
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文檔簡(jiǎn)介
1、超聲檢測(cè)工藝卡工藝卡編號(hào):產(chǎn)品名稱(chēng)產(chǎn)口口編號(hào)規(guī)格材質(zhì)檢測(cè)部位焊縫板材鍛件管件焊接方法坡口型式工件厚度mm受檢產(chǎn)品狀態(tài)制造安裝返修在用檢測(cè)面要求檢測(cè)方法標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)合格級(jí)別檢測(cè)比例%工藝規(guī)程編號(hào)檢測(cè)方法橫波:直射波 反射波/縱波:?jiǎn)沃笨v波 雙斜小角度縱波耦合方式耦合劑種類(lèi)掃查方式掃查速度mm/s掃查覆蓋率晶片直經(jīng)15%儀器型號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊參考反射體©探頭種類(lèi)晶片尺寸mm晶片有效面積mm2探頭K值探頭前沿mm探頭頻率MHz掃描線(xiàn)調(diào)節(jié)Y : /X : /S :DAC曲線(xiàn)繪制坐標(biāo)曲線(xiàn)面板曲線(xiàn)外表/曲面補(bǔ)償dB掃查靈敏度基準(zhǔn)波高%評(píng)定靈敏度檢測(cè)區(qū)域要求檢測(cè)區(qū)域:焊縫寬度+兩側(cè)熱影響區(qū)。探頭移動(dòng)
2、范圍應(yīng)?1.25P P= 2TK檢測(cè)部位示意圖及標(biāo)識(shí)規(guī)定:編制人:審核人:資格:年 月曰資格:年 月曰一臺(tái)現(xiàn)場(chǎng)組焊反響器,材質(zhì)為16MnR , 壁厚42mm?,F(xiàn)要求對(duì)其主體對(duì)接環(huán)焊縫進(jìn)行100%超聲波檢測(cè)檢測(cè)技術(shù)等級(jí)為 C級(jí)請(qǐng)按JB/T4730-2005填寫(xiě)下表檢測(cè)工藝超聲波探傷工藝卡工件名稱(chēng)反響器對(duì)接環(huán)焊縫規(guī)格外表準(zhǔn)備檢測(cè)比例儀器型號(hào)耦合劑縱波檢測(cè)試塊檢測(cè)靈敏度探頭頻率晶片直徑外表補(bǔ)償掃描調(diào)節(jié)掃查速度缺陷記錄及備注:橫波檢測(cè)探頭K值試塊掃描調(diào)節(jié)外表補(bǔ)償掃查靈敏度掃查覆蓋率掃查方式檢測(cè)區(qū)寬度探頭移動(dòng)區(qū)缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)疋方法:編制審核批準(zhǔn)超聲波探傷工藝卡工件名稱(chēng)反響器對(duì)接環(huán)焊縫規(guī)格42mm材 質(zhì)1
3、6MnR檢測(cè)時(shí)機(jī)焊后24小時(shí)外表準(zhǔn)備焊縫磨平并露出金屬光 澤檢測(cè)比例100%儀器型號(hào)CTS-22A 等耦合劑機(jī)油或化學(xué)漿糊縱波檢測(cè)試塊母材大平底檢測(cè)靈敏度無(wú)缺陷處第二次底波調(diào) 節(jié)為熒光屏滿(mǎn)刻度的50%探頭頻率2-5MHZ晶片直徑10-25mm外表補(bǔ)償0dB掃描調(diào)節(jié)深度1: 1掃查速度150mm/S缺陷記錄及備注:1凡缺陷信號(hào)超過(guò)熒光屏滿(mǎn)刻度的 20%的部位,應(yīng)在工件外表作出標(biāo)記,并予以記錄。橫波檢測(cè)探頭K值K1、K2試塊CSK- I A、川 A掃描調(diào)節(jié)深度1:1外表補(bǔ)償實(shí)測(cè)掃查靈敏度84mm 處© 1 X 6-9-補(bǔ)償 dB掃查覆蓋率15%以上掃查方式縱向缺陷檢測(cè):鋸齒,前后、左右、
4、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞。橫向缺陷檢測(cè):在焊 縫及兩側(cè)熱影響區(qū)作兩個(gè)方向的平行掃查。掃查靈敏度應(yīng)比縱向檢測(cè)靈 敏度再提高6dB。檢測(cè)區(qū)寬度焊縫本身加兩惻各10mm探頭移動(dòng)區(qū)大于等于210mm缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)定方法:1)當(dāng)缺陷反射波位于U區(qū)時(shí),用最大波高6dB法或端點(diǎn)6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度;(2)當(dāng)缺陷反射波峰位于I區(qū),如認(rèn)為有必要記錄時(shí),將探頭移動(dòng), 使波幅降到評(píng)定線(xiàn),測(cè)其指示長(zhǎng)度編制II級(jí)審核III級(jí)批準(zhǔn)技術(shù)負(fù)責(zé)人四.工藝題填寫(xiě)工藝卡并答復(fù)以下問(wèn)題,共30分1、表1為某高壓氣體貯罐超聲波檢測(cè)工藝卡,請(qǐng)將工藝卡中的空白項(xiàng)填 寫(xiě)完畢。15分,每空1分表1超聲波檢測(cè)工藝卡工件號(hào)20020425工件名稱(chēng)高壓氣體貯罐規(guī)
5、格2800 X1600 X40mm材質(zhì)18MnM oNbR焊接方法埋弧自動(dòng)焊容器類(lèi)別皿焊縫編號(hào)H 1-9 ; B 1-8焊縫類(lèi)別縱、環(huán)對(duì)接焊縫執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730-2005驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)?容規(guī),GB150-98合格級(jí)別I檢測(cè)比例100%外表狀態(tài)打磨至金屬光澤儀器型號(hào)CTS-22水平線(xiàn)性誤差<1%垂直線(xiàn)性誤差<5%探頭參數(shù)X16K2試塊型號(hào)CSK- I A; CSK-皿 A掃描線(xiàn)調(diào)節(jié)深度1:1掃查靈敏度 1 X6-9檢測(cè)時(shí)機(jī)焊后24h后及熱處理后距離波幅曲線(xiàn)/外表?yè)p失補(bǔ)償4dB耦合齊【J化學(xué)漿糊探傷面外壁焊縫兩側(cè)探頭移動(dòng)寬度示意圖編制XXX審核XXXX年X月X日UT- IIUT-皿2、
