第四部分光纖網(wǎng)絡(luò)的測試

1、光纖網(wǎng)絡(luò)的測試(csh)Volition TM 共三十八頁光纖測量(cling)項目物理性能測試(csh)（實驗室） 機械性能：拉伸、壓扁、沖擊、彎曲、扭轉(zhuǎn)、磨損 環(huán)境性能：溫度循環(huán)性、滲水、充氣、充油滴淌工程測試 單盤檢驗，光纜敷設(shè)前后的檢驗測試、光纜線路 工程竣工后中繼段的全程測試。共三十八頁 ANSI/EIA/TIA-526-14 光纜布線測試方法方法A，測試光纖本身外加一個連接衰減。方法B，測試光纖本身，兩個連接以及一條跳線的衰減。（ANSI/EIA/TIA-568-A將方法B列為光纜布線測試方法）方法A和方法B都必須注意(zh y)光纖鏈路的接收端和發(fā)射端。光纖測試(csh)標(biāo)準(zhǔn)共三

2、十八頁光纖測量方法衰減(shui jin)基準(zhǔn)法（Reference Test Method） 截斷法替代法（Alternative Test Method）插入法，后向散射法（OTDR）帶寬時域法，頻域法基準(zhǔn)法：嚴(yán)格按照光纖某一給定特性的定義進(jìn)行測量的方法。替代法：在某種意義上與給定特性的定義相一致的測量方法。共三十八頁截斷(ji dun)法測試（1）先測出被測光纖的輸出光功率(gngl)P2（o）（2）保持光源輸出不變，在距光源23m處截斷光纖， 測出注入光功率P1（ o ）（3）若光功率計的指示值為dB，則該段的光纖衰減為P1-P2 若光功率計的指示值為mW，則該段的光纖衰減為10log

3、P1/P2(dB)共三十八頁插入法測試(csh)(1) 先采用與被測光纖同類型的光跳線作為參考光纖。(2) 對測量系統(tǒng)進(jìn)行初始校準(zhǔn)，獲得基準(zhǔn)電平 P1。(3) 取下參考光纖，代之插入被測光纖，調(diào)整耦合接頭(ji tu)， 以使耦合最佳，即在功率計上獲得最大電平，記下此 值 P2。(4) 被測光纖的總衰減 A 為 A = ( P1-P2 )共三十八頁插入法測試(csh)后向散射(snsh)法（OTDROptical Time Domain Reflectometer） 利用一個適當(dāng)寬度的光脈沖注入被測光纖。 在注入端收集此光脈沖經(jīng)過之處因瑞利散射和菲涅爾反射光向后傳播回來的光，從中捕獲反映光纖衰

4、減特性的信息。 具有單端測量和非破壞性的優(yōu)點，適合現(xiàn)場施工和維護(hù)測試時使用。 主要用來測量光纖長度，光纖故障點，光纖衰減及光纖接頭損耗。共三十八頁OTDR測試方法的有關(guān)(yugun)規(guī)定OTDR測試方法：后向散射法，取雙向平均值國標(biāo)GB/T 15972.4-1998中的規(guī)定：1、后向散射法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法它測量從光纖中不同點后向散射至該光纖始端的后向散射功率。這是一種單端測量。2、該方法的測量結(jié)果受光纖中光的傳輸速度和光纖后向散射性能的影響，不可能(knng)像剪斷法那樣精確測量光纖衰減。3、本方法允許對光纖整個長度進(jìn)行分析，甚至可以鑒別分立的點(例如接頭、點不連續(xù))。4、應(yīng)進(jìn)

5、行雙向測量，將雙向測量獲得的數(shù)值取平均值得到精確的衰減和衰減系數(shù)共三十八頁光時域反射(fnsh)儀Optical Time Domain Reflectometer 共三十八頁后向散射(snsh)OTDR Measurement DisplaySpliceBend ConnectorCrackFiber EndRelative Power (db)OTDRDistance(km)Mechanical Splice光通過不均勻的沉淀或雜質(zhì)時，它的一部分光功率散射到不同(b tn)的反向上其中一部分返回入射端，通過分析后向散射光強度和返回時間計算光纖損耗共三十八頁后向散射(snsh)傳輸(chun

