(完整word版)電子元器件材料檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)書(shū)(word文檔良心出品)

1、文件類別：xxxx物料檢驗(yàn)規(guī)氾文件編號(hào)DKY-IQC-XX-01文件版本1.0制定部門(mén)品質(zhì)部制定日期2017-04-19制定人員xxx修改日期/頁(yè) 次1 of 13元器件檢驗(yàn)規(guī)范批準(zhǔn)記錄擬 制xxx審 核批 準(zhǔn)修改記錄次數(shù)版本升 級(jí)記錄修改時(shí)間修改 類別修改 頁(yè)次修改內(nèi)容簡(jiǎn)述修改人員審核批準(zhǔn)1生效時(shí)間2生效時(shí)間3生效時(shí)間（一）PCB檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為IQC檢驗(yàn)PCB物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有之 PCB檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.職責(zé)供應(yīng)商負(fù)責(zé)PCB品質(zhì)之管制執(zhí)行及管理，IQC負(fù)責(zé)供應(yīng)商之管理

2、及進(jìn)料檢驗(yàn)。5.允收水準(zhǔn)（AQL ）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）: 0;主要缺點(diǎn)（MA）: 0.4;次要缺點(diǎn)（MI）: 1.5.6.參考文件1. IPC A - 600E, Acceptability of Printed Circuits Boards.2. IPC R -700C, Rework Methods & Quality Conformance.7.檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)定義：檢驗(yàn)項(xiàng)目缺點(diǎn)名稱缺點(diǎn)定義檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方式備注線路線路凸出MAa.線路凸出部分不得大于成品最小間距 30%。帶刻度放大鏡殘銅MAa.兩線路間不允許有殘銅。b.殘銅距線路或錫墊不得小于0.1mm。c.非線路區(qū)殘銅不可大于 2.5mmx

3、2.5mm ,且不可露銅。帶刻度放大鏡線路缺口、凹 洞MAa.線路缺口、凹洞部分不可大于最小線寬的30%o帶刻度放大鏡斷路與短路CRa.線路或錫墊之間絕不容許有斷路或短路之現(xiàn)象。放大鏡、萬(wàn)用表線路裂痕MAa.在線路或線路終端部分的裂痕，不可超過(guò)原線寬1/3。帶刻度放大鏡線路不良MAa.線路因蝕銅不良而呈鋸齒狀部分不可超過(guò)原線寬的1/3。帶刻度放大鏡線路變形MAa.線路不可彎曲或扭折。放大鏡線路變色MAa.線路不可因氧化或受藥水、異物污染而造成變色。目檢線路剝離CRa.線路必須附著性良好，不可翹起或脫落。目檢補(bǔ)線MAa.補(bǔ)線長(zhǎng)度不得大于 5mm,寬度為原線寬的80%100%。b.線路轉(zhuǎn)彎處及BG

4、A內(nèi)部不可補(bǔ)線。c. C/S面補(bǔ)線路不得超過(guò)2處，S/S面補(bǔ)線不得超過(guò)1處。帶刻度放大鏡目檢板邊余量MAa.線路距成型板邊不得少于0.5mm。帶刻度放大鏡舌U傷MAa.刮傷長(zhǎng)度不超過(guò)6mm,深度不超過(guò)銅鉗厚度的1/3。放大鏡孔孔塞MAa.零件孔不允許有孔塞現(xiàn)象。目檢孔黑MAa.孔內(nèi)不可有錫面氧化變黑之現(xiàn)象。目檢變形MAa.孔壁與錫墊必須附著性良好，不可翹起，變形或脫落。目檢PAD, RING錫墊缺口MAa.錫墊之缺口、凹洞、露銅等，不得大于單一錫墊之總面積1/4。目檢、放大鏡檢驗(yàn)項(xiàng)目缺點(diǎn)名稱缺點(diǎn)定義檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方式備注PAD, RING錫墊氧化MAa.錫墊不得有氧化現(xiàn)象。目檢錫墊壓扁MAa.錫

5、墊之錫面厚度力求均勻，不可有錫厚壓扁之現(xiàn)象或 造成間距不足。目檢錫墊MAa.錫墊不得脫落、翹起、短路。目檢防焊線路防焊脫 落、起泡、漏印。MAa.線路防焊必須完全覆蓋，不可脫落、起泡、漏印，而 造成沾錫或露銅之現(xiàn)象。目檢防焊色差Minora.防焊漆表面顏色在視覺(jué)上不可有明顯差異。目檢防焊異物Minora.防焊面不可沾附手指紋印、雜質(zhì)或其他雜物而影響外觀。目檢防焊刮傷MAa.不傷及線路及板材（未露銅）之防焊刮傷，長(zhǎng)度不可大于15mm,且C/S面不可超過(guò)2條，S/S面不可超過(guò)1 條。目檢防焊補(bǔ)漆MAa.補(bǔ)漆同一面總面積不可大于 30mm2, C/S面不可超過(guò)3處；S/S面不可超過(guò)2處且每處面積不可