6、根據(jù)JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,超聲波檢測(cè)時(shí),在哪些情況下需要對(duì)儀器和 探頭系統(tǒng)進(jìn)行重新核查? 5分答:11校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí);2檢測(cè)人員疑心掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí);3連續(xù)工作 4h 以上時(shí);4工作結(jié)束時(shí)。3根據(jù) JB/T4730-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,該工件的縱、環(huán)焊縫是否需要作橫向檢測(cè), 如何進(jìn)行橫向檢測(cè)? 5 分答 :應(yīng)進(jìn)行斜平行掃查 , 并把各線(xiàn)的靈敏度均調(diào)高 6dB.4、如果在該容器超聲波檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)有裂紋存在,應(yīng)如何處理?5 分答:1首先應(yīng)將裂紋打磨至肉眼不可見(jiàn),必要時(shí)可進(jìn)行外表檢測(cè),以確認(rèn)裂 紋消除干凈;2返修后應(yīng)采用同樣的工藝進(jìn)行超聲檢測(cè),以
7、確認(rèn)是否產(chǎn)生新的超標(biāo)缺 陷;3根據(jù)相關(guān)規(guī)程 ?容規(guī)?、?檢規(guī)?應(yīng)確定是否需要進(jìn)行擴(kuò)探。注:編制等欄填寫(xiě)資格證書(shū)級(jí)別或職務(wù),不要寫(xiě)名字。3.2.2.1 探傷儀MHz10MHz,儀器至少在熒光屏滿(mǎn)刻度的 80%范圍內(nèi)呈線(xiàn)性顯示。探傷 儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器,步進(jìn)級(jí)每檔不大于 2dB,其精度為任 意相鄰 12dB 誤差在± 1dB 以?xún)?nèi),最大累計(jì)誤差不超過(guò) 1dB 。水平線(xiàn)性誤差不 大于 1% ,垂直線(xiàn)性誤差不大于 5% 。其余指標(biāo)應(yīng)符合 JB/T10061 的規(guī)定。3.2.2.2 探頭3.2.2.2.1 晶片面積一般不應(yīng)大于 500mm 2,且任一邊長(zhǎng)原那么上不大于 25m
8、m3.2.2.2.2 單斜探頭聲束軸線(xiàn)水平偏離角不應(yīng)大于 2°,主聲束垂直方向不應(yīng)有 明顯的雙峰。3.2.2.3 超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能3.2.2.3.1 在到達(dá)所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí),其有效靈敏度余量應(yīng)不小于 10dB。3.2.2.3.2 儀器和探頭的組合頻率與公稱(chēng)頻率誤差不得大于± 10% 。3.2.2.3.3 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度在基準(zhǔn)靈敏度下 :對(duì)于頻率為5MHz 的探頭,寬度不大于 10mm ;對(duì)于頻率為的探頭,寬度不大于 15mm。3.2.2.3.4 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于 30dB ,斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于 6dB。3.2.2.3.5 儀
9、器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按 JB/T 9214和 JB/T 10062 的規(guī)定進(jìn)行測(cè) 試。檢測(cè)面確實(shí)定,應(yīng)保證工件被檢局部均能得到充分檢查。3.3.1.3 焊縫的外表質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測(cè)合格。所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺 和污物等都應(yīng)予以去除,其外表粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。外表的不規(guī)那么狀態(tài)不 得影響檢測(cè)結(jié)果的正確性和完整性,否那么應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼?.3.2 掃查覆蓋率 為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域,探頭的每次掃查覆 蓋率應(yīng)大于探頭直徑的 15% 。探頭的移動(dòng)速度探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò) 150mm/s 。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí),不受此 限。3.3.4 掃查靈敏度 掃查靈敏度通常不得低
