觸的位置，注意不要碰到薄片，以免損壞鏡頭。d) 從目鏡中觀察，同時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)粗動(dòng)螺旋，使鏡筒緩慢上升，直至視域內(nèi)有物像后，再轉(zhuǎn)動(dòng)微動(dòng)螺旋使之清楚。4.中心校正（見課本P29）5.反光顯微鏡下礦物性質(zhì)的測(cè)定（1）.反射率和雙反射 （2）.反射色和反射多色性 （3.）內(nèi)反射 （4）.均質(zhì)性和非均質(zhì)性6.影響礦物反射率和雙反射的因素(1)光源 光源的強(qiáng)度及入射光波長(zhǎng)對(duì)反射率影響很大。光源越強(qiáng)，反射率就越高；波長(zhǎng)改變，反射率也隨之改變。因此在測(cè)定反射率時(shí)，對(duì)標(biāo)樣和欲測(cè)礦物要保持相同的測(cè)試條件。(2)光片及安裝質(zhì)量 光片表面磨光質(zhì)量要高，做到無擦

28、痕、麻點(diǎn)或氧化膜等，否則會(huì)降低礦物的反射率。光片安裝時(shí)必須嚴(yán)格壓平，若光片表面與入射光不垂直，則會(huì)影響反射光的方向，降低礦物的反射率。(3)其他因素 浸沒介質(zhì)、放大倍數(shù)、焦距、內(nèi)反射及溫差等因素均能影響反射率的高低。7.透射電子顯微鏡（TEM）工作原理 工作原理：電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)12級(jí)聚光鏡會(huì)聚后均勻照射到試樣的某一微小區(qū)域，入射電子與物質(zhì)相互作用，由于試樣很薄，絕大部分電子可以穿透試樣，其強(qiáng)度分布與所穿過試樣區(qū)的形貌、結(jié)構(gòu)構(gòu)造等對(duì)應(yīng)。透射出的電子經(jīng)物鏡、中間鏡、投影鏡的二級(jí)磁透鏡放大后投射在顯示圖像的熒光屏上，熒光屏把電子強(qiáng)度分布轉(zhuǎn)變?yōu)槿搜劭梢姷墓鈴?qiáng)分布，于是在熒光屏上顯示出與試樣形貌和

29、結(jié)構(gòu)構(gòu)造相對(duì)應(yīng)的圖像。8.透射電鏡中試樣的制備方法有哪些？(1) 粉未試樣的制備 對(duì)于粒徑為微米級(jí)和納米級(jí)的粉末，如粘土礦物及其它超細(xì)粉末等，在測(cè)試前先應(yīng)用超聲波分散器將待觀察的粉末置于與試樣不發(fā)生作用的液態(tài)試劑中，并使之充分分散制成懸浮液。Ø(2)超薄片試樣的制備 對(duì)塊狀的巖礦試樣及非金屬的陶瓷試樣來說，其制樣原理是首先將塊狀樣品切割，然后在磨片機(jī)中將其磨成厚小于003nm的薄片，將磨好的薄片放到離子減簿機(jī)中，在真空下用高能量的氫離子轟擊薄片，使試樣中心穿孔，由于穿孔周圍的厚度極薄，對(duì)電子束透明時(shí)，即可進(jìn)行觀察。Ø(3)復(fù)型試樣的制備 所謂復(fù)型是將待測(cè)試樣的表面或斷面形貌

30、用薄膜將它們復(fù)制下來。將復(fù)型后的薄膜拿到樣品室內(nèi)觀察。Ø9.掃描電鏡的工作原理由電子槍發(fā)射出能量535Kev的電子流，經(jīng)聚光鏡和物鏡縮小形成具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束斑直徑的微細(xì)電子束，在掃描線圈的驅(qū)動(dòng)下，在試樣表面按照一定時(shí)間和空間順序作拉網(wǎng)式掃描。 聚焦后的微細(xì)電子束與試樣相互作用產(chǎn)生二次電子、背射電子和其它物理信號(hào)。 二次電子發(fā)射量隨試樣表面起伏而變化，背散射電子的發(fā)射量與試樣中元素的原子序數(shù)成正比，二次電子信號(hào)及背散射電子信號(hào)分別被探測(cè)器收集并轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。 經(jīng)視頻放大后傳到顯像管柵極，分別得到二次電子像及背散射電子像。10.透射電鏡和掃描電鏡式樣制備有何不同？（1）透射

31、電鏡中所顯示的物質(zhì)像是由電子束透過試樣后形成的像，由于電子束的穿透能力比x射線弱得多，因此，必須用小而薄的試樣。 對(duì)于加速電壓為50一200kv的透射電鏡，試樣厚度以100nm左右。如果要獲得高分辨電子像，試樣的厚度必須小于10nm。透射電鏡分析試樣的制備相對(duì)比x射線衍射分析和掃描電鏡等測(cè)試方法的樣品制備麻煩。主要有粉末法、超薄片法和復(fù)型法3種。（2）掃描電鏡試樣制備：根據(jù)掃描電鏡類型不同，試樣大小為幾毫米20mm。只作形貌觀察，樣品表面不做拋光；做成分分析時(shí)，表面需拋光；如果試樣不導(dǎo)電（巖礦樣），需要在表面蒸鍍導(dǎo)電炭膜（金、鉑）。11.x射線的產(chǎn)生方法通過x射線管來產(chǎn)生，真空管真空度小于10