6、 sh)光經(jīng)歷瑞利散射落在接收錐內(nèi)的后向散射光被捕獲并后向傳輸至光源處接收角和模場半徑平方的倒數(shù)成正比(1/w02)模場直徑較小的光纖捕獲較多的后向散射光接收錐被捕獲的后向散射光散射光傳輸光共三十八頁反射(fnsh)事件非反射(fnsh)事件Connector/air gap 活 接 頭/ 氣 隙Crack/Stress 裂 痕Fusion Splice 熔 接 頭Bend 彎 曲LossLoss連接件、機械接頭和光纖 裂痕會引起反射和損耗。熔接頭、彎曲會引起損耗但不會產(chǎn)生反射，損耗在曲線上顯 示為有一臺階共三十八頁OTDR的性能參數(shù) 典 型 的 OTDR 測 試 線 路 及 曲 線 OTDR

7、 假 纖 被 測 光 纖V 型 槽 光 纖 末 端 Dynamic range(SNR=1)Noise Level(Peak)RMSDynamicrange(Peak)被 測 光 纖 長 度distance 動 態(tài) 范 圍Dynamic range盲 區(qū)Deadzone 長 度 準(zhǔn) 確 度 Distance accurancy 脈 沖 寬 度 pulsewidth 平 均 次 數(shù)Average time 測 量 范 圍Measurement range盲 區(qū)盲 區(qū)AB共三十八頁OTDR測量(cling)參數(shù)設(shè)置在開始測試之前一般應(yīng)先設(shè)置以下參數(shù)：1、測量范圍Measurement Range:

8、 根據(jù)實際被測長度和假光纖的長度確定，以確保整條被測光纖曲線能顯示出來通常選擇的測試范圍比實際測試光纖長15%2、脈沖寬度Pusle Width: 短脈沖增強分辨率( 縮短盲區(qū)) 3、波長Wavelength: 1310nm,1550nm, 1385nm,850nm( 多模光纖)4、折射率Reflective Index: 據(jù) 光 纖類型設(shè)定 MC:13101.4659 15501.4666TW:13101.4707 15501.47015、平均次數(shù)Average Time: 一 般選擇 1 分鐘6、損耗模式選擇 Lose mode: 據(jù)測量目的選擇，在光纜(un ln)出廠衰減測試時 一 般

9、 選 擇 LSA/Dist (db/km) 模 式2-Point: 被指定的兩光標(biāo)間的光纖損耗，以 db 表示db/distance: 兩點損耗除以兩點間距離， 以 db/km 表示Splice loss: 測量熔接點損耗， 以 db 表示LSA/2-point: 利用最小二乘法(Least Squares Approximation)平均得出的兩點間損耗。以 db 表 示LSA/db/Dist: LSA/2-point 除以兩點距離。 以 db/km 表示ORL: OTDR 至被測纖末端的全程損耗， 包括各種接頭和熔接點損耗 ，以 db 表 示共三十八頁損耗(snho)測量OTDR 假 纖

10、V 型 槽 conecetor 被 測 光 纖Fiber EndABLoss（db)Distance(km)121.0db/Div A,B光標(biāo)位置(wi zhi)不能置于盲區(qū)中光纖2接續(xù)不好臺階太大,影 響 測 量 精 度損耗分辯率應(yīng) 設(shè)在1.0db/ 格,便于觀察光纖缺陷。應(yīng)進(jìn)行雙向測試后取平均值共三十八頁熔接損耗(snho)測量OTDR 假 纖 V 型 槽 conecetor 熔接(rn ji)點Fiber Endab cLoss（db)Distance(km)1.0db/Div光標(biāo)位置不能置于盲區(qū)中光標(biāo)位置盡量包括除熔接點及盲區(qū)外所有光纖應(yīng)進(jìn)行雙向測試后取平均值dAB共三十八頁長度/距離

11、(jl)測量 假 纖 V 型 槽 conecetor 被 測 光 纖Fiber EndOTDRABLoss（db)Distance(km) A,B 光標(biāo)應(yīng)置 于兩反射 峰 的 起始(q sh)點。 將水平Dist. 及豎直Loss進(jìn)行放大，便于找出 兩反射峰的起始點。 如右圖 A,B 之 間即是被測光 纖的長度。d=t c2 nt0 t1t =t1-t0c =光速 n =光纖折射率共三十八頁OTDR光纖曲線(qxin)觀察OTDR 假 纖 V 型 槽 conecetor 被 測 光 纖Fiber EndABLoss（db)Distance(km)121.0db/Div 光纖1:正常 光纖2:有