10、于基準(zhǔn)靈敏度。3.3.5 耦合劑 應(yīng)采用透聲性好,且不損傷檢測(cè)外表的耦合劑,如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。3.3.6 靈敏度補(bǔ)償a) 耦合補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí),應(yīng)對(duì)由外表粗糙度引起的耦合損失 進(jìn)行補(bǔ)償。b) 衰減補(bǔ)償。 在檢測(cè)和缺陷定量時(shí), 應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降 和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。c) 曲面補(bǔ)償。 對(duì)探測(cè)面是曲面的工件, 應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近 的試塊,通過(guò)比照試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。3.4 系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核3.4.1 一般要求 校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行,校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射 面,以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào)。3.4.2 儀器校準(zhǔn) 每隔三個(gè)月至少對(duì)儀器的水平
11、線(xiàn)性和垂直線(xiàn)性進(jìn)行一次測(cè)定, 測(cè)定方法按JB/T 10061 的規(guī)定進(jìn)行。新購(gòu)探頭測(cè)定 新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書(shū), 新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、 K 值、 主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。測(cè)定應(yīng)按 JB/T 10062 的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行,并滿(mǎn)足其要求。3.4.4 檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定3.4.4.1 使用儀器 -斜探頭系統(tǒng),檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、 K 值和主聲束偏離, 調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。使用儀器 -直探頭系統(tǒng), 檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、 靈敏度余量和分辨力, 調(diào) 節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。3.4.5 檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行
12、復(fù)核:a) 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí);b) 檢測(cè)人員疑心掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí);c) 連續(xù)工作 4h 以上時(shí);d) 工作結(jié)束時(shí)。3.4.6 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核a) 每次檢測(cè)結(jié)束前,應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線(xiàn)上的 偏移超過(guò)掃描線(xiàn)讀數(shù)的 10% ,那么掃描量程應(yīng)重新調(diào)整, 并對(duì)上一次復(fù)核 以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。b) 每次檢測(cè)結(jié)束前,應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離-波幅曲線(xiàn)的校核不應(yīng)少于3點(diǎn)。如曲線(xiàn)上任何一點(diǎn)幅度下降2dB,那么應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢;如幅度上升 2d B ,那么應(yīng)對(duì)所有的記錄 信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。3.4
13、.7 校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)考前須知 校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線(xiàn)性檢測(cè)時(shí),任何影響儀器線(xiàn)性的控制器如抑 制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等都應(yīng)放在“關(guān)的位置或處于最低水平上。a) 鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CB I、CB n;b) 鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊: csi、csn、csm;c) 焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CSK- I A、CSK- n A、CSK-山 A、CSK- IV A。a) 鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CB I、CB n;b) 鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊: csi、csn、csm;承壓設(shè)備 對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊: CSK- I A 、 CSK- n A、 CSK- m A、 CSK-V A。5.1.2 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)5.1.