32、-6Pa。有2個(gè)金屬電極，陰極由鎢絲卷成，陽(yáng)極為某種金屬(Cu、Fe、Co、Ag等)磨光面(稱為靶)。當(dāng)陰極鎢絲通入電流加熱時(shí)，鎢絲周圍會(huì)產(chǎn)生大量的自由電子。 在陰極和陽(yáng)極之間加上高電壓(30一50kv)，在強(qiáng)電場(chǎng)作用下，自由電子向陽(yáng)極高速移動(dòng)，當(dāng)陽(yáng)極靶受到高速自由電子的轟擊時(shí)，電子的大部分能量變?yōu)闊崮埽徊糠帜芰哭D(zhuǎn)變成x射線，由靶面射出。 12.x射線在晶面上的“反射”與可見光在鏡面上反射不同：(1)可見光的反射限于物體的表面，而x射線的“反射”是受x射線照射的所有原子(包括晶體內(nèi)部)的散射線干涉加強(qiáng)而形成。(2)可見光的反射無論入射光線以任何入射角入射都會(huì)產(chǎn)生。x射線只有在滿足布拉格方程的

33、某些特殊角度下才能“反射”。13.俄歇電子能譜表面微區(qū)分析原理俄歇電子的產(chǎn)生是由原子內(nèi)殼層電子因電離激發(fā)留下一個(gè)空位，引起較外層電子向這一能級(jí)躍遷使原子釋放能量，該能量使外層電子進(jìn)一步電離，發(fā)射一個(gè)與原子序數(shù)相關(guān)的俄歇電子，檢測(cè)俄歇電子的能量和強(qiáng)度可以獲得表面層化學(xué)成分的定性和定量信息。14.熱分析方法熱分析方法是根據(jù)礦物在加熱過程中所發(fā)生的熱效應(yīng)或重量變化等特征來研究和鑒定礦物的一種方法。目前應(yīng)用較廣的方法有差熱分析法、熱重分析法、微分熱重分析法、熱膨脹法、差示掃描熱量分析法和逸出氣體分析法。差熱分析（DTA），是根據(jù)不同溫度下出現(xiàn)的不同熱反應(yīng)的原理來對(duì)礦物進(jìn)行鑒定。熱重分析法 (TG)，是

34、通過測(cè)定礦物在加熱過程中重量的變化來鑒定礦物的一種方15.差熱分析法工作原理(1)差熱分析簡(jiǎn)寫為DTA，是根據(jù)不同溫度下出現(xiàn)的不同熱反應(yīng)的原理來對(duì)礦物進(jìn)行鑒定。通過研究這些礦物加熱或冷卻到某溫度點(diǎn)會(huì)發(fā)生放熱反應(yīng)或吸熱反應(yīng)的特征，在測(cè)試過程中，將會(huì)發(fā)生熱反應(yīng)的待測(cè)礦物與不會(huì)發(fā)生熱反應(yīng)的某種已知標(biāo)樣(標(biāo)準(zhǔn)礦物或中性體)一同放在加熱爐中加熱升溫或降溫，當(dāng)加熱或冷卻到某個(gè)溫度點(diǎn)時(shí)，待測(cè)樣品由于發(fā)生熱反應(yīng)使它與標(biāo)樣之間的溫度不一致。(2)由于試樣與標(biāo)樣之間在某溫度點(diǎn)下存在著固有溫度差，將它們的溫度差繪成差熱曲線。q(3)在礦物鑒定時(shí)，將試樣的差熱曲線跟所查閱的有關(guān)手冊(cè)中的已知礦物的差熱曲線進(jìn)行對(duì)比，如果

35、相互之間能吻合，則可確定待測(cè)樣品的礦物名稱，這就是用差熱分析法來鑒定礦物的原理。q16.元素在礦物原料中的賦存狀態(tài)元素在礦物原料中的賦存狀態(tài)有3種，即：獨(dú)立礦物形式、類質(zhì)同象形式和吸附形式。17.原料與產(chǎn)物內(nèi)組成礦物的定量原料與產(chǎn)物中礦物定量基本方法 (1)分離礦物定量法；(2)顯微鏡下定量法；3)特征元素化學(xué)分析定量法；(4)儀器分析定量法。1）分離礦物定量法（實(shí)驗(yàn)法）a）重力分離法（重選）：利用不同礦物之間密度的差異進(jìn)行礦物分離b）磁力分離：是利用原料中不同礦物間磁性的差異進(jìn)行礦物分離的。適于磁力分離的礦物主要是強(qiáng)磁性礦物(亞鐵磁性物質(zhì))和部分弱磁性礦物(順磁性物質(zhì))。c）介電分離是在具有一定介電常數(shù)的介電液中進(jìn)行的，將介電分離儀的電磁振蕩電極插入介電液中，在電極周圍形成交變非均勻電場(chǎng)，電場(chǎng)強(qiáng)度自電極向外降低。d）選擇性溶解法：選擇性溶解