12、臺階 光纖3:有波浪 光纖4:斷纖光纖有缺陷除通過(tnggu)曲線觀察外,還可通過(tnggu)被測光纖衰減值或長度測量出。34 注 意：Loss 分辨率應(yīng)設(shè)在1.0db/div共三十八頁VF45的測試(csh)共三十八頁測試(csh)準(zhǔn)備清潔工具端口對應(yīng)(duyng)表測試工具通信工具共三十八頁 清潔 在每一次測試之前一定要對插座及插頭進(jìn)行清洗，并且在清洗完成(wn chng)90秒之后再進(jìn)行測試，等待的目的是讓清洗液充分揮發(fā)。共三十八頁插頭(chtu)和插座的清潔插入噴嘴(pnzu)到模塊或跳線適配器中擠壓把手噴出清洗液.共三十八頁在放大100倍的顯微鏡下看到的清洗前及清洗后的效果(xi

13、ogu)對比圖共三十八頁VF-45端口對應(yīng)(duyng)表要測試光纖鏈路，首先(shuxin)要得到光纖端口的對應(yīng)表，即要知道要測試的這條光纖鏈路的兩個端口分別在哪里。光纖端口的對應(yīng)表可從施工單位獲得。共三十八頁VF-45測試工具參考跳線VF-45插頭對VF-45插頭測試跳線 1條VF-45插頭對ST或FC/PC測試跳線 2條VF-45插座對ST或FC/PC測試跳線 2條一對光萬用表，或兩臺(lin ti)光源和兩臺(lin ti)光功率計注：根據(jù)被測光纖規(guī)格選擇不同的測試跳線測試儀表要符合被測線路的單多模特性共三十八頁參考(cnko)測試跳線我們需要(xyo)三種跳線ST to VF-45

14、socketST to VF-45 plug VF-45 plug to VF-45 plug共三十八頁通信(tng xn)工具無線對講機一對(y du) 此通信設(shè)備用于被測光纖鏈路兩端測試人員間的信息傳遞。若無對講機，可用移動電話代替共三十八頁VF-45安裝(nzhung)檢查 用棉簽或小棒撥開VF-45插座防塵蓋，檢查光纖是否處在V型槽的正確位置。此檢查應(yīng)在插座安裝完畢(wnb)后進(jìn)行，在測試前再次檢查。共三十八頁測試方法復(fù)習(xí)： ANSI/EIA/TIA-526-14 光纜布線測試方法方法A，測試光纖本身外加一個連接(linji)衰減。方法B，測試光纖本身，兩個連接以及測試跳線的衰減。（A

15、NSI/EIA/TIA-568-A將方法B列為光纜布線測試方法）方法A和方法B都必須注意光纖鏈路的接收端和發(fā)射端。共三十八頁方法(fngf)Aa) 如上圖連接測試儀表(ybio)及參考跳線（白色插頭連接儀表(ybio)）b) 設(shè)置光功率計參考值或記錄參考電平共三十八頁方法(fngf)Ac) 斷開(dun ki)功率檢測端口連接器，如圖所示將米色插頭連接功率測試端口。d) 測試光纖鏈路共三十八頁方法(fngf)Ba) 如上圖連接測試儀表及參考(cnko)跳線（白色插頭連接儀表）b) 設(shè)置光功率計參考值或記錄參考電平共三十八頁方法(fngf)Bc) 如圖所示連接儀表，并插入(ch r)雙頭VF-4

16、5跳線d) 測試光纖鏈路共三十八頁VF-45可見光源測試(csh) 將光纖鏈路的遠(yuǎn)端用測試線環(huán)成回路，用可見光源從近端的一根光纖輸入，肉眼觀察(gunch)是否有光從另一光纖輸出。共三十八頁VF-45鏈路衰減(shui jin)測試 將光纖鏈路的遠(yuǎn)端用測試(csh)線環(huán)成回路，用光源和光功率計或光萬用表測試(csh)鏈路衰減。共三十八頁將如圖連接測得值作參考。假設(shè)所測雙向鏈路總衰減值為a，單向允許(ynx)衰減為b：若ab,則單向分別測試。共三十八頁最大鏈路衰減標(biāo)準(zhǔn)值為:不超過 2.5dB 測試標(biāo)準(zhǔn):ANSI/TIA/EIA-568 B每一條鏈路的測試應(yīng)進(jìn)行四次，即分別(fnbi)對兩個模塊的2芯光纖分別(fnbi)與儀表的發(fā)射端連接進(jìn)行測試。VF45測試(csh)小結(jié)共三十八頁內(nèi)容摘要光纖網(wǎng)絡(luò)的測試。單盤檢驗，光纜敷設(shè)前后的檢驗測試、光纜線路。（ANSI/EIA/TIA-568-A將方法B列為光纜