14、2.1 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)分為 A 、 B、 C 三個(gè)檢測(cè)級(jí)別。超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇 應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。5.1.2.2 不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的要求5.1.221 A級(jí)僅適用于母材厚度?8mm46mm的對(duì)接焊接接頭。可用一種K 值探頭采用直射波法和一次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。一 般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。5.1.2.2.2 B 級(jí)檢測(cè):a) 母材厚度?8mm46mm時(shí),一般用一種 K值探頭采用直射波法和一 次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。b) 母材厚度大于 46mm 120mm 時(shí),一般用一種 K 值探頭采用直射波
15、法 在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè),如受幾何條件限制,也可在焊接接頭的雙面 單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種 K 值探頭進(jìn)行檢測(cè)。c) 母材厚度大于 120mm 400mm 時(shí),一般用兩種 K 值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10°。d) 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。 檢測(cè)時(shí),可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線(xiàn)成 10° 20°作兩個(gè)方向的斜平行掃查,見(jiàn)圖12。如焊接接頭余高磨平,探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查,見(jiàn)圖 13。5.1.223 C級(jí)檢測(cè):采用C級(jí)檢測(cè)時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平,對(duì)焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)
16、過(guò)的母材區(qū)域要用直探頭進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)方法見(jiàn)5.144。a母材厚度?8mm46mm時(shí),一般用兩種K值探頭采用直射波法和一 次反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10°,其中一個(gè)折射角應(yīng)為 45°。b母材厚度大于46mm400mm時(shí),一般用兩種K值探頭采用直射波法 在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于 10°。對(duì)于單側(cè)坡口角度小于 5°的窄間隙焊縫,如有可能應(yīng)增加對(duì) 檢測(cè)與坡口外表平行缺陷有效的檢測(cè)方法。c應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí),將探頭放在與焊縫及熱影響區(qū)上作 兩個(gè)方向的平行掃查,見(jiàn)圖 13。 g =
17、1 一I 口一-LJ圖12 斜平行掃查圖13平行掃查標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定A、B、C三個(gè)檢測(cè)技術(shù)等級(jí),是為了便于根據(jù)承壓設(shè)備產(chǎn)品的 重要程度進(jìn)行選用,原那么上按相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定執(zhí)行 A級(jí)檢測(cè)適用于鍋爐、壓力容器及壓力管道有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件焊縫檢 測(cè)B級(jí)檢測(cè)適用于一般鍋爐、壓力容器及壓力管道對(duì)接焊縫檢測(cè) C級(jí)檢測(cè)適用于重要鍋爐、壓力容器及壓力管道對(duì)接焊縫檢測(cè)主要區(qū)別有以下 6 個(gè)方面厚度范圍,A級(jí)適用于母材厚度> 8-46mm, B級(jí)和C級(jí)適用于母材厚度?8-400mm探頭數(shù)量, A 級(jí)用一種 K 值探頭, B 級(jí)用一種或兩種 K 值探頭, C 級(jí)用 兩種 K 值探頭檢測(cè)面, A 級(jí)為單面
18、單側(cè), B 級(jí)和 C 級(jí)為單面雙側(cè)或雙面雙側(cè) 對(duì)橫向缺陷的檢測(cè), A 級(jí)一般不需要檢測(cè)橫向缺陷, B 級(jí)和 C 級(jí)應(yīng)檢測(cè)橫 向缺陷對(duì)焊接接頭余高的要求, A 級(jí)、 B 級(jí)不要求將焊接接頭的余高磨平,而 C 級(jí)要求將焊接接頭的余高磨平對(duì)掃查區(qū)母材的檢測(cè), C 級(jí)要求用直探頭對(duì)斜探頭掃查經(jīng)過(guò)的母材區(qū)域進(jìn) 行檢測(cè)。 A 級(jí)、 B 級(jí)那么不需要CSK- I A、CSK- II A和CSK-山A試塊適用壁厚范圍為 6mm120mm的焊接 接頭,CSK -I A和CSK- IV A系列試塊適用壁厚范圍大于 120mm400mm的 焊接接頭。在滿(mǎn)足靈敏度要求時(shí),試塊上的人工反射體根據(jù)檢測(cè)需要可采取其 他布置形式或添加,也可采用其他型式的等效試塊。檢測(cè)區(qū)的寬度應(yīng)是焊縫本身,再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度 30% 的一 段區(qū)域,這個(gè)區(qū)域最小為 5mm ,最大為10 mm,見(jiàn)圖18。采用一次反射法檢測(cè)時(shí),探頭移動(dòng)區(qū)大于或等于P:P=2TK 5.142探頭K值角度斜探頭的K值角度選取可參照表 18的規(guī)定。條件允許時(shí),應(yīng)盡量采用
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