6、大于 20mm2 。 b.補(bǔ)漆應(yīng)力求平整，全面色澤一致，表面不得有雜質(zhì)或涂料不均等現(xiàn)象。目檢防焊氣泡MAa.防焊漆面不可內(nèi)含氣泡而有剝離之現(xiàn)象。目檢防焊漆殘留MAa.金手指、SMT PAD&光學(xué)定位點(diǎn)不可有防焊漆。目檢防焊剝離MAa.以3M scotch NO.600 0.5寬度膠帶密貼于防焊面，密貼長(zhǎng)度約25mm經(jīng)過(guò)30秒，以90度方向垂直拉起，不可有 脫落或翹起之現(xiàn)象。目檢BGABGA防焊MAa.在BGA部分，不得有油墨覆蓋錫墊之現(xiàn)象，線路防焊必需完全覆蓋。放大鏡BGA區(qū)域?qū)兹譓Aa. BGA區(qū)域要求100%塞孔作業(yè)。放大鏡BGA區(qū)域 導(dǎo)孔沾錫MAa. BGA區(qū)域?qū)撞坏谜村a。目檢

7、BGA區(qū)域線路沾錫、露銅MAa. BGA區(qū)域線路不得沾錫、露銅。目檢BGA區(qū)域補(bǔ)線MAa. BGA區(qū)域不得有補(bǔ)線。目檢BGA PADMAa. BGA PAD不得脫落、缺口、露銅、沾附防焊油墨及異物。目檢外觀內(nèi)層黑（棕） 化MAa.內(nèi)層采用黑化處理，黑化不足或黑化不均，不可超過(guò) 單面總面積0.5% （棕化亦同）。目檢空泡&分層MAa.空泡和分層完全不允許。目檢8.板彎、板翹與板扭之測(cè)量方法8.1. 板彎：將PCB凸面朝上，放置于平板玻璃上，用塞規(guī)測(cè)量其凸起的高度。（如圖一）圖一8.2. 板翹與板扭：將 PCB翹曲面朝上，放置于平板玻璃上，用塞規(guī)測(cè)量其翹起的高度。（如圖二）塞規(guī)圖二（二）IC類檢驗(yàn)

8、規(guī)范1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)IC類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有IC （包括BGA）之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL ）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）: 0;主要缺點(diǎn)（MA）: 0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受； b.實(shí)際來(lái)料數(shù)

9、量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b.來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔，其面積不超 過(guò)0.5mm,且未露出基質(zhì)，可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；f.元件腳彎曲，偏位，缺損或少腳，均不可接受；目檢或10倍以上 的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩 帶靜電帶。備注：凡用于真空完全密閉方式包裝的 IC,由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場(chǎng)打開(kāi)封裝的，IQC僅進(jìn)行包裝檢驗(yàn)，并加蓋免檢印章；該IC在SMT上拉

10、前IQC須進(jìn)行拆封檢驗(yàn)。拆封后首先確認(rèn)包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡 20%RH對(duì)應(yīng)的位置有沒(méi)有變成粉紅色， 若已變?yōu)榉奂t色則使用前必須按供應(yīng)商的要求進(jìn)行烘烤。（三） 貼片元件檢驗(yàn)規(guī)范（電容，電阻，電感）1.目的便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元件類物料。2.適用范圍適用于本公司所有貼片元件（電容，電阻，電感-）之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL ）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）:0；主要缺點(diǎn)（MA）:0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5.參考文件LCR數(shù)字電橋操作指引數(shù)字萬(wàn)用表操作指引檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢

11、驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受； 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b.來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔，其面積不超過(guò)0.5mm2,且未露出基質(zhì)，可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；目檢10倍以上

