集成門電路功能測試實驗報告

1、集成門電路功能測試實驗報告一、實驗預習1. 邏輯值與電壓值的關系。2. 常用邏輯門電路邏輯功能及其測試方法。3. 硬件電路根底實驗箱的結構、根本功能和使用方法。二、實驗目的測試集成門電路的功能三、實驗器件集成電路板、萬用表四、實驗原理TTL與非門74LS00的邏輯符號及邏輯電路：雙列直插式集成與非門電路 CT74LS00：數(shù)字電路的測試： 常對組合數(shù)字電路進行靜態(tài)和動態(tài)測試， 靜態(tài)測試是在輸入端加固定的電平信號， 測試輸出壯態(tài)，驗證輸入輸出的邏輯關系。動態(tài)測試是在輸入端加周期性信號，測試輸入輸出波形，測量 電路的頻率響應。常對時序電路進行單拍和連續(xù)工作測試，驗證其狀態(tài)的轉換是正確。本實驗驗 證

2、集成門電路輸入輸出的邏輯關系， 實驗在由硬件電路根底實驗箱和相關的測試儀器組成的物理 平臺上進行。硬件電路根底實驗箱廣泛地應用于以集成電路為主要器件的數(shù)字電路實驗中， 它的主要組成 局部有： 直流電源：提供固定直流電源( +5V,-5V )和可調電源(+315V,-315V)。(2) 信號源：單脈沖源(正負兩種脈沖)；連續(xù)脈沖。(3) 邏輯電平輸出電路：通過改變邏輯電平開關狀態(tài)輸出兩個電平信號：高電平“ 1和低 電平“ 0。(4) 邏輯電平顯示電路： 電平顯示電路由發(fā)光二極管及其驅動電路組成， 用來指示測試點的邏輯電平。數(shù)碼管及其譯碼器組成。(6) 元件庫：元件庫裝有電位器、電阻、電容、二極管

3、、按鍵開關等器件。(7) 插座區(qū)與管座區(qū)：可插入集成電路，分立元件。集成門電路功能驗證方法： 選定器件型號，查閱該器件手冊或該器件外部引腳排列圖，根據(jù)器件的 封裝，連接好實驗電路，以測試 74LS00與非門的功能為例：正確連接好器件工作電源：74LS00的1 4腳和7腳分別接到實驗平臺 的5 V直流電源的“ +5 V"和“GND端處，TTL數(shù)字集成電路的工作電壓 為 5 V( 實驗允許± 5的誤差 )。連接被測門電路的輸入信號：74LS0 0有四個二輸入與非門，可選擇其中 一個二輸入與非門進行實驗，將輸入端 A,B 分別連接到實驗平臺的“十 六位邏輯電平輸出 電路的其中兩個

4、輸出端(如 K1、K 2對應的輸出端)。連接被測門電路的出端：將與非門的輸出端丫連接到“十六位邏輯電 平顯示電路的其中一個輸入端。確定連線無誤后，可以上電實驗，并記錄實驗數(shù)據(jù)，分析結果。通過開關改變被測與非門輸入端 A, B的邏輯值，對應輸入端的LED 指示燈亮時為 1 ，不亮時為 0。觀測輸出端的邏輯值，對應輸出端的指示燈 LED亮紅色時為1,亮綠 色時為0。不亮表示輸出端不是標準的 TTL電平。K1、K 2 共有 4種開關位置的組合,對應被測電路的四種輸入邏輯狀 態(tài)00, 01, 10, 11,可以改變 K1、K 2 開關的位置,觀察電平顯示 LED 的亮滅情況,以真值表的形式記錄被測門電

5、路的輸入和輸出邏輯狀態(tài)。觀測邏輯值時，用萬用表測量出對應的電壓值，驗正TTL電路邏輯值與電壓值的關系。比擬實測值與理論值，比擬結果一致，說明被測門的功能是正確的， 門電路完好。如果實測值與理論值不一致，應檢查集成電路的工作電壓 是否正常，實驗連線是否正確，判斷門電路是否損壞。五、實驗內容1.根本門電路邏輯電路測試：測試 74LS08與門、74LS32或門、74LS04非門、74LS00與非門、74LS86異或門的功能。將被測芯片插入實驗區(qū)的空插座，連接好測試線路，撥動開關，改變輸入信號，觀測輸入輸出端的邏輯值 時，并用萬用表測量出輸出端對應的電壓值，驗正TTL電路的邏輯功能，記錄實驗數(shù)據(jù)。輸入

6、輸出Y74LS0874LS3274LS0474LS0074LS86ABYU/VYU/VYU/VYU/VYU/V000-110010-01110011邏的門利用74S00與非門組成非門，2輸入與門,2輸入或門電路，畫出實驗電路圖，并測試其邏輯功能，驗證結果非門：電路圖：測試結果:AY0110與門：電路圖：可用一個集成“異或門和兩個“與非門測試結果:(1)在實驗箱上用“異(74LS86)和“與非 “邏輯電平開關,輸出端S、C接“電平顯示發(fā)光二極管通過電平開關改變輸入A、B的邏輯狀態(tài)置位，觀測輸出端的邏輯 狀態(tài)，列表記錄。2通過電平開關改變輸入 A、B的邏輯狀態(tài)置位，觀測輸出端的邏輯狀態(tài)，列表記錄。六、實驗心得較難連，實ABSC0000011010101101此次