12、的放 大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩 帶靜電帶。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測(cè)量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測(cè)試儀數(shù)字萬(wàn)用表檢驗(yàn)時(shí)，必須佩 帶靜電帶。二極管類型檢測(cè) 方 法LED選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔，正向測(cè)量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測(cè)量不發(fā)光；否則該二極管不合格。注：有標(biāo)記的一端為負(fù)極。其它二極管選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔，正向測(cè)量，讀數(shù)需小于1,而反向測(cè)量讀數(shù)需無(wú)窮大；否則該二極管不合格。注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。備注抽樣計(jì)劃說(shuō)明：對(duì)于 CHIP二極管，執(zhí)行抽樣計(jì)劃時(shí)來(lái)料數(shù)量以盤(pán)為單位，樣本數(shù)也以盤(pán)為單位；從抽檢的每盤(pán)中取35pcs元件進(jìn)行檢測(cè)；AQL不變。檢驗(yàn)方法見(jiàn)LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀操作指

13、引和數(shù)字萬(wàn)用表操作指引。（四）插件用電解電容.1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)插件用電解電容類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）: 0；主要缺點(diǎn)（MA）: 0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5.參考文件LCR數(shù)字電橋操作指引、數(shù)字電容表操作指引。檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)

14、量是否相同，若不同不可接受； b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.極性等標(biāo)記符號(hào)印刷不清，難以辨認(rèn)不可接受； b.電解電容之熱縮套管破損、脫落，不可接受； c.本體變形，破損等不可接受；d.Pin生銹氧化，均不可接受。目檢可焊性檢驗(yàn)MAa. Pin上錫不良，或完全不上錫不可接受。（將PIN沾上現(xiàn)使用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收 ）實(shí)際操作每LOT取510PCS在 小錫爐上驗(yàn)證上錫性尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MAa.外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受?？ǔ呷粲糜谛碌腗odel,需在PCB上對(duì)應(yīng)的 位置進(jìn)

15、行試插電性檢驗(yàn)MAa.電容值超出規(guī)格要求則不可接受。用數(shù)字電容表 或LCRB字電橋 測(cè)試儀量測(cè)（五）晶體類檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)晶體類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL ）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）: 0；主要缺點(diǎn)（MA）: 0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5.參考文件數(shù)字頻率計(jì)操作指引檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包

16、裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受； b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.字體模糊不清，難以辨認(rèn)不可接受；b.有不同規(guī)格的晶體混裝在一起，不可接受；c.元件變形，或受損露出本體等不可接受；d. Pin生銹氧化、上錫不良，或斷 Pin,均不可接受。目檢每LOT取510PCS 在小 錫爐上驗(yàn)證上錫性電性檢驗(yàn)MAa.晶體不能起振不可接受；b.測(cè)量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。測(cè)試工位和數(shù)字頻率 計(jì)電性檢測(cè)方法晶體檢測(cè) 方 法32.768KHZ16.934MHz25.000MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體，再接通電源開(kāi)機(jī)；在正常

17、開(kāi)機(jī)后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開(kāi)機(jī)或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體、MCU、內(nèi)存等，再接通電源開(kāi)機(jī)，看能否正常開(kāi)機(jī)顯示；在正常開(kāi)機(jī)顯示后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開(kāi)機(jī)顯示或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。（六）三極管檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)三極管類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL ）嚴(yán)重缺點(diǎn)

18、（CR）: 0；主要缺點(diǎn)（MA）: 0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受； b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b.來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受；d元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的

19、沙孔，其面積不超 過(guò)0.5mm2,且未露出基質(zhì)，可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受。目檢10倍以上的放 大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須 佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)無(wú)（七）排針打雷槽（座）類檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)排針&插槽（座）類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有排針&插槽（座）之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL ）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）: 0；主要缺點(diǎn)（MA）: 0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5.參看文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬 性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來(lái)料送檢

20、單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受； 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.Marking錯(cuò)或模糊不能辯認(rèn)；b塑料與針腳不能緊固連接；c.塑料體破損，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水；d.過(guò)錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮 ；e.針腳擰結(jié)，彎曲，偏位，缺損，斷針或缺少；f.針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹 ；g.針腳端部成蘑菇狀影響安裝.目檢焊錫性檢驗(yàn)MAa.PIN上錫不良，或完全不上錫，均不可接受；（將零件腳插入現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi)，全

21、部浸潤(rùn)，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收）實(shí)際操作每LOT取510PCS 在小 錫爐上驗(yàn)證上錫性安裝檢驗(yàn)MAa.針腳不能與標(biāo)準(zhǔn)PCB順利安裝；b.針腳露出機(jī)板長(zhǎng)度小于 0.5mm或大于2.0mm;卡尺針腳露出機(jī)板 長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm2.0m m范圍內(nèi)。八CABLED檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為C人員檢驗(yàn)CABLE類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有CABLE類之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E , LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL ）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）: 0;主要缺點(diǎn)（MA）: 0.4;次要缺點(diǎn)（MI）: 1.5.5參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受；b.料數(shù)量與送檢單上的